基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告

雙電橋測(cè)低電阻北京航空航天大學(xué)基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告雙電橋測(cè)低電阻日期2011年12月1號(hào)星期四目錄一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?3二、實(shí)驗(yàn)原理 3三、儀器設(shè)備 8四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 8五、數(shù)據(jù)處理 91、原始數(shù)據(jù)記錄 92、對(duì)此五組數(shù)據(jù)進(jìn)行線性回歸處理 103不確定度的計(jì)算 114、最終實(shí)驗(yàn)結(jié)論 12六、誤差分析 121、對(duì)實(shí)驗(yàn)誤差的定性分析 122、對(duì)雙電橋測(cè)低電阻的實(shí)驗(yàn)誤差的定量分析 13七、注意事項(xiàng) 15八、實(shí)驗(yàn)改進(jìn) 171、對(duì)實(shí)驗(yàn)原理的改進(jìn) 172、對(duì)實(shí)驗(yàn)器材的改進(jìn) 19九、感想與收獲 201、實(shí)驗(yàn)感想 202、撰寫研究性報(bào)告的感想與收獲 21參考文獻(xiàn) 21

摘要本文以“雙電橋測(cè)低電阻”的實(shí)驗(yàn)報(bào)告為主要內(nèi)容，通過與惠斯通電橋的對(duì)比，詳細(xì)介紹了了開爾文雙電橋測(cè)量低電阻的原理以及具體的實(shí)驗(yàn)過程，而后通過已取得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行了嚴(yán)格的數(shù)據(jù)處理與不確定度的計(jì)算。并以實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)誤差的進(jìn)行了更為深入的分析，并根據(jù)自己實(shí)際操作實(shí)驗(yàn)的經(jīng)歷對(duì)本實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)儀器等提出了自己的看法，以及本次試驗(yàn)給自己的感受。關(guān)鍵詞：開爾文雙電橋，低電阻，誤差，實(shí)驗(yàn)改進(jìn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、了解雙電橋測(cè)低電阻的原理，以及它對(duì)單電橋的改進(jìn)。2、掌握電橋平衡的原理零示法。3、學(xué)習(xí)使用QJ19型單雙電橋測(cè)低電阻。4、鞏固數(shù)據(jù)處理的一元線性回歸法。5、測(cè)量線性導(dǎo)電材料（銅絲）電導(dǎo)率的測(cè)量方法。二、實(shí)驗(yàn)原理電阻是電路的基本原件，對(duì)它的測(cè)量是電學(xué)實(shí)驗(yàn)的基本部分。電阻的測(cè)量方法有很多，根據(jù)電阻阻值的大小不同，業(yè)發(fā)展出了很多針對(duì)性的測(cè)量方法，以達(dá)到盡量精確測(cè)量的目的。通常將10Ω一下的電阻稱為低電阻。由于電路經(jīng)常有導(dǎo)線電阻和接觸電阻的存在，在測(cè)量低電阻的時(shí)候就會(huì)引入誤差?；菟雇姌颍▎坞姌颍y(cè)量的電阻，其數(shù)值一般在10-106Ω之間，為中電阻。而對(duì)于前述的低電阻，例如變壓器繞組的電阻，金屬材料的電阻，測(cè)量線路的附加電阻就不能忽略，此時(shí)普通的惠斯通電橋已經(jīng)難以勝任。雙電橋是在單電橋的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，可以消除（或減少）附加電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，一般用來測(cè)量10如圖1所示，用單電橋測(cè)低電阻時(shí)，附加電阻R’與R’’和Rx是直接串聯(lián)的，當(dāng)R’和R’’的大小與被測(cè)電阻Rx大小相比不能忽略時(shí)，用單電橋測(cè)電阻的公式Rx=（R3/R1）RN就不能準(zhǔn)確地得出Rx的值；再則，由于Rx很小，如R1≈R3，電阻RN也應(yīng)該是小電阻，其附加電阻（未在圖中具體標(biāo)出）的影響也不能被忽略，這也是得不出Rx準(zhǔn)確值的原因。開爾文電橋是惠斯通電橋的變形，在測(cè)量小阻值電阻時(shí)能給出相當(dāng)高的準(zhǔn)確度。它的電路原理圖如圖2。其中R1、R2、R3、R4均為可調(diào)電阻，Rx為被測(cè)低電阻，RN為低值標(biāo)準(zhǔn)電阻。與圖1相比，開爾文電橋作了兩點(diǎn)主要的改進(jìn)：增加了一個(gè)由R2和R4組成的橋臂。RN和Rx由兩端接法改為四端接法。其中P1P2構(gòu)成被測(cè)低電阻Rx，P3P4是標(biāo)準(zhǔn)電阻RN，P1、P2、P3、P4常被稱為電壓接點(diǎn)，C1、C2、C3、C4稱為電流接點(diǎn)。圖SEQ圖\*ARABIC1圖SEQ圖\*ARABIC2在測(cè)量低電阻時(shí)，RN和Rx都很小，所以與P1-P4、C1-C4相連的八個(gè)接點(diǎn)的附加電阻（引線電阻和端鈕接觸電阻之和）RP1'—RP4'、RC1'—RC4'，RN和Rx間的連線電阻RL'，P1C1間的電阻RPC1'，P2C2間的電阻RPC2'，P3C3間的電阻RPC3'，P4C4間的電阻RPC4'，均應(yīng)該予以考慮。于是，開爾文電橋就可以等效成為如圖3所示的電路圖。其中RP1'遠(yuǎn)小于R3，RP2'遠(yuǎn)小于R4，RP3'遠(yuǎn)小于R2，RP4圖SEQ圖\*ARABIC3圖SEQ圖\*ARABIC4調(diào)節(jié)R1、R2、R3、R4使電橋平衡。此時(shí)，Ig=0，I1=I3，I2=I4，I5=三式聯(lián)立解得可見，雙電橋的平衡條件比單電橋的多一個(gè)修正項(xiàng)△。當(dāng)保持一定的輔助條件時(shí)，可以比較準(zhǔn)確地測(cè)量低的電阻值。表面上看起來只要保證（R3/R1）=（R4/R2），即可有Rx=R3RN/R1，附加電阻的影響即可略去。然而絕對(duì)意義上的（R3/R1）-（R4/R2）=0實(shí)際上做不到，但是修正項(xiàng)中，再加上跨線電阻足夠小即R'≈0通過這兩點(diǎn)改進(jìn)，開爾文電橋?qū)N和Rx的接線電阻和接觸電阻巧妙地轉(zhuǎn)移到了電源內(nèi)部和阻值很大的橋臂電阻中，又通過（R3/R1）=（R4/R2），和R'為保證雙電橋的平衡條件，可以有兩種設(shè)計(jì)方式：選定兩組橋臂之比為M=R3R1=R4選定RN為某固定阻值的標(biāo)準(zhǔn)電阻并選定R1=R2為某一值，聯(lián)調(diào)R3與R4使電橋平衡，則Rx的公式換算為Rx=RNR1R3此時(shí)，R3或R4為比較臂電阻，（RN/R1）或(RN/R2)為電橋倍率系數(shù)。本實(shí)驗(yàn)中由實(shí)驗(yàn)室提供的QJ19型單雙電橋采用的是（2）中所描述的方式。電阻率是半導(dǎo)體材料的重要的電學(xué)參數(shù)之一，它的測(cè)量是半導(dǎo)體材料常規(guī)參數(shù)測(cè)量項(xiàng)目。本實(shí)驗(yàn)的一個(gè)基本目的就是通過銅棒電阻的測(cè)量間接測(cè)得銅的電阻率。通常把待測(cè)材料加工成粗細(xì)均勻的線性材料，這樣的材料其電阻和長度成正比，與材料的橫截面積大小成反比。與材料電阻率成正比，并有如下公式：R=LSρ，又因?yàn)殂~棒的直徑為d，所以R式中R為電阻，L為接入電路的電阻絲的長度，d為絲線的直徑，因此可得電阻率的測(cè)量方法：ρ實(shí)驗(yàn)中只要測(cè)出接入銅棒的電阻，長度以及直徑，便可以確定電阻率。最終的數(shù)據(jù)處理要用到一元線性回歸法。已知電阻的計(jì)算公式為R=ρl/S。令x=l，y=R,并設(shè)一元線性回歸方程y=a+bx,其中b=ρ/S。由一元線性回歸法的計(jì)算公式b=,可求出b，進(jìn)而求得電阻率ρ=b*S。三、儀器設(shè)備QJ19型單雙電橋，F(xiàn)MA型電子檢流計(jì)，滑線變阻器（48Ω,2.5A），換向開關(guān)，直流穩(wěn)壓電源（0~3A），四端鈕標(biāo)準(zhǔn)電阻（0.001Ω），待測(cè)低電阻（銅桿），電流表（0~3A），數(shù)顯卡尺。四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1、檢查實(shí)驗(yàn)儀器并作相應(yīng)的準(zhǔn)備工作。（1）檢查儀器數(shù)目是否足夠，有無缺失；（2）檢查儀器有無明顯損壞，能否正常使用；（3）將有開關(guān)的儀器均調(diào)至關(guān)閉狀態(tài)，滑線變阻器調(diào)至電阻最大處，電源點(diǎn)擊檔至15V處。2、參照如圖5所示的電路圖，正確連接電路。調(diào)節(jié)R1R2為某一定值。打開電源開關(guān)，合上S，調(diào)節(jié)Rp使電流表指示為1A，打開電子檢流計(jì)，調(diào)零并預(yù)熱一段時(shí)間。3、將電阻Rp撥至估計(jì)值，調(diào)節(jié)Rp使電流表示數(shù)為1A左右。4、先將單雙電橋調(diào)至粗測(cè)狀態(tài)，即躍接粗調(diào)開關(guān)，調(diào)節(jié)R3和R4至電子檢流計(jì)示數(shù)為零。5、讀取QJ19型單雙電橋的示數(shù)并做記錄。6、然后躍接細(xì)調(diào)開關(guān)，調(diào)節(jié)R3和R4電子檢流計(jì)示數(shù)為零，重復(fù)第5步操作。7調(diào)節(jié)開關(guān)改變電流至相反方向，重復(fù)4,5,6三步操作。8、改變接入的銅絲長度，重復(fù)4,5,6,7四步操作。共獲得五組數(shù)據(jù)。9、測(cè)量銅絲直徑：在銅桿的4個(gè)不同位置分別測(cè)量，記下測(cè)量結(jié)果。10、測(cè)量結(jié)束，整理實(shí)驗(yàn)儀器，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。實(shí)驗(yàn)儀器電路圖如下：圖SEQ圖\*ARABIC5五、數(shù)據(jù)處理1、原始數(shù)據(jù)記錄說明：粗調(diào)狀態(tài)下的數(shù)據(jù)誤差較大，不具有參考價(jià)值，故對(duì)此進(jìn)行舍棄，僅保留躍接細(xì)調(diào)開關(guān)，即單雙電阻橋在細(xì)調(diào)狀態(tài)下測(cè)得的數(shù)據(jù)值。原始數(shù)據(jù)列表如下[鍵入文檔的引述或關(guān)注點(diǎn)的摘要。您可將文本框放置在文檔中的任何位置。請(qǐng)使用“[鍵入文檔的引述或關(guān)注點(diǎn)的摘要。您可將文本框放置在文檔中的任何位置。請(qǐng)使用“繪圖工具”選項(xiàng)卡更改引言文本框的格式。]數(shù)據(jù)編號(hào)數(shù)據(jù)項(xiàng)目12345銅桿長度L（cm）5.010.015.020.025.0單雙電橋電阻示數(shù)R（Ω）R3（電流正向）36.8568.8698.88133.46165.56R3（電流反向）31.9663.8691.99125.86169.96R3（正反向平均值）34.4166.3695.44129.66167.76（2）銅桿直徑相關(guān)數(shù)據(jù)測(cè)量次數(shù)1234平均值銅桿直徑d（mm）3.984.023.973.963.98252、對(duì)此五組數(shù)據(jù)進(jìn)行線性回歸處理（1）先根據(jù)公式Rx=RNR1R3，代入實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)得到相應(yīng)的Rx值。在該式中R1=100Ω，Rx值列表如下編號(hào)12345Rx（10-43．4416.6369.5441.2971.678運(yùn)用一元線性回歸法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。令y=Rx，x=L。則由公式ρ可得y=得到y(tǒng)和x的一元線性方程。并且根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)得到如下表格。組別（i）Xi（m）xi2（mYi（10-4Xi*yi（10-yi2（1010.050.00253.4411.7211.18420.100.016.6366.6364.40430.150.02259.54414.3169.10940.200.0412.9662.593216.8150.250.062516.7764.19428.14上述線性方程可以簡(jiǎn)化為Y=bx即有b=4ρ根據(jù)一元線性回歸方程的處理方法得b=x代入上表中已計(jì)算好的數(shù)據(jù)可得b=6.6x10-3相關(guān)系數(shù)r的計(jì)算方式r=xy其中x=1kxi，y=1k代入相關(guān)數(shù)據(jù)計(jì)算得r=0.9986≈1.所以x與y線性相關(guān)極為強(qiáng)烈。因?yàn)閎=4ρ所以ρ=πd243不確定度的計(jì)算通常，回歸系數(shù)和相關(guān)系數(shù)都已經(jīng)算出，這是b的標(biāo)準(zhǔn)偏差可以由下式得到，即（1）U（b）=S（b）=bU（b）=2.0185x10-4（Ω（2）Ua（d）=（di-dUb（d）=△儀3=0.01732mm=1.732x所以U（d）=Ua（d）（3）合成不確定度U（ρ）=[?ρ?b代入數(shù)據(jù)U（ρ）=2.648x10-9（Ω4、最終實(shí)驗(yàn)結(jié)論ρ±U（ρ）=（8.22±0.26）x10-至此，對(duì)本實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理完成。六、誤差分析1、對(duì)實(shí)驗(yàn)誤差的定性分析對(duì)于本次試驗(yàn)的結(jié)果，初步判斷引起誤差的各個(gè)方面因素。QJ19單雙電橋的讀數(shù)存在誤差。對(duì)銅桿直徑的測(cè)量存在誤差。數(shù)顯卡尺由于不能與銅棒完全貼合導(dǎo)致測(cè)量誤差，以及數(shù)顯卡尺的讀數(shù)誤差。電橋靈敏度引起的誤差。2、對(duì)雙電橋測(cè)低電阻的實(shí)驗(yàn)誤差的定量分析在對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的不確定度進(jìn)行計(jì)算的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)對(duì)不確定度的貢獻(xiàn)主要來自于一元線性回歸時(shí)得到的回歸系數(shù)b的不確定度。即在電阻與銅棒長度兩個(gè)可以導(dǎo)致誤差的變量來源中，電阻占據(jù)主要位置。而對(duì)電阻的影響有很大一部分來自于單雙電橋的靈敏度。下面對(duì)單雙電橋的靈敏度作出分析。（1）電橋靈敏度的定義：在電橋測(cè)量中，需要用到檢流計(jì)，檢流計(jì)有其靈敏度Sg，其定義為Sg=作為整個(gè)儀器，電橋也有靈敏度，電橋靈敏度有絕對(duì)靈敏度和相對(duì)靈敏度之分，絕對(duì)靈敏度表示為S其中，?n為電橋平衡時(shí)某一橋臂電阻Ri改變?Ri后，所引起的檢流計(jì)讀數(shù)格的變化量。電橋的相對(duì)靈敏度表示為S=可見電橋的絕對(duì)靈敏度和相對(duì)靈敏度之間并無本質(zhì)的區(qū)別，在研究中經(jīng)常使用電橋的相對(duì)靈敏度作為研究對(duì)象。（2）查閱資料可知惠斯通單電橋的靈敏度滿足如下公式，則可以找到單雙電橋之間的聯(lián)系，通過單電橋的靈敏度計(jì)算得出雙電橋的靈敏度。對(duì)于由本雙電橋退化而成的單電橋靈敏度S=對(duì)該公式進(jìn)行說明，上式中，Sg為電子檢流計(jì)的靈敏度，E為電源電壓，Rg為檢流計(jì)內(nèi)阻。在看開爾文雙電橋，由于一般情況下，跨線電阻R'很小，雙電橋電路可以視為由單電橋電路在其檢流計(jì)支路上串聯(lián)了一個(gè)由R2和R4并聯(lián)而成的附加電阻。這樣就可以使雙電橋電路和單電橋電路進(jìn)行等效。等效過程相當(dāng)于檢流計(jì)內(nèi)阻的改變，即檢流計(jì)內(nèi)阻由實(shí)際內(nèi)阻Rg轉(zhuǎn)變成了（Rg+R2*R4S=可見在平衡點(diǎn)附近電橋電路的靈敏度S與檢流計(jì)的靈敏度Sg，內(nèi)阻Rg以及橋臂電阻還有電源的工作電壓E有關(guān)。（3）對(duì)這幾項(xiàng)因素逐一進(jìn)行分析雙電橋的檢流計(jì)的靈敏度越高，內(nèi)阻越小，雙電橋的靈敏度越高。橋臂電阻越小，電橋靈敏度越高。電源工作電壓越大靈敏度越高。以上分析只是從公式上的變化關(guān)系進(jìn)行闡述，由于各量之間相互影響，以及還要考慮實(shí)際問題，對(duì)各量之間的協(xié)調(diào)還會(huì)進(jìn)一步說明。下面結(jié)合對(duì)誤差的分析提出實(shí)驗(yàn)過程中的相關(guān)注意事項(xiàng)，還有對(duì)實(shí)驗(yàn)的相關(guān)改進(jìn)。七、注意事項(xiàng)1、為了保護(hù)檢流計(jì)，每次都應(yīng)該先粗調(diào)再細(xì)調(diào)，并采用躍接的方法。2、基于實(shí)驗(yàn)原理的需要，要盡量減小跨線電阻，所以連接待測(cè)電阻與標(biāo)準(zhǔn)電阻的應(yīng)該是短而粗的適當(dāng)材料的導(dǎo)線。3、為了消除熱電動(dòng)勢(shì)的影響，每次測(cè)量都應(yīng)該變換電流方向，正反各測(cè)一次。4、電子檢流計(jì)使用前應(yīng)該先調(diào)零，預(yù)熱5min。5、由誤差分析可知，增大電路的工作電壓可以提高電橋的靈敏度，但是絕對(duì)不能為此盲目提高電源電壓，因?yàn)殡娫措妷旱脑龃笫鞘艽郎y(cè)電阻和標(biāo)準(zhǔn)電阻的允許功率，還有電阻升溫的限制的。6、由上也可知道，測(cè)量持續(xù)的時(shí)間越長，電路產(chǎn)生的焦耳熱也就越多，為了避免由于電路工作對(duì)電阻造成的升溫影響，應(yīng)該在可能的范圍內(nèi)盡量縮短測(cè)量時(shí)間。7關(guān)于四端鈕電阻的電流端和電壓端的接法?，F(xiàn)對(duì)于需不需要注意的問題進(jìn)行附加論證。在雙電橋試驗(yàn)中，傳統(tǒng)的做法是采用電壓內(nèi)接法，而排斥電壓外接法，即強(qiáng)調(diào)兩橋臂接頭必須處在兩電流接頭之間，也就是把與平衡橋臂相關(guān)的電路接在電流接頭的內(nèi)側(cè)。對(duì)電流端外接法和電流端內(nèi)接法比較分析如下。電流表外接法的接線圖和電路圖分別如圖6和圖7所示，電流表內(nèi)接法的接線圖和電路圖分別如圖8和圖9所示。從圖7和圖9可以看出，四端鈕接是導(dǎo)線電阻r、接觸電阻r'、rA1A2和rB2B1分別引入電壓表支路或電流表支路；兩種接法的區(qū)別在于外接法將rA1A2和rB2B1引入電流支路，而內(nèi)接法則將其引入電壓支路從圖中還可以看出無論采用何種接法，電壓表兩端接頭都僅含被測(cè)電阻Rx，而且電壓的測(cè)量值都是A2B2兩端電壓，因此計(jì)算電阻率時(shí)，導(dǎo)體的長度始終記為L所以由以上分析可知，在該實(shí)驗(yàn)中四端鈕電阻接法并不需要太注意。但是考慮到電熱問題，可以盡量增大四端鈕接頭的散熱面積，防止待測(cè)電阻阻值變化不定。圖SEQ圖\*ARABIC6圖SEQ圖\*ARABIC7圖SEQ圖\*ARABIC8圖SEQ圖\*ARABIC9八、實(shí)驗(yàn)改進(jìn)實(shí)驗(yàn)改進(jìn)是通過對(duì)實(shí)驗(yàn)原理，實(shí)驗(yàn)誤差以及注意事項(xiàng)的分析得出。1、對(duì)實(shí)驗(yàn)原理的改進(jìn)該實(shí)驗(yàn)原理中是利用調(diào)節(jié)電橋平衡，來消除待測(cè)電阻計(jì)算公式中的修正項(xiàng)。而且還要附加條件讓跨線電阻的阻值盡量小，以使結(jié)果可以保證在誤差限度內(nèi)。但是實(shí)際測(cè)量中即使是通過調(diào)節(jié)電阻平衡得到的結(jié)果的誤差精度有時(shí)候也是不盡人意的。就是說實(shí)驗(yàn)原理的本身就存在理論誤差。Rx記為式（1）查閱資料可知，考慮到（R3R1-R4R2原有的實(shí)驗(yàn)原理可以理解為一種靜態(tài)的測(cè)量方法。這里考慮一種動(dòng)態(tài)的測(cè)量方法——換臂法，通過在已有基礎(chǔ)上在實(shí)驗(yàn)過程中對(duì)雙電橋臂進(jìn)行交換達(dá)到有效減小理論誤差的結(jié)果。如儀器連接圖5所示，將標(biāo)號(hào)為7、8的電壓接頭分別交換，將標(biāo)號(hào)為3、4的電壓接頭分別交換。這樣重復(fù)同樣的操作,得到新的計(jì)算公式，記為式（2）如下Rx式（1）與式（2）相加可得到式（3）Rx可見與式（1）相比，雖然式（3）也有修正項(xiàng)，但是它的修正項(xiàng)的數(shù)量級(jí)要小得多，完全可以略去。所以得到式（4）Rx雖然沒有實(shí)際的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)作為支持，但是我們?nèi)匀挥欣碛上嘈?，采用這種方法得到的結(jié)果的精確度將在原有基礎(chǔ)上有大幅度提高。這樣就相當(dāng)于消除了跨線電阻的苛刻要求，它的準(zhǔn)確度將主要受電阻箱電阻，比例臂電阻以及標(biāo)準(zhǔn)電阻的影響。通過對(duì)此改進(jìn)的進(jìn)一步思考發(fā)現(xiàn)，還可以進(jìn)一步對(duì)雙電橋臂進(jìn)行交換。在電路連接圖中，再交換接頭8與3，還有7與4，當(dāng)電橋平衡時(shí)有式（5）R再交換接頭8與4，還有7與3，當(dāng)電橋平衡時(shí)有式（6）Rx根據(jù)式（5）和式（6）運(yùn)用和之前相同的處理方法，可得式（7）Rx結(jié)合式（7）與式（4）得式（8）Rx顯然，該式是多次的電阻橋的換臂結(jié)果，每次交換雙電橋臂都是對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確度的影響因素的一個(gè)程度范圍內(nèi)的消除。最后式（8）的結(jié)果不僅消除了跨線電阻的影響，而且還消除了電阻箱，比例臂電阻的影響。使得結(jié)果主要依賴于標(biāo)準(zhǔn)電阻的準(zhǔn)確度級(jí)別。這個(gè)相對(duì)來說較容易實(shí)現(xiàn)。因此可以大大提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。當(dāng)然為了得到更精確的結(jié)果，還應(yīng)注意在每次測(cè)量中將電流反向，以消除溫差電勢(shì)引入的影響。但是，需要說明的是，這種對(duì)實(shí)驗(yàn)的改進(jìn)使得整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程變得相當(dāng)繁瑣，只要當(dāng)實(shí)驗(yàn)需要的測(cè)量結(jié)果對(duì)精確度的要求相當(dāng)高的時(shí)候才有用到的必要性，而對(duì)于一般的練習(xí)性實(shí)驗(yàn)，則不需要做如此高的要求。2、對(duì)實(shí)驗(yàn)器材的改進(jìn)（1）根據(jù)誤差分析中對(duì)電橋靈敏度的分析可知，橋臂電阻取得越小可以使電橋的靈敏度越高，但是實(shí)驗(yàn)原理又要求橋臂電阻要保證一定的量，以減小接線接觸電阻的影響。而且電橋靈敏度太高將導(dǎo)致調(diào)節(jié)操作變得十分不方便。所以應(yīng)當(dāng)在接觸電阻可以忽略并且操作難度還不是很大的前提下，橋臂電阻應(yīng)當(dāng)適當(dāng)小些，提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。（2）在實(shí)驗(yàn)過程中發(fā)現(xiàn)許多銅棒在多次實(shí)驗(yàn)后都已經(jīng)變得彎曲，這樣帶來的后果就是當(dāng)用游標(biāo)卡尺測(cè)量接入的作為被測(cè)電阻的銅棒的長度時(shí)，由于測(cè)量方位的限制，卡尺只能得到兩個(gè)導(dǎo)線夾之間的直線距離，如果中間的銅棒是彎曲的，就會(huì)導(dǎo)致測(cè)量長度較實(shí)際長度偏小。為了改善這種狀況，設(shè)想，可以將銅棒的載體改成一個(gè)鏤空的絕緣的軌道，將這個(gè)導(dǎo)體棒筆直的鑲嵌進(jìn)去。考慮到實(shí)際用卡尺也不好準(zhǔn)確測(cè)量導(dǎo)線夾的距離，所以可以將載體和游標(biāo)結(jié)合，實(shí)現(xiàn)卡尺與導(dǎo)線夾的聯(lián)動(dòng)。還有，考慮到需要在接觸的地方留有一定的散熱空間，所以方案中在考慮通過嵌入軌道使銅棒一直保持筆直時(shí)，還要使軌道部分鏤空，以減小對(duì)散熱的影響。九、感想與收獲1、實(shí)驗(yàn)感想本次實(shí)驗(yàn)是我做的第一個(gè)基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)，第一次面對(duì)從來沒有見過的復(fù)雜儀器和電路。但是由于有課前的詳細(xì)預(yù)習(xí)，以及在實(shí)驗(yàn)前的老師的講解，我對(duì)實(shí)驗(yàn)有了一個(gè)相當(dāng)程度的了解。在具體的接線測(cè)量數(shù)據(jù)的操作中雖然經(jīng)歷了一些波折，最終還是完成了實(shí)驗(yàn)。這次實(shí)驗(yàn)是