光纜線路培訓(xùn)第6章

第6章光纜的測試6.1光纜線路測試類型及測試項(xiàng)目6.2光纖衰減的測量6.3光纖長度的測量6.1光纜線路測試類型及測試項(xiàng)目6.1.1測試類型1．光纜線路工程測試 光纜線路工程測試是指在工程建設(shè)階段，對(duì)單盤光纜和中繼段光纜進(jìn)行的性能指標(biāo)檢測。（1）單盤測試 單盤測試是單盤檢驗(yàn)的組成部分。單盤測試是對(duì)運(yùn)輸?shù)浆F(xiàn)場的光纜傳輸、技術(shù)特性進(jìn)行檢驗(yàn)，以確定運(yùn)輸?shù)椒滞忘c(diǎn)上的光纜是否達(dá)到設(shè)計(jì)文件的要求。（2）竣工測試（中繼段測試） 光纜線路工程竣工測試又稱光纜的中繼段測試，這是光纜線路施工過程中較為關(guān)鍵的一項(xiàng)工序?？⒐y試是從光電特性方面全面地測量、檢查線路的傳輸指標(biāo)。 竣工測試還應(yīng)包括光纜線路工程的竣工驗(yàn)收。2．光纜線路維護(hù)測試 通過對(duì)光纜線路的光電特性測試，可以了解光纜的工作狀態(tài)，掌握光纜線路實(shí)際運(yùn)行狀況，正確判斷可能發(fā)生障礙的位置和時(shí)間，為光纜線路提供可靠的技術(shù)資料。6.1.2測試項(xiàng)目1．工程測試項(xiàng)目2．維護(hù)測試項(xiàng)目6.2光纖衰減的測量6.2.1光纖衰減的概念 衰減是光纖中光功率減少的一種度量，它取決于光纖的工作（波長）類型和長度，并受測量條件的影響。 在波長l處，一段光纖上相距距離為L的兩個(gè)橫截面1和2之間的衰減A(l)定義為 通常，對(duì)于均勻光纖來說，可用單位長度的衰減，即衰減系數(shù)反映光纖衰減性能的好壞。衰減系數(shù)a(l)定義為a(l)＝A(l)/L(dB/km) 6.2.2光纖衰減的測量方法常用的光纖衰減測量方法有截?cái)喾?、后向散射法和插入損耗法。1．截?cái)喾ǎ?）測量原理在不改變注入條件下，分別測出通過光纖兩個(gè)點(diǎn)的光功率P1和P2，再按定義計(jì)算出光纖的衰減系數(shù)a。（2）測量裝置及各部分作用圖6.1截?cái)喾y量衰減的測量裝置

圖6.2截?cái)喾y量衰減譜的測量裝置

①光源②調(diào)制③濾模器④注入系統(tǒng) a．單模光纖注入條件 b．多模光纖注入條件

濾模器圖6.3采用濾模器的衰減測量注入裝置

幾何光學(xué)注入圖6.4空間狀態(tài)限制衰減測量的幾何注入裝置

⑤包層模剝除器。包層模剝除器促使包層轉(zhuǎn)換成輻射模，從而使包層模從光纖中被剝除。 ⑥光探測器。（3）測量方法2．后向散射法（1）測量原理 后向散射法是測量光纖衰減的第一替代法。它基于能從光纖中雙向后向散射光信號(hào)提取光纖衰減或衰減系數(shù)、光纖長度、衰減均勻性、點(diǎn)不連續(xù)性、光學(xué)連續(xù)性、物理缺陷和接頭損耗等信息。 經(jīng)過往返兩次衰減的值，所以曲線斜率為常數(shù)的AB段光纖的衰減為

A(l)AB=0.5(PA?PB)(dB)

a(l)=A(l)AB/LAB(dB/km) 圖6.5后向散射法測得的衰減曲線

AB間的長度（距離）為（2）測量裝置及各部分作用 后向散射法所用的裝置就是光時(shí)域反射計(jì)OTDR組成如圖6.6所示。圖6.6OTDR的組成方框圖

（3）測量方法圖6.7OTDR衰減曲線

3．插入損耗法（1）測量原理 測量原理類似于截?cái)喾?，只不過插入損耗法用帶活接頭的連接軟線代替短光纖進(jìn)行參考測量，計(jì)算在預(yù)先相互連接的注入系統(tǒng)和接收系統(tǒng)之間（參考條件）因插入被測光纖引起的功率損耗。 插入損耗法有兩個(gè)可供選擇的參考條件下的測量原理方案，如圖6.8所示。圖6.8典型的插入損耗法測試裝置

（2）測量裝置及各部分的作用（3）測量方法 ①方案1：被測光纖段的總衰減可按下式計(jì)算。 式中：Cr，C1，C2分別是在參考條件下，被測光纖輸入端和輸出端連接器的標(biāo)稱平均損耗（dB）。-- ②方案2：被測光纖段的總衰減計(jì)算式如下。4.“4P”法測接頭損耗圖6.9光纖連接損耗測量（“四功率值”法）

永久性連接的附加損耗為--6.3光纖長度的測量6.3.1傳輸脈沖時(shí)延法 設(shè)光脈沖經(jīng)長度為L(m)，平均折射率為n的光纖傳輸后，其傳輸時(shí)延Dt為 Dt＝n·L/c(s) 式中，c為真空中光速（3×108m/s），此式可改寫為 L＝c·Dt/n(m)圖6.10傳輸脈沖時(shí)延測量光纖長度 可見，只要測得Dt，便能