手機(jī)電池保護(hù)板異常問題分析

手機(jī)電池保護(hù)板異常問題分析第1頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月保護(hù)板異常分析1.無電壓2.電壓低3.不充電4.無內(nèi)阻5.內(nèi)阻大6.無電阻7.過流大8.不解碼第2頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月3.6V保護(hù)板電路圖

1、采用(IC/MOS)CS213+5N20V

第3頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月7.2V保護(hù)板電路圖

1、采用(IC/MOS)S8232+9926A

第4頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月一、電壓不良異常分析

1、無電壓/電壓很低

1)萬用表開關(guān)選擇直流20V檔位.

2)用紅表筆接觸電芯正極,黑表筆接觸電芯的負(fù)極,如萬用表顯示無電壓或電壓很低,證明電芯為不良品，可能電芯內(nèi)部微短路。

3）保護(hù)板正負(fù)極有無接反。儀器在給電池充電時(shí)相當(dāng)于強(qiáng)制過放。

4）鎳片是否脫落。第5頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月二、充電不良異常分析

1、不充電

1)萬用表開關(guān)選擇直流20V檔位.

2)用紅表筆接觸電芯正極或保護(hù)板P+,黑表筆接觸保護(hù)板P-,萬用表顯示輸出電壓應(yīng)等于電池電壓,測(cè)試有兩種情況:

a、輸出無電壓：①電芯電壓是否正常。②保護(hù)IC的供電腳5腳電壓是否正常,如無電壓,檢查電壓采樣電阻是否脫落。③保護(hù)IC或MOS管損壞。第6頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月二、充電不良異常分析

1、不充電b、輸出電壓低：①檢測(cè)IC的過充腳3腳是否在7V以上,如電壓低,檢查這個(gè)腳的支路是否焊接不良。②檢測(cè)IC的過放腳1腳是否在7V以上,如電壓低,檢查這個(gè)腳的支路是否焊接不良。③檢查保護(hù)IC的負(fù)極是否與電池負(fù)極連通。④保護(hù)IC或MOS管不良。第7頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月三、內(nèi)阻不良異常分析

1、無內(nèi)阻或內(nèi)阻大a、無內(nèi)阻：①檢查MOS管的引腳有無焊接不

良。②更換MOS管。b、內(nèi)阻大：①探針是否接觸不良或氧化。②檢測(cè)電芯的內(nèi)阻是否超出標(biāo)準(zhǔn)③保護(hù)板內(nèi)阻是否超出標(biāo)準(zhǔn)。

④電芯上有無多加鎳片的現(xiàn)象。第8頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月四、電阻不良異常分析

1、無電阻/電阻大①從測(cè)識(shí)別電阻焊盤的線路往回找,檢查識(shí)別電阻有無脫焊。②有無貼錯(cuò)電阻。③識(shí)別電阻的支路是否短路。

④識(shí)別電阻的支路是否開路。

第9頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月五、過流不良異常分析

1、無過流/過流大

①檢查過流檢測(cè)腳的支路有無斷開。

②

更換保護(hù)IC。

第10頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月六、解碼不良異常分析

1、不解碼

①檢查測(cè)試架有無接觸好。②檢查碼片外圍三極管、二極管有無不良。③更換碼片。④伸級(jí)。第11頁，課件共13頁，創(chuàng)作于2023年2月

七、檢測(cè)方法

1、對(duì)比法2、目視法3、電壓測(cè)量