《超聲波探傷實驗指導(dǎo)》(校本教材)

....頁腳《超聲波探傷》試驗指導(dǎo)書試驗一 超聲波探傷儀的使用和性能測試一、試驗?zāi)康?、了解A2、把握A3法。4、把握盲區(qū)、區(qū)分力和靈敏度余量等綜合性能的測試方法。二、超聲波探傷儀的工作原理目前在實際探傷中，廣泛應(yīng)用的是A傷儀。這種儀器熒光屏橫坐標(biāo)表示超聲波在工件中傳播時間(或傳播距離)，縱坐標(biāo)表示反射回波波高。依據(jù)熒光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。A的根本電路大體一樣。下面以CTS-22型探傷儀為例說明A型脈沖超聲波探傷儀的根本電路。CTS-221.1所示。各電路的主要功能如下：同步電路：產(chǎn)生一系列同步脈沖信號，用以把握整臺儀器各電路按統(tǒng)一步調(diào)進展工作放射電路：在同步脈沖信號觸發(fā)下，產(chǎn)生高頻電脈沖，用以鼓舞探頭放射超聲波。接收放大電路：將探頭接收到的信號放大檢波后加于示波管垂直偏轉(zhuǎn)板上。時基電路：在同步脈沖信號觸發(fā)下，產(chǎn)生鋸齒波加于示波管水平偏轉(zhuǎn)板上形成時基線。顯示電路：顯示時基線與探傷波形。電源電路：供給儀器各局部所需要的電壓。....頁腳在實際探傷過程中，各電路按統(tǒng)一步調(diào)協(xié)調(diào)工作。當(dāng)電路接通以后，到異質(zhì)界面(缺陷或底面)反射回來被探頭接收，通過探頭的正壓電效垂直偏轉(zhuǎn)板上，形成重迭的缺陷波F和底波B。時基電路被觸發(fā)以后產(chǎn)生鋸齒波，加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，形成一條時基掃描亮線，并將缺陷波F和底波B三、儀器的主要性能儀器性能僅與儀器有關(guān)。儀器主要性能有水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍。1、水平線性儀器熒光屏上時基線水平刻度值與實際聲程成正比的程度，線性。儀器水平線性的好壞直接影響測距精度，進而影響缺陷定位。2、垂直線性儀器熒光屏上的波高與輸入信號幅度成正比的程度稱為垂直壞影響應(yīng)用面板曲線對缺陷定量的精度。3、動態(tài)范圍儀器的動態(tài)范圍是指反射信號從垂直極限衰減到消逝時所需的衰減量，也就是儀器熒光屏容納信號的力氣。四、儀器與探頭的主要綜合性能儀器與探頭的綜合性能不僅與儀器有關(guān)，而且與探頭有關(guān)。主愛綜合性能有盲區(qū)、區(qū)分力、靈敏度余量等。1、盲區(qū)從探測面到能覺察缺陷的最小距離，稱為盲區(qū)。盲區(qū)內(nèi)缺陷間長，始脈沖寬，盲區(qū)大。2、區(qū)分力在熒光屏上區(qū)分距離不同的相鄰兩缺陷的力氣稱為分辮力。脈沖寬度小，區(qū)分力高。3、靈敏度余量dB五、試驗用品1、儀器CTS-22、CTS-26等。2、探頭：2.5P20Z2.5P14z。3、試塊：IIW、CSK—IA、200/φ1平底孔試塊等。4、耦合劑：機油。5、其他：壓塊、坐標(biāo)紙等。六、試驗內(nèi)容與步驟1、水平線性的測試調(diào)有關(guān)旋鈕使時基線清楚光明，并與水平刻度線重合。將探頭通過耦合劑置于CSK—IA或IIW1.2A處。(3)調(diào)[微調(diào)]、[水平]或[脈沖移位]等旋鈕，使熒光屏上消滅五次底波B～B，且使B、B前沿分別對準(zhǔn)水平刻度值2.0和10.0，如圖1 5 1 51.3。BBB2 3 4

與水平刻度值4.06.08.0的偏差值a、a、a。2 3 4計算水平線性誤差：

amax100% (1.1)0.8b式中 a

a、a、a

中最大者；max 2 3 4b——熒光屏水平滿刻度值。..頁腳.ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的水平線性誤差≤2%。2、垂直線性的測試30dBCSK—IA或IIW1.2B處，并用壓塊恒定壓力。調(diào)增益使底波達熒光屏滿幅度B。2dB，并登記相應(yīng)回波Hi1.11.1衰減量Δ衰減量ΔidB024681012141618202224回波高度確定波高Hi實測相對波高%抱負相對波高%偏差%表中：

衰減ΔdB后的波高Hi i衰減0dB時波高H

(1.2)H i

0 H

(1.3)抱負相對波高Hi%1020100% 20lgHii00 00計算垂直線性誤差：D(dd)%1 2(1.4)式中 d1——實測值與抱負值的最大正偏差；....頁腳d——實測值與抱負值的最大負偏差；2ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的垂直線性誤差≤8%。3、動態(tài)范圍的測試(1)[抑制]至“O”，[衰減器]保存30dB。探頭置于圖1.2A處，調(diào)[增益]使底波B。達滿幅度100%。NB1 11mmN2計算動態(tài)范圍：△=NN2 1

(dB)ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的動態(tài)范圍≥26dB。4、盲區(qū)的測試盲區(qū)的準(zhǔn)確測定是在盲區(qū)試塊上進展的，由于盲區(qū)試塊加工困難．因此通常利用CSK～IA或IIW試塊來估量盲區(qū)的范圍。(1)[抑制]至“O”，其他旋鈕位置適當(dāng)。將直探頭置于圖1.4所示的I、Ⅱ處。調(diào)[增益]、[水平]等旋鈕，觀看始波后有無獨立的回波。盲區(qū)范圍估量：I5mm。探頭置于II5～10mm之間。I10mm。7mm。5、區(qū)分力的測定(直探頭)(1)[抑制]至“0”，其他旋鈕位置適當(dāng)。探頭置于圖1．4所示的CSK—IA或IIW塊塊上m右移動探頭，使熒光屏上消滅聲程為85、9l、100的三個反射波A、B、C。當(dāng)A、B、C不能分開時，如圖1.5(a)，則區(qū)分力F為：1

6a mm (1.5)1 ab ab當(dāng)A、B、C能分開時，如圖1.5(b)則區(qū)分力F為：2

6cmm (1.6)2 a a6mm。6、靈敏度余量的測試(1)[抑制]至“O”，[增益]最大，[放射強度]至強。錄這時[衰減器]的讀數(shù)N。1探頭置于圖1.6所示的靈敏度余量試塊上(200／φ1平底孔試塊)，調(diào)[衰減器]使φl80％。這時[衰減器]讀數(shù)為N2計算：靈敏度余量△N=N2—N1。....頁腳七、試驗報告要求1、寫出試驗名稱、目的和用品。2、簡要說明儀器性能、儀器與探頭綜合性能的測試方法及測試結(jié)果。試驗二 縱波有用AVG曲線的測試與鍛件探傷一、試驗?zāi)康?、把握縱波探傷時掃描速度的調(diào)整方法。2、把握縱波探傷時靈敏度的調(diào)整方法。3、把握縱波探傷時缺陷定位、定量的方法。4、把握縱波平底孔AVG式。二、原理1、縱波放射聲場與規(guī)章反射體的回波聲壓場區(qū)。近場區(qū)波源軸線上聲壓起伏變化，存在極大微小值，縱波聲場N=D4λ。至波源的距離大于近場區(qū)長度的區(qū)域稱為Sχχ≥3N時，聲壓與距離成反比，符合球面規(guī)律：PF式中 P0

——波源起始聲壓；

P 0 sxF——波源面積．s平底孔、大平底回波聲壓：平底孔：PFF P 0 s f

x3N

(2.1)f 2x2大平底：PF

(2.2)P 0 s x3NB式中 Pf

2xPf

D2。 f。4由(2.1)式得不同直徑、不同距離的平底孔分貝差：20lg

x2D2Pf120lg2 P

(2Pf2 x2D2.3)

1 f2由(2.2)式得不同距離大平底回波分貝差為：(2.4)

20lgP1BPBB2

20lg xxx1

dB由(2.1)、(2.2)可得，不同距離處大平底與平底孔回波分貝差為：B20lgPBP

2x2fD2xf

(2.5f f B)2、距離－波幅－當(dāng)量曲線(AVG曲線)在超聲波探傷中，自然缺陷的外形、性質(zhì)和方向各不一樣，回波“當(dāng)量尺寸”來衡量缺回波等高時，則該人工缺陷的尺寸就為此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。....頁腳描述規(guī)章反射體的距離、波幅、當(dāng)量大小之間的關(guān)系曲線稱為距離－波幅－當(dāng)量曲線，德文為AVC；曲線，英文為DGS曲線。AVG曲線常見形式是橫坐標(biāo)表示反射體至波源的距離尺寸的規(guī)章反射體的回波高隨距離而變化的規(guī)律?？v波平底孔AVG曲線如圖2.1，圖中χ≥3N范圍內(nèi)的曲線可以通過實測CS－2(2.3(2.4)、(2.5)得到。但χ＜3N區(qū)域的曲線只能通過實測CS－2試塊得到。利用AVG曲線可以對缺陷定量和調(diào)整探傷靈敏度。3、掃描速度與探傷靈敏度掃描速度：儀器熒光屏上的水平刻度值dB比例關(guān)系稱為掃描速度。例如掃描速度1:2，表示熒光屏上水平刻度12mm。探傷前調(diào)整掃描速度是為了在規(guī)定的范圍內(nèi)覺察缺陷并對缺陷定位。....頁腳刻度值來實現(xiàn)的。的距離范圍內(nèi)正好能覺察規(guī)定大小的缺陷。量。探傷靈敏度可以利用工件底波或試塊來調(diào)整。4、缺陷定位和定量，f則缺陷至探頭距離為：(2.6)例如掃描速度為l:2，缺陷波水平刻度值f

x nf f=25，則工件中缺陷至探頭的距離xf

=2×25=50(mm)。法。AVG曲線法等。當(dāng)量法適用于尺寸小于波束截面的較小缺陷定量。波束截面的缺陷定量。距離x 和缺陷相對波高的dB數(shù)，然后代入公式(2.3)、(2.4)來計算缺f陷的當(dāng)量尺寸。三、試驗用品1、儀器：CTS-22、CTS-26等。2、探頭：2.5P20Z2.5P14Z。3、試塊：CSK-IA，IIW，CS-2等。4、耦合劑；機油。四、試驗內(nèi)容與步驟1、距離－波幅－當(dāng)量曲線的測繪調(diào)有關(guān)旋鈕使時基線清楚光明并與水平刻度線重合。調(diào)整掃描速度：CS-2試塊的最大聲程為525mm，故儀器按1:6調(diào)整掃描速度。探頭置于CSK—IA或IIW試塊上，對準(zhǔn)100mm6底波，并使B、B3 6

分別對準(zhǔn)水平刻度5.O和10.0，這時儀器1:6的掃描速度就調(diào)好了。調(diào)靈敏度(起始靈敏度)①[衰減器]位置確實定：一般以使最低反射波達規(guī)定高時衰減量500/φ20dB500mm處其他平底孔回波高由40lgDf

等確定。500mm處大平底回波高由20lg

22.1。2②調(diào)整方法：探頭對準(zhǔn)聲程最大的CS-2試塊中心，找到規(guī)章反2.1dB最高回波達基準(zhǔn)(50%)高。然后使[衰減器]增益△dB，這對起始靈敏度500mm處φ260%高。2.1規(guī)章反射體尺寸23468與20712192445測試：固定[增益]、探頭置于不同厚度的試塊上，前后、左右移動探頭，找到規(guī)章反射體的最高回波，調(diào)[衰減器)使各回波達60%dB2.2。對于3N以外的點也可用理論計算公式(2.3)、(2.4)、(2.5)推算得3N繪制曲線；以距離χ為橫坐標(biāo)，相對波高(dB)為縱坐標(biāo)，在2.2AVG圖中應(yīng)注明探測條件：探頭的頻率和直徑。2、鍛件縱波探傷1～2件厚度χ≥3NCS-2度為φ2。(1t(2)調(diào)探傷靈敏度；①(2.5)確定最大聲程處大平底與φ2平底孔的

20lg(2.7)

f120lgPPf2PP

xdB22.2距離距離X平2底3孔4回6高8dB大平底波高dB分貝差△也可從表2.2所列數(shù)據(jù)查到。②調(diào)整：探頭對準(zhǔn)鍛件大平底，[衰減器]衰減△dB，調(diào)[增益]使底波B1達基準(zhǔn)(60%)高，然后用(衰減器)增益△dB。至此，φ2探傷靈敏度調(diào)好。后，前后左右移動探頭找到最高回波，并用[衰減器]調(diào)至基準(zhǔn)高，記錄缺陷波前沿正對的水平刻度值對應(yīng)的dB值。

和缺路波達基準(zhǔn)高(60%)時[衰減器]f缺陷定位：設(shè)掃描速度為 d:n，則缺陷至探測面的距離：x nf f

(mm)缺陷定量：依據(jù)缺陷的距離xf

和缺陷波與最大聲程處φ2底孔的分貝差△(即[衰減器]所對dB值)利用公式(1.3)計算確定其當(dāng)量尺寸：(2.8)

D xPPf140lg PP2xf2 1

dB也可依據(jù)AVG曲線來確定缺陷的當(dāng)量尺寸。五、試驗報告要1、寫出試驗名稱、目的和用品。2AVG3注明所探鍛件(CS-2試塊)的序號。試驗三 鋼板探傷一、試驗?zāi)康?、把握鋼板接觸探傷的方法。2、把握鋼板板水浸探傷的方法。二、原理傷。水浸法常用于批量大面積鋼板探傷。鋼板探傷時，一般用2.5～5MHz，φ10～φ30mm的探頭探傷，承受全面或列線掃查。φ5來調(diào)，這時一般不測缺陷的當(dāng)量，只測缺陷的面積。另一種是利用鋼量。F1T＜20mmF2探傷，水層厚度HH nT4(3.1)式中 n——重合次數(shù)。一般承受四次重合法，即鋼板第四次底波B4與其次次界面回波S2重合。這時，n=4，H=T。四次重合法的優(yōu)點在于可以避開近場區(qū)。在鋼板探傷中，以下幾種狀況記錄缺陷面積。(1)無底波，只有缺陷波的屢次反射。缺陷波與底波同時存在。無底波，只有多個紊亂的缺陷波。(4)既無缺陷波，又無底波。三、試驗用品1、儀器：CTS-26或CTS-22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z、2.5P20SJ。3l00×l00×46和100×100×22φ5平底孔試塊各一塊。4、耦合劑：機油、水。5、其他：T=20mm和50mm的鋼板試樣各一塊，并且都帶有人工缺陷或自然缺陷。還有水槽和探頭位置調(diào)整機構(gòu)等。四、試驗內(nèi)容與步驟1、鋼板接觸法探傷用2.5P20Z探頭探傷T=50mm的鋼板試樣。(1)去除鋼板外表的氧化皮、銹蝕和油污。(2)調(diào)整儀器，使時基掃描線清楚光明，并與水平刻度線重合。(3)調(diào)掃描速度：探頭對準(zhǔn)T=50mm的鋼板，調(diào)整[微調(diào)]和[脈沖移位]使底波B、B分別對準(zhǔn)50和100，這時掃描速度為1:1。1 2調(diào)靈敏度：探頭對準(zhǔn)100×100×46試塊上φ5平底孔，調(diào)整[增益]使φ560％即可。掃查探測：探頭置于鋼板上作100%的全面掃查，探頭移動間距小于晶片尺寸，移動速度不大于O.15m/s。φ5的深度。對于較小的缺陷也可測定缺陷的當(dāng)量。記錄：在鋼板上或記錄紙上標(biāo)出缺陷的位置、深度和面積。(8)評級：依據(jù)鋼板驗收標(biāo)準(zhǔn)評定級別。2、鋼板水浸探傷法用2.5P20SJ探頭探傷T=20mm的鋼板試樣。(1)清理鋼板外表的氧化皮。調(diào)整儀器，使時基掃描線清楚光明、與水平刻度線重合。....頁腳1:2T=20mmBB。5 10分別對準(zhǔn)50和100。100×100×22試塊中的φ5平底孔，調(diào)整水層，厚度H，使第一次界面回波S對準(zhǔn)水平刻140φ560％即可?；虬唇佑|法調(diào)10dBS前沿重合，如圖3.1。2(6)掃查探測：探頭沿垂直于鋼板壓延方向間距為100mm(7)缺陷測定：掃查過程中覺察缺陷后，用接觸法測定缺陷的位置和面積。S前沿重合，如圖3.1。2(6)掃查探測：探頭沿垂直于鋼板壓延方向間距為100mm(7)缺陷測定：掃查過程中覺察缺陷后，用接觸法測定缺陷的位置和面積。記錄：在鋼板上或記錄紙上記錄缺陷的位置和面積。評級：依據(jù)鋼板標(biāo)準(zhǔn)評價鋼板的級別。五、試驗報告要求1、寫出試驗名稱、目的和用品。2、寫出試驗測試步驟和結(jié)果。試驗四 外表聲能損失測定一、試驗?zāi)康?、把握直探頭探傷時外表聲能損失差的測定方法。2、把握斜探頭探傷時外表粗糙度不同造成的聲能損失差的測定方法。二、原理概述耦合損失差，必需增大儀器的輸出來進展補償。要想恰到好處地進展補償，首先應(yīng)測定二者的耦合損失差。塊探測面的耦合損失就行了。橫波斜探頭探傷時，常常承受一、二次波探傷，因此在測定二者探測面耦合損失差的同時，還要測二者底面反射損失差。三、試驗用品1、儀器：CTS—22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z探頭一只，2.5P12×12K2探頭兩只。3、試塊：....頁腳4.2光滑度一樣，探測面光滑度不同。如圖4.3(b)所示的試塊一塊。試塊材質(zhì)、厚度、A面粗糙度同焊縫試板，試塊BCSK—ⅢA或CSK—ⅡA試塊。4、耦合劑：機油、漿糊或甘油。四、試驗內(nèi)容與步驟1、直探頭探傷時外表耦合損失的測定①將2.5P20Z探頭置于圖4.2(a)所示的比照試塊上，預(yù)衰減N1=20dBB160%。②4.1(b減器]使底波B1

達60%，記錄這時[衰減器]讀數(shù)N2

dB。③計算二者外表耦合損失差△：△=N-N(dB)1 22、斜探頭探傷時外表聲能損失的測定一次反射法外表聲能損失的測定①把兩個斜探頭沿探傷方向置于焊縫兩側(cè)的探傷面上，間距約1P，作一發(fā)一收測試，如圖4.2(a)。調(diào)整[增益]使最大穿透波幅為基準(zhǔn)高(60%)。②按同樣方法，把探頭置于試塊B面上，如圖4.2(b器為上外表聲能損失差。③124.3測出試板與試塊AdB為下外表聲能損失差。....頁腳④失差加上兩倍的下外表聲能損失差即為二次波探傷時外表聲能損失差。聲能損失差只計入上外表聲能損失差即可。五、試驗報告要求1、寫出試驗名稱、目的和用品及測試結(jié)果。2、分析引起測試誤差的緣由。試驗五 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定一、試驗?zāi)康?、把握薄板工件衰減系數(shù)的測定方法。2、把握厚板工件衰減系數(shù)的測定方法。二、原理超聲波在介質(zhì)中傳播時，存在著散射、吸取和集中等三種衰減。減。其中散射和吸取衰減是介質(zhì)引起的，因此稱為介質(zhì)衰減。減系數(shù)d≈CFd3f4。由此可見固體介質(zhì)中超聲波的衰減與材質(zhì)晶粒直徑d3和頻率f4成正比。因此，當(dāng)f的衰減急劇增加。當(dāng)材質(zhì)晶粒度確定，f加。定量誤差，提高定量精度，應(yīng)當(dāng)測定工件材質(zhì)的衰減系數(shù)。超聲波探頭放射的聲場分為未集中區(qū)(χ≤1.64N)和集中區(qū)(χ＞1.64N)。在未集中區(qū)內(nèi)，波束不集中，這時只存在介質(zhì)衰減。在集中區(qū)內(nèi)，波束開頭集中．這時不僅存在介質(zhì)衰減，而且存在集中衰減。..頁腳.薄板試塊的前幾次底波處于未集中區(qū)內(nèi)，如圖5.1衰減系數(shù)可用下式來計算。mm

20lg mx x xB

dB/mm(5.1)式中 B ——第m次底波高度；mB——第nnδ——外表反射損失，一般每次反射損失約為O.5dB；χ——板厚。厚板試塊(χ≥3N算：B

6

6 (5.2)式中 B1

2 2x 2x——第一次底波高；

dB/mmB——其次次底波高；2....頁腳6——集中衰減引起第一、二次底波的dB值；δ——底面反射散失。三、試驗用品1、儀器：CTS—22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z和5.0P20Z探頭各一只。3。試塊上下外表光滑，相互平行。4、耦合劑：機油、甘油或漿糊。四、試驗內(nèi)容與步驟1、薄板工件衰減系數(shù)的測定①取2.5P20Z探頭對準(zhǔn)厚度為10mm使示波屏上消滅B～BB達601 4 4減器]將B60%，記錄這時所衰減的分貝值1數(shù)為(不計反射損失)： 1 1dB/mm60②用5P20Z探頭重復(fù)上述過程，測出相應(yīng)的分貝差，則衰減2系數(shù)為(不計反射損失):/mm602、厚板工件衰減系數(shù)的測定①取2.5P20Z探頭對準(zhǔn)厚度為200mm的工件的底面，調(diào)整儀器使示波屏上消滅底波B、B。調(diào)[增益]使B達60%基準(zhǔn)高，再用(增減1 2 2器)將B調(diào)至60%高，記錄所衰減的分貝值，則衰減系數(shù)為(δ=0)：1 33 6 6 3 dB/mm400 400②用5P20Z探頭重復(fù)上述過程，測出相應(yīng)的分貝差，則衰減4系數(shù)為(δ=0)：400五、試驗報告要求1、寫出試驗名稱、目的和用品。2、寫出試驗結(jié)果，說明頻率fa3、分析影響測試精度的緣由。試驗六 橫波距離—波幅曲線的制作與焊縫探傷一、試驗?zāi)康?、把握橫波斜探頭入射點、K2、把握按深度或水平距離調(diào)整橫波掃描速度的方法。3、把握橫波探傷時靈敏度的調(diào)整方法。4、把握橫波距離－波幅曲線的測試方法。5、把握中厚板對接焊縫探傷時缺陷定位和定量方法。二、原理1、橫波聲場與距離－波幅曲線計算，引進了假想波源，橫波聲場是由假想波源放射出來的。假想波區(qū)和半集中角，只是在入射平面內(nèi)半集中角不對稱，θ＞θ。上 下橫波探傷中常利用距離－波幅曲線來對缺陷定量和評價焊縫的質(zhì)量變化的曲線。AVG曲線簇中的任意一條曲線就是距離－波幅曲線。....頁腳距離－波幅曲線可以通過試塊實測得到,也可出通用AVG曲線或理論計算公式得到，但后兩種方法只適用于χ≥3N的狀況，而焊縫探傷中往往是在χ＜3N般是在試塊上實測得到的。JB1152—81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用CSK—ⅡA或CSK—ⅢA—波幅曲線。JBll52-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的距離－波幅曲線如圖6.1線、測長線和判廢線組成。測長線與定量線之間為I廢線之間(含定量線)為Ⅱ區(qū)，判廢線以上(含判廢線)為Ⅲ區(qū)。定量線、測長線、判廢線之間的距離與板厚和所用試塊有關(guān)，具體依據(jù)表6.1確定。....頁腳表6.1 距離－波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚〔mm〕測長線定量線判廢線CSK—ⅡA8--46>46—120Φ2×40-18dBΦ2×40-14dBΦ2×40-12dBΦ2×40-8dBΦ2×40-4dBΦ2×40+2dB8—15Φ1×6-12dBΦ1×6-6dBΦ1×6+2dBCSK—ⅢA>15—46Φ1×6-9dBΦ1×6-3dBΦ1×6+5dB>46—120Φ1×6-6dBΦ1×6dBΦ1×6+10dB2、斜探頭的入射點和K斜探頭的入射點是指探頭放射的聲束軸線與探頭楔塊底面的交點。入射點至探頭前沿的距離為斜探頭前沿長度。斜探頭的折射角是指工件中橫曲折射角βs，橫曲折射角的正切稱為探頭的KK=tgβs。3、掃描速度和靈敏度調(diào)整橫波掃描速度有三種方法：聲程法、深度法和水平距離法。在焊縫探傷中常用深度法和水平距離法。當(dāng)板厚T≥200mm般承受深度法，當(dāng)板厚T＜20mm深度法是調(diào)整儀器使示波屏上水平刻度值與反射體的深度成比點的水平距離。焊縫探傷中規(guī)定探傷靈敏度不低于測長線。4、缺陷定位和定量定位①1:1τf假設(shè)lfd

f (6.1)lf

kdf假設(shè)T＜τf≤2T，說明此缺陷是二次波覺察的，則：d lf

2Tkf

f (6.2)②1:l度值為τf時：假設(shè)τf≤KT，說明此缺陷是一次波覺察的，則：l f f

(6.3) lfdfKf假設(shè)KT＜τf≤2KT，說明此缺陷是二次波覺察的，則：l f f l(6.4)

df

2T fK波幅和指示長度的測定。首先找到缺陷波的最高回波，測出它與基準(zhǔn)波高的dB差。然后測其指示長度。當(dāng)缺陷波只有一個高點時，用半波高度法(6dB)測其指示長度。當(dāng)缺陷波有多個高點時，假設(shè)缺陷端部波高在I區(qū)，則用端點半波高度法測其指示長度；假設(shè)缺陷端部波高于I級。三、試驗用品1、儀器：CTS—22CTS—262、探頭：2.5P12×12K22.5P14K23、試塊：CSK—IA、CSK—IACSK－Ⅲ試塊。4、耦合劑：甘油、機油或漿糊。5、帶缺陷的對接焊縫試樣，T=2030mm。四、試驗內(nèi)容與步驟設(shè)焊縫試樣T=30mm，承受CSK-ⅢA試塊。1、距離－波幅曲線的測試制至]“0”。測定探頭的入射點和K值：