中空玻璃檢測中出現(xiàn)的問題及原因分析

中空玻璃檢測中消滅的問題及緣由分析前言中空玻璃作為重要的節(jié)能產(chǎn)品在我國應(yīng)用越來越廣泛，全國大小中空玻璃企業(yè)已達300家，生產(chǎn)力量近1000m2工藝、設(shè)備先進，所用原料把關(guān)嚴格，有比較完善的產(chǎn)品質(zhì)量治理體系，其產(chǎn)品質(zhì)量與國外射結(jié)霧及玻璃炸裂等現(xiàn)象。5項，既初始露點、密封、紫外線照耀、高溫高濕及氣候循環(huán)。下面就每項檢驗易消滅的問題及緣由做簡要分析。1、初始露點主要測試中空玻璃內(nèi)空氣是否枯燥，國標(biāo)規(guī)定露點等于或低于-400℃為合格。消滅問題：初始露點不合格，即露點高于-400℃。緣由分析：造成初始露點不合格的緣由主要有：使用的分子篩不合格或已經(jīng)失效。假設(shè)盛裝分子篩的容器密封不嚴，分子篩就很簡潔失效。這時應(yīng)進展活化處理，即在烘箱中3000℃3h生產(chǎn)車間空氣濕度過大。鋁框裝入分子篩后不能準(zhǔn)時合片，時間太長分子篩吸水失效。2、紫外線照耀此項檢測主要測試中空玻璃密封膠是否含有影響視線的有機揮發(fā)物。消滅問題：300W168h23±2℃的溫度下存放一周，中空玻璃內(nèi)外表消滅霧狀、油狀或其他污染物。緣由分析：造成紫外線照耀檢測不合格的緣由是：2.2.1密封膠中有機揮發(fā)物含量過高。2.2.3鋁條未經(jīng)去污處理。3、密封檢驗此項試驗用來測試中空玻璃密封膠的軟硬程度，以及是否存在泄露。樣品在低于環(huán)10±0.5KPa2.5h，厚度增長偏差<15%為合格。消滅問題：檢測中消滅問題是漏氣或厚度增長偏差。緣由分析：造成密封檢驗不合格的緣由是：操作人員不認真，使密封膠密封不良。密封膠混膠不勻或稱量不準(zhǔn)確，影響了密封膠的固化。密封膠層寬度過窄。4、高溫高濕試驗此項試驗主要測試密封膠的粘結(jié)力、水氣透過率及分子篩的有效吸附力量是否到達標(biāo)準(zhǔn)要求。樣品在高溫高濕試驗條件下〔>95%，溫度在25-55℃之間有規(guī)律的變化〕進行224強的吸附力量。消滅問題：檢測中常常消滅的問題是最終露點上升和開膠現(xiàn)象。緣由分析：造成高溫高濕試驗不合格的緣由是：使用了不合格的密封膠或已超出保質(zhì)期。經(jīng)高溫高濕試驗后，膠與玻璃脫開而進水?；炷z不均，沒有完全固化。分子篩有效吸附力量低或在空氣中暴露時間過長。操作人員不認真，密封膠初始露點合格，還要不斷地吸附通過膠層集中到間隔層中的水分，使最終露點也符合要求。玻璃未清潔干凈造成粘結(jié)力下降。在手工涂膠時由于一次混膠太多，局部膠消滅硫化，使得膠層氣泡增多影響粘結(jié)強度。由于硅酮膠的水汽透過率較高。5、氣候循環(huán)試驗這是一項耐老化試驗〔冷、320個循環(huán)。消滅問題：檢驗中易消滅問題是中空玻璃炸裂、開膠和最終露點上升。緣由分析：主要緣由除在高溫高濕中提到的以外，還包括如下幾點：密封膠在低溫條件下沒有保持較好的彈性。密封膠中揮發(fā)性溶劑含量過高〔不應(yīng)超過1.5%〕。玻璃原片本身退火不好。中空玻璃整體質(zhì)量水平才會有的提高。隨著Low-E玻璃的普及，越來越多的人對如何正確鑒別Low-E玻璃提出疑問。Low-E玻璃以其優(yōu)越的節(jié)能性能越來越受到建筑市場的青睞。全國Low-E玻璃的產(chǎn)量持續(xù)高速增長。由于銷售量的增加和制造水平的日趨成熟，low-e玻璃價格也有所降低，應(yīng)用的范圍從最初的高檔公共建筑快速擴展到了一般的民用建筑。 實際應(yīng)用中，假設(shè)已經(jīng)知道是Low-E玻璃，判別Low-E膜面的位置比較簡潔，但由于Low-E玻璃的特別性，一般人員僅從外觀上很難區(qū)分與一般鍍膜玻璃甚至是非鍍膜玻璃的差異。光度計測量法鑒別Low-E玻璃最準(zhǔn)確的方法是使用遠紅外分光光度計測量玻璃外表輻射-E，在Low-E玻璃輻射率≤0.25.這也是權(quán)威玻璃檢測機構(gòu)所使用的方法。但由于只能檢測小塊的價格昂貴，所以這種方法并不適用于加工及使用現(xiàn)場的快速判定。在適用于現(xiàn)場的判定方法中Low-ELow-E的應(yīng)用主要是耀華在線Low-E這種玻璃可以用便攜式外表輻射率測量儀測量玻璃外表的輻射率并判定方法是外表電阻測量法。Low-E玻璃的熱反射作用實際上是膜層自由電子與電磁波作用的結(jié)果，Low-ELow-E玻璃外表的方塊電20歐姆以下。利用這一特性我們可以快速地進展鑒別。玻璃外表的方塊電阻Low-E1值在幾十歐姆時，就可以判定是Low-E玻璃膜面了，假設(shè)是100歐姆以上則不是Low-E玻璃膜面。但此種方法易受筆尖間距和接觸壓力及接觸面積影響，所以應(yīng)多測幾點綜合判定。由于合成中空玻璃時，Low-E膜面是放在中空玻璃里面，所以判定中空玻璃是否使用Low-E比較困難。雖然Low-E中空玻璃比一般中空玻璃的傳熱系數(shù)低很多，但想在現(xiàn)場快速Low-ELow-ELow-ELow-E膜距離是遠還是近。目前市場上技術(shù)比較成熟的Low-E膜面測試儀便是基于此原理，Low-E可以判別出是否有l(wèi)ow-E膜面。這種方法快速簡潔，不用拆解中空玻璃，因而具有良好的推不具有權(quán)威性，就是說，儀器判定有Low-E膜時，不能保證肯定是符合標(biāo)準(zhǔn)的Low-E產(chǎn)品。璃里面呈現(xiàn)的4個影像〔換句話說，有4束火焰或4個物像，假設(shè)是E玻璃則有一個影34Low-E玻璃。這種方法是利用即使是無色的高透型Low-E玻璃也會有一點稍微的反射色的原理進展判別的Low-E中空玻璃之間的簡潔判別。中空Low-E玻璃還有其他一些簡潔的鑒別方法，雖然各有局限性，但有助于綜合使用。Low-ELow-E邊部密封膠未蓋住玻璃內(nèi)外表的地方用電阻法判定。Low-ELow-E在不拆解的狀況下很難準(zhǔn)確送到權(quán)威檢測部門測試的方法，既能鑒別是否為Low-E玻璃，又能測試其性能的凹凸。1、導(dǎo)電測量法Low-E玻璃的熱反射作用是膜層自由電子與電磁波作用的結(jié)果，所以其外表是導(dǎo)電的。一般有所下降，但照舊很高。而Low-E玻璃外表的方塊電阻值一般會在20歐姆以下。利用這一特性可以快速鑒別其真?zhèn)?。以測出方塊電阻，方塊電阻能夠通過相關(guān)的公式轉(zhuǎn)化成輻射率，從而判定是否為Low-E玻璃。使用一般萬用表也可以簡潔判定，將萬用表筆尖放置在玻璃外表，正負筆尖間距1厘米左右，此時假設(shè)顯示的電阻值在幾十歐姆時，即可判定是Low-E玻璃膜面，假設(shè)是100歐姆以上則不是。但此種方法易受筆尖間距和接觸壓力及接觸面積影響，所以應(yīng)多測幾點綜合判定。2、儀器測量法對中空Low-E玻璃，由于膜面在玻璃中間，鑒別比較困難。雖然這種玻璃比一般中空玻璃的提Low-E磁場，當(dāng)鍍有導(dǎo)電膜的Low-E玻璃靠近這個電磁場時，會轉(zhuǎn)變磁場的狀態(tài)，從而影響輸出電流或輸Low-ELow-ELow-E膜面測試儀便是基于此原理。測量時將手持式Low-E否有l(wèi)ow-E3、影像測量法將火柴或光亮物體放在窗玻璃前，觀看玻璃里面呈現(xiàn)的4個影像〔換句話說，有4束火焰或4個物像，假設(shè)是wE玻璃則有一個影像的顏色不同于其他3個影像，假設(shè)4便可確定未裝Low-ELow-E玻璃也會有一點稍微的反射色的原理進展判別的