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文檔簡介

智能制造射頻識別系統(tǒng)超高頻RFID系統(tǒng)性能測試方法2022-10-12發(fā)布2023-05-01實施國家市場監(jiān)督管理總局I前言 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14符號和縮略語 15一般測試要求 25.1測試項目選擇 25.2標準大氣條件 25.3預處理 25.4默認允差 25.5測量不確定度 25.6識別測試 25.7讀寫測試 25.8通信參數(shù) 35.9標簽排列 35.10長度采樣步長 45.11速度采樣步長 45.12移動方向 45.13測試報告 46讀寫器抗擾度 56.1測試目的 56.2測試布置 56.3測試步驟 56.4測試報告 87密集型讀寫器互擾 87.1測試目的 87.2測試布置 97.3測試步驟 97.4測試報告 98標簽環(huán)境適應性 8.1測試目的 8.2測試布置 8.3測試步驟 8.4測試報告 9堆垛標簽性能 9.1測試目的 Ⅱ9.2測試布置 9.3測試步驟 9.4測試報告 10典型應用場景下的多標簽訪問能力 10.1測試目的 10.2測試布置 10.3測試步驟 10.4測試報告 11典型應用場景下的移動速度 11.1測試目的 11.2測試布置 11.3測試步驟 11.4測試報告 附錄A(規(guī)范性)典型應用場景 附錄B(資料性)測試報告記錄信息 參考文獻 ⅢGB/T42025—2022本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。本文件由全國信息技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC28)提出并歸口。本文件起草單位:中國電子技術(shù)標準化研究院、北京中科佐迪克電子科技發(fā)展有限公司、廣東中科臻恒信息技術(shù)有限公司、睿芯聯(lián)科(北京)電子科技有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、重慶唯申科技有限公司、四川華大恒芯科技有限公司、愛康普科技(大連)有限公司、高新興智聯(lián)科技有限公司、上海天臣射頻技術(shù)有限公司、青島海爾洗衣機有限公司、品冠物聯(lián)科技有限公司。1智能制造射頻識別系統(tǒng)超高頻RFID系統(tǒng)性能測試方法1范圍本文件描述了用于智能制造的超高頻RFID的系統(tǒng)性能測試的一般方法。本文件適用于智能制造領(lǐng)域超高頻RFID系統(tǒng)性能的測試。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T17626.2—2018電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.3—2016電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626.4—2018電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5—2019電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.6—2017電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應的傳導騷擾抗擾度GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.11—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗GB/T29261.3—2012信息技術(shù)自動識別和數(shù)據(jù)采集技術(shù)詞匯第3部分:射頻識別GB/T29768—2013信息技術(shù)射頻識別800/900MHz空中接口協(xié)議3術(shù)語和定義GB/T29261.3—2012界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。讀/寫標簽效率read/writetag(s)efficiency單位時間(s)內(nèi)成功讀/寫標簽的次數(shù)。標簽識讀靈敏度tagreadsensitivity標簽成功完成一系列命令所需的最小載波功率。標簽反向散射功率tagbackscatterpower標簽處于某一靈敏度水平時,成功完成一系列命令后返回的功率。4符號和縮略語下列符號和縮略語適用于本文件。2D:標簽幾何中心與讀寫器天線之間的距離D?:讀寫器a天線與標簽之間的距離D?:讀寫器b天線與標簽之間的距離D.:讀寫器天線之間的距離RFID:射頻識別(RadioFrequencyIdentification)UID:用戶標簽標識符(UserTagIdentifier)5一般測試要求5.1測試項目選擇本文件包含的測試項目分為實驗室環(huán)境下的基礎(chǔ)性能測試以及現(xiàn)場環(huán)境下的應用性能測試兩基礎(chǔ)性能測試采用測試儀器對標簽或讀寫器進行測試,得出標簽或讀寫器的性能參數(shù),具體包含以下測試項目:——讀寫器抗擾度;——標簽環(huán)境適應性;——堆垛標簽性能。應用性能測試采用標簽和讀寫器進行互測,得出整體系統(tǒng)的性能參數(shù),具體包含以下測試項目:——密集讀寫器互擾;——堆垛標簽性能;——典型應用場景下的多標簽訪問能力;——典型應用場景下的移動速度。5.2標準大氣條件除非另有規(guī)定,應在下列標準大氣條件下進行測試:a)溫度:15℃~35℃;b)相對濕度:25%~75%;5.3預處理測試對象應在測試環(huán)境中存放24h后再進行測試。5.4默認允差除非另有規(guī)定,所給出量值的默認允差為±5%。5.5測量不確定度應對測量結(jié)果進行不確定度分析。5.6識別測試測試過程中以讀寫器獲取標簽UID為準。5.7讀寫測試測試數(shù)據(jù)采用0xAA和0x55分別進行。除非另有要求,讀寫操作對標簽用戶區(qū)第一個地址和最后一個地址進行。如對其他存儲地址進行測試,應在測試記錄中注明。測量時標簽宜粘接于與其匹配的3介質(zhì)材料上,且在測試記錄中注明介質(zhì)材料。若測量時將標簽置于周圍分布有干擾物體的環(huán)境下,在測試記錄中應注明干擾物體的位置、排列等。5.8通信參數(shù)測試過程中應依據(jù)GB/T29768—2013對測試對象的通信參數(shù)進行配置。5.9標簽排列當采用兩個以上的標簽進行測試時,這組標簽構(gòu)成標簽群。標簽群的幾何排列可以是一維、二維和三維,分別見圖1、圖2和圖3。在規(guī)定的幾何排列中標簽的間距應是一致的。標簽的間距應是相鄰標簽幾何中心之間的距離。標簽的最小間距應不小于標簽天線長度最大值的2倍。圖1—維標簽排列L—一圖2二維標簽排列圖3三維標簽排列45.10長度采樣步長距離和范圍測試應對系統(tǒng)的識別過程、讀數(shù)據(jù)過程和寫數(shù)據(jù)過程分別進行。為了控制采樣點的數(shù)量,縮短測試時間,可對不同的系統(tǒng)選取合適的采樣步長,參考數(shù)值見表1。表1采樣步長標簽與讀寫器天線之間的距離(D)參考步長值D≤5cm20cm<D≤1mD>10m5.11速度采樣步長移動速度測試應對系統(tǒng)的識別過程、讀數(shù)據(jù)過程和寫數(shù)據(jù)過程分別進行。為了控制采樣點的數(shù)量,縮短測試時間,可對不同的系統(tǒng)選取合適的速度初始值和速度步長值,參考數(shù)值見表2。表2速度初始值和步長值速度初始值(建議)參考速度步長值0.1m/s0.1m/s5.12移動方向標簽幾何中心的原始位置與讀寫器天線的相對運動方向定義如圖4所示,本文件采用X、Y、Z三個方向作為特征測試方向。對于實際應用場景中的不規(guī)則方向,可根據(jù)應用需要采用合適的運動方向。ZZ方向標簽兒何中心的Y方向讀寫器x方向天線圖4標簽移動方向示意圖5.13測試報告測試報告應至少包括如下信息:5e)附加說明:標簽數(shù)量、標簽群排列形式、標簽方向和貼附材料等。6讀寫器抗擾度6.1測試目的本測試規(guī)定了在工業(yè)環(huán)境中的連續(xù)、暫態(tài)、傳導和輻射騷擾以及包括靜電放電情況下工作的讀寫器的抗擾度試驗要求。6.2測試布置受試設(shè)備(EUT)應在符合正常使用的最敏感的工作方式下進行試驗。應變動受試設(shè)備的布置以獲得與典型使用和實際裝置一致的最大敏感度。如果設(shè)備是系統(tǒng)的一部分,或者可以連接輔助設(shè)備,那么設(shè)備在進行試驗時應連接數(shù)量最少且有代表性的輔助設(shè)備。如果制造商的技術(shù)規(guī)范特別要求外部保護裝置或措施,并已在用戶使用手冊中明確做出規(guī)定,則應在具有外部保護裝置或措施的情況下進行試驗。試驗期間的布置和工況都應準確地記錄在試驗報告中。對設(shè)備的每一項功能未必都能進行試驗,在這種情況下,要選擇最關(guān)鍵的工況來試驗。如果設(shè)備有許多類似的端口,或許多端口有類似的連接,那么應選擇足夠數(shù)量的端口來模擬實際工作狀態(tài),以保證涉及所有不同類型的終端。應在產(chǎn)品規(guī)定的溫度、濕度和氣壓范圍內(nèi),以額定電源電壓進行試驗,除非基礎(chǔ)標準另有規(guī)定。讀寫器抗擾度試驗布置如圖5所示。外殼端口信號端山AC電源端口功能接地端口DC電源端口圖5讀寫器抗擾度試驗布置6.3測試步驟本項測試的步驟如下。a)被測樣品在測試前應保證功能和性能正常。b)在無干擾狀態(tài)下測量被測設(shè)備讀寫標簽的效率。c)被測設(shè)備處于連續(xù)讀寫標簽狀態(tài),按照表3、表4、表5、表6和表7測試要求進行測試,試驗應以單個的試驗依次逐項進行,試驗順序是任意的。測量試驗期間被測設(shè)備的讀/寫標簽效率。d)試驗結(jié)束后,測量被測設(shè)備讀/寫標簽效率。e)計算被測設(shè)備讀/寫標簽效率的變化范圍。6表3外殼端口抗擾度試驗序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)1工頻磁場A/m應該在適當?shù)墓╇婎l率下進行試驗,當打算只在具有其中一個頻率供電的區(qū)域中使用設(shè)備時,則僅對該頻率進行試驗"A2射頻調(diào)幅電磁場MHz規(guī)定的試驗值是未調(diào)制的載波的有效值3靜電放電接觸放電±4(充電電壓)接觸放電適用于導體外殼,空氣放電適用于絕緣體外殼空氣放電±8(充電電壓)只應用于設(shè)備中包含有對磁場敏感的裝置。附加性能判據(jù)為A:在試驗期間和試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗期間,允許性能降低,但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不允許改變。表4信號端口抗擾度試驗序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzVGB/T17626.6—2017規(guī)定的試驗值是未效值n,b2快速瞬變±1(充電電壓)5(重復頻率)GB/T17626.4—2018使用容性藕合夾3浪涌(沖擊)線-地±1(開路電壓)’僅適用于連接有電纜地端口,根據(jù)制造商地功能技術(shù)規(guī)范,那些電纜的總長度可超過3m。僅適用于連接有電纜地端口,根據(jù)制造商地功能技術(shù)規(guī)范,那些電纜的總長度可超過30m。附加性能判據(jù)為A:在試驗期間和試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗期間,允許性能降低,但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不允許改變。7表5直流電源輸入、輸出抗擾度試驗序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗值是未效值*2快速瞬變±2(充電電壓)5(重復頻率)h3浪涌(沖擊)線-地線-線士0.5(開路電壓)±0.5(開路電壓)b適用于打算與蓄電池或者充電時應從設(shè)備移開或斷開的充電電池相連接的輸入端口對打算與交直流電源適配器一起使用的帶有直流輸入端口的設(shè)備,應對制造商規(guī)定的交直流電源適配器的交流電源輸入端口進行試驗,而在沒有做這樣規(guī)定的地方,使用一個典型的交一直流電源適配器。本測試不適用于打算長度小于10m的電纜固定連接的直流電源輸入端口。附加件性能判據(jù)為A:在試驗期間和試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加件性能判據(jù)為B:在試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗期間,允許性能降低,但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不允許改變。表6交流電源輸入、輸出抗擾度試驗序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗值是未效值"2快速瞬變士2(充電電壓)5(重復頻率)bB3浪涌(沖擊)線-地線-線士2(開路電壓)士1(開路電壓)2019第5章第3段B4電壓暫降30(減少)0.5(周期)%電壓在過零處變動'周期60(減少)5(周期)60(減少)50(周期)%C50個周期8序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)5電壓中斷>95(減少)250(周期)%C’僅適用于輸入端口,允許亮度短時變化。附加性能判據(jù)為A:在試驗期間和試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗之后,設(shè)備應能按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗期間,允許性能降低,但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不準許改變。附加性能判據(jù)為C:允許暫時喪失功能,只要這種功能可自行恢復或者可以通過操作控制器來恢復。對于RFID系統(tǒng),允許通過復位、重新加電操作來恢復原始功能。表7功能接地抗擾度試驗序號環(huán)境現(xiàn)象測試要求單位遵循標準注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗值是未效值“2快速瞬變士1(充電電壓)5(重復頻率)使用容性耦合夾”B僅適用于連接有電纜的端口,根據(jù)制造商的功能技術(shù)規(guī)范,那些電纜的總長度可超過3m。附加性能判據(jù)為A:在試驗期間和試驗之后,設(shè)備應按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗之后,設(shè)備應按預定方式連續(xù)運行。當設(shè)備按預定方式使用時,其性能降低或功能喪失不應低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗期間,允許性能降低,但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不準許改變。6.4測試報告測試報告應至少包括如下信息:b)測試條件、附加性能判據(jù);c)讀標簽和寫標簽的效率。7密集型讀寫器互擾7.1測試目的本項測試用于評估多讀寫器分布時相鄰信道干擾和相鄰位置干擾的情況。97.2測試布置將至少兩個相同讀寫器依照生產(chǎn)制造實際現(xiàn)場場景放置,讀寫器天線方向應依據(jù)實際應用需要放置,讀寫器a和標簽的距離依據(jù)實際應用需要放置。簡要放置圖如圖6。圖6讀寫器互擾測試布置7.3測試步驟本項測試的步驟如下:a)將讀寫器a作為被測讀寫器,讀寫器b作為干擾讀寫器;b)讀寫器b固定工作在中間信道f?(中心頻率為842.625MHz或者922.625MHz),連續(xù)發(fā)送調(diào)制信號,發(fā)射功率S可根據(jù)實際工作功率設(shè)置,默認讀寫器最大發(fā)射功率為33dBm;c)被測讀寫器a固定工作在相鄰信道f?,連續(xù)進行讀標簽或?qū)憳撕灢僮?,發(fā)送功率為S;d)在發(fā)射功率S不變的條件下,分別設(shè)置讀寫器a工作頻率f?=f?±250n(n=1,2,3,4,5),記錄此時讀寫器a讀標簽或?qū)憳撕灥某晒β?讀或?qū)憳撕灉y試不少于1000次);e)在工作頻率f?不變的條件下,分別設(shè)置兩個讀寫器發(fā)射功率為S±m(xù)(m=1,2,3…33),記錄讀寫器a讀標簽和或?qū)憳撕灥某晒β?讀或?qū)憳撕灉y試不少于1000次)。注:測試時可根據(jù)實際需要選擇遍歷參數(shù)n和m。7.4測試報告測試報告應記錄發(fā)射功率S,工作頻率f?、f?,以及讀標簽或?qū)憳撕灥某晒β?,標簽與讀寫器的距離D?、D,讀寫器之間的距離D。。測試報告還應記錄讀標簽或?qū)憳撕灣晒β蕪?00%降低到50%以下時的工作頻率和發(fā)射功率。依據(jù)表8的互擾等級要求,報告還應記錄不同參數(shù)條件下的互擾等級。表8讀寫器互擾成功率等級序號等級讀/寫標簽成功率(P)1AP≥95%2B80%≤P<95%3C50%≤P<80%4DP<50%8標簽環(huán)境適應性8.1測試目的測量不同溫濕度條件下,標簽反向鏈路速率的偏差。8.2測試布置將被測標簽和測試用天線放置于溫濕度箱內(nèi),天線通過射頻饋線引出到反向鏈路速率測試儀。測試用天線和被測標簽的距離應保證反向鏈路信號的功率足夠進行測量。8.3測試步驟本項測試步驟如下:a)溫濕度箱溫度相對濕度設(shè)置為25℃、40%;b)將被測標簽放置于該環(huán)境下至少30min;c)驅(qū)動被測標簽分別工作在64kHz、137.14kHz、174.55kHz、320kHz、128kHz、274.29kHz、349.09kHz、640kHz反向鏈路速率條件下,測量標簽的反向鏈路速率,并計算偏差;d)將溫濕度箱溫度和相對濕度設(shè)置為A℃、B%,重復步驟b)、c)。e)除非另有規(guī)定,試驗的溫度A、相對濕度B從表9中選擇。表9溫度濕度條件序號溫度相對濕度1234試驗推薦的持續(xù)時間為12h、16h、24h、2d、4d、10d、21d或56d。測試報告應記錄測量的溫度條件A、濕度條件B,以及對應條件下的標簽反向鏈路速率并計算9堆垛標簽性能9.1測試目的測量放置在特定貼附模型的堆垛中特定位置的標簽的識別、讀取、寫入標簽的靈敏度和標簽反向散射功率。9.2測試布置測試布置圖如圖7所示。將被測堆垛放置于轉(zhuǎn)臺上,每個貼附模型上粘貼一張標簽。貼附模型材料和堆垛放置方式可根據(jù)實際應用需要選擇,測試天線應為線極化天線,天線中心應距離被測標簽至少天線天線堆垛口轉(zhuǎn)動臺旋轉(zhuǎn)方向圖7堆垛標簽性能測試布置9.3測試步驟本項目測試步驟如下:a)測試開始前,記錄堆垛不同對應位置處的標簽UID,并保證標簽UID的惟一性;測試時0.5GHz至2GHz周圍的噪聲電平應不高于—90dBm/10kHz,其他頻率范圍應不高于—60dBm/100kHz;b)選擇被測位置的標簽,并記錄被測標簽的UID,選擇0°位置的天線;c)應使用GB/T29768—2013中的適當命令序列僅對被測標簽進行識讀,讀寫器發(fā)射功率應選用標簽能夠成功執(zhí)行命令序列的特定功率;d)不斷降低天線發(fā)射功率,直至標簽不返回響應,測量該標簽識讀靈敏度和標簽反向散射功率;注:現(xiàn)場實驗中具體天線角度以實際布置為準。測試報告應記錄天線位置、轉(zhuǎn)臺角度、天線中心與轉(zhuǎn)臺中心的距離、被測標簽在堆垛中的位置以及堆垛材料等基本情況,還應記錄上述條件下被測標簽識讀靈敏度和標簽反向散射功率。10典型應用場景下的多標簽訪問能力10.1測試目的通過測試確定典型場景下讀寫器天線前方的多標簽訪問能力,包括識別、讀和寫一組靜態(tài)標簽的能力。根據(jù)實際需要應選取附錄A中的典型應用場景布置。本項測試的步驟如下:a)讀寫器發(fā)出識別命令(或讀命令或?qū)懨?,分別記錄識別(或讀取或?qū)懭?到的標簽個數(shù)為80%、90%和100%時所用的時間;b)如果標簽識別(或讀取或?qū)懭?到的標簽個數(shù)不到100%,則測試應在5To或預定時間后停止?!癟so”表示識別(或讀取或?qū)懭?到的標簽個數(shù)為80%時所用的時間。測試應根據(jù)應用要求對標簽群在不同的位置、各種幾何排列形式、各種方向等情況重復進行。測試報告應記錄最大識別率及所用時間,并根據(jù)實際情況分別給出識別(或讀取或?qū)懭?到的標簽個數(shù)為80%、90%和100%時所用時間,記錄標簽數(shù)量、位置、排列和方向等參數(shù)。11典型應用場景下的移動速度11.1測試目的通過測試確定典型場景下讀寫器天線前方標簽可被識別、讀和寫時的最大移動速度。根據(jù)實際需要應選取附錄A中的典型應用場景布置。本項測試的步驟如下:a)讀寫器連續(xù)發(fā)出識別命令(或讀命令或?qū)懨?,并驗證讀寫器能夠正確識別(或讀或?qū)?標簽;b)將標簽加速至表2中規(guī)定的初始速度,穿過識別范圍(或讀范圍或?qū)懛秶?,驗證讀寫器能夠正確識別(或讀或?qū)?標簽,重復5次;c)如果5次讀寫器均能夠正確識別(或讀或?qū)?標簽,則記錄此時的速度;如果有1次識別(或讀或?qū)?標簽失敗,或已達到應用要求的速度,則測試停止;d)按表2規(guī)定的步長增加標簽移動速度后重復b)。測試可根據(jù)應用要求對標簽群在不同的位置、排列形式和不同方向重復進行。測試報告應給出測試結(jié)果的最大值作為移動識別速度(或移動讀速度或移動寫速度),并記錄標簽大線大線(規(guī)范性)典型應用場景A.1讀寫器天線部署方式A.1.1手持式部署對于采用手持式讀寫器進行標簽信息采集的場景,按照圖A.1方式進行部署,完成RFID系統(tǒng)的測試。讀寫器通信范圍讀寫器天線標簽群天線圖A.1手持式設(shè)備天線部署方式示意圖手持式設(shè)備要求讀寫器與天線一體式設(shè)計,采用單天線方式。測試標簽群的排列方式根據(jù)實際應用場景按照5.9中的要求排列,天線與標簽群的相對方位宜采用實際應用場景或最佳覆蓋方式。標簽群采用固定方式或運動方式應按照實際應用場景設(shè)計,測試距離按照5.10要求,測試時天線與標簽群相對移動速度按照5.11要求。相關(guān)測試部署要求應記錄在測試報告中,測試報告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.2單點式部署對于采用單一讀寫器進行標簽信息采集的場景,按照圖A.2方式進行部署,完成RFID系統(tǒng)的測試。讀寫器標簽群讀寫器圖A.2單點式設(shè)備天線部署方式示意圖單點式部署要求采用單天線方式。讀寫器與天線采用線纜連接,測試標簽群的排列方式根據(jù)實際應用場景按照5.9中的要求排列,天線與標簽群的相對方位宜采用實際應用場景或最佳覆蓋方式。標簽群采用固定方式或運動方式應按照實際應用場景設(shè)計,測試距離按照5.10要求,測試時天線與標簽群相對移動速度按照5.11要求,相對移動方向按照5.12的要求。相關(guān)測試部署要求應記錄在測試報告中,測試報告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.3流水線式部署對于采用流水線式部署進行標簽信息采集的場景,按照圖A.3方式進行部署,完成RFID系統(tǒng)的測試。天線天線通信范圍讀寫器標簽群流水線天線天線天線圖A.3流水線式設(shè)備天線部署方式示意圖流水線部署可以采用單天線方式或多天線方式,天線數(shù)量根據(jù)實際應用場景選擇。讀寫器與天線采用線纜連接,測試標簽群的排列方式根據(jù)實際應用場景按照5.9中的要求排列,天線與標簽群的相對方位宜采用實際應用場景或最佳覆蓋方式。標簽群采用靜止方式或運動方式應按照實際應用場景設(shè)計,測試距離按照5.10要求,測試時標簽群速度按照5.11要求,標簽群相對移動方向同流水線移動方向。相關(guān)測試部署要求應記錄在測試報告中,測試報告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.4門式部署對于采用門式部署進行標簽信息采集的場景,按照圖A.4方式進行部署,完成RFID系統(tǒng)的測試。天線犬線天線天線犬線天線犬線天線天線圖構(gòu)天線通信范圍讀寫器圖A.4門式設(shè)備天線部署方式示意圖門式部署可以采用單天線方式或多天線方式,天線數(shù)量根據(jù)實際應用場景選擇。讀寫器與天線采用線纜連接,測試標簽群的排列方式根據(jù)實際應用場景按照5.9中的要求排列,天線與標簽群的相對方位宜采用實際應用場景或最佳覆蓋方式。標簽群采用靜止方式或運動方式應按照實際應用場景設(shè)計,測試距

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