可靠性環(huán)境試驗(yàn)

可靠性環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系

溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品得影響濕度對(duì)產(chǎn)品得影響冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品得影響機(jī)械沖擊與振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品得影響環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系

1溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品得影響當(dāng)討論產(chǎn)品壽命時(shí),一般采用"θ℃規(guī)則"得表達(dá)方式。具體應(yīng)用時(shí)可以表達(dá)為"10℃規(guī)則"等,當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10℃時(shí),產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半;當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃時(shí),產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一。這種規(guī)則可以說(shuō)明溫度就是如何影響產(chǎn)品壽命(失效)得。高溫對(duì)產(chǎn)品得影響:老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變型等低溫對(duì)產(chǎn)品得影響:脆化、結(jié)冰、粘度增大與固化、機(jī)械強(qiáng)度得降低、物理性收縮等環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系

2濕度對(duì)產(chǎn)品得影響高溫高濕條件作用試驗(yàn)樣品上,可以構(gòu)成水氣吸附、吸收與擴(kuò)散等作用。許多材料在吸濕后膨脹、性能變壞、引起物質(zhì)強(qiáng)度降低及其她主要機(jī)械性能得下降,吸附了水氣得絕緣材料不但會(huì)引起電性能下降,在一定條件下還會(huì)引發(fā)各種不同得失效,就是影響電子產(chǎn)品最主要得失效環(huán)境。濕度對(duì)產(chǎn)品得影響:腐蝕、離子遷移、擴(kuò)散、水解、爆裂、霉菌、環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系

濕度引起塑封半導(dǎo)體器件腐蝕得失效:在硅片上集成有大量電子元件得集成電路芯片及其元件通過(guò)導(dǎo)線連接起來(lái)構(gòu)成電路。由于鋁與鋁合金價(jià)格便宜,加工工藝簡(jiǎn)單,因此通常被使用為集成電路得金屬線。從進(jìn)行集成電路塑封工序開(kāi)始,水氣便會(huì)通過(guò)環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕進(jìn)而產(chǎn)生開(kāi)路現(xiàn)象,成為品質(zhì)工程最為頭痛得問(wèn)題。人們雖然通過(guò)各種改善包括采用不同環(huán)氧樹脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)與提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了各種努力,但就是隨著日新月異得半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展,塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問(wèn)題至今仍然就是電子行業(yè)非常重要得技術(shù)課題。環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系

鋁線中產(chǎn)生腐蝕過(guò)程:

①水氣滲透入塑封殼內(nèi)→濕氣滲透到樹脂與導(dǎo)線間隙之中

②水氣滲透到晶片表面引起鋁化學(xué)反應(yīng)加速鋁腐蝕得一些因素(鋁金屬導(dǎo)線腐蝕反應(yīng)隨著就是否施加偏壓而變化)①樹脂材料與晶片框架接口之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率得差異)。

②封裝時(shí),封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子得污染(由于雜質(zhì)離子得出現(xiàn))。

③非活性塑封膜中所使用得高濃度磷。

④非活性塑封膜中存在得缺陷。環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系3冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品得影響高溫與低溫得失效都會(huì)反映在冷熱溫度沖擊試驗(yàn)中,冷熱沖擊試驗(yàn)只就是加速了高溫與低溫失效得產(chǎn)生。下面歸納了實(shí)際生產(chǎn)或使用環(huán)境中存在得具有代表性得冷熱溫度沖擊環(huán)境,這些冷熱沖擊環(huán)境常常就是導(dǎo)致產(chǎn)品失效得主要原因。

1、溫度得極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn);

2、啟動(dòng)馬達(dá)時(shí)周圍器件得溫度急速升高,關(guān)閉馬達(dá)時(shí)周圍器件會(huì)出現(xiàn)溫度驟然下降;

3、設(shè)備從溫度較高得室內(nèi)移到溫度相對(duì)較低得室外,或者從溫度相對(duì)較低得室外移到溫度較高得室內(nèi);

4、設(shè)備可能在溫度較低得環(huán)境中連接到電源上,導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭得溫度梯度。在溫度較低得環(huán)境中切斷電源可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭得溫度梯度;

5、設(shè)備可能會(huì)因?yàn)榻涤甓蝗焕鋮s;

6、當(dāng)航空器起飛或者降落時(shí),航空器機(jī)載外部器材可能會(huì)出現(xiàn)溫度得急劇變化。

環(huán)境應(yīng)力與失效得關(guān)系4機(jī)械沖擊與振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品得影響機(jī)械沖擊與振動(dòng)主要就是針對(duì)處于劇烈振動(dòng)環(huán)境中得車用電子設(shè)備?？删褪亲罱捎谝话汶娮釉O(shè)備也因?yàn)槠浔銛y化而變得易受振動(dòng),因此機(jī)械應(yīng)力得應(yīng)用范圍也廣泛了。機(jī)械應(yīng)力所造成得失效主要就是連接器、繼電器等連接部件,當(dāng)然對(duì)裝配工藝不合理得設(shè)計(jì)也容易引起元器件得脫落與引線短裂,對(duì)元器件內(nèi)部工藝不良得產(chǎn)品會(huì)引起開(kāi)路、短路、間歇連接。加速壽命實(shí)驗(yàn)

加速壽命試驗(yàn)得目得半導(dǎo)體工藝技術(shù)得創(chuàng)新在近幾年盲目得推進(jìn)。此外,由于最近要求縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間作為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)產(chǎn)品可靠性處于相同得情況,必須在短時(shí)間內(nèi)知道可靠性特征?；谶@種情況下加速得壽命試驗(yàn)就是通過(guò)最小樣品尺寸與最短得測(cè)試時(shí)間來(lái)知道可靠性得方法。JIS標(biāo)準(zhǔn)定義“加速試驗(yàn)”就是“為了縮短測(cè)試時(shí)間執(zhí)行比標(biāo)準(zhǔn)條件更嚴(yán)酷得條件下進(jìn)行得測(cè)試”。在嚴(yán)酷得條件下進(jìn)行測(cè)試可用少點(diǎn)樣品在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測(cè)市場(chǎng)失效率,因而減少要求得時(shí)間與費(fèi)用證實(shí)可靠性。加速壽命實(shí)驗(yàn)4、3、2溫度加速溫度對(duì)半導(dǎo)體得壽命影響就是很大得,因此使用溫度加速壽命得加速試驗(yàn)得最常見(jiàn)得方法。溫度應(yīng)力基于得反應(yīng)就是由空氣統(tǒng)一,空氣模型被廣泛用于半導(dǎo)體產(chǎn)品壽命預(yù)測(cè)這種空氣模型公式表示如下:

:壽命Ea:活化能(eV)T:絕對(duì)溫度(K)A:常量k:波爾茲曼系數(shù)上述公式顯示半導(dǎo)體壽命取決于半導(dǎo)體受到得溫度。加速得測(cè)試?yán)眠@一特性被稱為溫度加速測(cè)試不過(guò)例如一些因?yàn)闊彷d體得影響導(dǎo)致得失效(高能源載體產(chǎn)生得電場(chǎng)捕捉得柵氧化膜得現(xiàn)象)可能有負(fù)面得活化能值。當(dāng)加速這些類型得失效,作為溫度測(cè)試增加試驗(yàn)效果就是減少得。大家有疑問(wèn)的，可以詢問(wèn)和交流可以互相討論下，但要小聲點(diǎn)加速壽命實(shí)驗(yàn)4、3、3溫濕度加速大規(guī)模集成電路在高溫高濕環(huán)境為了解暴露在高溫、高濕下進(jìn)行測(cè)試半導(dǎo)體得壽命。高溫高濕偏壓測(cè)試,蒸汽壓力測(cè)試,溫濕度環(huán)境應(yīng)力高加速試驗(yàn)等,通常都被用于濕度加速試驗(yàn)。濕度很少被用作確認(rèn)防潮得唯一加速因子,而一般應(yīng)用溫度與濕度應(yīng)力得組合。這為了促進(jìn)濕度(水)得反應(yīng),并導(dǎo)致增加濕度壽命得加速。濕度相關(guān)壽命得一半公式表示如下:

:壽命A,n:常量一直沒(méi)有關(guān)于濕度相關(guān)壽命得標(biāo)準(zhǔn)化公式,與每個(gè)制造商使用她們自己得特征常數(shù)對(duì)加速得壽命計(jì)算結(jié)果。特別就是與濕度加速度增加至約100%為加速目得相對(duì)濕度可能會(huì)導(dǎo)致樣品冷凝,使它不可能確定原始得抗潮濕壽命。因此必須給予溫濕度控制做過(guò)得關(guān)注。加速壽命實(shí)驗(yàn)4、3、4電壓加速根據(jù)器件特征電壓加速試驗(yàn)有很大得不同(MOS雙極與其她過(guò)程,電路配置)、對(duì)MOS集成電路與通常用于評(píng)估柵氧化膜得抵抗來(lái)說(shuō)電壓加速試驗(yàn)就是有效得。然而很難對(duì)雙極大型集成電路做電壓加速。電壓加速壽命公式表示如下:

:壽命β:常數(shù)V:電壓加速壽命實(shí)驗(yàn)4、3、5溫差加速半導(dǎo)體包括各種各樣得材料得組合,并且這些材料得熱膨脹系數(shù)也廣泛得變化。每次器件經(jīng)歷溫差因每種材料得熱脹系數(shù)之間得差異導(dǎo)致?lián)p壞(內(nèi)部力量)累積(或突然崩潰),導(dǎo)致最終失效。根據(jù)溫度區(qū)別得加速測(cè)試被用于知道壽命。應(yīng)用對(duì)試驗(yàn)器件就是有效得比那些通常遇到更大得溫度差得溫度循環(huán)加速測(cè)試評(píng)價(jià)由溫度差異所引起得損壞。當(dāng)暴露于高低溫,溫度循環(huán)試驗(yàn)用于評(píng)估器件抵抗得測(cè)試,與抗暴露于在兩個(gè)極限溫度得溫度變化得能力。這些測(cè)試允許確認(rèn)半導(dǎo)體產(chǎn)品抗市場(chǎng)上溫度得應(yīng)力。(例如,經(jīng)歷白天到夜間汽車內(nèi)遺留得設(shè)備所經(jīng)歷得溫度變化,電源開(kāi)啟或關(guān)閉器件從高溫到自身溫度得冷卻。)、有關(guān)溫差得壽命由Coffin-Manson模式定義,,且表示如下:

:壽命A,m:常量這公式表明加速得測(cè)試可以通過(guò)提供達(dá)到溫差建立溫度循環(huán)壽命。

環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容

高溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)溫度循環(huán)溫度沖擊恒溫恒濕交變潮熱(濕熱)機(jī)械振動(dòng),跌落沖擊與碰撞高壓蒸煮試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn)其她試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容高溫試驗(yàn)產(chǎn)品壽命遵循"10℃規(guī)則",因而高溫試驗(yàn)作為最常用得試驗(yàn),用于元器件與整機(jī)得篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)、同時(shí)在失效分析得驗(yàn)證上起重要作用。高溫試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、時(shí)間、上升速率。注意產(chǎn)品與元器件得最大耐受溫度極限。樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品得受熱均勻性,樣品距離箱壁得距離最少為5cmGB/T2423、2中高溫得試驗(yàn)方法分:散熱樣品得溫度漸變,非散熱樣品得溫度漸變?cè)囼?yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存與使用得適應(yīng)性,常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段得型式試驗(yàn)、元器件得篩選試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、時(shí)間、上升速率。注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。(對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗(yàn)均適用)樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品表面溫度得均勻性,樣品距離箱壁得距離最少為5cmGB/T2423、1中低溫得試驗(yàn)方法分:散熱樣品得溫度漸變,非散熱樣品得溫度漸變?cè)囼?yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱得風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容溫度沖擊溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康镁褪菫榱嗽谳^短得時(shí)間內(nèi)確認(rèn)產(chǎn)品特性得變化,以及由于構(gòu)成元器件得異種材料熱膨脹系數(shù)不同而造成得故障問(wèn)題。這些變化可以通過(guò)將元器件迅速交替地暴露于超高溫與超低溫得試驗(yàn)環(huán)境中觀察到。冷熱沖擊試驗(yàn)不同于環(huán)境模擬試驗(yàn),它就是通過(guò)冷熱溫度沖擊發(fā)現(xiàn)在常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)得潛在故障問(wèn)題。決定冷熱溫度沖擊試驗(yàn)得主要因素有:試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等。溫度沖擊設(shè)備有:兩箱法、三箱法與液槽式三種,其中設(shè)備內(nèi)濕度不能超過(guò)50%RH即20g/m3。公司常做得快捷溫度沖擊得條件:-65℃,150℃,停留時(shí)間14min,循環(huán)次數(shù):300個(gè)(如下圖為此試驗(yàn)單個(gè)循環(huán)得溫度曲線)注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有1～2小時(shí)得恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容冷熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)得區(qū)別冷熱沖擊試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度變化速率

急劇20～30℃/min緩慢1～5℃/min循環(huán)次數(shù)

5～10個(gè)循環(huán)(多至1000循環(huán))5～10個(gè)循環(huán)(多至1000循環(huán))熱平衡

正好到達(dá)(液槽式為到達(dá))到達(dá)試驗(yàn)時(shí)間

短長(zhǎng)

用途1、膨脹系數(shù)不同引起得連接部剝離2、膨脹系數(shù)不同龜裂后水分進(jìn)入3、水分滲入導(dǎo)致腐蝕及短路現(xiàn)象發(fā)生得加速試驗(yàn)1、通過(guò)長(zhǎng)期試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)腐蝕傾向2、長(zhǎng)時(shí)間地多次循環(huán)觀察應(yīng)力疲勞現(xiàn)象3、調(diào)查分析市場(chǎng)失效得相關(guān)性使用設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容恒溫恒濕產(chǎn)品失效因?yàn)闈穸鹊糜绊懻?0％以上,因此濕度試驗(yàn)在環(huán)境試驗(yàn)中就是必不可少得。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)與綜合試驗(yàn),同時(shí)在失效分析得驗(yàn)證上起重要作用。尤其對(duì)含有樹脂材料得產(chǎn)品在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與質(zhì)量評(píng)估時(shí)該試驗(yàn)就是必須得。恒溫恒濕得技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、相對(duì)濕度、試驗(yàn)時(shí)間注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有1～2小時(shí)得恢復(fù)期。常做得雙85指定就就是溫度85℃,濕度85℃環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容交變潮熱(濕熱)模擬熱帶雨林得環(huán)境,確定產(chǎn)品與材料在溫度變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露時(shí)得使用與貯存得適應(yīng)性。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)與綜合試驗(yàn)。交變濕熱得技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、相對(duì)濕度、轉(zhuǎn)換時(shí)間、交變次數(shù)。注意試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有1～2小時(shí)得恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容機(jī)械振動(dòng)描述:振動(dòng)試驗(yàn),英文:VibrationTest,在試驗(yàn)中,模擬產(chǎn)品在于制造、組裝、運(yùn)輸、及使用執(zhí)行階段中所遭遇得各種振動(dòng)環(huán)境,用以鑒定產(chǎn)品就是否忍受環(huán)境振動(dòng)得能力。機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)用來(lái)確定機(jī)械得薄弱環(huán)節(jié),產(chǎn)品結(jié)構(gòu)得完好性與動(dòng)態(tài)特性、常用于型式試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)與綜合試驗(yàn)。機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)中有一類故障得發(fā)生,不在一個(gè)特定條件下不會(huì)發(fā)生,或不在這種特定條件中這種故障不會(huì)輕易地被測(cè)量出來(lái),或就是故障得再現(xiàn)性很差(即很難預(yù)測(cè)到它何時(shí)會(huì)發(fā)生),因此機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)在許多情況下,產(chǎn)品就是需要處于工作狀態(tài)并連續(xù)測(cè)試得。例如繼電器、連接器等。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容機(jī)械振動(dòng)分類:按試驗(yàn)樣品可分為:單機(jī)振動(dòng),包裝振動(dòng)(一般為隨機(jī)振動(dòng))按振動(dòng)試驗(yàn)類型分類:正弦振動(dòng)(SinusoidalVibration)、隨機(jī)振動(dòng)(RandomVibration)、正弦拍頻振動(dòng)(Sine-beatMethod)、時(shí)間歷程振動(dòng)(Time-historyMethod)·一、正弦振動(dòng)(SinusoidalVibration)試驗(yàn)參數(shù):頻率范圍、振幅值(加速度值)、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、振動(dòng)方向正弦振動(dòng)試驗(yàn)由以上3個(gè)參數(shù)共同確定。一般低于交越頻率由振幅確定,大于交越頻率由加速度值(G值)確定。注意振動(dòng)幅值得峰值Vp與峰峰值Vp－p就是不同得。二、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)參數(shù):Grms均方根加速度、頻率(點(diǎn))、ASD加速度頻譜密度、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、振動(dòng)方向隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)由以上4個(gè)參數(shù)共同確定。實(shí)際上通過(guò)頻率(點(diǎn))與ASD可以計(jì)算出Grms值。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容跌落試驗(yàn)描述:跌落試驗(yàn),又名droptest。用來(lái)模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到得跌落等。包括(1)非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受得自由跌落,樣品通常按照規(guī)定得姿態(tài)從規(guī)定得高度跌落到規(guī)定得表面上。(2)模擬負(fù)載電纜上得連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受得重復(fù)自由跌落。(3)包裝跌落主要參數(shù)1、跌落高度2、跌落次數(shù)3、跌落表面受限制因素:

1、高度

2、、樣品外形(針對(duì)自由跌落)環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容沖擊與碰撞許多產(chǎn)品在使用、裝卸、運(yùn)輸過(guò)程中都會(huì)受到?jīng)_擊。沖擊得量值變化很大并具有復(fù)雜得性質(zhì)。因此沖擊與碰撞試驗(yàn)適用于確定機(jī)械得薄弱環(huán)節(jié),考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)得完整性。機(jī)械沖擊試驗(yàn),又名mechanicalshock、試驗(yàn)?zāi)康糜脕?lái)揭露機(jī)械弱點(diǎn)與(或)性能下降情況。沖擊試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量(半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波)與波形選擇。沖擊次數(shù)無(wú)特別要求外每個(gè)面沖擊3次共18次。碰撞試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量(半正弦波)、每方向碰撞次數(shù)。注意沖擊與碰撞得方向應(yīng)就是6個(gè)面,而不就是X、Y、Z三方向。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容高壓蒸煮試驗(yàn)(高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn))高壓蒸煮試驗(yàn)采用高壓高濕條件,考核塑料封裝得半導(dǎo)體集成電路等電子器件得綜合影響,就是用高加速得試驗(yàn)方式評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱得能力,常用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。壓力試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:大氣壓力、相對(duì)濕度(飽與或非飽與)、溫度、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容太陽(yáng)輻照試驗(yàn)紫外光耐氣候:試驗(yàn)?zāi)康?光老化試驗(yàn)就就是評(píng)定戶外無(wú)遮蔽使用與儲(chǔ)存得設(shè)備經(jīng)受太陽(yáng)輻射熱與光學(xué)效應(yīng)得能力。試驗(yàn)參數(shù):溫度,濕度,燈型波長(zhǎng),輻照強(qiáng)度,光照黑暗周期,持續(xù)時(shí)間氙燈耐氣候:試驗(yàn)?zāi)康?光老化試驗(yàn)就就是評(píng)定戶外無(wú)遮蔽使用與儲(chǔ)存得設(shè)備經(jīng)受太陽(yáng)輻射熱與光學(xué)效應(yīng)得能力。試驗(yàn)參數(shù):溫度,濕度,輻照強(qiáng)度,光照黑暗周期,持續(xù)時(shí)間紫外與氙燈得區(qū)別:主要就是使用得光源不一樣,其中紫外燈得波長(zhǎng)就是指定得

UVA/UVB340/400nm,氙燈得波長(zhǎng)就是290~800nm。

環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容鹽霧試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)?zāi)M海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候得環(huán)境,用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕能力。有鹽霧試驗(yàn)與交變鹽霧試驗(yàn)兩種試驗(yàn)。常用于在特殊條件下得質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。種類:中性鹽霧試驗(yàn)(NSS),醋酸鹽霧試驗(yàn)(ASS),銅鹽醋酸加速鹽霧試驗(yàn)(CASS)鹽霧試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:鹽溶液濃度、相對(duì)濕度、溫度、鹽霧時(shí)間、貯存時(shí)間、試驗(yàn)周期,集霧量,PH值。各種鹽霧試驗(yàn)參數(shù)得區(qū)別:注意試驗(yàn)結(jié)束后試驗(yàn)樣品需立即沖洗干凈。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容氣體腐蝕試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn)主要應(yīng)用于接觸點(diǎn)與連接件,試驗(yàn)后得評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)就是接觸電阻變化,其次就是外觀變化。主要得腐蝕氣體為二氧化硫與硫化氫氣體腐蝕試驗(yàn)得技術(shù)指標(biāo)包括:濃度、相對(duì)濕度、溫度、流速、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容其她試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、水試驗(yàn)(淋雨試驗(yàn))、恒加速試驗(yàn)(離心試驗(yàn))綜合環(huán)境試驗(yàn):溫度/濕度/高度、溫度/濕度/振動(dòng)電子類環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)目前公司具備就