物理實驗知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋沈陽理工大學(xué)

物理實驗知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋沈陽理工大學(xué)第一章單元測試

實驗過程中，精神必須集中。當(dāng)嗅到焦臭味、見到冒煙和火花、聽到“劈啪”響聲、感到設(shè)備過熱的時候及出現(xiàn)保險絲熔斷等異常現(xiàn)象，首先應(yīng)立即（）

A:大聲呼救B:切斷電源C:撥打119D:用滅火器滅火

答案:切斷電源在測量中,由一些隨機(jī)因素的影響而引起的測量誤差稱為（）

A:偶然誤差B:絕對誤差C:系統(tǒng)誤差D:過失誤差

答案:偶然誤差用（）來表示的測量不確定度，稱為標(biāo)準(zhǔn)不確定度。

A:絕對誤差B:方差C:標(biāo)準(zhǔn)差D:系統(tǒng)誤差

答案:標(biāo)準(zhǔn)差貝塞爾公式計算的是多次測量下的（）

A:實驗標(biāo)準(zhǔn)差B:算術(shù)標(biāo)準(zhǔn)差C:算術(shù)平均值D:實驗方差

答案:實驗標(biāo)準(zhǔn)差按照測量方法來劃分，可分為（）

A:間接測量B:直接測量C:單次測量D:多次測量

答案:間接測量；直接測量系統(tǒng)誤差主要來源于以下哪幾方面？（）

A:人員B:方法C:儀器D:環(huán)境

答案:人員；方法；儀器；環(huán)境關(guān)于B類不確定度，下面說法中不正確的是（）

A:即時只測量次數(shù)為1次，也可以計算出B類不確定度的值B:B類不確定度是指在同一條件下進(jìn)行多次測量，可以對測量列采用統(tǒng)計方法（即具有隨機(jī)誤差性質(zhì)）分析評定的不確定度。C:B類不確定度不可能為0D:B類不確定度是指用非統(tǒng)計方法求出或評定的不確定度

答案:B類不確定度是指在同一條件下進(jìn)行多次測量，可以對測量列采用統(tǒng)計方法（即具有隨機(jī)誤差性質(zhì)）分析評定的不確定度。系統(tǒng)誤差是在重復(fù)性條件下，對同一被測量進(jìn)行無限次測量所得結(jié)果的平均值與被測量真值之差。（）

A:錯B:對

答案:對誤差是可以避免的。（）

A:錯B:對

答案:錯測量不確定度是表征合理地賦予被測量之值的分散性，與測量結(jié)果相聯(lián)系的參數(shù)。（）

A:對B:錯

答案:對

第二章單元測試

地磁場的三要素不包括以下哪一項（）。

A:水平強(qiáng)度B:磁偏角C:磁傾角D:磁緯度

答案:磁緯度亥姆霍茲線圈產(chǎn)生的磁場強(qiáng)度公式中包含以下哪個參數(shù)？（）

A:電流B:電阻C:電壓D:電感

答案:電流使用亥姆霍茲線圈測量地磁場的實驗中，主要測量的物理量是（）？

A:磁傾角B:垂直分量C:水平分量D:磁偏角

答案:水平分量確定磁阻傳感器靈敏度以后，測量地磁場水平分量實驗中，亥姆霍茲線圈與直流電源的連接線需要拆去。（）

A:對B:錯

答案:對亥姆霍茲線圈的磁場強(qiáng)度與線圈的電流和線圈的匝數(shù)成正比。（）

A:錯B:對

答案:對坡莫合金是由鐵，鎳兩種金屬制成的合金。（）

A:對B:錯

答案:對測量磁阻傳感器的靈敏度時，兩個亥姆霍茲線圈接入電路的方式為并聯(lián)。（）

A:錯B:對

答案:錯實驗中為了最大限度的利用亥姆霍茲線圈所產(chǎn)生磁場，需將磁阻傳感器置于線圈軸線中心位置。（）

A:錯B:對

答案:對測量磁阻傳感器靈敏度時，每組數(shù)據(jù)測量前要按“復(fù)位”鍵，其目的是減小磁場方向與電流方向不垂直導(dǎo)致的誤差。（）

A:對B:錯

答案:對亥姆霍茲線圈的磁場強(qiáng)度與線圈的半徑成反比。（）

A:對B:錯

答案:錯測定三棱鏡折射率實驗中，需要把光學(xué)元件放在（）裝置上。

A:載物臺B:望遠(yuǎn)鏡C:刻度盤D:平行光管

答案:載物臺測定三棱鏡折射率實驗中，所用儀器分光計用來測量（）。

A:質(zhì)量B:長度C:時間D:角度

答案:角度測定三棱鏡折射率時，必須保證入射光與三棱鏡表面垂直。（）

A:對B:錯

答案:對測定三棱鏡折射率時，無需調(diào)整儀器，可以直接進(jìn)行測量。（）

A:對B:錯

答案:錯在調(diào)整分光計時，需要按照一定的順序進(jìn)行調(diào)整。（）

A:對B:錯

答案:對分光計的刻度盤上，主尺的最小一個格表示1度。（）

A:錯B:對

答案:錯分光計由平行光管、刻度盤、載物臺、讀數(shù)顯微鏡等部件組成。（）

A:對B:錯

答案:錯測定三棱鏡折射率時，需測出三棱鏡的頂角和最小偏向角。（）

A:對B:錯

答案:對測定三棱鏡折射率時，如果采用不同顏色的光源，折射光的出射位置是一樣的。（）

A:對B:錯

答案:錯讀取數(shù)據(jù)時，需讀出主尺上和游標(biāo)尺上的數(shù)據(jù)。（）

A:錯B:對

答案:對楊氏彈性模量是描述固體材料（）。

A:熱脹冷縮能力的物理量B:產(chǎn)生形變能力的物理量C:抵抗形變能力的物理量D:都不對

答案:抵抗形變能力的物理量楊氏模量實驗中，鏡尺組和光杠桿的調(diào)節(jié)要求是（）。

A:光杠桿鏡面法線要豎直B:通過望遠(yuǎn)鏡能看到叉絲和標(biāo)尺的清晰像C:光杠桿鏡面法線垂直于望遠(yuǎn)鏡光軸D:望遠(yuǎn)鏡鏡筒要平行于標(biāo)尺

答案:通過望遠(yuǎn)鏡能看到叉絲和標(biāo)尺的清晰像在楊氏模量實驗中，采用光杠桿，鏡尺系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是（）。

A:可進(jìn)行放大測量，便于測量微小伸長量B:消除視差C:使測量數(shù)據(jù)便于用逐差法處理D:可進(jìn)行放大測量，其放大倍數(shù)取決于望遠(yuǎn)鏡的放大倍數(shù)

答案:可進(jìn)行放大測量，便于測量微小伸長量拉伸法測量中，光杠桿鏡尺系統(tǒng)的放大倍數(shù)為K=2S/b，其中b為（）。

A:楊氏模量B:線脹系數(shù)C:溫度系數(shù)D:光杠桿常數(shù)

答案:光杠桿常數(shù)在測定金屬絲的楊氏模量實驗中，預(yù)加負(fù)荷的目的是（）。

A:拉直金屬絲，避免將拉直過程做為伸長過程進(jìn)行測量B:消除摩檫力C:使系統(tǒng)穩(wěn)定，金屬絲垂直于地面D:減小讀數(shù)誤差

答案:拉直金屬絲，避免將拉直過程做為伸長過程進(jìn)行測量楊氏彈性模量是描述固體材料抵抗形變能力的物理量。（）

A:錯B:對

答案:對消除視差的方法是分別調(diào)節(jié)目鏡和物鏡的焦距，并注意觀察者的位置。（）

A:對B:錯

答案:對當(dāng)砝碼等量變化而鋼絲長度讀數(shù)變化相差較大時，一定是砝碼太重，將鋼絲拉到塑性變形了。（）

A:錯B:對

答案:錯視差的原因可能是:目鏡的焦平面與叉絲平面不重合、物鏡的焦平面與叉絲平面不重合。（）

A:對B:錯

答案:對楊氏彈性模量是機(jī)械構(gòu)件選擇材料的重要參數(shù)。（）

A:錯B:對

答案:對實驗室一般使用的光柵常數(shù)為：（）。

A:1000~3000/mmB:100~600/nmC:1000~3000/nmD:100～600/mm

答案:100～600/mm光柵是:（）。

A:利用光的透射制成的元件B:利用光的反射制成的元件C:利用光的散射制成的元件D:利用光的折射制成的元件

答案:利用光的透射制成的元件測量光柵常數(shù)時必須保證入射光與光柵表面垂直。（）

A:錯B:對

答案:對光柵必須與載物臺垂直。（）

A:錯B:對

答案:對光通過光柵時，衍射現(xiàn)象是否明顯與光柵常數(shù)無關(guān)。（）

A:對B:錯

答案:錯光在傳播過程中，遇到障礙物或者小孔時，光偏離直線傳播而繞道障礙物后面?zhèn)鞑サ默F(xiàn)象，叫光的衍射。（）

A:對B:錯

答案:對測定光柵常數(shù)實驗時，無需調(diào)整分光計。（）

A:錯B:對

答案:錯測定光柵常數(shù)實驗時，最多可以看到3條衍射條紋。（）

A:對B:錯

答案:錯不同顏色的光衍射的位置是一樣的。（）

A:錯B:對

答案:錯測定光柵常數(shù)時可以用手觸摸光柵表面。（）

A:錯B:對

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，調(diào)整儀器過程中，光源、液槽、光屏依次調(diào)整好，使其等高且（）

A:分散B:同軸C:對稱D:等距

答案:同軸用超聲駐波像測定聲速實驗中，光波在液體介質(zhì)中傳播時被超聲波衍射的現(xiàn)象，稱為超聲致光衍射（亦稱聲光效應(yīng)）。（）

A:對B:錯

答案:對用超聲駐波像測定聲速實驗中，由超聲波在液體中產(chǎn)生的光柵裝置稱作超聲光柵。（）

A:錯B:對

答案:對用超聲駐波像測定聲速實驗中，在駐波液體中存在時間上相差半周期、空間上相對位移半波長的兩個交替的瞬時駐波狀態(tài)，這兩個瞬時狀態(tài)同時形成同樣一個駐波像。（）

A:錯B:對

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，需用到汞燈作為光源。（）

A:錯B:對

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，需使用激光作為光源。（）

A:對B:錯

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，使用發(fā)散光束在光屏上得到的明暗相間條紋是沒有被放大了的駐波像，屏上條紋間距離等于聲波波長。（）

A:對B:錯

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，需使用米尺測量超聲波的波長大小。（）

A:錯B:對

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，調(diào)節(jié)液槽內(nèi)的反射板，使壓電晶體的表面與反射板等高且不平行，其間距約50mm。（）

A:對B:錯

答案:錯用超聲駐波像測定聲速實驗中，由于超聲波頻率較高，波長較小，可以直接測量兩個暗條紋對應(yīng)的半個超聲波波長的大小。（）

A:對B:錯

答案:錯波長為500nm的綠色光其能量（）

A:比微波小;B:比無線電波小C:比紫外光小;D:比紅外光小;

答案:比紫外光小;紫外光譜是帶狀光譜的原因是由于（）

A:紫外光能量大B:電子能級差大C:電子能級躍遷的同時伴隨有振動及轉(zhuǎn)動能級躍遷的原因D:波長短

答案:電子能級躍遷的同時伴隨有振動及轉(zhuǎn)動能級躍遷的原因比爾定律指出，固體材料的吸收系數(shù)主要隨（）而變化。

A:入射光波長B:出射光波長C:出射光頻率D:入射光頻率

答案:入射光波長在介質(zhì)吸收光譜的測量實驗中，繪制介質(zhì)吸收光譜的譜線時，橫坐標(biāo)的物理量是（A），縱坐標(biāo)的物理量是（）。

A:吸光度B:吸收C:頻率D:波長

答案:吸光度符合朗伯—比爾定律的一有色溶液，當(dāng)有色溶液的濃度增加時，最大吸收波長與吸光度分別（）

A:不確定B:增加C:不變D:減少

答案:增加；不變在介質(zhì)吸收光譜的測量實驗中，測量每個入射光波長時，都需要調(diào)整電表的零點(diǎn)和滿度。（）

A:對B:錯

答案:對介質(zhì)對光的吸收與入射光頻率無關(guān)。（）

A:錯B:對

答案:錯在介質(zhì)吸收光譜的測量實驗中，測量前不需要對分光光度計的光源進(jìn)行預(yù)熱。（）

A:對B:錯

答案:錯朗博定律中，吸收系數(shù)越大，光被吸收的越強(qiáng)烈。（）

A:對B:錯

答案:對在介質(zhì)吸收光譜的測量實驗中，消光片對光的吸收屬于選擇性吸收。（）

A:對B:錯

答案:錯

第三章單元測試

邁克爾遜干涉儀的功能是形成（）形式的干涉元件。

A:平行線B:同心圓C:弧形D:直線

答案:同心圓邁克爾遜干涉儀的基本原理是（）。

A:光的反射B:光的折射C:光的干涉D:光的衍射

答案:光的干涉邁克爾遜干涉儀中，兩束光的相位差是由（）決定的。

A:光的傳播路徑B:光的波長C:光的偏振D:光的強(qiáng)度

答案:光的傳播路徑如果邁克爾遜干涉儀的光源是單色光，那么觀察到的干涉條紋是（）。

A:紅色的B:藍(lán)色的C:彩色的D:黑白的

答案:黑白的在使用玻璃板G2進(jìn)行干涉實驗時，除了補(bǔ)償光程差之外，其主要功能是（）。

A:改變光的偏振狀態(tài)，以適應(yīng)實驗需要B:使相互干涉的兩束光的光強(qiáng)相等，從而使干涉條紋最清晰C:增加實驗的光強(qiáng)，以便更容易觀察D:作為保護(hù)層，防止其他光源干擾實驗

答案:使相互干涉的兩束光的光強(qiáng)相等，從而使干涉條紋最清晰激光器為點(diǎn)光源。（）

A:對B:錯

答案:對邁克爾遜干涉儀的讀數(shù)可以精確到0.001mm。（）

A:對B:錯

答案:錯白光干涉對薄膜厚度沒有特殊要求。（）

A:對B:錯

答案:錯若入射光為點(diǎn)光源，和互相平行，此時的干涉屬于等傾干涉。（）

A:錯B:對

答案:對在邁克爾遜干涉儀實驗中，如果光源不穩(wěn)定，不會影響干涉條紋的清晰度。（）

A:對B:錯

答案:錯關(guān)于光電效應(yīng)，下列說法正確的是（）。

A:在光電效應(yīng)中，飽和光電流的大小與入射光的強(qiáng)度無關(guān)B:任何一種金屬都有一個極限頻率，低于這個頻率的光不能發(fā)生光電效應(yīng)C:光電子的最大初動能，隨入射光的強(qiáng)度增大而增大D:只要入射光的強(qiáng)度足夠強(qiáng)，照射的時間足夠長，任何金屬都能產(chǎn)生光電效應(yīng)

答案:任何一種金屬都有一個極限頻率，低于這個頻率的光不能發(fā)生光電效應(yīng)能量為3.5eV的光子照射某金屬產(chǎn)生光電效應(yīng)時，光電子的最大初動能為1.25eV,要使這金屬發(fā)生光電效應(yīng)，照射光的頻率不能小于（）。

A:13.87×1014HZB:5.43×1014HZC:3.02×1014HZD:10.86×1014HZ

答案:5.43×1014HZ在光電效應(yīng)實驗中，正確的做法是（）

A:在儀器使用過程中，嚴(yán)禁汞燈直接照射光電管。在更換濾光片前，必須先用遮光罩將汞燈蓋住。不需要測量實驗數(shù)據(jù)時，光電管暗盒務(wù)必蓋上遮光罩，使光電管處于完全閉光狀態(tài)B:汞燈開啟后就可以做實驗了。如果點(diǎn)亮的汞燈熄滅了，需要等其冷卻后才能再次開啟C:可以在強(qiáng)光環(huán)境下使用儀器，注意汞燈散熱，周圍不能堆放物品D:光電管與汞燈的距離約為40cm，可以在每組實驗前調(diào)整位置

答案:在儀器使用過程中，嚴(yán)禁汞燈直接照射光電管。在更換濾光片前，必須先用遮光罩將汞燈蓋住。不需要測量實驗數(shù)據(jù)時，光電管暗盒務(wù)必蓋上遮光罩，使光電管處于完全閉光狀態(tài)用頻率為n1和n2的兩種單色光，先后照射同一種金屬均能產(chǎn)生光電效應(yīng)．已知金屬的紅限頻率為n0，測得兩次照射時的遏止電壓|Us2|=2|Us1|，則這兩種單色光的頻率關(guān)系是（）。

A:n2=2n1-n0B:n2=n1-2n0C:n2=n1-n0D:n2=n1+n0

答案:n2=2n1-n0在測量光電管的伏安特性數(shù)據(jù)時，正確的做法是（）

A:儀器在充分預(yù)熱后，旋轉(zhuǎn)“電流調(diào)零”旋鈕，使“電流表”指示為00.0B:每個濾光片測量20-30組數(shù)據(jù)，在開始電流變化舒緩和最后正向電流時可少取幾組觀測點(diǎn)。在電流即將偏離零點(diǎn)，且發(fā)生明顯變化這一范圍多取幾組觀測點(diǎn)C:仔細(xì)讀出不同頻率入射光照射下的光電流隨電壓的變化數(shù)據(jù)，并列表記錄數(shù)據(jù)D:將電壓從-1.990?V調(diào)起，緩慢增加，先觀察一遍不同濾色片的電流變化情況，記下電流偏離零點(diǎn)發(fā)生明顯變化的電壓范圍

答案:每個濾光片測量20-30組數(shù)據(jù)，在開始電流變化舒緩和最后正向電流時可少取幾組觀測點(diǎn)。在電流即將偏離零點(diǎn)，且發(fā)生明顯變化這一范圍多取幾組觀測點(diǎn)；仔細(xì)讀出不同頻率入射光照射下的光電流隨電壓的變化數(shù)據(jù)，并列表記錄數(shù)據(jù)；將電壓從-1.990?V調(diào)起，緩慢增加，先觀察一遍不同濾色片的電流變化情況，記下電流偏離零點(diǎn)發(fā)生明顯變化的電壓范圍關(guān)于光的本性，下列說法中正確的是（）

A:光子的能量與光的頻率成正比B:光電效應(yīng)反映光的粒子性C:光子的能量由光的強(qiáng)度所決定D:光在空間傳播時，是不連續(xù)的，是一份一份的，每一份叫做一個光子

答案:光子的能量與光的頻率成正比；光電效應(yīng)反映光的粒子性；光在空間傳播時，是不連續(xù)的，是一份一份的，每一份叫做一個光子光電效應(yīng)實驗中，光電流的測量值越大，截止電壓的數(shù)值越精確。（）

A:錯B:對

答案:錯測量光電管的伏安特性時，均勻選取電壓的數(shù)值比較合理。（）

A:對B:錯

答案:錯光電效應(yīng)實驗時，截止電壓的數(shù)值不可以在坐標(biāo)軸上讀出。（）

A:錯B:對

答案:對光子的最大初動能與入射光的強(qiáng)度無關(guān)，只隨入射光的頻率增大而增大。（）

A:錯B:對

答案:對在法拉第效應(yīng)實驗中，比例系數(shù)V由磁光材料的性質(zhì)和工作波長決定，表征著物質(zhì)的磁光特性，這個系數(shù)稱為（）

A:費(fèi)爾德常數(shù)B:法拉第常數(shù)C:普朗克常數(shù)D:薛定諤常數(shù)

答案:費(fèi)爾德常數(shù)在法拉第效應(yīng)實驗中，需用到汞燈。（）

A:錯B:對

答案:錯在法拉第效應(yīng)實驗中，無需使線圈通電產(chǎn)生磁場。（）

A:對B:錯

答案:錯激光通過的透明介質(zhì)是冕玻璃。（）

A:對B:錯

答案:對在法拉第效應(yīng)實驗中，需要使用偏振片。（）

A:對B:錯

答案:對在法拉第效應(yīng)實驗中，需測量磁感應(yīng)強(qiáng)度。（）

A:錯B:對

答案:對在法拉第效應(yīng)實驗中，需用到F-P標(biāo)準(zhǔn)具。（）

A:錯B:對

答案:錯對于順磁、弱磁和抗磁性材料（如重火石玻璃等），V為常數(shù)，即偏轉(zhuǎn)角度與B成線性關(guān)系（）

A:對B:錯

答案:對對鐵磁性或亞鐵磁性材料（如YIG等立方晶體材料），偏轉(zhuǎn)角度與B成線性關(guān)系。（）

A:錯B:對

答案:錯在法拉第效應(yīng)實驗中，應(yīng)使激光器發(fā)出的準(zhǔn)直光完全通過線圈中心的小孔。（）

A:錯B:對

答案:對塞曼效應(yīng)是指對（）加磁場，譜線形成分裂的現(xiàn)象。

A:顯示屏上的光B:光電探測器接收到的光C:光源D:傳播中的光

答案:光源核外電子在原子核的庫侖場中做圓周運(yùn)動，由此產(chǎn)生軌道磁矩。同時，電子還具有自旋運(yùn)動，從而產(chǎn)生自旋磁矩。（）

A:錯B:對

答案:對原子能級躍遷時并非任意兩個能級的躍遷都是允許的。（）

A:錯B:對

答案:對沿垂直于磁場的方向觀察時，得到的都是光振動方向平行于磁場的線偏振光。（）

A:對B:錯

答案:錯在塞曼效應(yīng)實驗中，需用到汞燈作為光源。（）

A:對B:錯

答案:對在塞曼效應(yīng)實驗中，需使用激光作為光源。（）

A:對B:錯

答案:錯在塞曼效應(yīng)實驗中，我們可以看到一條譜線分裂成兩條譜線。（）

A:對B:錯

答案:錯在塞曼效應(yīng)實驗中，需使用米尺測量出光環(huán)的直徑。（）

A:對B:錯

答案:錯在塞曼效應(yīng)實驗中，我們應(yīng)該盡量減小自然光對本實驗的影響。（）

A:錯B:對

答案:對在塞曼效應(yīng)實驗中，所用到的光學(xué)元件需調(diào)整至同一個水平線上。（）

A:對B:錯

答案:對調(diào)制器由一個半導(dǎo)體激光器、三個可旋轉(zhuǎn)的偏振片包括（）。

A:檢偏器B:起偏器C:減光偏振器

答案:檢偏器；起偏器；減光偏振器檢偏器與晶體的y軸平行,檢偏器和晶體之間可插入（）波片。

A:1/4B:1/3C:1/5D:1/2

答案:1/4晶體放在四維調(diào)節(jié)架上,可精細(xì)調(diào)節(jié)方位，使激光光束嚴(yán)格地沿（）光軸方向通過晶體。

A:xB:yC:z

答案:z鈮酸鋰晶體屬于三角晶系3m晶類,主軸方向有一個（）旋轉(zhuǎn)軸。

A:一次B:四次C:三次D:二次

答案:三次要求經(jīng)光電轉(zhuǎn)換的電壓最大值都介于（）之間,以免燒壞光電管并保證接收器在光電轉(zhuǎn)換時有良好的線性。

A:2-3VB:1-2VC:4-5VD:3-4V

答案:2-3V晶體放在四維調(diào)節(jié)架上,可精細(xì)調(diào)節(jié)方位，使激光光束嚴(yán)格地沿z光軸方向通過晶體。（）

A:對B:錯

答案:對晶體放在四維調(diào)節(jié)架上,可精細(xì)調(diào)節(jié)方位，使激光光束嚴(yán)格地沿x光軸方向通過晶體。（）

A:對B:錯

答案:錯晶體的一次電光效應(yīng)分為縱向電光效應(yīng)和橫向電光效應(yīng)兩種。（）

A:對B:錯

答案:對應(yīng)避免強(qiáng)光照射光電三極管，光照強(qiáng)度應(yīng)從弱到強(qiáng)緩慢地改變。（）

A:對B:錯

答案:對實驗結(jié)束后,應(yīng)將電源及放大器上的旋鈕逆時針轉(zhuǎn)到底后關(guān)掉電源。（）

A:錯B:對

答案:對

第四章單元測試

當(dāng)兩個混沌單元實現(xiàn)同步時，在雙通道示波器上顯示的波形為（）。

A:一個圓；B:一條通過原點(diǎn)且與水平軸成135的直線C:一個橢圓D:一條通過原點(diǎn)且與水平軸正方向成45的直線

答案:一條通過原點(diǎn)且與水平軸正方向成45的直線在“混沌波形發(fā)生實驗”中，（）種波形是實驗中的混沌現(xiàn)象。

A:雙吸引子B:單吸引子C:雙周期分岔D:單周期分岔

答案:雙周期分岔用混沌電路方式實現(xiàn)傳輸信號的掩蓋與解密時，兩個混沌電路應(yīng)保持（）狀態(tài)。

A:同相位B:混沌C:混沌同步D:幅度相等

答案:混沌同步混沌現(xiàn)象的特征有（）。

A:敏感依賴性B:標(biāo)度不變性C:分形性質(zhì)D:內(nèi)在隨機(jī)性

答案:敏感依賴性；標(biāo)度不變性；分形性質(zhì)；內(nèi)在隨機(jī)性分形性質(zhì)可以生動地用“蝴蝶效應(yīng)”來比喻。（）

A:錯B:對

答案:錯在觀察混沌現(xiàn)象時要把雙通道示波器的時基擋切換到“X－Y方式”。（）

A:對B:錯

答案:對“混沌電路的同步實驗”是利用“驅(qū)動—響應(yīng)”的方法來實現(xiàn)混沌同步的。（）

A:對B:錯

答案:對在分別調(diào)試“混沌單元2、3”至混沌狀態(tài)時可以在實驗儀面板上插入“信道一”和“鍵控器”模塊。（）

A:對B:錯

答案:錯混沌現(xiàn)象是指發(fā)生在不確定性系統(tǒng)中的貌似隨機(jī)的不規(guī)則運(yùn)動。（）

A:對B:錯

答案:錯在調(diào)試時,可適當(dāng)調(diào)節(jié)W5以實現(xiàn)混沌同步。（）

A:對B:錯

答案:對巨磁阻效應(yīng)最早發(fā)現(xiàn)于：（）。

A:多層膜材料B:鐵氧體材料C:合金材料D:復(fù)合材料

答案:多層膜材料巨磁阻效應(yīng)應(yīng)用于硬盤讀取頭的主要原因是：（）。

A:高靈敏度B:耐用C:便宜D:易于制造

答案:高靈敏度在巨磁阻效應(yīng)實驗中，為了精確測量電阻變化，需要使用哪種儀器？（）。

A:電阻計B:電流表C:示波器D:電子秤

答案:電阻計巨磁阻效應(yīng)在外加磁場消失后，材料的電阻會立即恢復(fù)到原始狀態(tài)。（）

A:錯B:對

答案:對巨磁阻效應(yīng)只在低溫條件下才能觀測到。（）

A:對B:錯

答案:錯巨磁阻材料通常是由鐵磁層和非磁性層交替組成的多層膜結(jié)構(gòu)。（）

A:錯B:對

答案:對巨磁阻效應(yīng)的靈敏度比傳統(tǒng)的磁電阻效應(yīng)更高。（）

A:對B:錯

答案:對巨磁阻效應(yīng)在數(shù)據(jù)存儲技術(shù)中主要用于提高數(shù)據(jù)寫入速度。（）

A:對B:錯

答案:錯實驗過程中，實驗儀器可以處于強(qiáng)磁環(huán)境中。（）

A:錯B:對

答案:錯巨磁阻效應(yīng)是一種因磁場變化而導(dǎo)致材料電阻顯著變化的現(xiàn)象。（）

A:對B:錯

答案:對如果我們要測量一個0.1歐姆的電阻，我們應(yīng)該用哪種電橋來測量（）。

A:自組電橋B:箱式雙臂直流電橋C:箱式單臂直流電橋

答案:箱式雙臂直流電橋我們要測量某個電阻前，應(yīng)該先明確的參數(shù)是（）。

A:箱式電橋的阻值B:電阻箱的阻值C:倍率

答案:倍率我們用箱式單臂電橋測量電阻的阻值約為幾十歐姆，則應(yīng)取倍率為（）。

A:1/1000B:1/10C:1/100D:1

答案:1/100箱式雙臂電橋與箱式單臂電橋在連線上最大的區(qū)別在于采用（）。

A:雙端接線法B:三端接線法C:多端接線法D:四端接線法

答案:四端接線法在箱式單臂電橋的上路有個開關(guān)，測量電阻時應(yīng)該放在（）檔。

A:RB:AC:MD:V

答案:R惠斯通電橋通常指的是（）。

A:雙臂電橋B:單臂電橋C:非平衡電橋D:多臂電橋

答案:單臂電橋單臂電橋測電阻時，不用考慮倍率是多少。（）

A:錯B:對

答案:錯觀察檢流計指針偏轉(zhuǎn)情況時，需要點(diǎn)接開關(guān)。（）

A:錯B:對

答案:對在直流電橋測電阻實驗中，我們采用的是平衡電橋法。（）

A:對B:錯

答案:對自己組裝的單臂電橋，需要用到電流表和電壓表。（）

A:錯B:對

答案:錯在實驗中，如果集成溫度傳感器的輸出信號不穩(wěn)定，可能的原因是什么？（）

A:所有以上B:環(huán)境溫度變化過快C:電源電壓不穩(wěn)定D:傳感器損壞

答案:所有以上在該實驗中，將電阻箱的電阻值調(diào)整到（）。

A:100B:1000C:1D:10

答案:1000集成溫度傳感器的主要功能是（）。

A:測量電流B:測量電壓C:測量溫度D:測量濕度

答案:測量溫度測量集成溫度傳感器兩端的電壓與電流，確定集成溫度傳感器的伏安特性。（）

A:錯B:對

答案:對集成溫度傳感器是利用P-N結(jié)的溫度特性進(jìn)行測量的，P-N結(jié)的正向電壓隨溫度的升高而升高。（）

A:錯B:對

答案:錯對于恒溫水槽溫度的控制，接通電源后，按“恢復(fù)”鍵，待溫度視窗顯示b==.=

時按升溫鍵。（）

A:對B:錯

答案:對集成溫度傳感器AD590的正負(fù)極性不能接錯，紅線應(yīng)接電源的負(fù)極。（）

A:錯B:對

答案:錯當(dāng)恒溫水槽的溫度被加熱到設(shè)定溫度時，儀器自動斷電并保溫。按恢復(fù)鍵可以重新開始設(shè)定溫度。（）

A:錯B:對

答案:對該實驗所用的數(shù)值處理方法是最小二乘法。（）

A:對B:錯

答案:對測量集成溫度傳感器的伏安特性時，需要在電路中接入電流表。（）

A:錯B:對

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，調(diào)整讀數(shù)顯微鏡第一步，是調(diào)整哪里，使望遠(yuǎn)鏡視野均勻明亮（）。

A:45o鏡B:中心C:測微鼓輪D:焦距

答案:45o鏡在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，調(diào)整讀數(shù)顯微鏡第二步，是調(diào)整哪里，看清干涉條紋（）。

A:中心B:45o鏡C:焦距D:測微鼓輪

答案:焦距在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，測量數(shù)據(jù)時，讀某級條紋的數(shù)據(jù)時叉絲位置轉(zhuǎn)過了可以倒轉(zhuǎn)鼓輪找準(zhǔn)位置再讀數(shù)。（）

A:對B:錯

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的牛頓環(huán)實驗中，對于同一個牛頓環(huán)儀，放在不同讀數(shù)顯微鏡上時，讀出的數(shù)據(jù)都是相同的。（）

A:對B:錯

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的牛頓環(huán)實驗中，可以精確測量牛頓環(huán)儀的平凸透鏡半徑。（）

A:對B:錯

答案:對在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，測量過程中，可以移動劈尖裝置。（）

A:錯B:對

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，可以用手觸摸劈尖裝置。（）

A:錯B:對

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的劈尖干涉實驗中，可以測量厚度很大的待測物。（）

A:對B:錯

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的牛頓環(huán)實驗中，調(diào)整讀數(shù)顯微鏡第二步，是調(diào)整測微鼓輪，看清牛頓環(huán)干涉條紋。（）

A:錯B:對

答案:錯在設(shè)計利用光的干涉進(jìn)行測量實驗的牛頓環(huán)實驗中，調(diào)整讀數(shù)顯微鏡第一步，是調(diào)整焦距，使望遠(yuǎn)鏡視野均勻明亮。（）

A:錯B:對

答案:錯調(diào)整儀器及整個實驗過程中，兩個換能器之間應(yīng)最少保留有（）距離（以防止損壞換能器）。

A:10cmB:1cmC:20cmD:5cm

答案:1cm聲波是一種在彈性介質(zhì)中傳播的（）。

A:引力波B:電磁波C:物質(zhì)波D:機(jī)械波

答案:機(jī)械波SW-1型超聲聲速測量儀上的換能器諧振頻率范圍為（）。

A:25~35kHZB:45~55kHZC:35~45kHZD:55~65kHZ

答案:35~45kHZ當(dāng)超聲壓電換能器和的距離L恰好等于（）的整數(shù)倍時，形成駐波，聲振幅為極大處聲壓值極小。

A:B:C:D:

答案:在共振干涉法測量聲速時，所測超聲波的頻率就是低頻信號發(fā)生器輸出的電信號頻率。（）

A:錯B:對

答案:對測量聲速的兩種方法分別是直接測量聲音傳播的距離和所需時間來計算聲速，以及通過測量聲波的頻率和波長來間接計算聲速，其中第一種方法使用的公式是v=L/t，而第二種方法使用的公式是v=f。（）

A:對B:錯

答案:對由于超聲波具有波長短、易于定向發(fā)射及抗干擾等優(yōu)點(diǎn)，所以用超聲波進(jìn)行聲速測量是比較理想的，通常采用壓電陶瓷換能器來進(jìn)行超聲波的發(fā)射和接受。（）

A:對B:錯

答案:對壓電換能器本身有一固有頻率，當(dāng)外加強(qiáng)迫振動的頻率大于其固有頻率時，壓電換能器將產(chǎn)生共振。（）

A:錯B:對

答案:錯在共振干涉法測量聲速時，應(yīng)調(diào)節(jié)信號發(fā)生器的輸出頻率，使示波器上的波形達(dá)到振幅最大的狀態(tài)。（）

A:對B:錯

答案:對在實驗過程中，要保持信號發(fā)生器的工作頻率始終工作于換能器的固有頻率上，并保持輸出電壓基本不變。（）

A:對B:錯

答案:對

第五章單元測試

全息照片上干涉條紋的明暗由（）決定。

A:物光和參考光的夾角B:波長C:物光與參考光的光程差D:物光與參考光的光強(qiáng)差

答案:物光與參考光的光程差激光與普通光源相比有四大優(yōu)勢，分別為（）。

A:高功率B:高相干性C:高單色性D:亮度高

答案:高功率；高相干性；高單色性；亮度高全息照相主要包括哪些基本特征，分別為（）。

A:三維立體性B:多次曝光C:二維平面D:可分割

答案:三維立體性；多次曝光；可分割用于全息照相的光源需要具有相干性。（）

A:錯B:對

答案:對全息照相技術(shù)不僅記錄了物光波的振幅，同時也記錄了相位。（）

A:對B:錯

答案:對參考光與物光的光程應(yīng)盡量相等，以保證物光和參考光之間良好的相干性。（）

A:錯B:對

答案:對物光和參考光夾角越大，干涉條紋的間距越密，這就要求底片具有較高的分辨率。（）

A:對B:錯

答案:對拍攝全息照片時，室內(nèi)要保持安靜，千萬不要觸及防震平臺。（）

A:對B:錯

答案:對全息照相技術(shù)利用了光的干涉和光的衍射原理。（）

A:錯B:對

答案:對全息照相在拍照過程中可以看手機(jī)。（）

A:對B:錯

答案:錯全息照片上干涉條紋的反差由（）決定。

A:物光與參考光的光強(qiáng)差B:激光波長C:物光和參考光的夾角D:物光與參考光的光程差

答案:物光與參考光的光程差白光再現(xiàn)實驗中，以下哪些現(xiàn)象是由光的波動性引起的？（）

A:衍射B:反射C:偏振D:干涉

答案:衍射；偏振；干涉在白光再現(xiàn)實驗中，狹縫之間的距離增加會導(dǎo)致（）。

A:干涉條紋間距變小B:干涉條紋顏色加深C:干涉條紋消失D:干涉條紋間距變大

答案:干涉條紋間距變小在一步彩虹全息圖中，狹縫的作用是（）。

A:起到濾波器的作用，使得全息圖可以用白光再現(xiàn)B:作為光源的定位標(biāo)記C:改變?nèi)D的對比度D:增加全息圖的亮度

答案:起到濾波器的作用，使得全息圖可以用白光再現(xiàn)白光再現(xiàn)全息與普通全息的基本原理相似，與普通全息不同的是：這種方法是以物體通過透鏡成像在記錄介質(zhì)上的成像光束作為物光波，相當(dāng)于“物”與記錄介質(zhì)重合。（）

A:錯B:對

答案:對實驗中的再現(xiàn)光源是用理想的單一波長的點(diǎn)源。（）

A:對B:錯

答案:錯將拍好的全息片放在白光或太陽光下，因為三維光柵的衍射具有波長的選擇性，白光中只有和制作全息片時所用光波波長相同的成分衍射后才出現(xiàn)干涉極大。（）

A:錯B:對

答案:對本實驗重點(diǎn)考慮兩種白光再現(xiàn)全息，分別為像平面全息圖和一步彩虹全息圖。（）

A:錯B:對

答案:對白光再現(xiàn)實驗中，通過狹縫觀察到的明暗相間的條紋是干涉現(xiàn)象的直接證據(jù)。（）

A:對B:錯

答案:對在白光再現(xiàn)實驗中，所有顏色的光波都會在屏幕上形成相同的干涉條紋間距。（）

A:對B:錯

答案:錯當(dāng)用激光光束照射到散射光的粗糙表面，當(dāng)平均起伏（）光波波長數(shù)量級的表面上時，即可呈現(xiàn)出用普通光源見不到的斑點(diǎn)狀的圖樣。

A:等于B:小于C:大于

答案:大于公式中，代表：（）。

A:雙孔間距（即位移量）B:觀察屏與散斑底片的距離C:條紋間距D:放大率

答案:觀察屏與散斑底片的距離公式中，M代表：（）。

A:條紋間距B:放大率C:觀察屏與散斑底片的距離D:雙孔間距（即位移量）

答案:放大率由于激光的高度相干性，激光散斑的現(xiàn)象就更加明顯。（）

A:對B:錯

答案:對全息散斑計量學(xué)是現(xiàn)代光學(xué)計量學(xué)的一個重要分支，是一種相干檢測技術(shù)。（）

A:對B:錯

答案:對激光散斑測量法是在全息方法基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種測量方法。（）

A:錯B:對

答案:對激光散斑測量法不僅可以實現(xiàn)離面微小位移的測量，而且可以進(jìn)行面內(nèi)微小位移的測量。（）

A:錯B:對

答案:對在實驗操作過程中，不必調(diào)整各光學(xué)元件的高度。（）

A:對B:錯

答案:錯在實驗中，應(yīng)主要掌握散斑照相法，此方法采用雙曝光法。（）

A:對B:錯

答案:對在實驗操作過程中，不必對各光學(xué)元件鏡面進(jìn)行調(diào)豎直操作。（）

A:錯B:對

答案:錯全息照片上干涉條紋的間距由（）決定

A:物光和參考光的夾角,還有波長B:曝光時間C:物光與參考光的光程差D:物光與參考光的光強(qiáng)差

答案:物光和參考光的夾角,還有波長在公式中，k的物理含義是（）。

A:觀察屏與散斑底片的距離B:條紋間距C:雙孔間距（即位移量）D:從零位移（固定點(diǎn)）算起暗條紋的序數(shù)

答案:從零位移（固定點(diǎn)）算起暗條紋的序數(shù)在公式中，的物理含義是（）。

A:反射角B:衍射角C:照射角

答案:照射角兩次曝光全息干涉計量技術(shù)是測量物體微小位移或形變的一種常用方法。（）

A:對B:錯

答案:對若兩光波的初相位和偏振方向都保持恒定，但偏振方向正交，則相干項不為零。（）

A:錯B:對

答案:錯若兩光波有穩(wěn)定的平均偏振方向且不是正交，在無限長時間內(nèi)兩光波的初始相位保持恒定，不隨時間而變。（）

A:錯B:對

答案:對物光和參考光的光程越是接近，兩波列疊合越好，干涉條紋越好。（