(高清版)GB 4075-2009 密封放射源 一般要求和分級

代替GB4075—2003密封放射源一般要求和分級(ISO2919:1999,Radiationprotection—Sealedradioactivesources—Generalrequirementsandclassification,MOD)2009-03-13發(fā)布2010-03-01實施I前言 Ⅲ1范圍 l2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 l4分級和表示方法 25活度水平規(guī)定 46性能要求 57檢驗方法 68源標(biāo)識 99源證書 10質(zhì)量保證 附錄A(資料性附錄)放射性核素毒性分組 附錄B(資料性附錄)密封放射源證書舉例 附錄C(資料性附錄)惡劣環(huán)境條件下的一般要求 附錄D(資料性附錄)附加檢驗 參考文獻 Ⅲ本標(biāo)準的第4章、第5章、第6章、第8章、第9章和第10章為強制性的，其余為推薦性的。本標(biāo)準修改采用ISO2919:1999《密封放射源一般要求和分級》。本標(biāo)準與ISO2919:1999相比存在如下技術(shù)性差異：——刪除了國際標(biāo)準的前言和引言；——4.1中分級表示方法按中國的實際情況進行修改；——第8章中增加了源編碼。本標(biāo)準代替GB4075—2003《密封放射源一般要求和分級》。本標(biāo)準與GB4075—2003相比主要有以下變化：b)增加了規(guī)范性引用文件環(huán)發(fā)[2004]118號《放射源編碼規(guī)則》;c)在4.1分級表示方法中GB之后增加標(biāo)準號4075,修改為GB4075/××××/C(或E)×××d)在6.1中增加了污染檢驗的污染量要求；e)將7.6.1.1中b)、c)項合并，修改為撞針高度(6.0±0.2)mm,直徑(3.0±0.1)mm;f)在第8章源標(biāo)識、第9章源證書和附錄B中增加了放射源編碼；g)刪除第8章中的表述“(見ISO361)”及“包殼的標(biāo)識應(yīng)在密封源檢驗前進行”;h)對圖1彎曲檢驗參數(shù)進行了修改；i)對附錄B證書表述進行修改；j)將附錄D引用的文件均作為規(guī)范性引用文件列出；k)將參考文獻中1的版本升級為2005版；1)對某些文字進行修改以使技術(shù)含義更加明確。本標(biāo)準由全國核能標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準起草單位：中國原子能科學(xué)研究院。本標(biāo)準于1983年12月24日首次發(fā)布，2003年3月24日第一次修訂。1密封放射源一般要求和分級本標(biāo)準以測試性能為基礎(chǔ)建立了密封放射源分級體系，并對源的性能、要求、檢驗方法、標(biāo)識和證書等作了規(guī)定。本標(biāo)準為密封放射源產(chǎn)生者提供了評價其產(chǎn)品在使用中安全性的系列檢驗，同時也便于使用者選擇滿足使用要求的放射源類型，特別是對關(guān)注防止因放射性物質(zhì)泄漏而造成電離輻射照射的場所選擇放射源類型時能提供幫助。本標(biāo)準也可為管理部門提供指導(dǎo)。這些檢驗分為幾組，例如，包括暴露于異常高溫和低溫檢驗以及各種機械檢驗。每項檢驗適用于不同的嚴格程度。檢驗結(jié)果是否通過，取決于密封放射源內(nèi)容物是否泄漏。注1:泄漏檢驗方法見GB15849—1995。表4給出了對密封放射源主要典型使用中的每種應(yīng)用和建議的檢驗級別。廣義來說，這些檢驗是對各種使用的最低要求，在一些特別惡劣條件下使用時(見附錄C)所須考慮的因素列于4.2。注2:生產(chǎn)者和檢驗機構(gòu)應(yīng)按GB/T19001—2000分別制定質(zhì)量保證大綱。本標(biāo)準不按源的設(shè)計、制造方法或發(fā)出輻射的刻度方法分級，本標(biāo)準不包括核反應(yīng)堆內(nèi)的放射性物質(zhì)(含密封源)和燃料元件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準的引用而成為本標(biāo)準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準。GB15849—1995密封放射源的泄漏檢驗方法(eqvISO9978:1992)GB/T19001—2000質(zhì)量管理體系要求(idtISO9001:2000)《放射源編碼規(guī)則》(環(huán)發(fā)[2004]118號)3術(shù)語和定義本標(biāo)準采用下列術(shù)語和定義。防止放射性物質(zhì)泄漏的保護性殼。假密封源dummysealedsource某種密封放射源的復(fù)制品，其包殼的結(jié)構(gòu)和材料與密封放射源完全相同，但源芯中的放射性物質(zhì)用物理和化學(xué)性質(zhì)相似的物質(zhì)代替。在確定幾何條件下，密封放射源在單位時間內(nèi)放出的電離輻射粒子數(shù)和/或光子數(shù)。注：最好用術(shù)語輻射注量率表示。放射性物質(zhì)從密封放射源內(nèi)逸入環(huán)境中。2用于密封放射源的術(shù)語，指經(jīng)檢驗密封放射源的泄漏量不高于GB15849—1995表1中給出的限值。用于標(biāo)識密封放射源具體類型的專用名稱(數(shù)字、代號或兩者的組合)。指密封放射源內(nèi)的放射性物質(zhì)實際上不溶于水，也不可能轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓴U散物質(zhì)。某種放射源的原始樣品，它是制造所有具有相同型號密封放射源的模型。質(zhì)量保證qualityassurance為了提供足夠的信任表明實體能夠滿足質(zhì)量要求，而在質(zhì)量體系中實施并根據(jù)需要進行證實的全部有計劃和有系統(tǒng)的活動。放射性核素毒性radiotoxicity放射性核素進入人體內(nèi)，其放出的輻射對人體產(chǎn)生損傷的程度。密封放射源sealedsource密封在包殼內(nèi)或與某種材料緊密結(jié)合的放射性物質(zhì)。在規(guī)定的使用條件下和正常磨損下，這種包殼或結(jié)合材料足以保持源的密封性。模擬密封放射源simulatedsealedsource某種密封放射源的復(fù)制品，其包殼的結(jié)構(gòu)和材料與其代表的真實密封源完全相同，但放射性物質(zhì)采用物理和化學(xué)性質(zhì)盡可能相近的物質(zhì)代替，且僅含示蹤量的放射性物質(zhì)。注：示蹤劑應(yīng)能溶于溶劑中，溶劑不能浸蝕包殼，且示蹤劑具有與在試驗環(huán)境使用相一致的最大活度(例如，約1MBq13?Cs)。源組件sourceassembly包含在源托內(nèi)或緊貼在源托上的密封源。用以固定或承載源的固定的或可移動的機械裝置。裝置中源sourceindevice照射時保存在屏蔽裝置內(nèi)的密封源，因此使用時可提供一定的機械保護。4分級和表示方法4.1表示方法密封源的分級表示方法是，用GB4075/,之后用四位數(shù)字表示確定分級所用標(biāo)準的批準年份，隨后3是斜線分隔符號(/),再加一個字母，然后是五個數(shù)字和包括一個或多個數(shù)字的括弧。字母必須是C或E:——C表示密封源的活度不超過表3規(guī)定的水平?！狤表示密封源的活度超過表3規(guī)定的水平。五個數(shù)字表示級別，按表2次序分別為：溫度特性、外壓力特性、沖擊特性、振動特性和穿刺特性。如果需要，可以在括弧內(nèi)加一個數(shù)字或多個數(shù)字表示已通過了彎曲檢驗的源的類別。某些特定形狀的源(細長源，近距離治療針)的彎曲檢驗見表1,具體要求見7.7。為了滿足檢驗準則，可能要進行多次重復(fù)試驗并對檢驗作出描述。如不要求進行彎曲檢驗，則括弧可以省略。——一個典型無防護工業(yè)照相源可表示為：“GB4075/2003/C43515(1)”或“GB4075/2003/C43515”;——一個典型近距離治療源可表示為“GB4075/2003/C53211(8)”;——一個典型輻照裝置源可表示為“GB4075/2003/C53424(4.7)”。4.2分級分級等級見表1和表2。表2給出了按嚴格程度遞增的各個級別的環(huán)境檢驗條件。表1彎曲檢驗等級彎曲檢驗等級12345678×參照條款免檢彎曲檢驗彎曲檢驗彎曲檢驗彎曲檢驗彎曲檢驗彎曲檢驗彎曲檢驗特殊檢驗靜壓力表2密封源性能分級(用5個數(shù)字表示)檢驗內(nèi)容123456×溫度免檢熱沖擊熱沖擊熱沖擊特殊檢驗外壓免檢25kPa至大氣壓25kPa至7MPa25kPa至70MPa25kPa至170MPa特殊檢驗沖擊免檢lm或等值沖擊能1m或等值沖擊能2kg,下落距離1m或等值沖擊能5kg,下落距離1m或等值沖擊能20kg,下落距離1m或等值沖擊能特殊檢驗振動免檢在49ms2(5g)*每次10min在49ms2(5g)*50Hz在峰與峰之間振幅為0.635mm時，50Hz至90Hz90Hz至500Hz以上均試驗3次，每次10min幅為1.5mm時，條件下80Hz至2000Hz以上均試驗3次，每次30min不需要不需要特殊檢驗穿刺免檢錘重1g,下落距離1m或等值沖擊能距離1m或等值沖擊能錘重50g,下落距離1m或等值沖擊能錘重300g,下落距離1m或等值沖擊能錘重1kg,下落距離1m或等值沖擊能特殊檢驗a加速的最大振幅。4表4給出的分級未考慮火災(zāi)、爆炸及腐蝕的影響。在評價密封源時，生產(chǎn)者和使用者需考慮火災(zāi)、爆炸及腐蝕等事件的可能性及此類事件可能造成的后果。當(dāng)確定需要進行特殊檢驗時，應(yīng)考慮下述因素：a)放射性物質(zhì)泄漏所造成的后果；b)密封源內(nèi)放射性物質(zhì)的量；c)放射性核素毒性；d)放射性物質(zhì)的物理和化學(xué)形態(tài)；e)源貯存、轉(zhuǎn)移及使用的環(huán)境；f)密封源或源一裝置組合所提供的防護情況。必要時，使用者和生產(chǎn)者應(yīng)商定密封源的附加檢驗。附錄D給出了特殊檢驗的實例。4.3級別確定每一類型密封源的級別應(yīng)采用以下方法之一來確定：——按表2所示的每項檢驗，要用同種類型(樣品源、假密封源或模擬源)的兩個源進行實際檢驗?！绻郧耙堰M行過這些檢驗，并已證明密封源合格。每項檢驗可以采用不同的樣品。應(yīng)以檢驗后密封源能否保持它的密封性能來確定是否符合標(biāo)準。每項檢驗后，應(yīng)用肉眼檢查源完整性的損壞情況，還應(yīng)按照GB15849—1995進行適當(dāng)?shù)男孤┰囼灐．?dāng)用模擬源做泄漏檢測時，所選方法的靈敏度應(yīng)適當(dāng)。當(dāng)密封源有多層包殼時，經(jīng)檢驗至少有一層包殼密封，就確定為檢驗合格。5活度水平規(guī)定附錄A給出了四個放射性核素毒性組，規(guī)定的密封源活度值見表3,活度低于該規(guī)定值的，對具體用途和設(shè)計不要求進行單獨評價。表3按放射性核素毒性分組規(guī)定的活度水平放射性核素組(見附錄A)規(guī)定活度/TBq(Ci)可浸出的°不可浸出的'A0.01(約0.3Ci)0.1(約3Ci)B11(約30Ci)10(約300Ci)B210(約300Ci)100(約3000Ci)C20(約500Ci)200(約5000Ci)a可浸出的：依據(jù)GB15849—1995中5.1.1規(guī)定，將源芯浸在50℃100mL靜水中，4h,水中的放射性活度大于總活度0.01%。b不可浸出的：依據(jù)GB15849—1995中5.1.1規(guī)定，將源芯浸在50℃100mL靜水中，4h,水中的放射性活度低于總活度0.01%。密封源的活度超過規(guī)定值時，應(yīng)對具體用途和設(shè)計作進一步評價。為了便于分級，生產(chǎn)時應(yīng)根據(jù)表3考慮密封源的活度水平。除非需要，只有當(dāng)密封源活度超過表3所示規(guī)定值時才須考慮對火災(zāi)、爆炸、腐蝕和放射性核素毒性的影響進行評價。如果活度超過規(guī)定值，則應(yīng)根據(jù)不同情況來考慮密封源的分級。如果活度不超過表3的規(guī)定值，無須進一步考慮毒性和可溶性就可直接使用表4。56性能要求6.1一般要求所有密封源在制造后均應(yīng)進行檢驗，污染檢驗值小于200Bq,即視為該源通過污染檢驗。該檢驗應(yīng)按GB15849—1995中5.3規(guī)定的試驗之一進行。所有密封源在制造后均應(yīng)進行檢驗，以確保不泄漏。該檢驗應(yīng)按GB15849—1995一種以上方法進行。規(guī)定的一種或所有密封源在制造后均應(yīng)進行測量，以確定其輻射輸出量。密封源所含放射性物質(zhì)的活度均應(yīng)進行估算。這可以通過輻射輸出量的測量結(jié)果或通過生產(chǎn)所用的該批投料的放射性測量進行估算。密封源樣品應(yīng)按本標(biāo)準第7章所述方法進行檢驗，按第4章的規(guī)定進行分級。表4典型使用的密封放射源級別(性能)要求密封源使用方式密封源級別(由檢驗確定)溫度壓力沖擊振動穿刺工業(yè)射線照相密封源4355裝置中源4333醫(yī)用射線照相32312γ射線遠距離治療53524近距離治療[6]*5321表面敷貼器”43312γ儀表(中、高能)無防護源43333裝置中源43232β儀表、低能γ儀表或x射線熒光分析33222油田測井56522便攜式濕度計和密度計(包括手提或車載)43333一般中子源應(yīng)用(不包括反應(yīng)堆啟動)43323儀器刻度源，活度>1MBq22212γ輻照源[3],[5]43323Ⅱ、Ⅲ和IV類“53424離子發(fā)生器色譜32211靜電消除器22222感煙探測器32222a這種類型的源在使用時可能會嚴重變形，生產(chǎn)者和使用者應(yīng)商定附加的或?qū)ｉT的檢驗程序。b不包括充氣源。可以用裝置中源或源組件作檢驗。每個密封源均應(yīng)按第8章的要求進行標(biāo)識，按第9章的要求提供包括檢驗結(jié)果等內(nèi)容的證書。密封源包殼在物理和化學(xué)性質(zhì)上應(yīng)與內(nèi)容物相容。如果密封源直接由照射生產(chǎn)，則包殼不應(yīng)含有顯著量的放射性物質(zhì)，除非這種物質(zhì)能牢固地與包殼材料相結(jié)合，且能表明密封源是不泄漏的。模擬源的示蹤劑應(yīng)能溶于溶劑中，溶劑不能浸蝕包殼，且所用示蹤劑的量具有適合在試驗環(huán)境下進6行泄漏檢驗的最大活度(例如，約1MBq13Cs)。6.2典型使用要求密封源、源組件或裝置中源的某些典型使用及其最低性能要求見表4。有可能要求一種或多種彎曲試驗，規(guī)定見7.7。活性區(qū)長度(L)與最小外包殼直徑(D)之比大于或等于15(即L/D≥15)的檢驗源，要求的彎曲檢驗見7.7.1。例如，用于I類輻照裝置的密封源，要求達到4級，Ⅱ、Ⅲ和IV類輻照裝置則要求達到活性區(qū)長度(L)與最小外包殼直徑(D)之比等于10或大于10(即L/D≥10)的檢驗源及活性區(qū)長度等于或大于100mm(即L≥100mm)的檢驗源，要求的彎曲檢驗見7.7.2,且要達到7級?；钚詤^(qū)長度(L)大于或等于30mm(即L≥30mm)的近距離治療針類密封源，要求的彎曲檢驗見7.7.3,且要求達到8級。這些要求考慮了正常使用和適當(dāng)?shù)囊馔馕ｋU，但不包括暴露在火災(zāi)、爆炸或腐蝕中的情況。密封源通常安裝在裝置內(nèi)，在確定某特定用途的級別數(shù)值時，考慮了由裝置提供的對密封源的附加保護。因此，對表4列出的全部用途來說，相應(yīng)級別數(shù)值所規(guī)定的檢驗，密封源都需進行。離子發(fā)生器型除外，它可用整個源組件或裝置中源進行檢驗。這些規(guī)定的檢驗未覆蓋所有密封源的使用情況，特殊使用條件或與潛在事故相關(guān)的情況與表4規(guī)定的分級不完全一致，生產(chǎn)者和使用者應(yīng)根據(jù)不同情況，考慮進行合適的檢驗。表4所示的數(shù)字指表2中的級別數(shù)字。注：IAEA有關(guān)對特殊形式的放射性物質(zhì)[1]的檢驗，不宜普遍采用，但作為附加檢驗是適當(dāng)?shù)摹?.3確定級別的程序和性能要求6.3.1由附錄A確定放射性核素毒性組。6.3.2根據(jù)表3確定規(guī)定的活度值。6.3.3如果密封源的活度不超過表3規(guī)定的活度值，應(yīng)對火災(zāi)、爆炸、腐蝕等作危險性評估，如果確認沒有重大危險，密封源及其使用可按最低級別要求(見6.2)。如確認會產(chǎn)生重大危險，則須對要求的試驗進行全面評估(見4.2),同時要特別注意溫度和沖擊所造成的危險性。6.3.4如果密封源活度超過表3允許水平，則應(yīng)對要求的試驗分別予以評價，包括源的設(shè)計、特定用途以及由于火災(zāi)、爆炸、腐蝕等所造成的危險。6.3.5在確定了特定使用或用途要求密封源的最低級別后，可直接由表1和表2得到要求的性能標(biāo)準。6.3.6密封源的級別可由表1、表2確定，也可按表4來選擇合適的應(yīng)用。由于表2是按嚴格的程度遞增的順序，從1級～6級排列的，因此已確定級別的密封源可適用于任何具有相同或低于嚴格特定性能要求的場合。7檢驗方法本章所給出的檢驗方法是確定性能等級可接受的。全部規(guī)定的指標(biāo)是最低要求。其他方法，如果能證明至少與本章方法等效也可采用。除溫度檢驗外，所有的檢驗都應(yīng)在環(huán)境溫度下進行。檢驗后源的級別應(yīng)按4.3來判定。7.2溫度檢驗7.2.1裝置加熱或冷卻裝置中檢驗區(qū)域的體積至少為樣品體積的5倍。如果用煤氣或燃料油加熱，整個檢驗7過程中，應(yīng)始終保持氧化氣氛。7.2.2方法所有檢驗均須在大氣中進行。注：低溫檢驗中，允許采用能獲得比要求溫度更低的二氧化碳(干冰氣氛)。進行低于環(huán)境溫度檢驗的密封源，應(yīng)在45min內(nèi)從環(huán)境溫度降至檢驗溫度。進行高于環(huán)境溫度檢驗的密封源，應(yīng)在不大于表5規(guī)定的時間內(nèi)，從環(huán)境溫度升至檢驗溫度。表5高于環(huán)境溫度檢驗的溫度-時間關(guān)系檢驗溫度/℃最大時間限值/min5a6級溫度檢驗與IAEA規(guī)定的試驗方法相似[1]。對于2級和3級檢驗，密封源至少在檢驗溫度以上保持1h,然后在爐內(nèi)或?qū)嶒炇曳諊新禍刂镰h(huán)境溫度。對4級、5級、6級檢驗，密封源至少在檢驗溫度以上保持1h,熱沖擊時在15s之內(nèi)將樣品投入環(huán)境溫度(20℃左右)的水中，每分鐘水流量應(yīng)至少為源體積的10倍，如用靜水，則水量應(yīng)至少為源體積的20倍。7.3外壓檢驗7.3.1設(shè)備壓力計應(yīng)是剛校準過的，且其壓力量程至少比檢驗壓力大10%。真空計至少能讀出20kPa絕對氣壓。低壓和高壓檢驗可以在不同的小室中進行。7.3.2方法將密封源放置于小室內(nèi)，并使其暴露在檢驗壓力下，此操作進行兩次，每次5min。兩次檢驗操作之間壓力應(yīng)恢復(fù)至大氣壓。低壓檢驗在空氣中進行，高壓檢驗采用液壓法，并使密封源處于水的介質(zhì)中。注：液壓油不能直接與密封源接觸，因為可能會暫時堵塞漏孔。7.4沖擊檢驗7.4.1設(shè)備7.4.1.1鋼錘，上部安裝有固定裝置，下部是一個直徑為(25±1)mm的平底沖擊面，邊角倒圓，半徑為(3.0±0.3)mm。鋼錘的重心剛好落在沖擊面圓形中軸線上，中軸線穿過固定裝置的固定點。每個等級檢驗鋼錘質(zhì)量見表2。7.4.1.2鋼砧，其質(zhì)量至少為鋼錘的10倍，安裝要牢固，使其在沖擊時不產(chǎn)生位移，且其表面應(yīng)為一個大的平面，足以承載整個密封源。7.4.2方法依據(jù)表2,按所確定的檢驗等級選擇鋼錘質(zhì)量。調(diào)節(jié)鋼鉆上密封源上部至鋼錘下表面距離，使跌落高度為1m,讓薄弱的源表面對準鋼錘，然后釋放鋼錘。7.5振動檢驗7.5.1設(shè)備能完成規(guī)定檢驗內(nèi)容的振動裝置。87.5.2方法將源緊固在振動裝置的平臺上，以便在整個檢驗過程中源與平臺連成一體。2級和3級檢驗，對規(guī)定的每個條件，密封源需進行三次完整的試驗。檢驗時，以勻速方式掃過范圍內(nèi)所有頻率，從最小頻率至最大頻率，10min或更長時間后，掃回至最小頻率。源的每個軸向按下述規(guī)定試驗。此外，如發(fā)現(xiàn)共振頻率，在每一共振頻率下繼續(xù)試驗30min。4級檢驗，對規(guī)定的每個條件，密封源需進行三次完整的試驗。檢驗時，以勻速方式掃過所有頻率或更長時間后，掃回至最小頻率。源的每個軸向按下述規(guī)定試驗。此外，如發(fā)現(xiàn)共振頻率，在每一共振頻率下繼續(xù)試驗30min。為達檢驗?zāi)康模疃嘁獙θ齻€軸向做檢驗，球型源取任一軸向，橢圓形和/或圓盤形源截面有兩個軸向，一是旋轉(zhuǎn)軸，另一個軸是在任一垂直于對稱軸平面內(nèi)選取。其他形狀源的三個軸向，取平行于有代表性幾何外形斷面作為軸向。7.6穿刺檢驗7.6.1.1鋼錘上部安裝一固定裝置，下部牢固地固定一撞針。撞針應(yīng)具有下述特性：a)洛氏硬度：50至60(RockwellC);b)撞針高度：(6.0±0.2)mm,直徑：(3.0±0.1)mm;c)沖擊表面為半球形。撞針的中心線應(yīng)與鋼錘固定裝置的重心及固定點在一直線上，鋼錘及撞針的質(zhì)量由檢驗級別確定。7.6.1.2淬火鋼砧鋼砧須牢牢固定，其質(zhì)量至少為鋼錘的10倍，鋼砧與密封源之間的接觸面應(yīng)足夠大，為防止在進行穿刺檢驗時該表面變形，必要時可在密封源與鋼砧間安裝合適形式的墊塊。7.6.2方法按表2選擇相應(yīng)級別的鋼錘和撞針質(zhì)量。將密封源放在鋼砧上，先測量密封源上部至撞針下端之間的距離，調(diào)節(jié)跌落高度至少為1m,然后釋放。事先必須給密封源定位，使撞針落在密封源最薄弱面上，如果密封源不止一個薄弱面，則每個薄弱面都應(yīng)檢驗。如果密封源尺寸和質(zhì)量太小，可采用光滑的垂直導(dǎo)管，使撞針沖擊在穿刺點上。7.7彎曲檢驗7.7.1L/D≥15的密封源的彎曲檢驗L/D≥15的密封源，應(yīng)進行此項彎曲檢驗。此處，L為活性區(qū)長度，D為最小外包殼直徑或沿著活性區(qū)長度上垂直于密封源主軸的最小外包殼尺寸。彎曲檢驗分級是根據(jù)施加的靜壓力，使用如圖1所示檢驗參數(shù)和三個圓柱。所有三個圓柱不能旋轉(zhuǎn)且縱軸應(yīng)相互平行。圓柱表面應(yīng)光滑，且有足夠的長度以在檢驗過程中給源包殼提供足夠的接觸面。所有圓柱為實心材料，其硬度為洛氏硬度50～55。加靜壓力時，須注意不能突然加力，因為這樣會增加有效壓力。靜壓力應(yīng)施予密封源最脆弱的部分。每個等級彎曲檢驗所加靜壓力見表1。易彎曲密封源檢驗時，將源置于試驗卡具上，同時使用中間圓柱超過兩個靜止支撐圓柱的主軸所組成的平面上，檢驗后如能保持源的完整性，則判定彎曲檢驗合格。91——靜壓力；2——5D—受壓圓柱；3——密封源；4——2D—支撐圓柱。圖1彎曲檢驗參數(shù)7.7.2L/D≥10且L≥100mm密封源的彎曲檢驗L/D≥10以及L≥100mm的密封源應(yīng)進行此項彎曲檢驗，這里，L為活性區(qū)長度，D為最小外包殼直徑或沿活性區(qū)長度上垂直于密封源主軸的尺寸。密封源應(yīng)剛性地卡固在水平位置上，并使其一半伸出夾具面。樣品放置方向應(yīng)使源自由端受鋼錘平面沖擊時損傷最大，鋼錘沖擊樣品應(yīng)產(chǎn)生等同于1.4kg重物從1m高度垂直自由下落產(chǎn)生的沖擊效果。鋼錘外直徑應(yīng)為(25±1)mm,且其沖擊面的邊角倒圓、半徑為(3.0±0.3)mm。密封源通過此彎曲檢驗則為7級。7.7.3近距離治療針的彎曲檢驗總長度大于或等于30mm的近距離治療針型密封源應(yīng)進行此項彎曲檢驗[6]。密封源應(yīng)放置在一個合適裝置中，以使源能彎曲至少90°角成一半徑為(3.0±0.1)mm的圓弧。進行此項檢驗時，應(yīng)將密封源約為總長1/3部分放入裝置內(nèi)，用合適工具(例如鉗子)夾住伸出部分，并施加必要的力，使源沿規(guī)定半徑彎曲到至少90°角，然后再將密封源拉直。密封源通過此項彎曲檢驗則為8級。8源標(biāo)識只要有可能，包殼以及源組件上應(yīng)按順序牢固、清晰地標(biāo)識下述內(nèi)容：b)生產(chǎn)者名稱或代碼；c)源序號；d)源編碼，應(yīng)符合《放射源編碼規(guī)則》(環(huán)發(fā)[2004]118號);e)放射性核素的化學(xué)符號和質(zhì)量數(shù)；f)中子源的靶元素。9源證書生產(chǎn)者應(yīng)為每個或每批密封源提供證書，證書應(yīng)逐項填寫以下內(nèi)容：a)生產(chǎn)者名稱；b)用第4章規(guī)定的代碼表示的等級及已有的特殊形式放射性物質(zhì)的批準證書號；c)源序號和簡要說明，包括放射性核素的化學(xué)符號及質(zhì)量數(shù)；d)源編碼；e)裝料活度，根據(jù)所用的放射性物質(zhì)的分析或輻射輸出量的測量以及吸收數(shù)據(jù)估算；f)輻射輸出量，例如注量率或γ輻射源在規(guī)定方向1m處的空氣比釋動能率；g)檢驗表面污染的方法、結(jié)果及日期；h)密封方法，泄漏檢驗結(jié)果及檢驗日期。密封放射源證書示例參見附錄B。另外，根據(jù)情況證書還可以包括對源的詳細說明，特別是：——放射性內(nèi)容物：化學(xué)及物理形態(tài)、尺寸、質(zhì)量或體積以及放射性核素雜質(zhì)數(shù)量詳情。10質(zhì)量保證應(yīng)按照GB/T19001—2000或等效標(biāo)準建立所有密封源設(shè)計、制造、試驗、檢驗和文件的質(zhì)量保證大綱。每個生產(chǎn)者都應(yīng)制定適用于源設(shè)計與制造的質(zhì)量保證大綱。(資料性附錄)放射性核素毒性分組以下分類系根據(jù)ICRP第5號出版物。此外還包括了核素125I、TGa、Y和llIn。括弧內(nèi)組別為歐洲原子能聯(lián)營指導(dǎo)書84/466及84/467推薦的類別，這里的(2)、(3)和(4)分別表示的組別為2組、3組或4組。下面給出的組別(表A.1,表A.2,表A.3,表A.4)可與國際標(biāo)準一起使用。注1:按照ICRP第5號和第6號出版物推薦，Sr已從A組劃到B1組。注2:本附錄已不作參考件使用，但從中獲得并在此列出的資料與本標(biāo)準一起使用是適當(dāng)?shù)?。A組：高毒(第1組：極毒)B組：中毒B1分組(第2組：高毒)表A.3B組：中毒B2分組(第3組：中毒)B2Br38Cl(4)6+Cu(4)85mKr(4)H7Nd65Ni(4)220Rn(4)C組：低毒低毒)(資料性附錄)密封放射源證書舉例密封放射源證書生產(chǎn)者名稱，地址，電話號碼，傳真號型號：X63/1源編碼：放射性核素：37Cs(中子源尚須給出靶元素名稱)放射性核素雜質(zhì)：34Cs活度<1.0%說明：γ輻射源CsCl小球裝入雙層不銹鋼包殼內(nèi)，X63/1型GB級別：GB4075/2003/E63636(1)特殊形式證書號：GB/199/S內(nèi)容物估計活度：6.99TBq日期：××××-××-××(對短壽命核素還應(yīng)給出測量時間)輻射輸出量率：定量測量方法：在源徑向，例如垂直于源的對稱軸方向，離源中心1m處的空氣比釋動能率。結(jié)果：139μGy/s日期：××××-××-××表面沾污檢驗：方法：GB15849干擦拭法(見5.3)結(jié)果：合格日期：××××-××-××泄漏檢驗：方法1:GB15849真空氣泡法(見6.2)結(jié)果：合格日期：××××-××-××方法2:GB15849氦質(zhì)譜檢漏(見6.1)結(jié)果：合格