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文檔簡介

1第四章 集成電路器件工藝4.1 雙極型集成電路的基本制造工藝4.2 MESFET和HEMT工藝4.3MOS工藝和相關(guān)的VLSI工藝4.4BiCMOS工藝2CMOS的主要優(yōu)點是集成密度高而功耗低,工作頻率隨著工藝技術(shù)的改進已接近TTL電路,但驅(qū)動能力尚不如雙極型器件,所以近來又出現(xiàn)了在IC內(nèi)部邏輯部分采用CMOS技術(shù),而I/O緩沖及驅(qū)動部分使用雙極型技術(shù)的一種稱為BiCMOS的工藝技術(shù)。4.4BiCMOS工藝3BiCMOS工藝技術(shù)大致可以分為兩類:分別是以CMOS工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝和以雙極工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝。一般來說,以CMOS工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝對保證CMOS器件的性能比較有利,同樣以雙極工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝對提高保證雙極器件的性能有利。

影響B(tài)iCMOS器件性能的主要部分是雙極部分,因此以雙極工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝用的較多。

4BiCMOS工藝下NPN

晶體管的俯視圖

和剖面圖51.以P阱CMOS工藝為基礎(chǔ)的

BiCMOS工藝

圖4.21P阱CMOS-NPN結(jié)構(gòu)剖面圖

缺點:電流增益?。患姌O串聯(lián)電阻大;NPN管只能接固定電位62.以N阱CMOS工藝為基礎(chǔ)的

BiCMOS工藝

圖4.22N阱CMOS-NPN體硅襯底結(jié)構(gòu)剖面圖

優(yōu)缺點:基區(qū)厚度變薄,NPN管自由連接,但是集電極串聯(lián)電阻還是很大7圖4.23N阱CMOS-NPN外延襯底結(jié)構(gòu)剖面圖

改進:N阱下設(shè)置N+隱埋層,并P型外延襯底,目的:減小集電極串聯(lián)電阻,提高抗閂鎖性能改進83.以雙極性工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝

9圖4.26P阱BiCMOS橫向縱向外延埋層高壓大電流10圖4.27以雙極工藝為基礎(chǔ)的雙埋層雙阱

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