• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2024-10-22 頒布
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【正版授權(quán)-英/法語版】 IEC 60747-15:2024 EN-FR Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices_第1頁
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號：IEC 60747-15:2024 EN-FR
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件-第15部分：分立器件-隔離型功率半導(dǎo)體器件
  • 英文名稱：Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2024-10-22

文檔簡介

1.基本概念：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于電子設(shè)備的獨(dú)立電源半導(dǎo)體裝置的制造、測試、標(biāo)記和認(rèn)證要求。這些裝置通常用于為電子設(shè)備提供穩(wěn)定、可靠的電源。

2.裝置類型：該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了各種類型的獨(dú)立電源半導(dǎo)體裝置，包括二極管、晶體管、功率場效應(yīng)晶體管、晶閘管等。這些裝置可以用于各種應(yīng)用，如電源轉(zhuǎn)換、穩(wěn)壓、濾波等。

3.性能要求：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了裝置的性能要求，包括額定電壓、額定電流、開關(guān)頻率、熱阻等。制造商必須確保其產(chǎn)品符合這些要求，以確保其性能和可靠性。

4.安全要求：該標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了安全要求，包括電氣隔離、過電流保護(hù)、過熱保護(hù)等。制造商必須確保其產(chǎn)品符合這些要求，以確保使用者的安全。

5.測試方法：該標(biāo)準(zhǔn)提供了測試方法和程序，以確保制造商的產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這些測試包括電氣性能測試、機(jī)械性能測試、環(huán)境適應(yīng)性測試等。

6.認(rèn)證程序：制造商必須按照IEC60747-15:2024EN-FRSemiconductordevices-Part15:Discretedevices-Isolatedpowersemiconductordevices的要求進(jìn)行生產(chǎn)，并獲得相應(yīng)的認(rèn)證證書，以確保其產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

IEC60747-15:2024EN-FRSemiconductordevices-Part15:Discretedevices-Isolatedpowersemiconductordevices標(biāo)準(zhǔn)是用于認(rèn)證和規(guī)范獨(dú)立電源半導(dǎo)體裝置的重要標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋了從性能要求到安全要

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