2024測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法

測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南PAGEPAGE1015頁20231220231231日發(fā)布20231231日實施測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南目的和范圍評估方法，并給出了相關應用示例。本文件適用于實驗室等合格評定機構和其他相關方對測量設備校準周期的確定和調(diào)整。規(guī)范性引用文件JJF1001—2011通用計量術語及定義ISO/IEC17000:2020合格評定詞匯和通用原則ISO/IEC17020:2012合格評定各類檢驗機構的運作要求ISO/IEC17025:2017檢測和校準實驗室能力的通用要求ISO/IEC17065:2012合格評定產(chǎn)品、過程和服務認證機構要求ISO/IEC指南99:2007國際計量學詞匯基礎和通用概念及相關術語（VIM）ILAC-G24:2022/OIMLD10:2022測量設備校準周期的確定指南CIPMMRA-G-13:2022CIPMMRA框架內(nèi)的校準和測量能力術語和定義JJF1001—2011ISO/IEC99:2007（VIM）中界定的以及下列術語和定義適用于本文件。calibrationintervals對特定的一臺或一組測量設備進行連續(xù)有計劃校準之間的時間間隔。注：校準周期又稱為校準間隔、再校準間隔或復校時間間隔。測量可靠性measurementreliability（設：測量可靠性是測量設備歷次校準時間的函數(shù)。measurementresult，resultofmeasurement與其他有用的相關信息一起賦予被測量的一組量值。1：能代表被測量的信息。它可以用概率密度函數(shù)(PDF)的方式表示。注2：測量結果通常表示為單個測得的量值和一個測量不確定度。對某些用途，如果認為測量不確定度可忽略不計，則測量結果可表示為單個測得的量值。在許多領域中這是表示測量結果的常用方式。3：VIM按情況解釋為一個平均示值、未修正的結果或已修正的結果。[來源：JJF1001—2011,5.1,有修改]measurementuncertaintyuncertaintyofmeasurement簡稱不確定度（uncertainty）根據(jù)所用到的信息，表征賦予被測量量值分散性的非負參數(shù)。是作為不確定度分量來處理。注2：此參數(shù)可以是諸如稱為標準測量不確定度的標準偏差（或其特定倍數(shù)或是說明了包含概率的區(qū)間半寬度。AB進行評定，也用標準偏差表征。4：該值的改變將導致相應的不確定度的變化。[來源：JJF1001—2011,5.18,有修改]measuringequipment正確實施實驗室活動所需的并對測量結果有影響的設備（器、軟件、測量標準、標準物質(zhì)、參考數(shù)據(jù)、試劑、耗材或輔助設備。注1：對于本文件的內(nèi)容，測量儀器是測量設備的組成部分，在測量中起著重要作用。一些測量儀器可以獨立完成一個測量過程或實現(xiàn)一個物理量。注2：對于本文件的內(nèi)容，測量設備等同于測量系統(tǒng)。[來源：ILAC-G24:2022/OIMLD10:2022,3.17]calibrationandmeasurementcapability（CMC）在常規(guī)條件下，能夠提供給客戶的校準和測量能力：（ILACCMC（CIPM（NMIs公布在國際計量局（BIPM）的關鍵比對數(shù)據(jù)庫（KCDB）中。CMC包含校準實驗室認可的所有校準能力。CMC擴展不確定度和說明等信息。[來源：CIPMMRA-G-13:2022,有修改]校準程序calibrationprogram為保證測量結果的計量溯源性而建立的文件化程序。（但不限于施、制定期間核查。laboratory從事下列一種或多種活動的機構：檢測、校準、與后續(xù)檢測或校準相關的抽樣。[來源：ISO/IEC17025:2017,3.6]conformityassessmentbody實施除認可外的合格評定活動的機構。[來源：ISO/IEC17000:2020,3.6]認可機構accreditationbody從事認可的權威機構。有者。[來源：ISO/IEC17000:2020,3.7]inspectionbody從事檢驗活動的機構。注：檢驗機構可以是一個組織，或是一個組織的一部分。[來源：ISO/IEC17020:2012,3.5]certificationbody運作認證方案的第三方合格評定機構。注：認證機構可以是政府的或非政府的（具有或不具有監(jiān)管權利[來源：ISO/IEC17065:2012,3.12]總則（或再校準如，ISO/IEC17025、ISO15189、ISO/IEC17020、ISO/IEC17043、ISO/IEC17065、ISO9001、ISO17034ISO22870均包含了這方面的內(nèi)容。注：可通過但不限于以下方式來保持測量結果的溯源性：——確定的校準周期；——規(guī)定的過程控制措施；——規(guī)定的期間核查。b)實現(xiàn)對測量設備可達到的要求或聲明的測量不確定度的確認；c)生懷疑。5.1。當選擇的校準服務滿足CNAS-CL01-G002（源證書）可用于確定校準周期。來的風險相平衡。估校準周期的簡單方法及其對不同類型測量設備的適用性。用。實驗室宜選擇適當?shù)姆椒ㄓ糜诖_定校準周期，并將所選用的方法進行文件化規(guī)GB/T27025)。/在預定限值內(nèi)。注1：對于有些類型的測量設備，組成設備的每個測量儀器或裝置可以單獨的進生的不確定度評定得出的。器和裝置的校準周期。初始校準周期的選擇實驗室所需的和評定的測量不確定度；測量設備及其組件的類型；測量設備在使用中超出預定限值（如最大允許誤差）或準確度要求的風險；制造商關于測量設備的建議(如當實驗室根據(jù)儀器準確度評定測量不確定度時)；磨損和漂移的趨勢；預期的使用范圍和嚴酷程度；環(huán)境條件（如氣候條件、振動、電離輻射等）；被測量對測量結果的影響(如高溫對熱電偶的影響)；相同或類似測量設備已匯總或發(fā)布的數(shù)據(jù)；與其他測量標準或測量儀器比對的頻次；期間核查的頻次、質(zhì)量和結果；測量設備的運輸安排及相應的風險；操作人員接受培訓的程度和既定程序的執(zhí)行程度；法律要求。能時長。校準周期的評估方法一般原則（基于一定數(shù)量的連續(xù)校準結果可能達不到期望的最佳結果，原因包括但不限于：測量設備可能比預期更加可靠或不可靠；測量設備的使用及保養(yǎng)的程度可能與預期不符；有些測量設備只需進行部分校準，而不需要進行全面校準；風險的情況下延長校準周期。實驗室選擇評估校準周期的方法時，可以考慮以下因素：測量設備是單獨處理還是分組處理(如按制造商型號或按類型處理)；許誤差、準確度要求)；測量設備是否呈現(xiàn)出不同類型的不穩(wěn)定性；測量設備是否經(jīng)歷過調(diào)整；（如從以前的校準記錄中獲得的趨勢數(shù)據(jù)、測量儀器維護和維修的歷史記錄、期間核查的數(shù)據(jù)）勢可能表明有必要調(diào)整校準周期。實驗室有必要對校準周期和設備性能進行持續(xù)評程序、規(guī)定的方法或形成共識的標準。1：自動調(diào)整法或“階梯”法(日歷時間)進行技術調(diào)整或預防性維護。性、穩(wěn)定性、檢出限等。本文件給出了該方法的應用及示例，分別見附錄A和附錄B。風險與成本之間的平衡，并且需要實驗室進行詳細的預先策劃。實驗室不宜使用此方法設置過長的校準周期，因為可能會導致召回大量證書/報告或重復大量工作的風險，且這種風險最終可能會變得不可接受。2：控制圖法（日歷時間）控制圖是“統(tǒng)計質(zhì)量控制”(SQC)最重要的工具之一，其工作原理如下：果的離散度和儀器漂移。幾個校準周期的平均漂移。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，實驗室可以估算出最佳校準周期。制造商的規(guī)定限值是否合理，對已發(fā)現(xiàn)儀器漂移的分析有可能揭示出漂移的原因。注:該方法不適用于沒有漂移的測量設備，適用于具有單一量值的實物量具，如量塊或標準電阻。方法312該方法的主要優(yōu)點是校準頻次及由此產(chǎn)生的校準費用會直接隨測量設備使用時間的長短而變化，且可以使用記錄測量設備使用時長的自動計時器。該方法也存在以下缺點：不適用于包含無源(不需額外的能量輸入源提供輸出)測量儀器(如衰減器)或無源測量標準(如電阻、電容)的測量設備；或性能退化的測量設備；外的監(jiān)控，這也會增加成本；12定校準計劃會更困難。4：期間核查法（或“黑盒”測試法）412每天一次或更頻繁)，或者使用專門設計的“黑盒”對所選參數(shù)進行核查。如果發(fā)現(xiàn)測量設備超出最大允許誤差(或其他規(guī)定限值)，需對測量設備進行全面的校準和調(diào)4注1：適用于此方法的測量儀器：密度計(諧振式)、鉑電阻溫度計(結合日歷時間法使用)、劑量計(含源)和聲級計(含源)等。本文件給出了該方法的應用及示例，見附錄C。準。該方法的難點在于確定關鍵參數(shù)和“黑盒”的設計。該方法在原則上非?？煽?，但也存在不確定性，因為測量設備可能在“黑盒”需要合理選擇并定期評估“黑盒”的校準周期。5：其他統(tǒng)計法別在與適當?shù)能浖ぞ呓Y合使用時，這類方法正獲得越來越多的關注。（即數(shù)組測量設備（NCSL中給出的建立和調(diào)整校準周期的詳細例子。校準周期的評估方法比較6.26.6實驗室（1）4、56.1響到所保存的再校準記錄。1。表1校準周期的評估方法比較性能方法方法1自動調(diào)整法方法2控制圖法方法3方法4黑盒測試方法51)其他統(tǒng)計可靠性中高中高中應用的費力程度低高中低高風險和成本之間工作量的平衡中中低中低對特定設備的適用性中低高高低測量設備的可用性中中中高中1)使用合適的軟件工具時，可以得到更好的評分效果附錄A（資料性）簡單反應調(diào)整法及示例“階梯調(diào)整法”。80%時，機構可制定如下判定規(guī)則：80%內(nèi)時，則調(diào)整后的校準周期可延長；后，則調(diào)整后的校準周期需縮短；80%100%之間時，或對校準結果的符對測量設備的性能做進一步驗證。A.2ab)b縮短校準周期。調(diào)整后的校準周期I1可通過公式（A.1）或（A.2）進行調(diào)整：I1I0(1a)I1I0(1b)b11a)t/t

式中：I1——測量設備調(diào)整后的校準周期；I0——測量設備調(diào)整前的校準周期；a——增量系數(shù)；b——減量系數(shù)；Rt——長期平均測量可靠性目標。aRt值，b值可通過aba0.1、b0.5590%Rt。注：建議a選擇0.1附近的值，Rt選擇不小于90%的值。a值時，實驗室可根據(jù)以下情況進行權衡：a值越大，則該方法使校準周期a附近。示例測量設備為3等量塊（負10塊組I02月，取a1、值/mm第1次校準第2次校準第3次校準/μm動量/μm/μm中心長度偏差/μm長度變動量/μm值/mm第1次校準第2次校準第3次校準/μm動量/μm/μm中心長度偏差/μm長度變動量/μm/μm中心長度偏差/μm動量/μm長度年變化量/μm0.991+0.050.000.01+0.050.000.00+0.040.010.000.992+0.070.000.00+0.070.010.00+0.060.010.000.993-0.040.010.00-0.040.010.00-0.040.020.000.994+0.040.010.00+0.040.010.00+0.050.010.010.995+0.050.000.00+0.050.000.00+0.050.010.000.996+0.100.000.00+0.100.010.01+0.100.000.000.997-0.050.020.00-0.050.020.00-0.060.020.000.998+0.130.020.01+0.130.020.00+0.130.020.000.999-0.100.010.00-0.100.020.00-0.100.020.001.000+0.080.010.00+0.080.010.00+0.080.020.00擴展不確定度U=0.11μm、長度變動量最大允差0.16μm、長度的最大允許年變化量0.10μm1次校準結果符合要求（3等80：I1I0(1a)12(10.11)13(月)2次校準結果符合要求（3等80：I2I1(1a)13(10.11)14(月)3次校準結果符合要求（3等80：I3I2(1a)14(10.11)16(月)附錄B（資料性附錄）增量反應調(diào)整法及示例增量反應調(diào)整法也是基于測量設備的校準結果對其校準周期進行調(diào)整的一種簡單方法。A.2。+1m的關系見公式（.1m I I1 (R1()m m1與m的關系見公式（.2

（B.1）式中：

mm1 2

，0y01

（B.2）Im——第m次校準時的校準周期；m——第m次校準周期調(diào)整的系數(shù)；R——測量可靠性目標；ym——計算因子，當?shù)趍次校準結果滿足要求時ym1，當?shù)趍次校準結果不滿足要求時ym0；m——校準周期的調(diào)整序號。R會逐漸變小。示例M1（均帶調(diào)整腔I0RB.1。表B.1M1等級砝碼的歷次校準結果標稱質(zhì)量/g折算質(zhì)量修正值/mg擴展不確定度/mg最大允許誤差/mg第1次校準第2次校準第3次校準第4次校準1-0.1-0.2-0.4-0.40.3±1.020.50.40.50.50.4±1.22*0.60.50.60.60.4±1.250.60.60.60.60.5±1.6100.40.40.40.40.6±2.0200.90.90.90.90.8±2.520*0.10.10.10.10.8±2.5501.71.51.41.41.0±3.01002.80.4（5.1）0.50.51.6±5.020056553±10200*66553±1050077668±252g5.1