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文檔簡(jiǎn)介
ICS
備案號(hào):
中華人民共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
DL/T—20
電力電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)導(dǎo)則
Guideforburstingenergytestofpowercapacitorshell
(征求意見稿)
20--發(fā)布20--實(shí)施
中華人民共和國國家能源局發(fā)布
DL/T—20
II
DL/T—20
電力電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)導(dǎo)則
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于頻率為50Hz的應(yīng)用于電力系統(tǒng)的高壓并聯(lián)電容器、濾波電容器、串聯(lián)電容器外殼耐
受爆破能量試驗(yàn)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的
修改單或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的
最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T2900.16電工術(shù)語電力電容器
GB/T11024.3《標(biāo)稱電壓1kV以上交流電力系統(tǒng)用并聯(lián)電容器第3部分:并聯(lián)電容器和并聯(lián)電容
器組的保護(hù)》
GB50227《并聯(lián)電容器裝置設(shè)計(jì)規(guī)范》
DL442《高壓并聯(lián)電容器單臺(tái)保護(hù)用熔斷器訂貨技術(shù)條件》
DL/T840《高壓并聯(lián)電容器使用技術(shù)條件》
3定義
對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn),下列定義及GB/T2900.16及其他相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)中給出的定義都是適用的。
3.1
故障電容器元件faultedcapacitorelement
采用電擊穿、機(jī)械穿刺等方式,使極間絕緣被破壞的電容器元件。
3.2
儲(chǔ)能電容器energystoragecapacitor
為進(jìn)行電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn),利用電容器充電儲(chǔ)能原理,預(yù)先存儲(chǔ)試驗(yàn)所需能量的電容器。
3.3
充電電壓Ucchargingvoltage
為進(jìn)行電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn),儲(chǔ)能電容器存儲(chǔ)充電能量達(dá)到要求值時(shí)的相應(yīng)極間電壓。
3.4
充電能量Wcchargingenergy
為進(jìn)行電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn),預(yù)先存儲(chǔ)在儲(chǔ)能電容器的對(duì)試品電容器放電的能量。
3.5
注入能量Wiimplantationenergy
電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)過程中,儲(chǔ)能電容器對(duì)試品放電時(shí)實(shí)際消耗在試品電容器內(nèi)部的能
量。
3.6
能量焦耳積分I2t
在特定的時(shí)間范圍內(nèi),流過電容器的電流瞬時(shí)值的平方對(duì)時(shí)間的積分值。
I2t=i2(t)dt
0
注:該積分值是一特定的量,它是將電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)過程歸化到在1Ω電阻上,以熱的形式釋放出的
能量。
3.7
爆破能量burstingenergy
電容器內(nèi)部發(fā)生極間或極對(duì)殼擊穿時(shí),外部并聯(lián)電容器對(duì)故障電容器放電引起故障電容器外殼及套
1
DL/T—20
管破裂的最小能量。
3.8
額定耐受爆破能量ratedburstingenergy
電容器內(nèi)部發(fā)生極間或極對(duì)殼擊穿時(shí),電容器能耐受的不引起外殼及套管破裂的最大能量。
3.9
殘余能量Wrresidualenergy
電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)放電后,儲(chǔ)能電容器殘余電荷儲(chǔ)存的能量。
3.10
殘余電壓Urresidualvoltage
電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)放電后,儲(chǔ)能電容器殘余電荷導(dǎo)致的電壓。
3.11
基準(zhǔn)放電波形Standarddischargewaveform
標(biāo)定電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)回路時(shí),用一電阻可忽略的導(dǎo)體短接試品進(jìn)行沖擊放電,測(cè)量記
錄的電流波形及數(shù)據(jù),用于校核放電回路參數(shù)。
3.12
放電頻率dischargefrequency
基準(zhǔn)放電電流波形震蕩頻率。
3.13
放電電流相鄰峰值之比
基準(zhǔn)放電電流波形第一個(gè)電流半波峰值與第三個(gè)電流半波峰值的比值的倒數(shù)。
3.14
內(nèi)熔絲電容器capacitorwithinternalfuses
電容器單元串聯(lián)內(nèi)部熔絲保護(hù)的電容器。
4試驗(yàn)
4.1額定耐受爆破能量的選擇
電容器外殼所能承受的額定耐受爆破能量爆應(yīng)不小于:
a)膜紙復(fù)合電容器,10kJ;
b)全膜電容器,15kJ。
注:考慮到目前電容器產(chǎn)品制造技術(shù)水平,本標(biāo)準(zhǔn)不鼓勵(lì)采用更高的額定耐受爆破能量值。對(duì)更高的額定耐受爆
破能量取值,由制造廠與用戶協(xié)商確定,宜按3kJ間隔取值,如:15kJ、18kJ···。
4.2試品要求
4.2.1試品結(jié)構(gòu)要求
除故障電容器元件極間絕緣預(yù)置破壞外,試品結(jié)構(gòu)、材料、工藝等均應(yīng)按正常產(chǎn)品生產(chǎn)備置。對(duì)內(nèi)
熔絲電容器,試品內(nèi)熔絲應(yīng)去除或金屬短接。
4.2.2故障預(yù)置方式
故障電容器元件應(yīng)采用電擊穿方式備置,一個(gè)串聯(lián)段內(nèi)的并聯(lián)元件只允許預(yù)置一個(gè)故障電容器元
件。對(duì)串聯(lián)數(shù)在3串聯(lián)段及以下的電容器,每個(gè)串聯(lián)段應(yīng)各預(yù)置1個(gè)故障電容器元件;對(duì)串聯(lián)數(shù)在4
串聯(lián)段及以上的電容器,靠近套管的第一個(gè)串聯(lián)段應(yīng)完好,不預(yù)置故障電容器元件,其他串聯(lián)段各預(yù)置
1個(gè)故障電容器元件。
4.2.3試品數(shù)量
試驗(yàn)數(shù)量為3臺(tái),由于需要一臺(tái)樣品兼作放電參數(shù)調(diào)整用,試品數(shù)量不宜少于4臺(tái)。
4.3試驗(yàn)方法
試驗(yàn)采用直流儲(chǔ)能,脈沖放電方式進(jìn)行,用波形記錄儀記錄注入電容器內(nèi)部的波形及參數(shù)。
以阻抗與試驗(yàn)回路阻抗相比可以忽略的導(dǎo)體短接被試電容器,記錄基準(zhǔn)放電波形。所用的放電回路
應(yīng)使基準(zhǔn)放電波形的放電電壓(充電電壓)、放電頻率、電流相鄰峰值之比符合要求,并使試品接入時(shí)
實(shí)際注入試品的能量達(dá)到要求。
2
DL/T—20
4.4試驗(yàn)回路及要求
試驗(yàn)接線原理如圖1所示。
T1-----調(diào)壓器T2-----試驗(yàn)變壓器
R------充電回路限流電阻D-----充電回路整流二極管
V------直流(交直流)分壓器C-----儲(chǔ)能電容器
R0-----放電回路外部等效電阻F1、F2-----電容(阻容)分壓器
K1-----放電點(diǎn)火開關(guān)K2-----短接片
H-----羅氏線圈或分流器Cx-----被試電容器(Rx被試電容器等值電阻)
圖1電容器外殼耐受爆破能量試驗(yàn)接線原理圖
放電回路應(yīng)盡可能緊湊,與試品的連接線應(yīng)盡可能短,并采用軟連接,避免套管端部放電時(shí)承受額
外的電動(dòng)力沖擊,并聯(lián)的各儲(chǔ)能電容器至試品的放電參數(shù)應(yīng)盡可能一致。
4.4.1儲(chǔ)能電容器電容量
試驗(yàn)所用的儲(chǔ)能電容器,其電容量應(yīng)能使其儲(chǔ)存能量在充電電壓為1.12倍試品額定電壓時(shí)達(dá)到
規(guī)定的額定耐受爆破能量。
0
注:考慮到并聯(lián)電容器組實(shí)際運(yùn)行方式及試驗(yàn)回路可調(diào)節(jié)性,儲(chǔ)能電容器電容量可在該值的30%范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。
4.4.2充電電壓
試驗(yàn)回路儲(chǔ)能電容器充電電壓范圍為(1.1~2.0)×2倍試品額定電壓。
4.4.3充電能量
試驗(yàn)回路儲(chǔ)能電容器存儲(chǔ)的充電能量范圍為(1.0~2.0)倍試品額定耐受爆破能量。
4.4.4基準(zhǔn)放電波形參數(shù)要求
基準(zhǔn)放電波形電流相鄰峰值之比≥0.8;
基準(zhǔn)放電波形震蕩頻率≥4.0kHz;
4.5試驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)要求
試驗(yàn)放電電流可采用分流器或羅科夫斯基線圈進(jìn)行測(cè)量,充電電壓可采用直流分壓器(或交直流分
壓器),試品兩端的放電電壓及儲(chǔ)能電容器殘余電壓應(yīng)采用電容分壓器(或阻容分壓器)測(cè)量,測(cè)試儀
器及設(shè)備的頻率響應(yīng)特性均應(yīng)滿足要求。
試驗(yàn)過程應(yīng)采用采樣頻率在1MS/s以上的瞬態(tài)數(shù)字記錄儀記錄試品放電電流、試品兩端電壓及儲(chǔ)能
電容器殘余電壓波形。
4.6注入能量計(jì)算方法
注入能量計(jì)算方法宜采用能量焦耳積分法:首先記錄基準(zhǔn)放電波形,充電能量為Wc1,放電電流能
量焦耳積分i2(t)dt;再接入試品進(jìn)行試驗(yàn),充電能量為W,放電電流能量焦耳積分i2(t)dt,充電
01c202
電容器殘余電荷能量Wr,則:
W=Ri2(t)dt
c10×01
W=(R+R)i2(t)dt+Wr
C20x×02
注入試品能量Wi為:
3
DL/T—20
i2(t)dt
W=W-W02-W
iC2c1×r
i2(t)dt
01
4.7放電參數(shù)及能量調(diào)整
為使基準(zhǔn)放電波形參數(shù)及試品注入能量均符合要求,必要時(shí)根據(jù)試品的試驗(yàn)結(jié)果及時(shí)調(diào)整試驗(yàn)回路
參數(shù)或充電能量,并重做基準(zhǔn)放電波形,僅在±10%范圍內(nèi)改變充電電壓可不必重做基準(zhǔn)放電波形。
4.8試驗(yàn)的判據(jù)
4.8.1如果同時(shí)滿足下述條件,電容器就成功地通過了試驗(yàn):
a)試驗(yàn)后電容器外殼及套管未出現(xiàn)爆裂或漏油;
b)實(shí)測(cè)注入電容器內(nèi)部能量不小于額定爆破能量。
4.8.2如果有1臺(tái)試品注入能量未超過額定爆破能量3kJ,試驗(yàn)后電容器外殼及套管出現(xiàn)爆裂或漏油
的,判為不合格;
4.8.3如果由于注入能量過大(超過額定爆破能量3kJ),引起電容器外殼及套管出現(xiàn)爆裂或漏油的;
或注入能量過小(未達(dá)到額
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