GB/T 22461.2-2023表面化學分析詞匯第2部分：掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國國家標準

GB/T224612—2023

.

表面化學分析詞匯

第2部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

:

Surfacechemicalanalysis—Vocabulary—

Part2Termsusedinscanninrobemicrosco

:gppy

ISO18115-22021MOD

(:,)

2023-05-23發(fā)布2023-09-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T224612—2023

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

掃描探針顯微法術(shù)語

3……………………1

接觸力學模型術(shù)語

4………………………7

掃描探針法術(shù)語

5…………………………8

掃描探針顯微法補充術(shù)語

6………………27

掃描探針法補充術(shù)語

7……………………30

附錄資料性縮略語

A()…………………34

參考文獻

……………………37

索引

…………………………38

Ⅰ

GB/T224612—2023

.

前言

本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是表面化學分析詞匯的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下部分

GB/T22461《》2。GB/T22461:

第部分通用術(shù)語及譜學術(shù)語

———1:;

第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

———2:。

本文件修改采用表面化學分析詞匯第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

ISO18115-2:2021《2:》。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

ISO18115-2:2021:

第章對應(yīng)的第章中術(shù)語條目編號按提及順序依次調(diào)整

———3ISO18115-2:20213.1,3。

本文件與的技術(shù)差異及原因如下

ISO18115-2:2021:

更改了第章范圍的陳述增加了適用范圍以符合我國文件起草要求

———1,,。

本文件做了下列編輯性改動

:

刪除了第章中術(shù)語數(shù)據(jù)庫的網(wǎng)址信息

———3ISO/IEC;

刪除了的注的注的注中與相應(yīng)術(shù)語定義重復(fù)的內(nèi)容

———4.32、4.42、4.52;

刪除了的定義來源原因是來源文件已

———5.2、5.24、5.48、5.110、5.114、5.132,ASTME1813-96

廢止

;

更改了的注注將改為原因是后者已替代了前者

———7.251、4,“ISO4287”“ISO21920-2”,;

增加了索引

———。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位上海市計量測試技術(shù)研究院北京大學上海交通大學中國科學院上海應(yīng)用物理

:、、、

研究所

。

本文件主要起草人蔡瀟雨朱星沈軼孫潔林胡鈞李源

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T224612—2023

.

引言

表面化學分析是一個重要的領(lǐng)域涉及來自不同領(lǐng)域和有不同背景人員間的相互交流從事表面

,。

化學分析的可能是材料科學家化學家或物理學家其研究背景可能以實驗或理論為主使用表面化學

、,。

數(shù)據(jù)的不僅僅是上述人員也包括其他學科的人員

,。

通過現(xiàn)有的表面化學分析技術(shù)可以獲得來自接近于表面區(qū)域一般在內(nèi)的成分信息當

,(20nm),

表面層去除后用該技術(shù)還可得到成分深度信息

,-。

表面化學分析詞匯由兩部分構(gòu)成

GB/T22461《》。

第部分通用術(shù)語及譜學術(shù)語涵蓋電子能譜術(shù)質(zhì)譜術(shù)以及光譜術(shù)和射線分析等術(shù)語

———1:。、X。

第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語涵蓋掃描探針顯微術(shù)相關(guān)術(shù)語

———2:。。

上述技術(shù)的概念源自核物理和輻射科學以及物理化學和光學等廣泛領(lǐng)域廣泛的學術(shù)領(lǐng)域?qū)е铝?/p>

。

對術(shù)語不同的解釋相同的概念也會用不同的術(shù)語來描述為了避免由此產(chǎn)生的誤解和便于信息的交

,。

流有必要明確概念采用正確的術(shù)語以確定其定義

,,。

在接觸力學中基礎(chǔ)理論通常以縮略語表示為避免混淆本文件第章定義了這些縮略語第

,。,4。4

章所述模型假定接觸材料為均勻且各向同性具線性彈性的屬性對于非均質(zhì)非等向非線性黏彈性

,。、、、

或彈塑性的其他材料能在文獻中找到其接觸模型

,。

Ⅳ

GB/T224612—2023

.

表面化學分析詞匯

第2部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

:

1范圍

本文件界定了表面化學分析領(lǐng)域掃描探針顯微術(shù)方面的術(shù)語并給出了相關(guān)縮略語清單見附錄

,(A)。

本文件適用于表面化學分析中掃描探針顯微術(shù)相關(guān)的教學科研設(shè)計制造編寫相關(guān)技術(shù)文件和

、、、、

書刊及技術(shù)交流

。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件

。

3掃描探針顯微法術(shù)語

31

.

無孔拉曼顯微術(shù)aperturelessRamanmicroscopy

利用近場588光源獲得拉曼光譜的顯微術(shù)此方法以適當偏振光照射樣品表面并將

<SNOM>(.)。,

金屬探針針尖5120置于樣品表面近場區(qū)域

(.)。

32

.

原子力顯微術(shù)atomic-forcemicroscopyAFM

;

掃描力顯微術(shù)拒用

scanningforcemicroscopy;SFM()

機械式掃描表面輪廓的表面成像方法將尖銳的探針針尖5120安裝于柔性懸臂梁518上以

。(.)(.),

探針感應(yīng)表面力然后檢測探針的偏離

,。

注1能進行絕緣或?qū)щ姳砻娴母叨榷砍上?69

:AFM(.)。

注2一些原子力顯微鏡是固定探針針尖位置沿xz方向移動樣品另一些原子力顯微鏡則是固定樣品位

:,、y、;

置移動探針針尖

,。

注3能用于真空液相可控氣氛或空氣等環(huán)境用銳利針尖和適當?shù)某上衲Ｊ皆诤线m的樣品上可以獲得原

:AFM、、。

子分辨率

。

注4能測量的力種類繁多包括法向力591以及側(cè)向力577摩擦力562或剪切力后三者對應(yīng)的技術(shù)分

: