《鈦及鈦合金孔隙率測(cè)定 X射線CT檢測(cè)方法》（預(yù)審稿）

YS/TXXXX-202X2本文件規(guī)定了用計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)技術(shù)來本文件適用于鈦及鈦合金材料孔隙率的測(cè)定。孔隙率測(cè)定范圍0.01%～1%。文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB17589X射線計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置質(zhì)量保證檢測(cè)規(guī)范GB/T27025檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求GB/T29034無損檢測(cè)工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)指南GB/T29070無損檢測(cè)工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT3術(shù)語和定義3鈦及鈦合金孔隙率CT檢測(cè)技術(shù)，利用X射線管發(fā)射的X射線，穿透樣品，通過數(shù)據(jù)探測(cè)傳輸系統(tǒng)采集經(jīng)樣品吸收后的X光信號(hào)強(qiáng)度，對(duì)試樣進(jìn)行360°或180°掃描，以特定算法，利用重構(gòu)軟件，求解出每個(gè)空間位置點(diǎn)的X光吸收系數(shù)，并以灰度顯示試樣中不同組分，獲得試樣孔6.1X射線顯微鏡：應(yīng)具有穩(wěn)定的X射線發(fā)射系統(tǒng)、載物系統(tǒng)、探測(cè)與成像系統(tǒng)。7.2樣品尺寸：不同儀器對(duì)樣品的幾何形狀和大小有不同的要求，將樣品加工成儀器可以接受的直徑應(yīng)為8mm±0.5mm,高度為直徑的10倍左右。除另有規(guī)定外，應(yīng)在下列環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試：溫度：15℃~25℃;濕度：不大于70%。X射線CT掃描儀應(yīng)按照GB/T29070的規(guī)定進(jìn)行校準(zhǔn)，或采用設(shè)備生產(chǎn)廠家的校準(zhǔn)方法進(jìn)行校X射線源的電壓、束流強(qiáng)度來調(diào)整X射線平均穿透率，記錄參數(shù)。4等于5000。9.2.5投影圖像數(shù)量選定：試驗(yàn)過程中可根據(jù)實(shí)際情況本體與孔隙進(jìn)行識(shí)別、提取，計(jì)算孔隙率P,按照GB/T8170規(guī)定進(jìn)行數(shù)值修約。最終結(jié)果以孔隙率P表示-試樣中孔隙總體積與試樣總體積的比值。計(jì)算見公式(1):在重復(fù)性條件下獲得的兩次獨(dú)立測(cè)試結(jié)果的測(cè)定值，在表1給出的平均值范圍內(nèi)，兩個(gè)測(cè)試結(jié)果的絕對(duì)差值不超過重復(fù)性限(r),超過重復(fù)性限(r)的情況不超過5%,重復(fù)性限(r)按表1數(shù)r在再現(xiàn)性條件下獲得的兩次獨(dú)立測(cè)試結(jié)果的測(cè)定值，在表1給出的平均值范圍內(nèi)，兩個(gè)測(cè)試結(jié)果的絕對(duì)差值不超過再現(xiàn)性限(R),超過再現(xiàn)性限(R)