在用鋼質(zhì)儲(chǔ)氣瓶組相控陣超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)

7DB4403/TXXX—XXXX（資料性）在用鋼質(zhì)儲(chǔ)氣瓶組相控陣超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)A.1一般要求適用于外徑不小于100mm且壁厚與外徑比小于0.2的鋼質(zhì)無縫氣瓶、鋼質(zhì)焊接氣瓶超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。對(duì)于壁厚與外徑比大于等0.2的無縫鋼瓶，通過對(duì)比試塊驗(yàn)證能達(dá)到檢測(cè)要求的可參照本條進(jìn)行檢測(cè)。A.2檢測(cè)原則A.2.1儲(chǔ)氣瓶組可能存在的缺陷類型包括縱向缺陷、橫向缺陷與分層缺陷，裂紋型缺陷一般以縱向缺陷檢測(cè)為主，腐蝕型缺陷一般以環(huán)向缺陷為主，制造缺陷一般以分層缺陷為主，其他類型缺陷要求根據(jù)損傷模式來確定。A.2.2檢測(cè)縱向缺陷與橫向缺陷時(shí)，聲束從周向沿順時(shí)針、逆時(shí)針或者沿軸向前、后兩個(gè)方向入射。檢測(cè)分層缺陷時(shí)，采用相控陣線性掃查技術(shù)，聲束垂直入射被檢氣瓶。A.2.3檢測(cè)頻率應(yīng)在1MHz～15MHz之間選擇。A.3檢測(cè)人員檢測(cè)人員應(yīng)符合NB/T47013.1的要求，具有一定金屬材料、氣瓶制造、氣瓶失效機(jī)理方面基本知識(shí)，經(jīng)過專項(xiàng)培訓(xùn)并持有相應(yīng)資質(zhì)證書。A.4檢測(cè)設(shè)備A.4.1自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，主要部件包括超聲相控陣儀器主機(jī)、相控陣探頭、探頭固定裝置、機(jī)械傳動(dòng)裝置、分選裝置及其他輔助裝置等；超聲相控陣儀器主機(jī)支持的最大探頭晶片數(shù)不低64，支持A和C型顯示模式，具有界面波跟蹤功能，具有報(bào)警信號(hào)輸出接口；根據(jù)檢測(cè)缺陷類型可選用平面線陣列或曲面線陣列探頭；相控陣探頭的晶片數(shù)不低于16；探頭固定裝置應(yīng)具有探頭相對(duì)鋼瓶位置的高精度調(diào)整結(jié)構(gòu)并能可靠地鎖緊或能實(shí)現(xiàn)良好的機(jī)械跟蹤，以保證運(yùn)動(dòng)狀態(tài)下聲束對(duì)鋼瓶的入射條件不變。A.4.2手動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，主要包括超聲相控陣儀器主機(jī)、相控陣探頭及掃查裝置；超聲相控陣儀器主機(jī)支持的最大探頭晶片數(shù)不低16，支持A、B、C和S顯示模式；相控陣探頭晶片數(shù)不低于16。A.5對(duì)比試塊A.5.1采用專用對(duì)比試塊，試塊采用與被檢鋼瓶規(guī)格相同、材質(zhì)相同、加工工藝相同且表面狀況相似的鋼瓶制備。A.5.2試塊內(nèi)縱向和橫向參考反射體的設(shè)置應(yīng)符合NB/T47013.3中的相應(yīng)規(guī)定。A.5.3內(nèi)部分層缺陷通常加工與外表面平行的平底孔作為參考反射體，平底孔的尺寸與加工位置根據(jù)合同規(guī)定要求。A.6檢測(cè)方式A.6.1縱向缺陷檢測(cè)A.6.1.1液浸法檢測(cè)縱向缺陷時(shí)，當(dāng)鋼瓶厚度與外徑比小于0.2時(shí)，通過調(diào)節(jié)探頭偏心距控制聲束入射角，使用橫波檢測(cè)鋼瓶外表面及內(nèi)表面縱向缺陷；當(dāng)鋼瓶厚度與外徑比大于等于0.2時(shí)，使用橫波8DB4403/TXXX—XXXX檢測(cè)外表面缺陷，對(duì)于內(nèi)表面缺陷，先使縱波入射至外表面，使用經(jīng)外表面反射的變型橫波檢測(cè)內(nèi)表面缺陷，通過對(duì)比試塊調(diào)節(jié)以獲得最佳聲束入射角及位置；手工接觸法檢測(cè)縱向缺陷時(shí)，使用橫波扇掃描法檢測(cè)縱向外表面與內(nèi)表面缺陷，扇掃描范圍需滿足覆蓋要求。A.6.1.2靈敏度通過對(duì)比試塊進(jìn)行調(diào)節(jié)，分別找到對(duì)比試塊內(nèi)表面與外表面參考反射體信號(hào)，記錄信號(hào)并進(jìn)行TCG補(bǔ)償，使內(nèi)表面與外表面參考反射體最佳信號(hào)幅值一致，調(diào)整至80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。手工接觸法用扇掃描進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，如無法完成TCG補(bǔ)償，則將外表面參考反射體信號(hào)幅值調(diào)節(jié)為80%，并記錄最佳位置時(shí)內(nèi)表面參考反射體信號(hào)幅值，以該幅值作為內(nèi)表面缺陷參考基準(zhǔn)。A.6.2橫向缺陷檢測(cè)A.6.2.1液浸法檢測(cè)橫向缺陷時(shí)一般使用45度橫波，通過對(duì)比試塊調(diào)節(jié)得到探頭最佳位置；手工接觸法檢測(cè)時(shí)，使用橫波扇掃描法檢測(cè)內(nèi)表面與外表面橫向缺陷。檢測(cè)橫向缺陷時(shí)應(yīng)將聲束聚焦至鋼瓶內(nèi)表面。A.6.2.2靈敏度通過對(duì)比試塊進(jìn)行調(diào)節(jié)，分別找到對(duì)比試塊內(nèi)表面與外表面參考反射體信號(hào)，進(jìn)行TCG補(bǔ)償，使內(nèi)外表面參考反射體最佳信號(hào)幅值一致并調(diào)整至80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。A.6.3分層缺陷檢測(cè)分層缺陷通過縱波直入射法進(jìn)行檢測(cè)，通過對(duì)比試塊調(diào)節(jié)靈敏度，使參考反射體信號(hào)幅值80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。A.6.4檢測(cè)信噪比在對(duì)比試塊上檢測(cè)縱向、橫向或分層缺陷時(shí)，信噪比均不應(yīng)低于10dB。A.6.5水層深度使用液浸法檢測(cè)鋼瓶時(shí)，采用對(duì)比試塊調(diào)至合適的水層深度，應(yīng)使鋼瓶外表面二次界面回波不干擾缺陷信號(hào)顯示。A.6.6表面補(bǔ)償如被檢鋼瓶與對(duì)比試塊表面狀況有較大差異時(shí)，需進(jìn)行表面補(bǔ)償。A.6.7楔塊曲率使用手工接觸法檢測(cè)鋼瓶時(shí)，當(dāng)探頭楔塊與被檢工件接觸面的間隙大于0.5mm時(shí)，應(yīng)采用曲面楔塊或?qū)π▔K進(jìn)行修磨，修磨后應(yīng)重新測(cè)量楔塊的幾何尺寸，同時(shí)考慮對(duì)聲束的影響。A.6.8掃查靈敏度掃查靈敏度一般比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。A.6.9掃查覆蓋對(duì)鋼瓶100%覆蓋檢測(cè)時(shí)，需保證移動(dòng)掃查過程中相鄰聲束至少重疊10%。A.6.10動(dòng)態(tài)檢測(cè)靈敏度偏差自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，應(yīng)保證穩(wěn)定的檢測(cè)靈敏度，靈敏度偏差不大于±2dB。A.6.11掃查盲區(qū)9DB4403/TXXX—XXXX如自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)無法對(duì)鋼瓶端頭進(jìn)行有效檢測(cè)時(shí)，應(yīng)用手工方式或其它有效方式補(bǔ)充檢測(cè)。A.7缺陷記錄當(dāng)檢測(cè)過程中發(fā)現(xiàn)超過對(duì)比試塊中參考反射體50%回波幅度信號(hào)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行記錄。A.8質(zhì)量分級(jí)A.8.1表A.1給出了鋼質(zhì)儲(chǔ)氣瓶