汽車用多芯片組件應力測試要求 編制說明_第1頁
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《汽車用多芯片組件應力測試要求》（征求意見稿）編制說明會關(guān)于下達2023年第四批推薦性國家標準計劃及相關(guān)標準外文版計劃的通知》（國標委發(fā)[2023]63號）中的計劃由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出，全國集成電路標準化技術(shù)委員境適應性和可靠性，標準的研制對推動國產(chǎn)汽車電子收集的標準資料進行研究、分析，按照GB/T1.1-2020《標準化工作導則第1部2023年6月到10月期間，編制組對美國美國汽車電子委員會發(fā)布的AEC-Q104“基于失效機理的多芯片組件應力試驗鑒定程序”進行了翻譯，同時對2024年3月，電子標準院組織了汽車電子元器件標準研討會，汽車電子元器件產(chǎn)業(yè)鏈上下游企事業(yè)單位相關(guān)代表100余人參加，針對標準內(nèi)容進行了詳細的標準編制過程中參考的標準主要包括AECQ104等系列標準，也參考了美軍目前汽車用多芯片組件的測試和試驗相關(guān)標準方面國內(nèi)目前還沒有公認的國產(chǎn)汽車用集成電路占比只有5%左右。該項標準的制定能夠統(tǒng)一汽車用多芯片

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