JTAG調(diào)試原理-課件

JTAG調(diào)試原理JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/261JTAG調(diào)試原理JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/262JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/262目錄一、JTAG基本知識(shí) 1.1、什么是JTAG

1.2、JTAG的作用

1.3、

JTAG調(diào)試結(jié)構(gòu)二、JTAG的工作原理 2.1、兩個(gè)重要概念：邊界掃描和TAP 2.2、JTAG的狀態(tài)機(jī) 2.3、ARM7TDMI內(nèi)核結(jié)構(gòu) 2.4、JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu)及工作過程 2.5、EmbeddedICE-RTLogic的結(jié)構(gòu) 2.6、EmbeddedICE的斷點(diǎn)/觀察點(diǎn)設(shè)置三、JTAG常用指令JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/263目錄一、JTAG基本知識(shí)JTAG調(diào)試原理ppt課件2021一、JTAG基本知識(shí)1.1、什么是JTAG

JTAG是JointTestActionGroup(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)的縮寫，是IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。

1.2、JTAG的作用

使得IC芯片固定在PCB版上，只通過邊界掃描便可以被測(cè)試。1.3、JTAG調(diào)試結(jié)構(gòu)JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/264一、JTAG基本知識(shí)1.1、什么是JTAGJTAG調(diào)試JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/265JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/265（1）、DEBUG主控制器：運(yùn)行有ARM公司或是第三方提供的調(diào)試軟件的PC機(jī)。如：ARM公司提供的ADS、LINUX下的arm-elf-gdb等。通過這些調(diào)試軟件，可以發(fā)送高級(jí)調(diào)試命令，如：設(shè)置/取消斷點(diǎn)，讀寫MEMORY，單步跟蹤，全速運(yùn)行等。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/266JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/266（2）、協(xié)議轉(zhuǎn)換器（Protocolconverter）負(fù)責(zé)將Debug主控端發(fā)出的高級(jí)ARM調(diào)試命令轉(zhuǎn)換為底層的ARMJTAG調(diào)試命令。Debug主控端和協(xié)議轉(zhuǎn)換器間的介質(zhì)可以有很多種，如：Earthnet、USB，串口，并口等。Debug主控端和協(xié)議轉(zhuǎn)換器間的通信協(xié)議可以是ARM公司的ANGEL標(biāo)準(zhǔn)，也可以是第三方自定義的標(biāo)準(zhǔn)。典型的協(xié)議轉(zhuǎn)換器有：ARM公司的Multi-ICE，H-JTAG，JLink等。

JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/267（2）、協(xié)議轉(zhuǎn)換器（Protocolconverter）H-JTAG運(yùn)行界面JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/268H-JTAG運(yùn)行界面JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3J-Link的運(yùn)行界面JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/269J-Link的運(yùn)行界面JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/（3）、調(diào)試目標(biāo)機(jī)系統(tǒng)的調(diào)試對(duì)象。典型的ARM7TDMI內(nèi)核的調(diào)試結(jié)構(gòu)：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2610（3）、調(diào)試目標(biāo)機(jī)JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/二、JTAG的工作原理2.1、兩個(gè)重要概念：邊界掃描和TAP（1）邊界掃描（Boundary-Scan）：

基本思想：在靠近芯片輸入/輸出管腳上增加一個(gè)移位寄存器單元（邊界掃描寄存器）。正常狀態(tài)下，邊界掃描寄存器對(duì)芯片來說是透明的，所以正常的運(yùn)行不會(huì)受到任何的影響。

JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2611二、JTAG的工作原理JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/

調(diào)試狀態(tài)下，邊界掃描寄存器將芯片和外的輸入輸出隔離開，通過這些邊界掃描寄存器可以實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片輸入輸出信號(hào)的控制。具體控制過程如下：

①

、輸入管腳：通過與之相連的邊界掃描寄存器把信號(hào)（數(shù)據(jù)）加載到該管腳中去。

②、輸出管腳：通過與之相連的邊界掃描寄存器“捕獲”該管腳上的輸出信號(hào)。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2612JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/注意：

芯片輸入輸出管腳上的邊界掃描寄存器單元可以相互連接起來，在芯片周圍形成一個(gè)邊界掃描鏈。該鏈可以實(shí)現(xiàn)串行的輸入輸出，通過相應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)和控制信號(hào)，可方便的觀察和控制在調(diào)試狀態(tài)下的芯片。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2613注意：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2613（2）、TAP（TestAccessPort）

TAP是一個(gè)通用的端口，利用它可以訪問芯片提供的所有DR和IR。對(duì)整個(gè)TAP的控制是通過TAPController來完成的。

TAP包括5個(gè)信號(hào)接口：◆TCK（TestClockInput）

JTAG時(shí)鐘信號(hào)位。標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制要求

◆TMS（TestModeSelect）測(cè)試模式選擇，通過該信號(hào)控制JTAG狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)。TMS在TCK的上升沿有效。標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制要求JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2614（2）、TAP（TestAccessPort）JTAG調(diào)◆TDI（TestDataInput）數(shù)據(jù)輸入口。所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是通過TDI口一位一位串行輸入的（TCK驅(qū)動(dòng)）。標(biāo)準(zhǔn)里強(qiáng)制要求◆TDO（TestDataOutput）數(shù)據(jù)輸出口。所有要從特定的寄存器中輸出的數(shù)據(jù)都是通過TDO口串行的一位一位輸出的（TCK驅(qū)動(dòng)）。標(biāo)準(zhǔn)里強(qiáng)制要求◆TRST（TestResetInput）JTAG復(fù)位信號(hào)。標(biāo)準(zhǔn)里是可選的JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2615◆TDI（TestDataInput）JTAG調(diào)試原理2.2、JTAG的狀態(tài)機(jī)TAP共有16個(gè)狀態(tài)機(jī)，如下圖所示：每一個(gè)狀態(tài)都有其相應(yīng)的功能。箭頭表示了所有可能的狀態(tài)轉(zhuǎn)換流程。狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是由TMS控制的。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26162.2、JTAG的狀態(tài)機(jī)TAP共有16個(gè)狀JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2617JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26172.3、ARM7TDMI內(nèi)核結(jié)構(gòu)ARM7TDMI處理器結(jié)構(gòu)框圖：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26182.3、ARM7TDMI內(nèi)核結(jié)構(gòu)ARM7TDMI處理器結(jié)構(gòu)框ARM7TDMI處理器包括三大部分：◆ARMCPUMainProcessorLogic

包括了對(duì)調(diào)試的硬件支持◆EmbeddedICE-RTLogic

包括一組寄存器和比較器，用來產(chǎn)生調(diào)試異常，設(shè)置斷點(diǎn)和觀察點(diǎn)?！鬞APController

通過JTAG接口來控制和操作掃描鏈JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2619ARM7TDMI處理器包括三大部分：JTAG調(diào)試原理ppt

ARM7TDMI還提供了3個(gè)附加的信號(hào)：

DBGRQ：調(diào)試請(qǐng)求，通過把DBGREQ置“1”，可以迫使ARM7TDMI進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)

DBGACK：調(diào)試確認(rèn)，通過DBGACK，可以判斷當(dāng)前ARM7TDMI是否在調(diào)試狀態(tài)BREAKPT：斷點(diǎn)信號(hào)，這個(gè)信號(hào)是輸入到ARM7TDMI處理器內(nèi)核的JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2620ARM7TDMI還提供了3個(gè)附加的信號(hào)：JTAG調(diào)試原2.4、JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu)及工作過程ARM7TDMI的框圖提供了3條掃描鏈：◆ScanChain0113個(gè)掃描單元，包括ARM所有的I/O，地址/數(shù)據(jù)總線和輸入/輸出控制信號(hào)。此鏈很復(fù)雜，不易控制，但包含信息豐富，可通過它得到ARM7TDMI內(nèi)核的所有信息?！鬝canChain133個(gè)掃描單元，包括數(shù)據(jù)總線和一個(gè)斷點(diǎn)控制信號(hào)。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26212.4、JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu)及工作過程ARM7TDMI的框圖提◆ScanChain238個(gè)掃描單元，通過控制EmbeddedICE宏單元，實(shí)現(xiàn)對(duì)ARM進(jìn)行指令的斷點(diǎn)、觀察點(diǎn)的控制。其實(shí)還有個(gè)ScanChain3，ARM7TDMI可以訪問外部的邊界掃描鏈。只不過很少用，在此不做介紹。想了解可以看ARM7TDMI手冊(cè)。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2622◆ScanChain2JTAG調(diào)試原理ppt課件202一個(gè)典型的JTAG鏈:JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2623一個(gè)典型的JTAG鏈:JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/JTAG掃描鏈的工作過程JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2624JTAG掃描鏈的工作過程JTAG調(diào)試原理ppt課件2021JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2625JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2625JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2626JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2626JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2627JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2627JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2628JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2628JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2629JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26292.5、EmbeddedICE-RTLogic的結(jié)構(gòu)通過對(duì)EmbeddedICE控制，以及通過對(duì)EmbeddedICE中寄存器的讀取，可以獲得ARM內(nèi)核的狀態(tài)，為程序設(shè)置斷點(diǎn)觀察點(diǎn)以及讀取Debug通信通道（DCC）。這里的斷點(diǎn)用來標(biāo)識(shí)某個(gè)地址上的一條指令，而觀察點(diǎn)用來觀察某個(gè)地址上的數(shù)據(jù)變化，所以這二者是有區(qū)別的。DCC用來完成主調(diào)試器和目標(biāo)機(jī)間的信息發(fā)送。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26302.5、EmbeddedICE-RTLogic的結(jié)構(gòu)EmbeddedICE的結(jié)構(gòu)如下：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2631EmbeddedICE的結(jié)構(gòu)如下：JTAG調(diào)試原理ppt課EmbeddedICE的長度是38位，包括：◆32位數(shù)據(jù)◆5位地址，訪問EmbeddedICE中的寄存器◆1個(gè)讀寫控制位EmbeddedICE的寄存器主要包括Debug狀態(tài)和控制寄存器，Debug通信寄存器和斷點(diǎn)設(shè)置相關(guān)的寄存器，如下圖所示：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2632EmbeddedICE的長度是38位，包括：JTAG調(diào)試原理EmbeddedICE的寄存器JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2633EmbeddedICE的寄存器JTAG調(diào)試原理ppt課件2EmbeddedICE寄存器格式及含義DebugControlRegister格式：DBGACK：用來控制DBGACK信號(hào)的值DBGRQ：是調(diào)試請(qǐng)求信號(hào)，通過將該信號(hào)置“1”，可以強(qiáng)制ARM7TDMI暫停當(dāng)前的指令，進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)INTDIS：用來控制中斷SBZ/RAZ：任何時(shí)候都必須被置“0”JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2634EmbeddedICE寄存器格式及含義DebugContrMonitorModeEnable：用來控制是否進(jìn)入Monitor模式EmbeddedICE-RTDisable：用來控制整個(gè)EmbeddedICE-RT，是啟用還是禁用DebugStatusRegister格式：DBGACK：用來標(biāo)識(shí)當(dāng)前系統(tǒng)是否處于調(diào)試狀態(tài)?！?’，表示進(jìn)入；‘0’，表示未進(jìn)入。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2635MonitorModeEnable：用來控制是否進(jìn)入MoDBGRQ：用來標(biāo)識(shí)DBGRQ信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)IFEN：用來標(biāo)識(shí)系統(tǒng)的中斷控制狀態(tài)：?jiǎn)⒂? 還是禁用cgenL：用來判斷當(dāng)前對(duì)調(diào)試器在調(diào)試狀態(tài)下 對(duì)內(nèi)存的訪問是否完成TBIT：該位用來判斷ARM7TDMI是從ARM 狀態(tài)還是THUMB狀態(tài)進(jìn)入到調(diào)試狀 態(tài)的JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2636JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2636AbortStatusRegister格式：

該寄存器的長度為1，來判斷一個(gè)異常的產(chǎn)生的原因：斷點(diǎn)觸發(fā)？觀察點(diǎn)觸發(fā)？還是一個(gè)真的異常？JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2637AbortStatusRegister格式：JTAG調(diào)實(shí)例1：用ScanChain2設(shè)置DebugControl

Register1）、選擇掃描鏈2，將其連接到TDI，TDO之間。具體過程如下：

通過TAP將SCAN_N指令寫入到指令寄存器當(dāng)中去，

TAP狀態(tài)轉(zhuǎn)換如下：RUN-TEST/IDLE→SELECT-DR-SCAN→SELECT-IR-SCAN→CAPTURE-IR→SHIFT-IR→EXIT1-IR→UPDATE-IR→

RUN-TEST/IDLE，在SHIFT-IR狀態(tài)下，將SCAN_N通過TDI寫到指令寄存器中去；接下來，訪問被SCAN_N指令連接到TDIJTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2638實(shí)例1：用ScanChain2設(shè)置DebugCont

和TDO之間的掃描鏈選擇寄存器，通過將2寫入到掃描鏈選擇寄存器當(dāng)中去，以將掃描鏈2連接到TDI和TDO之間。將2寫入掃描鏈選擇寄存器的狀態(tài)轉(zhuǎn)換如下：

RUN-TEST/IDLE

→SELECT-DR-SCAN

→CAPTURE-DR→SHIFT-DR→EXIT1-DR

→UPDATE-DR→RUN-TEST/IDLE

在SHIFT-DR狀態(tài)下，將數(shù)值2通過TDI寫到掃描鏈選擇寄存器當(dāng)中去。2）、將ScanChain2置為內(nèi)測(cè)試模式

用INTEST指令實(shí)現(xiàn)該操作，指令寫入與SCAN_N指令的過程類似JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2639和TDO之間的掃描鏈選擇寄存器，通過將2寫入到掃描鏈選3）、寫DebugControlRegister

假設(shè)要將DebugControlRegister的6位全部置“1”，按照掃描鏈2的格式，需要寫入到掃描鏈2第序列應(yīng)該為：

1,00000,0000,0000,0000,0000,0000,0000,0011,1111‘1’表示寫操作，‘00000’標(biāo)識(shí)的是DebugControlRegister的地址，中間32位是要寫入到DebugControlRegister的數(shù)據(jù)。因DebugControlRegister長度為6，所以只有低6位的數(shù)據(jù)序列‘111111’有效。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/26403）、寫DebugControlRegisterJTAG

將上面長度為38位的序列寫入到掃描鏈2中，TAP狀態(tài)轉(zhuǎn)換過程如下：

RUN-TEST/IDLE→SELECT-DR-SCAN→CAPTURE-DR→SHIFT-DR→EXIT1-DR→UPDATE-DR→RUN-TEST/IDLE

在SHIFT-DR狀態(tài)下，通過38個(gè)TCK時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)，就可以將上面的序列串行輸入到掃描練2當(dāng)中去。在回到RUN-TEST/IDLE狀態(tài)后，DebugControlRegister的值就會(huì)被改寫為111111。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2641JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3EmbeddedICE有兩個(gè)WtchPoint單元。下面介紹一下WatchPoint寄存器的使用：

EmbeddedICE的一個(gè)主要作用是可以在ARM程序中設(shè)置軟件或硬件斷點(diǎn)。在EmbeddedICE中，集成了一個(gè)比較器，負(fù)責(zé)把ARM處理器取指的地址A[31：0]，數(shù)據(jù)D[31：0]以及一些控制信號(hào)與EmbeddedICE中WatchPoint寄存器中設(shè)置的數(shù)值相比較（具體說應(yīng)該是進(jìn)行與或運(yùn)算），比較結(jié)果用來確定輸出一個(gè)ARM斷點(diǎn)(BreakPoint)信號(hào)。具體運(yùn)算關(guān)系如下公式所描述：2.6、EmbeddedICE的斷點(diǎn)/觀察點(diǎn)設(shè)置JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2642EmbeddedICE有兩個(gè)Wtch{Av[31:0],Cv[4:0]}XOR{A[31:0],C[4:0]}OR{Am[31:0],Cm[4:0]}==0xFFFFFFFF

當(dāng)上述表達(dá)式值為真時(shí)，斷點(diǎn)/觀察點(diǎn)信號(hào)有效，ARM內(nèi)核進(jìn)入Debug模式。ARM中斷點(diǎn)和觀察點(diǎn)的設(shè)置首先介紹一下與之設(shè)置密切相關(guān)的WPControlValue/MaskRegister。WPControlValue/MaskRegister格式：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2643{Av[31:0],Cv[4:0]}XOR{A[31:0WPControlValue/MaskRegister格式含義：ENABLE:如果該位置0的話，意味著斷點(diǎn)觸發(fā)條件永遠(yuǎn)不成立，也就是把全部斷點(diǎn)都給disable掉了

RANGE:暫時(shí)不會(huì)用CHAIN:暫時(shí)不會(huì)用EXTERN:外部到EmbeddedICE-RT的輸入，通過該輸入，可以使得斷點(diǎn)的觸發(fā)依賴于一定的外部條件

nTRANS:用來判斷是在用戶態(tài)下還是非用戶態(tài)下，用戶態(tài)下：nTRANS=0，否則nTRANS=1JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2644WPControlValue/MaskRegisternOPC:檢測(cè)當(dāng)前的周期是取指令還是進(jìn)行數(shù)據(jù)訪問。nOPC=0，表示當(dāng)前周期進(jìn)行取指。nOPC=1，表示當(dāng)前周期進(jìn)行普通數(shù)據(jù)的訪問。（該位用的較多）MAS[1:0]:和ARM7TDMI的MAS[1:0]信號(hào)進(jìn)行比較，以探測(cè)當(dāng)前總線的寬度是8位、16位還是32位

nRW:nRW=0,

當(dāng)前的是讀周期，nRW=1，當(dāng)前的是寫周期JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2645nOPC:檢測(cè)當(dāng)前的周期是取指令還是進(jìn)行數(shù)據(jù)訪問。nOPC斷點(diǎn)設(shè)置的兩種方式：1）、硬件斷點(diǎn)：通過設(shè)置EmbeddedICE中的WP和地址相關(guān)的寄存器來實(shí)現(xiàn)的。通過該方式設(shè)置的斷點(diǎn)數(shù)受到WP數(shù)目的限制。因ARM7TAMI中僅有兩組WP，故最多可以設(shè)置兩個(gè)斷點(diǎn)。但是，硬件斷點(diǎn)可在任何地方設(shè)置不受存儲(chǔ)類型限制。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2646斷點(diǎn)設(shè)置的兩種方式：JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3

2）、軟件斷點(diǎn)通過設(shè)置EmbeddedICE中的WP和數(shù)據(jù)相關(guān)的寄存器來實(shí)現(xiàn)的。分為兩步：

(1)、將datavalue和datamask設(shè)為ARM的未定義指令，通常是一個(gè)特殊的32位數(shù)字，如：0xCDCDCDCD

(2)、在需要設(shè)置斷點(diǎn)的地方將其內(nèi)容替換

JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2647JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2647為(1)中的特殊數(shù)字。這樣，一但程序運(yùn)行到該位置，嘗試從該位置取指令或者數(shù)據(jù)的時(shí)候，因?yàn)槿〉玫臄?shù)據(jù)值和WPDataValue寄存器的值相同，ARM7TDMI會(huì)暫停當(dāng)前的運(yùn)行，自動(dòng)進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)。由上所述，軟件斷點(diǎn)數(shù)目不受ARM內(nèi)核中WP數(shù)目的限制。但是，軟件斷點(diǎn)是通過替換系統(tǒng)斷點(diǎn)地址的指令實(shí)現(xiàn)的，所以，軟件斷點(diǎn)只能在可寫的存儲(chǔ)器空間中設(shè)置，如：RAM。而不能在FLASH，ROM中設(shè)置。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2648為(1)中的特殊數(shù)字。這樣，一但程序運(yùn)行到該位置，嘗試

總之，有兩個(gè)WP的ARM7TDMI內(nèi)核中，斷點(diǎn)設(shè)置有如下情況：★2個(gè)硬件斷點(diǎn)，沒有軟件斷點(diǎn)?！?個(gè)硬件斷點(diǎn)，任意個(gè)軟件斷點(diǎn)。★沒有硬件斷點(diǎn)，任意個(gè)軟件斷點(diǎn)。觀察點(diǎn)設(shè)置：

將WPAddressValue寄存器的值設(shè)置為需要觀察的地址，WPAddressMask寄存器的值設(shè)置為0x00000000。將WPDataMask寄存器的值設(shè)置為0xFFFFFFFF。同時(shí)nPOC=1。另外，JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3/2649總之，有兩個(gè)WP的ARM7TDMI內(nèi)核

WPDataValue/MaskRegister也用來設(shè)置觀察點(diǎn)，用以觀察某個(gè)地址的數(shù)據(jù)變化。每當(dāng)系統(tǒng)訪問（讀/寫）完被觀察地址的數(shù)據(jù)的時(shí)候，ARM7TDMI就會(huì)進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)，這樣，我們就可以馬上檢查該地址上的數(shù)據(jù)。JTAG調(diào)試原理ppt課件2021/3