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光纖光纜傳輸特性測試實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)八單模光纖損耗測試實(shí)驗(yàn)一、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、 學(xué)習(xí)單模光纖損耗的定義2、 掌握單模光纖彎曲損耗測試方法二、 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1、測量單模光纖不同彎曲半徑的損耗三、 預(yù)備知識(shí)1、了解單模光纖的特點(diǎn)、特性四、實(shí)驗(yàn)儀器TOC\o"1-5"\h\z1、 ZY12OFCom13BG3型光纖通信原理實(shí)驗(yàn)箱 1臺(tái)2、 FC接口光功率計(jì) 1臺(tái)3、 萬用表 1臺(tái)4、 FC/PC-FC/PC單模光跳線 1根5、 擾模器(可選) 1臺(tái)6、 連接導(dǎo)線 20根五、實(shí)驗(yàn)原理在單模光纖中只傳輸LP0模,沒有多模光纖中各種模變換、模耦合及模衰減等問題,因此其測量方法也與多模光纖有些不同。對(duì)于單模光纖而言,隨著波長的增加,其彎曲損耗也相應(yīng)增大,因此對(duì)1550nm波長的使用,要特別注意彎曲損耗的問題。隨著光纖通信工程的發(fā)展,最低衰減窗口1550nm波長區(qū)的通信必將得到廣泛的運(yùn)用。CCITT對(duì)G.652光纖和G.653光纖在1550nm波長的彎曲損耗作了明確的規(guī)定:對(duì)G.652光纖,用半徑為37.5mm松繞100圈,在1550nm波長測得的損耗增加應(yīng)小于1dB;對(duì)G.653而言,要求增加的損耗小于0.5dB。圖8-1單模光纖彎曲損耗測試實(shí)驗(yàn)框圖此處可不用擾模器,可其它東西實(shí)現(xiàn)光纖的彎曲也可。彎曲損耗的測量,要求在具有較為穩(wěn)定的光源條件下,將幾十米被測光纖耦合到測試系統(tǒng)中,保持注入狀態(tài)和接收端耦合狀態(tài)不變的情況下,分別測出松繞100圈前后的輸出光功率P1和P2,彎曲損耗可由下式計(jì)算得出。
A10lg(P:P) (8-1)1 2相同光纖,傳輸相同波長光波信號(hào),彎曲半徑不同時(shí)其損耗也必定不同,同樣,對(duì)于相同光纖,彎曲半徑相同時(shí),傳輸不同光波信號(hào),其損耗也不同。由于按照CCITT標(biāo)準(zhǔn),光纖的彎曲損耗比較小,在實(shí)驗(yàn)中采用減小彎曲半徑的辦法提高實(shí)驗(yàn)效果的明顯性。實(shí)驗(yàn)測試框圖如圖8-1所示。(a)彎曲半徑R1(a)彎曲半徑R1纏繞方法(b)彎曲半徑R2纏繞方法圖8-2擾模器纏繞方法即先測量1310nm光纖通信系統(tǒng)光纖跳線沒有進(jìn)行纏繞時(shí)輸出光功率P。,再測單模光纖跳線按照?qǐng)D8-2中兩種方法進(jìn)行纏繞時(shí)的光功率七和P2,即可得到單模光纖傳輸1310nm光波時(shí)的相對(duì)損耗值;同樣,組成1550nm光纖傳輸系統(tǒng),,重復(fù)上述操作即可得到單模光纖傳輸1550nm光波時(shí)的相對(duì)損耗值。六、實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)1、 光源,光跳線的插頭屬易損件,應(yīng)輕拿輕放,使用時(shí)切忌用力過大。2、 測量光纖彎曲損耗時(shí),光纖在擾模器上纏繞不可拉得過緊。3、 不可帶電拔插光電器件,要拔插光電器件,須先關(guān)閉電源后進(jìn)行。七、實(shí)驗(yàn)步驟1、 用FC-FC光跳線將1550nm光發(fā)端機(jī)與光功率計(jì)相連,組成簡單光功率測試系統(tǒng)。2、 連接導(dǎo)線:PCM編譯碼模塊T661與CPLD下載模塊983連接,T980與光發(fā)模塊輸入端T151連接。3、 接上交流電源線,先開交流開關(guān),再開直流開關(guān)K01,K02,五個(gè)發(fā)光二極管全亮。4、 接通PCM編譯碼模塊(K60)、CPLD下載模塊(K90),光發(fā)模塊(K15)的直流電源。5、 用光功率計(jì)測量此時(shí)的光功率?「填入表8-1中。6、 將光纖按照?qǐng)D8-2中方法纏繞,,測得此時(shí)的光功率為七,填入表8-1中。波長(nm)纏繞方法一」、ff----一一一一13101550不繞(光功率uW)圖8-2a(光功率uW)圖8-2b(光功率uW)損耗圖8-2a(dB)圖8-2b(dB)表8-1光纖彎曲損耗比較表7、 依次關(guān)閉各直流電源、交流電源。拆除導(dǎo)線,光纖等光纖器件,將實(shí)驗(yàn)箱還原。8、 將測得的數(shù)據(jù)依次代入公式8-1中計(jì)算得出各彎曲損耗。9、 根據(jù)上述實(shí)驗(yàn)步驟,設(shè)計(jì)并完成1310nm單模光纖損耗測試實(shí)驗(yàn)。八、 實(shí)驗(yàn)報(bào)告1、 字跡工整、原理分析透徹;記錄并整理數(shù)據(jù),完成表8-12、 分析比較相同波長,不同曲率半徑單模光纖的彎曲損耗3、 分析比較相同彎曲半徑,不同波長單模光纖的彎曲損耗4、 對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果以及誤差的分析正確九、 實(shí)驗(yàn)思考題1、
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