材料分析測(cè)試技術(shù)智慧樹(shù)知到期末考試答案2024年

材料分析測(cè)試技術(shù)智慧樹(shù)知到期末考試答案2024年材料分析測(cè)試技術(shù)在底心點(diǎn)陣中，（HKL）晶面的結(jié)構(gòu)因子F不受晶面指數(shù)（）的影響。

A:HB:LC:K和LD:K答案:L在建立埃瓦爾德球時(shí)，以（）為半徑構(gòu)建一個(gè)球，在球心放置試樣。

A:dB:λC:1/λD:1/d答案:1/λ利用X射線(xiàn)譜圖確定點(diǎn)陣常數(shù)時(shí)，當(dāng)θ角趨近于90°時(shí)，盡管存在同樣大小的測(cè)量誤差△θ，對(duì)應(yīng)的sinθ的誤差趨近于（）。

A:1B:零C:其他選項(xiàng)都不對(duì)D:無(wú)窮大答案:零掃描電鏡的分辨率直接受到入射電子束（束斑）直徑的影響，電子束直徑愈小，分辨率愈（）。

A:低B:沒(méi)有C:中等D:高答案:高熱重曲線(xiàn)中，水平部分表示重量（）。

A:變大B:變小C:不變D:中等答案:不變?cè)诘仔狞c(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K為（）時(shí)，產(chǎn)生消光現(xiàn)象。

A:奇數(shù)B:任意情況C:零D:偶數(shù)答案:奇數(shù)把中間鏡的物平面與物鏡的（）重合，可實(shí)現(xiàn)透射電鏡的成像操作。

A:物平面B:焦平面C:投影面D:像平面答案:像平面由于（）為零而使X衍射線(xiàn)消失的現(xiàn)象稱(chēng)為系統(tǒng)消光。

A:偏振因子B:角度因子C:結(jié)構(gòu)因子D:溫度因子答案:結(jié)構(gòu)因子在電子探針波譜儀中，通過(guò)（），使樣品作用體積內(nèi)不同波長(zhǎng)的X射線(xiàn)分散并展示出來(lái)。

A:WDSB:分光晶體C:定標(biāo)器D:EDS答案:分光晶體主要用于材料物相分析的儀器是（）。

A:掃描電鏡B:電子探針C:差熱分析D:X射線(xiàn)衍射儀答案:X射線(xiàn)衍射儀布拉格方程2dsinθ=nλ中，d為（）

A:晶面指數(shù)B:晶面間距C:密度D:直徑答案:晶面間距X射線(xiàn)衍射儀采用的試樣形狀為（）。

A:球狀B:任意C:柱狀D:平板狀答案:平板狀在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為（）時(shí)，才能產(chǎn)生衍射。

A:奇數(shù)B:任意情況C:零D:偶數(shù)答案:偶數(shù)功率補(bǔ)償式DSC測(cè)定的是試樣和參比物的（）與溫度的關(guān)系。

A:速度差B:溫度差C:角度差D:功率差答案:功率差在精度方面，電子衍射比X射線(xiàn)衍射（）。

A:一樣B:高C:低答案:低讓一條衍射束通過(guò)物鏡光闌而把透射束和其它衍射束擋掉得到圖像襯度的方法，叫（）。

A:干涉成像B:相位成像C:明場(chǎng)成像D:暗場(chǎng)成像答案:暗場(chǎng)成像在簡(jiǎn)單點(diǎn)陣中，（HKL）晶面的結(jié)構(gòu)因子F與（）。

A:H有關(guān)B:L有關(guān)C:K有關(guān)D:晶面指數(shù)無(wú)關(guān)答案:L有關(guān)在多晶X射線(xiàn)衍射中，多重性因子P的數(shù)值隨著等同晶面?zhèn)€數(shù)的變（）而變大。

A:多B:其他選項(xiàng)都不對(duì)C:少答案:多在體心點(diǎn)陣中，（HKL）晶面的結(jié)構(gòu)因子F是否等于零（）有關(guān)。

A:只與HB:只與KC:只與LD:與H+K+L答案:與H+K+L差熱分析中，試樣用量一般以少用量為原則，最多至（）。

A:毫克B:克C:斤D:千克答案:毫克面心立方晶體{111}層錯(cuò)的缺陷矢量為1/3·＜111＞，當(dāng)附加位相角為（）時(shí)，可觀(guān)察到層錯(cuò)襯度。

A:4πB:4π/3C:8π/3D:2π答案:4π/3###8π/3在X射線(xiàn)衍射儀中，試樣可以是（）。

A:粉末B:高分子材料C:金屬材料D:塊狀答案:塊狀###粉末###金屬材料###高分子材料以下關(guān)于X射線(xiàn)的正確描述有（）。

A:X射線(xiàn)波長(zhǎng)越短，穿透力越弱B:X射線(xiàn)波長(zhǎng)越長(zhǎng)，穿透力越弱C:X射線(xiàn)波長(zhǎng)越長(zhǎng)，穿透力越強(qiáng)D:X射線(xiàn)波長(zhǎng)越短，穿透力越強(qiáng)答案:X射線(xiàn)波長(zhǎng)越長(zhǎng),穿透力越弱###X射線(xiàn)波長(zhǎng)越短,穿透力越強(qiáng)根據(jù)倒易矢量基本性質(zhì)，粉末多晶樣品中，不同晶粒的相同指數(shù)（HKL）晶面，對(duì)應(yīng)的倒易點(diǎn)分布在以該晶面（）為半徑的球面上。

A:倒易矢量長(zhǎng)度的倒數(shù)B:倒易矢量長(zhǎng)度C:晶面間距長(zhǎng)度D:晶面間距長(zhǎng)度的倒數(shù)答案:倒易矢量長(zhǎng)度###晶面間距長(zhǎng)度的倒數(shù)可以用作材料成分分析的有（）。

A:俄歇電子B:連續(xù)X射線(xiàn)C:特征X射線(xiàn)D:熒光X射線(xiàn)答案:俄歇電子###特征X射線(xiàn)###熒光X射線(xiàn)以下關(guān)于X射線(xiàn)譜的描述正確的是（）。

A:X射線(xiàn)譜是關(guān)于X射線(xiàn)強(qiáng)度隨波長(zhǎng)變化的關(guān)系曲線(xiàn)。B:當(dāng)管電壓超過(guò)激發(fā)電壓時(shí)，在X射線(xiàn)連續(xù)譜的某些特定波長(zhǎng)位置上，就會(huì)疊加強(qiáng)度很高，非常狹窄而尖銳的特征X射線(xiàn)譜。C:X射線(xiàn)連續(xù)譜是由波長(zhǎng)連續(xù)變化的X射線(xiàn)構(gòu)成，是多種波長(zhǎng)的混合體。D:X射線(xiàn)特征譜具有短波限。答案:X射線(xiàn)譜是關(guān)于X射線(xiàn)強(qiáng)度隨波長(zhǎng)變化的關(guān)系曲線(xiàn)###X射線(xiàn)連續(xù)譜是由波長(zhǎng)連續(xù)變化的X射線(xiàn)構(gòu)成,是多種波長(zhǎng)的混合體###當(dāng)管電壓超過(guò)激發(fā)電壓時(shí),在X射線(xiàn)連續(xù)譜的某些特定波長(zhǎng)位置上,就會(huì)疊加強(qiáng)度很高,非常狹窄而尖銳的特征X射線(xiàn)譜熱分析技術(shù)包括（）。

A:微商熱重分析B:DSCC:熱重分析D:差熱分析答案:DSC###熱重分析###微商熱重分析###差熱分析衍射襯度主要是由于晶體試樣滿(mǎn)足（）而形成電子圖像反差。

A:吸收和散射程度不同B:布拉格條件程度差異C:結(jié)構(gòu)振幅不同D:質(zhì)量和厚度不同答案:布拉格條件程度差異###結(jié)構(gòu)振幅不同差熱分析中，若試樣發(fā)生熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線(xiàn)，出現(xiàn)（）。

A:衍射峰B:放熱峰C:基線(xiàn)D:吸熱峰答案:放熱峰###吸熱峰以下關(guān)于原子對(duì)X射線(xiàn)的散射，說(shuō)法正確的是（）

A:原子對(duì)X射線(xiàn)的散射，可以看成核外電子對(duì)X射線(xiàn)散射的總和。B:由于原子核對(duì)X射線(xiàn)的散射強(qiáng)度，比電子對(duì)X射線(xiàn)散射強(qiáng)度小6-7個(gè)數(shù)量級(jí)，可以忽略。C:把原子中各電子散射波簡(jiǎn)單直接疊加，就可以得到一個(gè)原子散射X射線(xiàn)的強(qiáng)度。D:原子核和核外電子都對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生散射。答案:原子核和核外電子都對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生散射###由于原子核對(duì)X射線(xiàn)的散射強(qiáng)度,比電子對(duì)X射線(xiàn)散射強(qiáng)度小6-7個(gè)數(shù)量級(jí),可以忽略###原子對(duì)X射線(xiàn)的散射,可以看成核外電子對(duì)X射線(xiàn)散射的總和在X射線(xiàn)衍射儀中，掃描速度是指探測(cè)器在測(cè)角儀圓周上均勻轉(zhuǎn)動(dòng)的角速度。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)R2比值法適合于多晶電子衍射花樣的標(biāo)定，但不適合單晶電子衍射花樣的標(biāo)定。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)孔徑半角越小，像差所決定的電磁透鏡的分辨率越高。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)利用XRD譜圖對(duì)物相進(jìn)行定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)法和外標(biāo)法中，若某些參數(shù)不容易獲得，可以通過(guò)做定標(biāo)曲線(xiàn)的方式進(jìn)行獲得相應(yīng)的結(jié)果。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)當(dāng)多種物質(zhì)同時(shí)衍射時(shí)，衍射花樣是各種物質(zhì)自身衍射花樣的疊加，互相干擾，互不獨(dú)立。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)透射電鏡的物鏡是用來(lái)形成第一幅電子顯微圖像或電子衍射花樣的透鏡。（）

A:錯(cuò)誤B:正確答案:正確任何條件下，X射線(xiàn)譜一定是由連續(xù)譜和特征譜組成。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)制備透射電鏡薄膜樣品時(shí)，離子減薄的