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文檔簡(jiǎn)介
T/CSTMXXXXX—2020
ICSXX.XXX.XX
XXX
團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
T/CSTMXXXXX-2020
無損檢測(cè)鐵磁性金屬材料力學(xué)參量微磁
檢測(cè)指南
Nondestructivetesting—StandardGuideforMicromagneticTestingof
MechanicalParametersofFerromagneticMetalMaterials
(征求意見稿)
2020-XX-XX發(fā)布202X-XX-XX實(shí)施
中關(guān)村材料試驗(yàn)技術(shù)聯(lián)盟
發(fā)布
中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)
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無損檢測(cè)鐵磁性金屬材料力學(xué)參量微磁檢測(cè)指南
1范圍
本文件規(guī)定了鐵磁性金屬殘余應(yīng)力、硬度、硬化層深度、屈服強(qiáng)度、塑性變形等力學(xué)參量的微磁檢
測(cè)的方法、檢測(cè)人員、檢測(cè)設(shè)備、試樣、檢測(cè)程序、檢測(cè)結(jié)果異常的處理、檢測(cè)記錄和報(bào)告的一般原則。
本文件適用于制造過程中的鐵磁性齒輪、葉片、曲軸、火車車輪和車身結(jié)構(gòu)件的力學(xué)參量檢測(cè)。其
它鐵磁性金屬結(jié)構(gòu)件的力學(xué)參量檢測(cè)可參考本文件。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅所注日期的版本適用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T20737無損檢測(cè)通用術(shù)語和定義
GB/T12604.5無損檢測(cè)術(shù)語磁粉檢測(cè)
GB/T12604.10無損檢測(cè)術(shù)語磁記憶檢測(cè)
GB/T9445無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證
3術(shù)語和定義
GB/T20737、GB/T12604.5和GB/T12604.10界定的術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1微磁信號(hào)Micromagneticsignal
鐵磁性材料在周期磁化過程中,能夠表征磁疇翻轉(zhuǎn)過程中不連續(xù)跳變等磁化行為的特征磁信號(hào),主
要包括磁巴克豪森噪聲和增量磁導(dǎo)率。廣義的微磁信號(hào)還可以包括磁滯回線、切向磁場(chǎng)強(qiáng)度和渦流等。
3.2微磁參量Micromagneticparameters
微磁信號(hào)的時(shí)域、頻域等統(tǒng)計(jì)特征參量。
3.3標(biāo)定試樣Calibratedsample
用于獲取特定待測(cè)結(jié)構(gòu)件微磁參量與力學(xué)參量對(duì)應(yīng)關(guān)系而制備的系列試樣。
3.4預(yù)測(cè)模型Predictionmodel
針對(duì)被測(cè)結(jié)構(gòu)件配置在微磁檢測(cè)儀器軟件系統(tǒng)中、輸入為微磁參量值和輸出為所檢測(cè)力學(xué)參量值的
算法模型。
3.5驗(yàn)證試樣Verifiedsample
用于判斷預(yù)測(cè)模型是否適用于待測(cè)結(jié)構(gòu)件以及預(yù)測(cè)精度是否滿足力學(xué)參量測(cè)試要求而制備的系列
試樣。
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3.6線性回歸方法Linearregressionalgorithm
利用特定待測(cè)結(jié)構(gòu)件的微磁參量值和力學(xué)參量標(biāo)稱值,尋找并獲得彼此間線性關(guān)系模型的機(jī)器學(xué)習(xí)
算法。
4方法概要
4.1檢微磁檢測(cè)原理
鐵磁性金屬在外加周期性磁場(chǎng)作用下,由于其材料的微觀結(jié)構(gòu)不同,晶格的位錯(cuò)和晶界對(duì)磁疇翻轉(zhuǎn)
的釘扎效應(yīng)存在差異,從而導(dǎo)致表征磁疇磁化行為的微磁性能不一樣。另一方面,當(dāng)材料承受外部載荷
時(shí),晶格缺陷將影響晶粒的力學(xué)行為,進(jìn)而影響材料的力學(xué)性能。材料的微磁和力學(xué)性能本質(zhì)上都由材
料微觀結(jié)構(gòu)決定,兩者之間存在對(duì)應(yīng)關(guān)系,如圖1所示。
圖1磁學(xué)性能與力學(xué)性能的關(guān)系
微磁檢測(cè)方法是發(fā)現(xiàn)并獲得鐵磁性金屬的微磁參量與力學(xué)參量(如殘余應(yīng)力、硬度、硬化層深度、
屈服強(qiáng)度、塑性變形)的對(duì)應(yīng)關(guān)系,進(jìn)而通過測(cè)量微磁參量來預(yù)測(cè)材料力學(xué)參量的無損檢測(cè)方法。
4.2微磁檢測(cè)特點(diǎn)和局限性
4.2.1特點(diǎn)
⑴可實(shí)現(xiàn)鐵磁性金屬材料及結(jié)構(gòu)件殘余應(yīng)力、硬度、硬化層深度、屈服強(qiáng)度、塑形變形等力學(xué)參
量的無損檢測(cè);
⑵檢測(cè)條件要求低,在有銹蝕、油污、化學(xué)殘留物的情況下仍可進(jìn)行正常檢測(cè);
⑶既適用于制造過程中的檢測(cè),也適用于在役運(yùn)行中的檢測(cè);
⑷檢測(cè)速度快,可實(shí)現(xiàn)在線普檢;
⑸可以根據(jù)對(duì)象的形狀尺寸設(shè)計(jì)探頭,實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜部件的覆蓋檢測(cè)。
4.2.2局限性
⑴不適用于非鐵磁性材料;
⑵檢測(cè)前需針對(duì)特定待測(cè)對(duì)象進(jìn)行儀器標(biāo)定并獲得預(yù)測(cè)模型;
⑶影響檢測(cè)的因素較多。
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4.3微磁檢測(cè)的影響因素
影響微磁檢測(cè)的相關(guān)因素包括:
⑴被測(cè)對(duì)象的影響:材料的材質(zhì)成分和微觀結(jié)構(gòu),結(jié)構(gòu)件的形狀和尺寸,金屬的電磁特性和磁化
狀態(tài);
⑵檢測(cè)儀器的影響:磁化頻率和磁化強(qiáng)度,混頻檢測(cè)時(shí)的磁化頻率數(shù)量、幅值和頻率比值;
⑶傳感器的影響:磁芯結(jié)構(gòu),線圈參數(shù),檢出信號(hào)方式,提離間隙,相對(duì)姿態(tài);
⑷環(huán)境的影響:空間電磁場(chǎng)輻射,電源電流沖擊干擾。
5檢測(cè)人員
按本文件進(jìn)行微磁檢測(cè)的人員應(yīng)參考GB/T9445的要求經(jīng)過專門培訓(xùn)。
6檢測(cè)設(shè)備
微磁檢測(cè)設(shè)備至少應(yīng)包含微磁檢測(cè)傳感器和微磁檢測(cè)儀器,必要時(shí)還應(yīng)有帶動(dòng)傳感器工作的掃查裝
置、跟蹤機(jī)構(gòu)或機(jī)器人系統(tǒng)。
6.1傳感器
微磁檢測(cè)傳感器的功能是在被測(cè)鐵磁金屬表面和近表面激勵(lì)交變磁場(chǎng)、混頻交變磁場(chǎng)或渦流,測(cè)量
受力學(xué)參量調(diào)制的磁巴克豪森噪聲、增量磁導(dǎo)率、磁滯回線、切向磁場(chǎng)或渦流再生磁場(chǎng)信號(hào)。其中,磁
巴克豪森噪聲或增量磁導(dǎo)率檢測(cè)功能是微磁檢測(cè)傳感器必須具備的。多功能微磁檢測(cè)傳感器主要由磁
芯、磁化線圈,激勵(lì)線圈、感應(yīng)線圈、主磁通線圈、霍爾元件組成,如圖2所示。根據(jù)實(shí)際被測(cè)結(jié)構(gòu)件
的幾何形狀和所需的微磁信號(hào)類型,可以調(diào)整或改變圖2所示傳感器的結(jié)構(gòu)。
圖2微磁檢測(cè)傳感器的組成
①磁芯②磁化線圈③激勵(lì)線圈④感應(yīng)線圈⑤主磁通線圈⑥霍爾元件⑦被測(cè)結(jié)構(gòu)件
6.1.1磁芯
由高導(dǎo)磁的矽鋼片構(gòu)成,用于將磁化線圈激發(fā)的低頻電磁場(chǎng)傳輸至被測(cè)結(jié)構(gòu)件中。
6.1.2磁化線圈
由漆包線繞制而成,其中通入低頻正弦交流電流,產(chǎn)生低頻交變磁場(chǎng)磁化被測(cè)結(jié)構(gòu)件。
6.1.3激勵(lì)線圈
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由漆包線繞制而成,其中通入高頻正弦交流電流而產(chǎn)生高頻交變磁場(chǎng),與低頻磁場(chǎng)疊加實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)
結(jié)構(gòu)件混頻磁化,或在被測(cè)結(jié)構(gòu)件中感生渦流。
6.1.4感應(yīng)線圈
由漆包線繞制而成,用于測(cè)量受結(jié)構(gòu)件力學(xué)參量調(diào)制的磁巴克豪森噪聲和渦流再生磁場(chǎng)。
6.1.5主磁通線圈
由漆包線繞制在磁極上而成,用于測(cè)量由磁芯和被測(cè)結(jié)構(gòu)件構(gòu)成的磁回路中的磁通密度,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)
測(cè)量結(jié)構(gòu)件磁滯回線特征參量。
6.1.6霍爾元件
用于測(cè)量低頻磁化場(chǎng)在被測(cè)結(jié)構(gòu)件表面的切向磁場(chǎng)強(qiáng)度分量。
6.2檢測(cè)儀器
微磁檢測(cè)儀器由嵌入式系統(tǒng)和上位計(jì)算機(jī)組成,如圖3所示。嵌入式系統(tǒng)的功能是產(chǎn)生正弦交流電
或它們的混頻交流電供給傳感器,將傳感器獲得的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行放大、濾波等處理后進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,
再利用嵌入式軟件進(jìn)行微磁參量值提取并輸入給上位機(jī)。嵌入式系統(tǒng)硬件電路一般包括信號(hào)發(fā)生器、功
率放大器、前置放大器、模擬信號(hào)處理器、A/D采集器、DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)和主控制器;上位機(jī)
的功能是利用嵌入式系統(tǒng)獲得的微磁參量值,通過預(yù)測(cè)模型計(jì)算給出被測(cè)結(jié)構(gòu)件的力學(xué)參量值,以及采
用線性回歸方法分析軟件對(duì)標(biāo)定試樣的微磁參量數(shù)據(jù)集和力學(xué)參量標(biāo)稱值數(shù)據(jù)集的處理,得到微磁參量
與力學(xué)參量的關(guān)系模型。
6.2.1信號(hào)發(fā)生器
用于產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)指定頻率和幅度正弦交流電的單元電路。
6.2.2功率放大器
用于對(duì)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的正弦交流電信號(hào)進(jìn)行能量放大,以驅(qū)動(dòng)磁化線圈和/或激勵(lì)線圈對(duì)被測(cè)結(jié)
構(gòu)件局部進(jìn)行磁化或感生渦流。
6.2.3前置放大器
用于對(duì)感應(yīng)線圈獲得的弱信號(hào)進(jìn)行幅度放大,對(duì)主磁通線圈和霍爾元件獲得的強(qiáng)信號(hào)進(jìn)行跟隨隔
離,以利于后續(xù)處理的電路單元。
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圖3微磁檢測(cè)設(shè)備構(gòu)成
6.2.4模擬信號(hào)處理器
用于對(duì)磁巴克豪森噪聲信號(hào)、渦流再生磁場(chǎng)信號(hào)進(jìn)行檢波和濾波處理的單元電路。
6.2.5A/D采集器
用于將預(yù)處理后的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。
6.2.6DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)
實(shí)現(xiàn)對(duì)微磁參量值的讀出與判別。
6.2.7主控制器
用于協(xié)調(diào)嵌入式系統(tǒng)中各個(gè)單元電路工作時(shí)序的中樞電路。
6.2.8上位計(jì)算機(jī)
①根據(jù)嵌入式系統(tǒng)提供的微磁參量值,利用預(yù)測(cè)模型計(jì)算出被測(cè)結(jié)構(gòu)件的力學(xué)參量值;②顯示嵌
入式系統(tǒng)得到的微磁處理值以及力學(xué)參量值的預(yù)測(cè)結(jié)果;③根據(jù)嵌入式系統(tǒng)提供的標(biāo)定試樣的微磁參
量值以及由常規(guī)力學(xué)方法獲得并輸入的力學(xué)參量標(biāo)稱值,利用線性回歸算法分析軟件得到力學(xué)參量預(yù)測(cè)
模型。
7試樣
微磁檢測(cè)用試樣包括標(biāo)定試樣和驗(yàn)證試樣。
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7.1一般要求
7.1.1制作標(biāo)定試樣和驗(yàn)證試件的材料應(yīng)與待測(cè)結(jié)構(gòu)件具有相同或相近的材質(zhì)(牌號(hào))、熱處理工藝和
電磁特性。
7.1.2標(biāo)定試樣和驗(yàn)證試樣的形狀和尺寸應(yīng)符合傳統(tǒng)力學(xué)方法測(cè)量力學(xué)參量的要求,并按照相應(yīng)國(guó)家標(biāo)
準(zhǔn)規(guī)定方法制作。此外,試樣的厚度至少為微磁檢測(cè)時(shí)磁化滲透深度的3倍,以避免試樣過薄對(duì)磁化場(chǎng)
分布產(chǎn)生影響。
7.1.3在切割取樣時(shí)不應(yīng)影響切口處金屬原有力學(xué)性能,對(duì)試樣表面的機(jī)械加工(如車、磨、拋等)不
應(yīng)影響金屬表面原有力學(xué)性能,除非這些種影響可在后續(xù)加工或處理時(shí)被去除。
7.1.4可采用拉伸、噴丸、熱處理等方法制備所需專項(xiàng)力學(xué)參量值的標(biāo)定試樣或驗(yàn)證試樣。在制備專項(xiàng)
力學(xué)參量值的試樣時(shí),不應(yīng)改變目標(biāo)參量之外的其他力學(xué)性能。如果其他力學(xué)參量與目標(biāo)參量相關(guān)、影
響不可避免,應(yīng)盡量使系列試樣的其他力學(xué)參量值保持一致。
7.2標(biāo)定試樣的控制原則
7.2.1試樣數(shù)量
針對(duì)每一項(xiàng)力學(xué)參量得到的M件標(biāo)定試樣的標(biāo)稱值Yi(i=1,2,3……M),標(biāo)定試樣數(shù)量M的選取
應(yīng)滿足:
YY
Mmaxmin(1)
YT
其中Ymax和Ymin分別為Yi(i=1,2,3……M)中的最大值和最小值,YT為針對(duì)特定待測(cè)結(jié)構(gòu)件微磁檢測(cè)
所允許的測(cè)量誤差。
7.2.2試樣參量的取值范圍
標(biāo)定試樣力學(xué)參量的取值范圍應(yīng)涵蓋待測(cè)結(jié)構(gòu)件的數(shù)值范圍,即標(biāo)定試樣參量取值范圍的最大值
Ymax大于待測(cè)結(jié)構(gòu)件的最大值,標(biāo)定試樣參量取值范圍的最小值Ymin小于待測(cè)結(jié)構(gòu)件的最小值。一般地,
標(biāo)定試樣力學(xué)參量的取值范圍宜超出實(shí)際測(cè)試范圍的50%,例如在對(duì)一批結(jié)構(gòu)件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí),估計(jì)
它們的應(yīng)力在50~100MPa之間,則標(biāo)定試件的應(yīng)力值應(yīng)處于25~125MPa范圍內(nèi)。
7.2.3試樣參數(shù)值的分布狀態(tài)
在滿足標(biāo)定試樣數(shù)量原則的前提下,每一項(xiàng)力學(xué)參量標(biāo)稱值Yi的離散性應(yīng)盡可能大,標(biāo)準(zhǔn)差σ至少
應(yīng)滿足:
YmaxYmin
a(2)
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其中0.8≤a≤1.2。
7.3驗(yàn)證試樣的控制原則
7.3.1試樣數(shù)量
針對(duì)每一項(xiàng)力學(xué)參量,一般驗(yàn)證試樣數(shù)量S小于標(biāo)定試樣數(shù)量M,即S<M。
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7.3.2試樣參量的取值及分布
原則上,驗(yàn)證試樣的力學(xué)參量取值是隨機(jī)的,但在條件允許情況下,可參照待測(cè)結(jié)構(gòu)件可能出現(xiàn)力
學(xué)參量的上限值、下限值和中間值制備驗(yàn)證試件。
7.4利用試樣的標(biāo)定方法與步驟
鐵磁性結(jié)構(gòu)件力學(xué)性能的微磁檢測(cè)標(biāo)定方法,通過獲取M件標(biāo)定試樣的N項(xiàng)微磁參量值Xi(i=1,2,
3……N)數(shù)據(jù)集(共N×M個(gè)數(shù)據(jù))與P項(xiàng)力學(xué)參量標(biāo)稱值Yi(i=1,2,3……P)數(shù)據(jù)集(共P×M個(gè)數(shù)
據(jù)),在滿足試樣控制原則條件下,采用多元線性回歸方法建立起N項(xiàng)微磁參量與P項(xiàng)力學(xué)參量的關(guān)系
模型。該關(guān)系模型的預(yù)測(cè)精度還需采用驗(yàn)證試樣進(jìn)行測(cè)試和評(píng)價(jià)。具體步驟如下:
⑴制備標(biāo)定試樣。一般來說,針對(duì)相同材料經(jīng)過相同工藝流程制造的結(jié)構(gòu)件,可從生產(chǎn)線上和廢
品庫中選取材料制作標(biāo)定試樣。如有必要,還需改變工藝參數(shù)制備專項(xiàng)標(biāo)定試樣,以使力學(xué)參量值滿足
7.2.1中規(guī)定的控制要求。
⑵微磁與力學(xué)參量測(cè)試。首先對(duì)標(biāo)定試樣逐一進(jìn)行微磁測(cè)試,得到N項(xiàng)微磁參量值(共N×M個(gè)數(shù)
據(jù));其次采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的常規(guī)力學(xué)性能測(cè)試方法(如拉伸試驗(yàn)、顯微硬度測(cè)試和X射線衍射殘余
應(yīng)力測(cè)試等),得到P項(xiàng)力學(xué)參量標(biāo)稱值(共P×M個(gè)數(shù)據(jù))。
⑶力學(xué)參量與微磁參量的關(guān)系模型。采用多元線性回歸方法,對(duì)標(biāo)定試樣的微磁參量值與力學(xué)參
量標(biāo)稱值進(jìn)行分析,得到以力學(xué)參量為因變量、多項(xiàng)微磁參量為自變量的多元線性方程組。
⑷模型預(yù)測(cè)精度校驗(yàn):采用⑵中的微磁參量值和力學(xué)參量標(biāo)稱值測(cè)試方法,逐一對(duì)S件驗(yàn)證試樣
進(jìn)行測(cè)試;將測(cè)得的微磁參量值代入到第⑶步所得多元線性方程組,計(jì)算得到力學(xué)參量預(yù)測(cè)值;然后與
測(cè)得的力學(xué)參量標(biāo)稱值進(jìn)行比較,如偏差小于預(yù)先規(guī)定的允許誤差YT,則標(biāo)定完成,否則標(biāo)定不成功。
標(biāo)定不成功表示所建立的關(guān)系模型不能用于實(shí)際力學(xué)參量檢測(cè)。
8檢測(cè)程序
在完成標(biāo)定和驗(yàn)證工作后,即可采用微磁檢測(cè)設(shè)備對(duì)待測(cè)結(jié)構(gòu)件進(jìn)行力學(xué)參量的檢測(cè)。在檢測(cè)開始
前和檢測(cè)過程中,應(yīng)注意如下相關(guān)事宜:
8.1檢測(cè)條件的確定和準(zhǔn)備
8.1.1針對(duì)傳感器的檢測(cè)區(qū)域,被測(cè)表面的形狀和曲率應(yīng)相同,避免磁路變化對(duì)檢測(cè)的影響。
8.1.2針對(duì)傳感器的檢測(cè)區(qū)域,結(jié)構(gòu)件的厚度應(yīng)不小于磁化滲透深度3倍,避免邊界效應(yīng)對(duì)檢測(cè)的影響。
8.1.3被檢結(jié)構(gòu)件表面應(yīng)無影響檢測(cè)的障礙物和異物,避免傳感器提離效應(yīng)對(duì)檢測(cè)的影響。
8.1.4根據(jù)被檢結(jié)構(gòu)件的形狀、尺寸和制造工藝(例如金屬軋制方向),規(guī)劃傳感器的磁化方向和掃查
路徑。
8.1.5在每批結(jié)構(gòu)件檢測(cè)前,應(yīng)采用驗(yàn)證試樣校驗(yàn)預(yù)測(cè)模型的符合性,并對(duì)檢測(cè)儀器和傳感器的功能和
性能進(jìn)行測(cè)試和調(diào)試。
8.2微磁檢測(cè)的實(shí)施
8.3.1自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)按照事先規(guī)劃的磁化方向和掃查路徑進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)過程中傳感器的掃查步長(zhǎng)應(yīng)
盡量保持恒定,移動(dòng)速度變化不超過±10%。
8.2.2搭載傳感器的機(jī)械掃查系統(tǒng)或機(jī)器人系統(tǒng)應(yīng)能實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)力的柔順控制并保持傳感器的探測(cè)姿態(tài)
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不變。
8.2.3在檢測(cè)過程中,傳感器與被測(cè)結(jié)構(gòu)件表面保持恒定間隙,確保磁化場(chǎng)良好耦合和避免提離效應(yīng)。
8.3檢測(cè)設(shè)備的校驗(yàn)
除每次檢測(cè)前和結(jié)束后必須進(jìn)行檢測(cè)設(shè)備校驗(yàn)外,在下列情況下也應(yīng)使用驗(yàn)證試樣對(duì)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行
校驗(yàn):
①連續(xù)檢測(cè)時(shí),每4小時(shí)校驗(yàn)一次;
②更換被測(cè)對(duì)象的規(guī)格(材質(zhì)、工藝狀態(tài)和電磁特性不變)時(shí);
③懷疑檢測(cè)設(shè)備工作不正常時(shí);
④認(rèn)為必要時(shí)。
如果校驗(yàn)不合格,則自上一次校驗(yàn)合格后的所有檢測(cè),在設(shè)備重新校驗(yàn)合格后重新進(jìn)行檢測(cè)
9檢測(cè)結(jié)果異常的處理
在對(duì)同一批結(jié)構(gòu)件或同一結(jié)構(gòu)件不同位置進(jìn)行力學(xué)參量檢測(cè)時(shí),如
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