GBT 14480.2-2015 無(wú)損檢測(cè)儀器 渦流檢測(cè)設(shè)備 第2部分：探頭性能和檢驗(yàn)

(ISO15548-2:2008,Non-destructivetesting—Equexamination—Part2:Probe中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局I 1 1 1 1 3 4 附錄A(資料性附錄)參考試塊A6 Ⅲ 本部分為GB/T14480的第2部分。本部分采用翻譯法等同采用ISO15548-2:2008《無(wú)損檢測(cè)渦流檢測(cè)設(shè)備第2部分：探頭性能和2 31級(jí)——總體功能檢查3級(jí)——性能檢查表1列出了檢驗(yàn)的主要性能。典型時(shí)間周期責(zé)任承擔(dān)1用戶4表1(續(xù))典型時(shí)間周期責(zé)任承擔(dān)2已校準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x器、參考用戶3儀器、探頭和輔助設(shè)備的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)量?jī)x器和用戶2級(jí)——當(dāng)系統(tǒng)性能偏差大于制造者或應(yīng)用技術(shù)文件規(guī)定的可接受限值時(shí)，應(yīng)決定對(duì)相關(guān)的被檢5 (1)激勵(lì)元件的阻抗模型如圖1所示。a)絕對(duì)測(cè)量6c)其他測(cè)量相角測(cè)量的參考基準(zhǔn)應(yīng)是正向X軸。 360:0°至360°,正向?yàn)槟鏁r(shí)針?lè)较?數(shù)學(xué)的常規(guī)) 7在圖3中概括地示出了參考試塊(A1～A5)。每種參考試塊的長(zhǎng)度和寬度至少應(yīng)是探頭技術(shù)條件規(guī)定的覆蓋范圍的10倍。當(dāng)探頭覆蓋范圍未參考試塊的厚度應(yīng)至少是在探頭技術(shù)條件中標(biāo)稱的最低頻率時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)滲透深度的2倍a)A1試塊——槽的長(zhǎng)度應(yīng)該比按照6.2.3.10規(guī)定的方法測(cè)定的“探頭可恒定響應(yīng)的槽的最小長(zhǎng)度”8c)A3試塊——從槽1到槽n,各槽的深度按照應(yīng)用技術(shù)文件規(guī)定的恒定步——兩個(gè)相鄰槽的間距至少應(yīng)是探頭覆蓋長(zhǎng)度的5倍(按照6.2.3.8的規(guī)定);邊緣的距離應(yīng)遠(yuǎn)大于邊緣效應(yīng)長(zhǎng)度的2.5倍；——兩個(gè)相鄰槽的間距至少應(yīng)是探頭覆蓋長(zhǎng)度的5倍(見(jiàn)6 最佳取向應(yīng)按照制造者標(biāo)明的確定。如果探頭明確設(shè)計(jì)成不與槽垂直(例如平行)的掃查方c)測(cè)量結(jié)果調(diào)節(jié)儀器，使掃查中獲得的最大信號(hào)值對(duì)應(yīng)于儀器動(dòng)態(tài)范圍的某個(gè)給定值(例如25%)。在后9a)參考試塊應(yīng)使用A1試塊進(jìn)行本條測(cè)量。c)測(cè)量結(jié)果k=[max(Smx)-min(Smax)]/max(Smax)……位置標(biāo)識(shí)不同于取向標(biāo)識(shí)。按照下面給出的測(cè)量方法，探頭本體上的標(biāo)識(shí)應(yīng)明確規(guī)定電中心的方式表示。a)參考試塊a)參考試塊應(yīng)使用A1試塊進(jìn)行本條測(cè)量。1)邊緣效應(yīng)是用從探頭位置標(biāo)識(shí)到試塊邊緣信號(hào)值為S處的距離來(lái)表征。其信號(hào)S如 (3)2)邊緣效應(yīng)是用從第二個(gè)探頭位置標(biāo)識(shí)到試塊邊緣信號(hào)值為S處的距離來(lái)表征。其信號(hào)S應(yīng)使用A2試塊進(jìn)行本條測(cè)量。不大于探頭覆蓋寬度的20%(見(jiàn)圖6)。a)參考試塊應(yīng)使用A1試塊進(jìn)行本條測(cè)量。探頭在一系列路徑內(nèi)掃查試塊，其中兩個(gè)相鄰路徑之間的距離(間距)不大于槽長(zhǎng)度的10%,在上述掃查中得到了在掃查方向上包絡(luò)的最長(zhǎng)尺寸，從探頭對(duì)槽的響應(yīng)圖中獲取了覆蓋長(zhǎng)度Lco(見(jiàn)圖8)。圖8測(cè)定覆蓋長(zhǎng)度的示例在6.2.3.7中得到了垂直于掃查方向包絡(luò)的最寬尺寸，從探頭對(duì)槽的響應(yīng)圖中獲取了覆蓋寬度Wan(見(jiàn)圖9)。覆蓋寬度按式(4)計(jì)算：L,——槽的長(zhǎng)度。圖9測(cè)定覆蓋寬度的示例a)參考試塊lmin是信號(hào)(S;-Si-1)/Sa≤10%的槽長(zhǎng)l:中最小長(zhǎng)度，除非在應(yīng)用技術(shù)文件中另有其他c)測(cè)量結(jié)果對(duì)于深度為di的槽i,記錄所有槽i信號(hào)S;的最大信號(hào)。c)測(cè)量結(jié)果有效深度Def是由Smax(t)/Smax(0)≤10%給出的t值。除非在應(yīng)用技術(shù)文件中另有其他圖10參考試塊A6b)探頭掃查在參考試塊表面上，探頭的最佳取向垂直于槽，使探頭的中心通過(guò)槽的中間位置進(jìn)行直線c)測(cè)量結(jié)果。本條中規(guī)定了圖11～圖16示出的參考試塊(B1～B4、C1～C4)。參考試塊的長(zhǎng)度應(yīng)大于制造者標(biāo)明的探頭端部效應(yīng)的4倍。當(dāng)這個(gè)數(shù)據(jù)未知時(shí)，應(yīng)由沿掃查方向a)試塊B1和試塊C1,如圖11所示。在同一橫截面上，管材試塊的4個(gè)通孔和棒材試塊的2個(gè)通孔，其直徑(至少為0.6mm)由應(yīng)b)試塊B2和試塊C2,如圖12a)所示。c)試塊B3和試塊C3,如圖13所示。管材試塊B3與試塊B1有相同的尺寸，棒材試塊C3與試塊C1有相同的尺寸，在同一軸向直的間距是探頭覆蓋長(zhǎng)度的5倍。圖12試塊B2,C2和B4,C4B3圖13試塊B3和C3e)試塊B5和試塊C5,如圖14所示。圖14試塊B5和C5f)試塊B6和試塊C6,如圖15所示。圖15試塊B6和C6g)試塊B7,如圖16所示。凹槽寬度等于B1上孔的直徑。凹槽深度以應(yīng)用技術(shù)文件規(guī)定的步長(zhǎng)遞增。兩個(gè)凹槽的間隔如6.2.4.8規(guī)定的那樣為探頭覆蓋長(zhǎng)度的5倍。圖16試塊B7應(yīng)使用參考試塊B1和試塊C1分別進(jìn)行本條測(cè)量。b)測(cè)量結(jié)果調(diào)節(jié)儀器，使掃查中獲得的最大信號(hào)值對(duì)應(yīng)于儀器動(dòng)態(tài)范圍的某個(gè)給定值(例如25%)。在后在L/4的位置平衡探頭。以通過(guò)3L/4的孔的路徑與孔同一軸線位置的探頭的點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的探頭位置標(biāo)識(shí)處有一個(gè)峰值信號(hào)，該信號(hào)為最大值 b)測(cè)量結(jié)果依據(jù)α標(biāo)繪Smax(a)/Sref。d%=[max(Smx)-min(Smx)]/max(Smx)×100 (5)槽i的信號(hào)是S;=Simax/Sr (6)a)參考試塊改變偏心度E。測(cè)量信號(hào)為S?(E)。依據(jù)E標(biāo)繪S?(E)/Sref2)孔響應(yīng)效應(yīng)依據(jù)D標(biāo)繪Smax(D)/Sref。S。是在最厚的試塊上獲得的信號(hào)。分別在厚度為t的B6和C6試塊上測(cè)得的信號(hào)為S(t),標(biāo)繪t的函數(shù)S(t)。a)參考試塊在B1上遠(yuǎn)離凹槽區(qū)域平衡探頭。從最深凹槽獲得的信號(hào)為S?。對(duì)于每個(gè)Smax/Sa=S;的凹槽，S;/S?<10%規(guī)定為在B7試塊上的檢測(cè)限值。探頭置于L/4處。應(yīng)重復(fù)6.1和6.2中規(guī)定的測(cè)量方法以評(píng)價(jià)這些影響。GB/T14480.2—2(資料性附錄)參考試塊A6A.1標(biāo)稱值和性能允差參考試塊A6如圖A.1所示。6——導(dǎo)電系數(shù)σ圖A.1轉(zhuǎn)換信號(hào)的試塊A6參考試塊A6的標(biāo)稱值和性能允差見(jiàn)表1。表A.1