測控儀器設(shè)計智慧樹知到答案章節(jié)測試2023年青島理工大學_第1頁
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文檔簡介

第一章測試按照系統(tǒng)工程的技術(shù)觀點將產(chǎn)品生產(chǎn)的技術(shù)結(jié)構(gòu)分為（）。

A:技術(shù)流

B:能量流

C:信息流

D:材料流

答案:BCD測量范圍包含示值范圍包含儀器的調(diào)節(jié)范圍。（）

A:錯

B:對

答案:B鑒別力是顯示裝置能有效辨別的最小示值。（）

A:錯

B:對

答案:A示值誤差越小則儀器的準確度越高。（）

A:錯

B:對

答案:B測控儀器的要求有（）。

A:精度要求

B:可靠性要求

C:經(jīng)濟性要求

D:檢測效率要求

答案:ABCD第二章測試（）是系統(tǒng)誤差大小的反映。

A:精密度

B:準確度

C:正確度

D:精確度

答案:C精密度高則正確度一定高。（）

A:對

B:錯

答案:B把一對運動副上的一個源誤差所引起的作用線上的附加位移稱為（）。

A:作用誤差

B:運動誤差

C:附加誤差

D:位移誤差

答案:A隨機誤差的合成方法有（）。

A:極限誤差法

B:均方法

C:代數(shù)和法

D:絕對和法

答案:AB已定誤差的合成方法有（）。

A:絕對和法

B:極限誤差法

C:代數(shù)和法

D:均方法

答案:C第三章測試采用串聯(lián)方法對硅壓力傳感器進行零點漂移補償后，電阻的溫度系數(shù)會（）。

A:升高

B:不確定

C:降低

D:不變

答案:C愛彭斯坦光學補償方法是一種用結(jié)構(gòu)布局來補償阿貝誤差的方法。（）

A:錯

B:對

答案:B測控儀器的設(shè)計原理有（）。

A:平均讀數(shù)原理

B:比較測量原理

C:獨立作用原理

D:補償原理

答案:ABD光柵和激光干涉條紋屬于增量碼標準量。（）

A:對

B:錯

答案:A在設(shè)計零件時遵循坐標系基準統(tǒng)一的原則可以避免附加誤差。（）

A:對

B:錯

答案:A第四章測試為正確進行信號調(diào)制，要求載波信號的頻率遠遠高于被測信號的變化頻率，通常至少要求（）倍以上。

A:1

B:2

C:100

D:10

答案:C為降低地線的長度在高頻場合多數(shù)采用單點接地。（）

A:錯

B:對

答案:A干擾的耦合方式有（）。

A:靜電耦合

B:電磁耦合

C:漏電流耦合

D:共阻抗耦合

答案:ABCD軟件的可靠性設(shè)計方法有（）。

A:數(shù)字濾波

B:冗余設(shè)計

C:軟件看門狗

D:指令冗余

E:軟件陷阱

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