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1第五章原子吸收與原子熒光光譜法原子熒光光譜儀AFS-9700型全自動(dòng)注射泵原子熒光光譜儀5-1原子吸收光譜法的基本原理5-2原子吸收光譜儀器5-3原子吸收光譜法的干擾及抑制5-4原子吸收光譜定量分析5-5原子熒光光譜法主要內(nèi)容概述
又稱原子吸收分光光度法,它是利用待測(cè)元素所產(chǎn)生的基態(tài)原子蒸氣對(duì)其特征譜線的吸收程度來進(jìn)行定量分析的方法。原子吸收光譜法(AAS)
原子吸收分光光度計(jì)裝置示意圖光源、原子化器、分光系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和電源同步調(diào)制系統(tǒng)
試液吸入噴射成霧狀,撞擊成小霧珠,與燃?xì)庵細(xì)饣旌线M(jìn)火焰,待測(cè)物質(zhì)在火焰混合下,揮發(fā)并離解成原子蒸氣。原子蒸氣吸收從空心陰極燈發(fā)射的特征譜線,由于基態(tài)原子的吸收,使光強(qiáng)度減弱,光通過單色器把雜光分開,通過檢測(cè)器、放大、記錄系統(tǒng)測(cè)出特征譜線被吸收的程度,即可求得待測(cè)元素的含量。原子吸收光譜分析的過程:
原子吸收光譜分析利用原子吸收過程:M
+
h
→
M*原子發(fā)射光譜分析利用原子發(fā)射現(xiàn)象:M*
→
M
+
h
與原子發(fā)射光譜分析的不同:與紫外-可見光譜分析比較:原理上相似:利用物質(zhì)對(duì)輻射的吸收進(jìn)行分析。吸收機(jī)理不同:紫外-可見:溶液中分子或離子的吸收,寬帶吸收,用連續(xù)光源;原子吸收:氣態(tài)基態(tài)原子的吸收,窄帶吸收;使用銳線光源。
原子發(fā)射光譜以Ni為依據(jù),測(cè)定的是占原子總數(shù)不到1%的激發(fā)態(tài)原子。原子吸收光譜以No為依據(jù),測(cè)定的是占原子總數(shù)99%以上的基態(tài)原子。1.靈敏度高,比原子發(fā)射光譜高幾個(gè)數(shù)量級(jí),絕對(duì)靈敏度達(dá)10-13~10-15g。原子吸收光譜法特點(diǎn)3.選擇性好,干擾少。干擾易排除。4.應(yīng)用范圍廣??蓽y(cè)70多種元素,既可測(cè)低含量和主量元素,又可測(cè)微量、痕量和超痕量元素??蓽y(cè)金屬,還可間接測(cè)非金屬元素如S、P、N等??蓽y(cè)土壤、植物、生物組織等樣品中的元素。2.精密度高,準(zhǔn)確度高。原子吸收程度受溫度變化影響較小。重現(xiàn)性好,穩(wěn)定性好。
AFS是基于氣態(tài)基態(tài)原子在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生熒光發(fā)射,屬于發(fā)射光譜分析方法。AAS屬于吸收光譜分析方法。
AFS和AAS兩種方法所用的儀器和操作技術(shù)相近,在一章中講述。原子熒光光譜法(AFS)§5-1原子吸收光譜法的原理
試液MXM(基態(tài)原子,氣態(tài))+X(氣態(tài))
高溫火焰中蒸發(fā)、脫水、分解負(fù)壓吸入后霧化成小霧粒吸收一定光輻射躍遷到較高能級(jí)一、原子吸收光譜的產(chǎn)生
不同種類的原子有不同的原子結(jié)構(gòu),由基態(tài)→激發(fā)態(tài)所需的能量差不同,選擇吸收的光輻射的頻率或波長(zhǎng)不同。如:Na(基態(tài))吸收波長(zhǎng)為589.0nm;
Mg(基態(tài))吸收波長(zhǎng)為285.2nm。
當(dāng)通過基態(tài)原子的光輻射具有的能量h
恰好等于原子由基態(tài)→激發(fā)態(tài)所含有的能量ΔE時(shí),基態(tài)原子吸收光輻射產(chǎn)生原子吸收光譜(線)。
ΔE=h
=hc/
一般由基態(tài)躍遷至第一激發(fā)態(tài)所需能量最低。吸收譜線稱為第一共振吸收譜線——主共振線。該線是最靈敏線,干擾小。原子吸收光譜分析法是基于測(cè)量元素的基態(tài)原子蒸氣對(duì)同種元素的原子特征譜線的共振吸收作用進(jìn)行定量分析的方法。原子吸收光譜法測(cè)定的是基態(tài)原子對(duì)特征譜線的吸收。達(dá)到熱平衡時(shí),激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni與基態(tài)原子數(shù)N0的比值服從玻爾茲曼規(guī)律:
對(duì)一定波長(zhǎng)的原子譜線,gi/g0和Ei都是定值,只要火焰的溫度一定,可求出Ni/N0比值。二、基態(tài)原子數(shù)與原子化溫度的關(guān)系
例:計(jì)算2000K和3000K時(shí),Na589.0nm的激發(fā)態(tài)與基態(tài)原子數(shù)比各是多少?已知gi/g0=2。解:共振線nmgi/go激發(fā)能/eVNi/
NoT=2000KT=2500KT=3000KNa589.022.1049.9×10-61.14×10-45.83×10-4Sr460.732.6904.99×10-71.13×10-69.07×10-5Ca422.732.9321.22×10-73.67×10-63.55×10-5Mg285.234.3463.35×10-115.02×10-91.50×10-7Pb283.334.3752.83×10-114.55×10-91.34×10-7Zn213.935.7966.22×10-156.22×10-125.50×10-10幾種元素在不同溫度下的共振線Ni/N0比值
Ni/N0比值隨溫度變化。對(duì)同一元素來說,溫度越高,Ni/N0比值越大,說明溫度對(duì)激發(fā)態(tài)原子數(shù)影響大;對(duì)不同元素,激發(fā)能越低,共振線波長(zhǎng)越長(zhǎng),Ni/N0比值越大。在原子吸收分析時(shí),溫度一般在2000-3000K之間,多數(shù)原子Ni/N0比值很小,N0占99%以上,即使易激發(fā)的元素,Ni也很小,可忽略,把基態(tài)原子數(shù)近似看成總原子數(shù)N,N0≈N,N0∝C。
Ni受溫度影響大,N0受溫度影響小,所以原子吸收分光光度法的精密度比原子發(fā)射光譜法要好得多。
1.吸收定律當(dāng)強(qiáng)度為I0的入射單色光通過厚度為l的基態(tài)原子蒸氣時(shí),透過光的強(qiáng)度I
服從光的吸收定律,得:吸收系數(shù)吸收厚度入射光頻率、基態(tài)原子密度、原子化溫度等有關(guān)。三、原子吸收譜線的輪廓與變寬LI0I2.吸收線的輪廓原子吸收譜線盡管很窄,但不是嚴(yán)格的幾何線,有一定的寬度和輪廓。吸收輪廓是指譜線強(qiáng)度I
或吸收系數(shù)K
(縱坐標(biāo))與頻率ν(橫坐標(biāo))的吸收曲線。
0△
K0K
OK
為吸收系數(shù),隨入射光頻率變化而變化。用K
對(duì)作圖得原子吸收線的輪廓。不同頻率的光,原子的吸收不同,有一定頻率寬度的峰形吸收。吸收譜線的輪廓以吸收譜線的中心頻率
0(或中心波長(zhǎng)
0)和半寬度Δ
(或Δ
)來表征。中心頻率對(duì)應(yīng)的吸收系數(shù)叫峰值吸收系數(shù)K0,峰值吸收值一半處的頻率或波長(zhǎng)叫吸收譜線的半寬度,簡(jiǎn)稱吸收線寬度。
原子吸收線的輪廓
0△
K0K
O
原子吸收線的寬度約為10-3~10-2nm,受多種因素影響,一類是由原子性質(zhì)所決定,另一類是外界因素的影響。
(1)自然寬度無外界因素影響時(shí),譜線固有的寬度叫自然寬度,用Δ
N或Δ
N表示。自然寬度與激發(fā)態(tài)原子的平均壽命、能級(jí)寬度有關(guān)。壽命越短,能級(jí)寬度越寬,譜線寬度越大。一般約10-6~10-5nm。與其它變寬相比,可忽略不計(jì)。3.譜線寬度及變寬
(2)多普勒變寬(熱變寬)
用Δ
D或Δ
D表示,是譜線變寬的主要因素,是由基態(tài)原子受熱后無規(guī)則運(yùn)動(dòng)引起的,這種效應(yīng)無論是在空心陰極燈中發(fā)光原子還是原子化器中被測(cè)基態(tài)原子都存在。熱變寬引起的寬度在10-4~10-3nm之間。 變寬程度公式:
從上式看出,多普勒變寬與吸收原子自身的相對(duì)原子質(zhì)量的平方根成反比,與火焰的溫度平方根成正比,與譜線頻率有關(guān)。
(3)碰撞變寬(壓力變寬)
隨著氣體壓力增大,粒子定向碰撞機(jī)會(huì)增多,使原子或分子的能級(jí)稍有變化,能量發(fā)生變化,吸收頻率發(fā)生變化,從而引起譜線變寬。
洛倫茲變寬:用Δ
L表示,是非同類原子或粒子間碰撞所產(chǎn)生的譜線變寬。通常Δ
L為10-4~10-3nm。
赫爾茲馬克變寬(共振變寬):用Δ
R表示,是同類原子或粒子間碰撞所產(chǎn)生的譜線變寬,通常忽略不計(jì)。待測(cè)原子間相互碰撞,只有在待測(cè)元素濃度很高時(shí)才出現(xiàn)。
壓力變寬通常指的是洛倫茲變寬。
在一定條件下,譜線變寬主要受多普勒變寬和洛倫茲變寬的影響。當(dāng)氣相中與待測(cè)原子共存的其它粒子濃度很小時(shí),以熱變寬為主。
此外,還有電場(chǎng)致寬、磁場(chǎng)致寬及自吸變寬。在分析測(cè)試中,譜線變寬往往會(huì)導(dǎo)致分析的靈敏度降低。1.積分吸收測(cè)量法
各頻率處的吸收系數(shù)不等,吸收曲線的輪廓所包圍的總面積即吸收系數(shù)對(duì)頻率的積分即為積分吸收。積分吸收與原子濃度的關(guān)系式中:e為電子電荷;N0為基態(tài)原子密度;m為電子質(zhì)量,c為光速;f為振子強(qiáng)度,代表每個(gè)原子中能被入射光激發(fā)的平均電子數(shù),在一定條件下對(duì)一定的元素,f可視為一定值。四、原子吸收譜線的測(cè)量
0△
K0K
O為常數(shù),以k表示,得下式:
積分吸收與原子總數(shù)成正比,只要測(cè)出積分吸收,即可求得待測(cè)元素的濃度。其中kN0=N
但由于原子吸收譜線的寬度僅有10-3nm,很窄,要準(zhǔn)確測(cè)量積分吸收,需使用高分辨率的色散儀,一般光譜儀器很難滿足。這就阻礙了原子吸收法的應(yīng)用。2.峰值吸收測(cè)量法1955年澳大利亞物理學(xué)家沃爾什提出采用銳線光源作為輻射源,用峰值吸收代替積分吸收。所謂銳線光源就是能發(fā)射出譜線半寬度很窄的發(fā)射線的光源。它與吸收線都是原子線,強(qiáng)度很近,吸收前后發(fā)射線的強(qiáng)度變化明顯,能準(zhǔn)確測(cè)量。
通常用待測(cè)元素的純物質(zhì)作為銳線光源的陰極,發(fā)射與吸收為同一物質(zhì),產(chǎn)生的0發(fā)=0吸,實(shí)現(xiàn)峰值吸收。用峰值吸收代替積分吸收的必要條件:①
0發(fā)與0吸,發(fā)射線與吸收線的中心頻率相同;②
發(fā)﹤吸,發(fā)射線的半寬度只有吸收線的1/5-1
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