全新的測試前景：400G 和新測試革命_第1頁
全新的測試前景：400G 和新測試革命_第2頁
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文檔簡介

400G和新測試革命特誤碼 媒質(zhì)相關(guān)子層(PMD)增加。誤碼統(tǒng)計(及根本原因)和FEC特征之間的關(guān)系非常密切，因此不G一種怎樣的100G及更低速率的當(dāng)前“最佳做法”視為2.進(jìn)行錯誤計數(shù)(有希望為零)3.接受光學(xué)器件作為“已知良好”的壓力源(可以添加不同的碼型、側(cè)模塊(例如100GLR4)，但也適用于其他名義上需要FEC的PMD (例如速率為100G的SR4)。之所以需要FEC，原因是物理媒質(zhì)(例C^-12)，因此實驗室的“休息時間”3全新的測試前景C下您可以解決根本原因(CDR性能、帶寬、光電串?dāng)_、線性度)并提高，程。誤碼間距中的明顯峰值指明一些可能包括碼型靈敏度和串?dāng)_(來自峰值可利用此視圖輕松R

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