半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第20-1部分：對潮濕和焊接熱綜合影響敏感的表面安裝器件的操作、包裝、標(biāo)志和運輸 編制說明_第1頁
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《半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第20-1部分：對潮濕和焊接熱綜合影響敏感的表面安裝器件的操作、包裝、標(biāo)志和運輸》（征求意見稿）編制說明標(biāo)準(zhǔn)計劃項目，計劃項目批準(zhǔn)文號：國標(biāo)委發(fā)【2023】63號，計劃編號：IEC60749-20-1進行了更新，新版為IEC60749-20-1：2019，舊版為IEC2009。為了與國外標(biāo)準(zhǔn)保持一致，將GB/T4937.20目的是為SMD生產(chǎn)商和用戶提供按照GBIEC標(biāo)準(zhǔn)進行翻譯、研究、分析和比較，到國內(nèi)具有開展機械和氣候試驗?zāi)芰Φ谋緲?biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60749-20-1：2019《半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法本標(biāo)準(zhǔn)為SMD承制方和用戶提供按照GB/T4937.20的規(guī)定進行等級分類的潮本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60749-20-1:2019，除編輯性修改外，本標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和無腔SMD，典型的短期水清洗過程不會影響車間壽命，應(yīng)特別考慮非密封有腔的三、試驗驗證的分析、綜述報告，技術(shù)經(jīng)濟論證，預(yù)期的經(jīng)濟效益、社會本標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容與IEC60749-20-1：2019《Semiconductordevices-五、以國際標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的起草情況，以及是否合規(guī)引用或者采用國際國外本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60749-20-1：2019《Semiconductordevices-本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T4937半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法系列標(biāo)準(zhǔn)的第20-1部——第26部分:靜電放電(ESD)敏感度測試人體——第27部分:靜電放電(ESD)敏感度測試機）；九、實施國家標(biāo)準(zhǔn)的要求，以及組織措施、技術(shù)

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