在線ICT培訓(xùn)技術(shù)資料

德智電子ICT-K568E調(diào)試技術(shù)技巧一．系統(tǒng)主畫面---(如圖一所示)(圖一)慣用快捷鍵：F1:協(xié)助F2:進(jìn)入組件編輯畫面F3:進(jìn)入IC編輯畫面F5:進(jìn)入測(cè)試畫面F6:開短路編輯畫面F8:多連板編輯畫面F9:針點(diǎn)尋找F10:板示畫面F11:組件/板示畫面F12:系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定畫面二．組件編輯畫面---(如圖二所示)(圖二)慣用快捷鍵：F1:協(xié)助F2:自動(dòng)學(xué)習(xí)F4:退出F5:單步測(cè)試F6:整頁(yè)測(cè)試F7:測(cè)試值分布圖F8:高低點(diǎn)反轉(zhuǎn)F9:找點(diǎn)F10:將測(cè)試值拷貝到原則值F11:組件/板示畫面F12:刪略一行Alt+G:人工尋找隔離點(diǎn)Alt+P:查看組件并聯(lián)狀況Alt+R:設(shè)定單步重測(cè)Alt+O:雜散電容設(shè)定Ctrl+F:填入資料Ctrl+F10:雜散電容自動(dòng)扣徐Ctrl+F1:新增一行Ctrl+Back:刪徐一行Ctrl+Alt+F6:全部測(cè)試三．程序設(shè)定調(diào)試環(huán)節(jié)1-1:匯入程序---(如圖三、四、五)檔案---匯入他廠程序---德律TRI---找到程序途徑---文獻(xiàn)類型選擇*.DAT---找到----打開(圖三)(圖四)1-2:參數(shù)設(shè)定:1.2.1:系統(tǒng)配備設(shè)定---(如圖六所示)設(shè)定---系統(tǒng)配備---周邊參數(shù)---聲音輸出裝置---選擇PC喇叭或ICT喇叭(圖六)1.2.2:測(cè)試參數(shù)設(shè)定:1.2.2.1:待測(cè)板參數(shù)設(shè)定---(如圖七所示)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---待測(cè)板參數(shù)設(shè)定---電路板名稱---設(shè)定現(xiàn)在待測(cè)板名稱(圖七)1.2.2.2:O/S參數(shù)設(shè)定---(如圖八所示)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---O/S參數(shù)---起始/絡(luò)止點(diǎn)數(shù)(按點(diǎn)圖設(shè)定)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---O/S參數(shù)---時(shí)間延遲設(shè)定(如板上電容或電感諸多可加大其時(shí)間)(圖八)1.2.2.3:測(cè)試參數(shù)設(shè)定---(如圖九所示)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---選擇開/短測(cè)試(開短路pass后再放開零件/IC)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---壓床操作模式---人工操作(調(diào)試時(shí)為人工,測(cè)試時(shí)為自動(dòng))設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---不良顯示方式---測(cè)試本畫面(如有板示圖可選擇板示畫面)設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---選擇O/S不良中斷---擬定(圖九)1-3:學(xué)習(xí)1.3.1:開短路學(xué)習(xí)---(如圖十所示)主畫面---學(xué)習(xí)---快速/具體開短路學(xué)習(xí)---學(xué)習(xí)---保存---按F5進(jìn)入測(cè)試畫面---壓床上下交換多板測(cè)試(出現(xiàn)開路不良請(qǐng)確認(rèn)針床探針與否接觸良好，短路不良則確認(rèn)學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)與否對(duì)的，可選擇具體學(xué)習(xí).如待測(cè)試板上電容電感較多可將o/s參數(shù)內(nèi)的開短路時(shí)間延遲放大,測(cè)試時(shí)用足夠的時(shí)間來(lái)判斷！)---直到每塊板都pass.(圖十)1.3.2:組件學(xué)習(xí)與隔離---(如圖十一所示)主畫面---設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---選擇零件測(cè)試---擬定主畫面---學(xué)習(xí)---組件學(xué)習(xí)與隔離---學(xué)習(xí)---關(guān)閉（圖十一）注：因受到電路網(wǎng)絡(luò)及針床等各方面因素影響,組件學(xué)成率無(wú)法達(dá)成100%.故無(wú)法學(xué)成之環(huán)節(jié)則須人工調(diào)試徐錯(cuò),以提高測(cè)試精確度！1.3.2.1:跳線調(diào)試----各檔位阻值—1:0~5奧姆2:5~25奧姆3:25~50奧姆4:50奧姆以上主畫面---按F2進(jìn)入組件編輯---按J模式排序普通設(shè)定原則值為2,下限為0,即阻值設(shè)定為0~25奧姆.如跳線測(cè)到3(25~50歐)則表達(dá)針床接觸不良.測(cè)試值為4時(shí)，普通為開路狀態(tài)。請(qǐng)檢查扁平電纜與否插好，針床探針與否老化等等。1.3.2.2:電阻組件調(diào)試（模式R）FG:其標(biāo)五種辦法分別為：1：CV-R(定電壓測(cè)電阻)2：CI-R(定電流測(cè)電阻)3：CV-Sync(同時(shí)積分定電壓)4：CI-Sync(同時(shí)積分定電流)5：AC-R（交流法測(cè)試）當(dāng)電阻組件測(cè)試不良時(shí)，首先確認(rèn)：實(shí)際值、高低點(diǎn)、原則值與否對(duì)的。如不正確請(qǐng)將其改正。將原則值清為0---Enter---輸入對(duì)的的原則值---系統(tǒng)FTS會(huì)自動(dòng)復(fù)位調(diào)節(jié)---將上下限放為1---去掉Fg和全部隔離點(diǎn)---按F2自動(dòng)學(xué)習(xí)---如學(xué)成則還原上下限---如無(wú)法學(xué)到則可將FG改為3(CV-R)重復(fù)上述環(huán)節(jié)--電阻與較大電容并聯(lián)時(shí)則可將FG改為5(AC-R)再做F2自動(dòng)學(xué)習(xí)。如測(cè)試值飄動(dòng)可按Alt+R設(shè)定單步重測(cè)或增加delay.1.3.2.3:電容組件調(diào)試（模式C）FG:棋標(biāo)五種辦法分別為：1：CI-C(定電流測(cè)試電容)2：AC-C(交流法測(cè)試電容)電容調(diào)試辦法與電阻相似只是FG不同。在調(diào)試小電容(PF級(jí))時(shí)受到雜散電容的影響，實(shí)際測(cè)試到的值會(huì)比原則值大，這時(shí)可將背面的FTS改為543后按Ctrl+F10系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)扣徐雜散電容。最后測(cè)到真正的電容值。1.3.2.4:二極管/IC組件調(diào)試（模式D）先按D模式排序，然后按Ctrl+F將s檔位設(shè)為6~8檔。將原則值清為0,按F2自動(dòng)學(xué)習(xí)---普通測(cè)試值在700mv左右---F8反轉(zhuǎn)高低點(diǎn)正反向電壓會(huì)有較大偏差1.3.2.5:三極管（模式D/TR）三極管測(cè)試分為三部即BC、BE、CE。BC/E極測(cè)試用D模式。當(dāng)測(cè)CE(三極管飽和壓降，可測(cè)試CE極插反現(xiàn)象)時(shí)將程式編輯至三端元件,高低點(diǎn)為CE兩極下針點(diǎn)，原則值為200mv模式改為TR,FG字段輸入三極管型號(hào)(NPNorPNP),隔離點(diǎn)字段輸入B極下針點(diǎn)按F2自動(dòng)學(xué)習(xí)。測(cè)試值普通在200mv左右。1.3.2.6:電感（模式L）電感測(cè)試普通分兩部即一部測(cè)試電感值，另一部測(cè)試其電阻。調(diào)試辦法同電阻.當(dāng)電感值不大于10uh時(shí)，建議值F=5T=4S=1.備注：量測(cè)值驗(yàn)證法：調(diào)節(jié)上下一檔，其量測(cè)值必須相近重測(cè)性良好如未符合上項(xiàng)要素，則可能量測(cè)到非DUT的值各操作環(huán)節(jié)均須配合swapP+/P-(F8)來(lái)做R--T值≥4或Scale檔位≥6時(shí)，必要時(shí)加DelayD組件同向并聯(lián)時(shí)須將模式改DR,按F2自么學(xué)習(xí)，普通正向電阻在200歐左右反向電阻++++.

1.3.3:IC保護(hù)二極管學(xué)習(xí)---(如圖十二所示)主畫面---設(shè)定---測(cè)試參數(shù)---測(cè)試參數(shù)---選擇IC開路測(cè)試---擬定主畫面---學(xué)習(xí)---ICD學(xué)習(xí)---學(xué)習(xí)---關(guān)閉---保存（圖十二）注：如果用此辦法學(xué)習(xí)IC,前提是在<組件編輯畫面>下的<IC開路>必須有數(shù)據(jù).如果沒有則須在F3IC編輯畫面下輸入各＜IC名稱，IC腳數(shù)，IC下針腳位，電源腳，地腳＞后再學(xué)習(xí).學(xué)完后系統(tǒng)將自動(dòng)生成IC測(cè)試程序。四．上線測(cè)試程序調(diào)節(jié)pass后，必須做多塊板交換測(cè)試