光學(xué)：1光的干涉 薄膜干涉

光的干涉

薄膜干涉光學(xué)

A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏兩張紙片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()(1)如圖示裝置，將一塊厚為d平板玻璃放置在另一平板玻璃之上，在一端夾入的兩張紙片，從而在兩玻璃表面之間形成一個(gè)劈形空氣薄膜。當(dāng)光垂直入射后，從上往下看到的干涉條紋如圖所示，這便是薄膜干涉。設(shè)每張紙片厚度為x，平板玻璃左端離紙片距離為L(zhǎng)，現(xiàn)若將波長(zhǎng)為λ的可見(jiàn)光垂直入射到圖裝置后，相鄰兩亮條紋之間的距離為

。(1)從空氣膜的上下表面分別反射的兩列光是相干光，根據(jù)實(shí)驗(yàn)原理有根據(jù)幾何關(guān)系有兩張紙片解析光程差為空氣層厚度的2倍，當(dāng)光程差為波長(zhǎng)整數(shù)倍時(shí)為亮條紋；聯(lián)立有：Δx：相鄰兩亮條紋之間的距離

解得：

相鄰亮條紋之間空氣層厚度差(1)如圖示裝置，將一塊厚為d平板玻璃放置在另一平板玻璃之上，在一端夾入的兩張紙片，從而在兩玻璃表面之間形成一個(gè)劈形空氣薄膜。當(dāng)光垂直入射后，從上往下看到的干涉條紋如圖所示，這便是薄膜干涉。設(shè)每張紙片厚度為x，平板玻璃左端離紙片距離為L(zhǎng)，現(xiàn)若將波長(zhǎng)為λ的可見(jiàn)光垂直入射到圖裝置后，相鄰兩亮條紋之間的距離為

。A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏cde（a）（b）薄片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏解析

A.用單色光從標(biāo)準(zhǔn)平面上面照射，從楔形空氣薄膜上下表面分別反射的兩列光波頻率相同，符合相干條件，A正確；cde（a）（b）薄片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏c點(diǎn)本應(yīng)為暗條紋處，e處本應(yīng)為亮條紋，解析故B錯(cuò)誤，C正確；現(xiàn)和d點(diǎn)在一條明條紋上，相當(dāng)于提前亮了，光程差增大，A處凹陷；cde（a）（b）薄片結(jié)果向右邊推后亮了，說(shuō)明B處光程差減小，可知B處凸起，(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()薄膜干涉是等厚干涉，同一條亮條紋處光程差相同、空氣膜的厚度相同；條紋的c、d點(diǎn)在同一條亮條紋處，所以c、d兩點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同。A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏解析cde（a）（b）薄片

D．當(dāng)減少薄片的厚度，即減小空氣薄層的寬度，導(dǎo)致同級(jí)的光程差的間距變大，則干涉條紋間距會(huì)增大，故D正確；此兩處的光程差設(shè)此兩相鄰亮紋中心的距離為則由幾何關(guān)系得d1d2處為兩相鄰亮條紋即D．若減少薄片的厚度減小增大干涉條紋間距增大(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產(chǎn)生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會(huì)增大E．將薄片向著劈尖移動(dòng)使劈角變大時(shí)，條紋變疏ACD解析cde（a）（b）薄片

D．當(dāng)減少薄片的厚度，即減小空氣薄層的寬度，導(dǎo)致同級(jí)的光程差的間距變大，則干涉條紋間距會(huì)增大，故D正確；E．劈角變大（）變大變小條紋變密解析此兩處的光程差設(shè)此兩相鄰亮紋中心的距離為則由幾何關(guān)系得d1d2處為兩相鄰亮條紋即(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是()當(dāng)Δr＝kλ(k＝0，1，2…)時(shí)，光屏上P′處出現(xiàn)明條紋。1.

熟記薄膜干涉現(xiàn)象中形成