《激光雷達(dá)用多面掃描轉(zhuǎn)鏡》（征求意見(jiàn)稿）

1T/COEMA****—2024激光雷達(dá)用多面掃描轉(zhuǎn)鏡本文件規(guī)定了激光雷達(dá)用多面掃描轉(zhuǎn)鏡的術(shù)語(yǔ)和定義、技術(shù)要求，描述了多面達(dá)掃描轉(zhuǎn)鏡的試驗(yàn)方法、標(biāo)識(shí)。本文件適用于所有材料類型（包括但不限于金屬、玻璃等材料）的激光雷達(dá)多面掃描轉(zhuǎn)鏡。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T1185光學(xué)零件表面疵病GB/T1804一般公差未注公差的線性和角度尺寸的公差GB/T2831光學(xué)零件的面型偏差GB/T28046.4道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候負(fù)荷GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化GB/T26332.4光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第4部分：規(guī)定的試驗(yàn)方法3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1掃描轉(zhuǎn)鏡Scanningrotatingmirror能使入射光束按特定的方式與時(shí)間順序進(jìn)行反射，從而實(shí)現(xiàn)光束的偏轉(zhuǎn)，并能使反射光束在像2T/COEMA****—2024面上運(yùn)動(dòng)掃描成像，以下簡(jiǎn)稱為轉(zhuǎn)鏡。3.2塔型掃描轉(zhuǎn)鏡Towerscanningrotatingmirror各反射面向旋轉(zhuǎn)軸線呈一定角度傾斜，呈塔形外觀。3.3柱型掃描轉(zhuǎn)鏡Cylinderscanningrotatingmirror各反射面平行于旋轉(zhuǎn)軸線，呈棱柱形外觀。3.4基準(zhǔn)面Datumplane垂直于旋轉(zhuǎn)軸，用于定位的平面。3.5有效反射面Effectivereflectingsurface反射面使用時(shí)的有效光學(xué)工作范圍。3.6角錐偏差Pyramidaldeviation射面角錐偏差為該面相對(duì)于基準(zhǔn)面的角度偏離公稱值的大小，用角度分表示。轉(zhuǎn)鏡的角錐偏差上下限為各反射面角錐偏差中的最大值和最小值，又稱尖塔差。3.7角度偏差A(yù)ngledeviation反射面角度偏差為相鄰反射面夾角偏離公稱值的大小，用角度分表示。轉(zhuǎn)鏡的角度偏差上下限為各反射面角度偏差的最大值和最小值。3.8面型偏差Surfaceformdeviation被測(cè)光學(xué)表面相對(duì)于參考光學(xué)表面的偏差。[引用：GB/T2831光學(xué)零件的面型偏差]3.9光譜反射比Spectralreflectance反射的與入射的輻射能通量或光通量的光譜密集度之比。[GB/T26332.1光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第1部分定義]T/COEMA****—2024注：光譜反射比的百分比表示形式稱為光譜反射率，用符號(hào)R（A）表示。3.10入射角Angleofincidence入射光線與入射表面法線的夾角。[GB/T26332.1光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第1部分定義]3.11表面疵病Surfacedefect光學(xué)零件表面呈現(xiàn)的麻點(diǎn)、斑點(diǎn)、擦痕、破邊等瑕疵。除鍍膜層疵病、長(zhǎng)擦痕和破邊之外的表面疵病。[引用：GB/T1185光學(xué)零件表面疵病]3.12峰谷值Peaktovalley實(shí)際表面相對(duì)于參考平面的最大距離減去最小距離，簡(jiǎn)稱PV值。3.13輪廓的均方根偏差Rootmeansquaredeviation采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓高度的均方根偏差，簡(jiǎn)稱Rms值。4技術(shù)要求4.1材料所用的材料應(yīng)符合圖紙要求。4.2表面質(zhì)量表面質(zhì)量應(yīng)符合圖紙要求，若圖紙未標(biāo)注應(yīng)符合GB/T1185光學(xué)零件表面疵病中4.5項(xiàng)目未注公差的要求。4.3線性尺寸及一般形位尺寸所有的線性尺寸以及形位尺寸應(yīng)符合圖紙要求，未注公差尺寸要求應(yīng)符合GB/T1804未注公差的公差標(biāo)準(zhǔn)中的5.1、5.2要求的表1、表3中的m等級(jí)精度。4T/COEMA****—20244.4關(guān)鍵尺寸要求4.4.1機(jī)械規(guī)格機(jī)械規(guī)格尺寸宜從表1中選擇，機(jī)械規(guī)格尺寸示意如圖1所示，特殊要求也可由供求雙方協(xié)商確定，應(yīng)明確說(shuō)明對(duì)應(yīng)要求以及對(duì)應(yīng)測(cè)試方法。圖1機(jī)械規(guī)格尺寸示意圖表1機(jī)械規(guī)格要求表5′1′4.4.2光學(xué)規(guī)格T/COEMA****—2024有效反射面的光學(xué)規(guī)格尺寸宜從表2中選擇，也可由供求雙方協(xié)商確定，應(yīng)明確說(shuō)明對(duì)應(yīng)要求以及對(duì)應(yīng)測(cè)試方法。表2光學(xué)規(guī)格要求表4.5膜層要求膜層性能要求宜從表3中序號(hào)1至序號(hào)12中選擇，其中序號(hào)1至序號(hào)7為必檢項(xiàng)目，序號(hào)8至序號(hào)12若客戶有檢驗(yàn)需求，應(yīng)按照密封等級(jí)IP6K9K（參考GB/T28046.4道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候負(fù)荷中附錄A的要求）密封后進(jìn)行試驗(yàn)。特殊要求也可由供求雙方協(xié)商確定試驗(yàn)項(xiàng)目，應(yīng)明確說(shuō)明對(duì)應(yīng)要求以及對(duì)應(yīng)測(cè)試方法。表3膜層性能要求表12膜層無(wú)腐蝕，不出現(xiàn)新的起皮、剝離、裂紋、起泡等缺陷。膠合面無(wú)3456無(wú)新的損傷跡象，如擦痕、剝離78膜層無(wú)腐蝕，不出現(xiàn)新的起皮、剝離、裂紋、起泡等缺陷。膠合面無(wú)96T/COEMA****—2024膜層無(wú)腐蝕，不出現(xiàn)新的起皮、5試驗(yàn)方法5.1測(cè)試條件環(huán)境溫度20+/-3?C，相對(duì)濕度45%-55%的條件下進(jìn)行檢驗(yàn)。（注：高溫、低溫、鹽霧、濕熱試驗(yàn)等除外。）5.2表面質(zhì)量按照GB/T1185描述的方法進(jìn)行試驗(yàn)。5.3線性尺寸及一般形位尺寸線性尺寸及一般形位尺寸宜采用測(cè)量精度不大于尺寸公差帶的三分之一到十分之一的經(jīng)過(guò)校驗(yàn)的通用測(cè)量設(shè)備。5.4關(guān)鍵尺寸5.4.1機(jī)械規(guī)格要求基準(zhǔn)面相關(guān)尺寸、面間距均勻度、軸承孔精度、角度偏差、角錐偏差等尺寸宜采用測(cè)量精度不大于尺寸公差帶的三分之一到十分之一的經(jīng)過(guò)校驗(yàn)的通用測(cè)量設(shè)備。5.4.2光學(xué)規(guī)格要求入射角通過(guò)反射率測(cè)量設(shè)備配帶的工裝保證。光譜反射率宜使用分光光度計(jì)或等同測(cè)量方式的設(shè)備應(yīng)在有效反射面內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)。面型精度T/COEMA****—2024宜使用等厚干涉原理，具有檢測(cè)光學(xué)元件面型功能或接觸式測(cè)量面型精度的精密儀器。表面粗糙度宜使用具有干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量或接觸式測(cè)量粗糙度的精密儀器。5.5膜層5.5.1高溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表4高溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表62試驗(yàn)按GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表4。5.5.2低溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表5低溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表試驗(yàn)按GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表5。5.5.3溫度循環(huán)試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)8T/COEMA****—2024表6溫度循環(huán)/冷熱沖擊試驗(yàn)溫度嚴(yán)酷等級(jí)表ABCDEFGHIJKLMNOPZ表7溫度循環(huán)試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表3219T/COEMA****—2024試驗(yàn)按GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化中試驗(yàn)Nb進(jìn)行試驗(yàn)，單次試驗(yàn)溫度變化示意如圖2所示，T1、T2溫度從表6中選擇，嚴(yán)酷等級(jí)參照表7。標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明:1停留時(shí)間;2初始溫度;X持續(xù)時(shí)間,單位為小時(shí)(h);T溫度,單位為攝氏度(℃)。圖2溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度變化示意圖5.5.4冷熱沖擊嚴(yán)酷等級(jí)表8冷熱沖擊試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表10kg以下的試樣,最大為20s。超過(guò)T/COEMA****—2024試驗(yàn)按GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化中試驗(yàn)Na進(jìn)行試驗(yàn)，單次試驗(yàn)溫度變化示意如圖3所示，T1、T2溫度從表6中選擇，嚴(yán)酷等級(jí)參照表8。標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明:1停留時(shí)間;2初始溫度;X持續(xù)時(shí)間,單位為小時(shí)(h);T溫度,單位為攝氏度(℃)。圖3冷熱沖擊試驗(yàn)溫度變化示意圖5.5.5附著力嚴(yán)酷等級(jí)表9附著力試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表緩慢(≈25mm/2s至3s）快(≈25mm/s）疾速(≥25mm/s）試驗(yàn)按GB/T26332.4光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第4部分：規(guī)定的試驗(yàn)方法中規(guī)定的試驗(yàn)方法02：T/COEMA****—2024附著力進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表9。5.5.6摩擦嚴(yán)酷等級(jí)表10摩擦試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表試驗(yàn)按GB/T26332.4光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第4部分：規(guī)定的試驗(yàn)方法中規(guī)定的試驗(yàn)方法01：摩擦進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表10。5.5.7恒定濕熱試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表11恒定濕熱試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表試驗(yàn)按GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)中的要求進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表11。5.5.8循環(huán)濕熱嚴(yán)酷等級(jí)表12交變濕熱試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表655T/COEMA****—2024試驗(yàn)按GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）試驗(yàn)中的要求進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表12。5.5.9鹽霧試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表13鹽霧試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表試驗(yàn)按GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧要求進(jìn)行試驗(yàn)，嚴(yán)酷等級(jí)參照表13。5.5.10溶解性嚴(yán)酷等級(jí)表14溶解性試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)表T/COEMA****—2024試