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文檔簡(jiǎn)介
ICS31.200,31.140
L90,L21
團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
T/CECAXXX—2019
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器總規(guī)范
Multilayerpiezoelectricactuatorstotalnorms
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(征求意見稿)
本稿完成日期:2019-10-25
2019-XX-XX發(fā)布2019-XX-XX實(shí)施
中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)發(fā)布
CECA/TXXXX—2019
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器總規(guī)范
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器(不帶金屬封裝,不帶反饋)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則,
以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器,是制定疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器詳細(xì)規(guī)范的依據(jù)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅所注日期的版本適用于本標(biāo)
準(zhǔn)。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T1.1-2009標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫
GB/T2421.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Na:溫度變化
GB/T2828.1-2012計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃
GB/T3389.1-1996鐵電壓電陶瓷詞匯
GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
3術(shù)語(yǔ)和定義
GB/T3389.1-1996界定的及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。。
3.1
標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓ratedoperatingvoltage
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器的額定工作電壓,稱為標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓。
3.2
最大驅(qū)動(dòng)電壓MAXoperatingvoltage
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器1.20倍標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓。
3.3
標(biāo)稱位移rateddisplacement
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在標(biāo)稱電壓驅(qū)動(dòng)下產(chǎn)生的位移量為標(biāo)稱位移。
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3.4
最大位移MAXdisplacement
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在最大驅(qū)動(dòng)電壓下輸出的位移。
3.5
遲滯hysteresis
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在升壓及降壓過(guò)程的輸出位移與輸入電壓曲線不重合的現(xiàn)象稱之為致動(dòng)器
的遲滯,最大遲滯用升壓與降壓位移曲線上相同電壓輸出位移的最大偏差。
3.6
遲滯徊線ferroelectrichysteresisloop
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在升壓及降壓過(guò)程的輸出位移與輸入電壓的徊線。
3.7
遲滯系數(shù)hysteresiscoefficient
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器的最大遲滯與標(biāo)稱位移的比值,用百分比表示。如圖1所示:
圖1遲滯系數(shù)說(shuō)明圖
3.8
位移非線性系數(shù)displacementnonlinearcoefficient
疊層壓電陶瓷致動(dòng)器的遲滯回線與擬定直線之間的最大偏差值與標(biāo)稱位移的百分比。如圖2所示:
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圖2位移非線性系數(shù)說(shuō)明圖
3.9
位移再現(xiàn)性displacementreproducibility
將測(cè)試完一次標(biāo)稱位移后的0電壓時(shí)的位移設(shè)為測(cè)微儀0點(diǎn),將驅(qū)動(dòng)電壓升到標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓,記錄
標(biāo)稱位移,再將驅(qū)動(dòng)電壓降到0,記錄殘留位移,殘留位移與標(biāo)稱位移之百分比。
3.10
蠕變creep
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在保持驅(qū)動(dòng)電壓不變的條件下,應(yīng)變隨時(shí)間延長(zhǎng)而增加的現(xiàn)象。
3.11
剛度stiffness
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在壓力作用下產(chǎn)生形變,產(chǎn)生單位形變所需的力。
3.12
最大出力MAXoutputforce
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器施加標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓時(shí),零位移下的阻塞力。
3.13
動(dòng)態(tài)響應(yīng)時(shí)間dynamicresponsetime
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器加方波測(cè)試時(shí),從零位移上升至最大位移所需的時(shí)間。
3.14
連續(xù)動(dòng)態(tài)工作壽命c(diǎn)ontinuousdynamicoperatinglife
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器在標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓及規(guī)定的試驗(yàn)頻率作用下的無(wú)損壞工作次數(shù)為連續(xù)動(dòng)態(tài)工
作時(shí)間。
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4型號(hào)命名方法
疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器型號(hào)由以下部分組成,如下所示:
ZDT—
第六部分:序列號(hào)
第五部分:標(biāo)稱位移
第四部分:端面尺寸
第三部分:標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓
第二部分:端面形狀
第一部分:主稱
說(shuō)明:
第一部分:主稱,ZDT代表疊層型壓電陶瓷致動(dòng)器;
第二部分:端面形狀,形狀以字母代碼表示;
代號(hào)JYHT
端面形狀矩形圓形環(huán)形異形
第三部分:標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓,單位為VDC;
第四部分:矩形,前面兩位數(shù)字為外電極面寬度,后面兩位數(shù)字為無(wú)電極面的寬度;
圓形,用兩位數(shù)表示直徑;
環(huán)形,前兩位數(shù)表示外徑,后兩位數(shù)表示內(nèi)徑;
異形,用兩位數(shù)字表示異形的最大尺寸。
第五部分:標(biāo)稱位移,額定電壓下的位移,單位為μm,用三位數(shù)字表示;
第六部分:序列號(hào),以一位阿拉伯?dāng)?shù)字表示。
5測(cè)量和試驗(yàn)的大氣條件
除非另有規(guī)定,所有試驗(yàn)都應(yīng)在GB/T2421.1—2008中5.3規(guī)定的測(cè)量和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行。
溫度:15℃~35℃;
相對(duì)濕度:45%~75%;
氣壓:86kPa~106kPa;
有爭(zhēng)議時(shí),采用仲裁測(cè)量和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件:
溫度:25℃±2℃;
相對(duì)濕度:45%~55%;
氣壓:86kPa~106kPa。
測(cè)量前,元件應(yīng)在測(cè)量溫度下放置24h,以使元件達(dá)到熱平衡。為了有助于干燥,受控恢復(fù)條件和
標(biāo)準(zhǔn)的干燥條件按GB/T2421.1—2008中5.4和5.5的規(guī)定。如果測(cè)量不是在標(biāo)準(zhǔn)溫度下進(jìn)行,必要時(shí)測(cè)量
結(jié)果應(yīng)修正到標(biāo)準(zhǔn)溫度下。應(yīng)記錄測(cè)量期間的環(huán)境溫度并在試驗(yàn)報(bào)告中注明。
6要求與試驗(yàn)方法
6.1外形尺寸
6.1.1要求
外形尺寸應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
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6.1.2試驗(yàn)方法
用符合精度要求的量具測(cè)量外形尺寸。
6.2外觀質(zhì)量
6.2.1要求
表面光滑,無(wú)明顯氣泡、凹凸點(diǎn),邊緣無(wú)缺損,端面無(wú)裂紋及損傷,焊點(diǎn)應(yīng)光亮無(wú)錫尖。
6.2.2試驗(yàn)方法
用目測(cè)法或詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的方法檢查表面質(zhì)量。
6.3標(biāo)稱位移
6.3.1要求
標(biāo)稱位移應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.3.2試驗(yàn)方法
6.3.2.1測(cè)試儀表
采用輸出電壓精度高于0.1%的驅(qū)動(dòng)電源和位移測(cè)量分辨率高于0.1um的測(cè)微儀測(cè)試。
6.3.2.2測(cè)試示意圖
標(biāo)稱位移測(cè)試系統(tǒng)示意圖見圖3所示:
圖3位移測(cè)試系統(tǒng)示意圖
6.3.2.3試驗(yàn)方法
接圖3要求連接測(cè)試系統(tǒng)。將致動(dòng)器垂直裝載在測(cè)試平臺(tái)的夾具上,按測(cè)微儀要求調(diào)整位移輸出端
與測(cè)微儀探頭接觸。將驅(qū)動(dòng)電壓調(diào)到被測(cè)樣品的標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓,記錄測(cè)微儀相應(yīng)的讀數(shù)。將驅(qū)動(dòng)電壓降
至零,記錄測(cè)微儀相應(yīng)讀數(shù)。測(cè)微儀在額定工作電壓及零電壓時(shí)的讀數(shù)之差為標(biāo)稱位移。
6.4最大位移
最大位移應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
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6.4.1試驗(yàn)方法
測(cè)試儀表同6.3.2.1;測(cè)試示意圖同6.3.2.2;測(cè)試方法參照6.3.2.3,將驅(qū)動(dòng)電壓調(diào)到被測(cè)樣品的最大
驅(qū)動(dòng)電壓測(cè)試位移,該位移為最大位移。
6.5諧振頻率
6.5.1要求
諧振頻率應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.5.2試驗(yàn)方法
6.5.2.1測(cè)試儀器
選用掃頻范圍包含器件頻率范圍的阻抗分析儀或掃頻儀進(jìn)行測(cè)試。
6.5.2.2試驗(yàn)方法
將測(cè)試夾具接入儀器的輸出及輸入接口,開啟電源,按規(guī)定時(shí)間預(yù)熱。設(shè)定測(cè)試電壓為1V,按詳細(xì)
規(guī)范的要求設(shè)定掃頻范圍。測(cè)量范圍內(nèi)的最小阻抗值所對(duì)應(yīng)的頻率為致動(dòng)器的諧振頻率。
6.6靜電容量
6.6.1要求
靜電容量應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.6.2試驗(yàn)方法
6.6.2.1測(cè)試儀器
使用測(cè)量范圍符合要求,測(cè)量誤差不大于0.5%的電容電橋測(cè)試。
6.6.2.2測(cè)試方法
設(shè)定電容電橋的測(cè)試電壓設(shè)為1V,頻率設(shè)為1kHz,將致動(dòng)器接入電容電橋,儀器顯示的電容值為
樣品的靜電容量。
6.7遲滯系數(shù)
6.7.1要求
致動(dòng)器的遲滯應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.7.2試驗(yàn)方法
6.7.2.1測(cè)試儀器
采用電壓輸出精度高于0.1%和位移測(cè)量分辨率高于0.1um的遲滯徊線測(cè)試儀測(cè)試。
6.7.2.2測(cè)試示意圖
位移線性度測(cè)試系統(tǒng)示意圖見圖4所示:
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圖4電子徊線測(cè)試系統(tǒng)示意圖
6.7.2.3測(cè)試方法
接圖4要求連接測(cè)試系統(tǒng)。將樣品垂直裝載在測(cè)試平臺(tái)的夾具上,按測(cè)微儀要求調(diào)整位移輸出端與
測(cè)微儀探頭接觸。將測(cè)試電壓設(shè)置為被測(cè)樣品的額定工作電壓,升壓及降壓步距不大于標(biāo)稱電壓的10%,
啟動(dòng)儀器,測(cè)試遲滯徊線如圖1所示,按式1計(jì)算遲滯系數(shù)。
H=Ymax/ΔL·100%…………………1
式中:H—遲滯系數(shù);Ymax—最大遲滯;ΔL—標(biāo)稱位移。
6.8蠕變
6.8.1要求
蠕變應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.8.2試驗(yàn)方法
6.8.2.1測(cè)試儀器
采用輸出精度高于0.1%的驅(qū)動(dòng)電源和測(cè)量精度高于0.1um的測(cè)微儀測(cè)試。
6.8.2.2測(cè)試方法
按6.3.2.3標(biāo)稱位移的測(cè)試方法測(cè)量,在額定工作電壓下測(cè)試位移ΔL并記錄升到額定電壓的時(shí)間,
觀察位移的變化,除詳細(xì)規(guī)范另有規(guī)定,記錄5分鐘和20分鐘兩檔的位移ΔL1和ΔL2,分別按式2和
式3計(jì)算蠕變CRE1和CRE2。
CRE1=(ΔL1-ΔL)/ΔL·100%………………2
CRE2=(ΔL2-ΔL)/ΔL·100%………………3
6.9位移再現(xiàn)性
6.9.1要求
位移再現(xiàn)性應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.9.2試驗(yàn)方法
測(cè)試儀表同6.3.2.1;測(cè)試示意圖同6.3.2.2。按6.3.2.3規(guī)定測(cè)試標(biāo)稱位移,將驅(qū)動(dòng)電壓回零后的位
移設(shè)為測(cè)微儀0點(diǎn),將驅(qū)動(dòng)電壓升到標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓,記錄標(biāo)稱位移。將驅(qū)動(dòng)電壓降為0,記錄殘留位移,
殘留位移與標(biāo)稱位移之百分比為位移再現(xiàn)性。
6.10位移非線性系數(shù)
6.10.1要求
位移非線性系數(shù)應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
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6.10.2試驗(yàn)方法
測(cè)試儀表同6.7.2.1;測(cè)試示意圖同6.7.2.2;按6.7.2.3規(guī)定測(cè)試遲滯徊線,測(cè)量遲滯徊線范圍內(nèi)實(shí)
際曲線與最大位移與最小位移的擬定直線之間的最大偏差值與標(biāo)稱位移,最大偏差值與標(biāo)稱位移的百分
比。按式4計(jì)算位移非線性系數(shù)。
K=Smax/ΔL·100%…………………4
式中:K—位移非線性系數(shù);Smax—最大偏差值;ΔL—標(biāo)稱位移。
6.11絕緣電阻
6.11.1要求
絕緣電阻應(yīng)滿足詳細(xì)規(guī)范要求。按照歐姆定律計(jì)算式:R=U/I。
式中:R—絕緣電阻;U—測(cè)試電壓;I—漏電流。
6.11.2試驗(yàn)方法
6.11.2.1測(cè)試儀器
采用輸出精度高于1%的驅(qū)動(dòng)電源和測(cè)量精度高于0.1uA的數(shù)顯測(cè)微儀測(cè)試。
6.11.2.2測(cè)試電路
如圖5所示:
V—直流電源A—電流表S—開關(guān)
B—待測(cè)產(chǎn)品R—電阻(根據(jù)電源功率確定)
圖5絕緣電阻測(cè)試電路
6.11.2.3測(cè)試方法
按圖5所示電路連接測(cè)試系統(tǒng)。斷開開關(guān),打開電流表及直流電源,將直流電源輸出調(diào)節(jié)到額定電
壓。將樣品裝載到測(cè)試夾具上,接通開關(guān),電流表穩(wěn)定后讀取絕緣電阻值。
6.12引線焊接強(qiáng)度
6.12.1要求
壓電陶瓷致動(dòng)器的引出導(dǎo)線應(yīng)能承受不低于2.5N/mm2的垂直拉力,導(dǎo)線無(wú)松動(dòng)或脫落。
6.12.2試驗(yàn)方法
將導(dǎo)線固定到拉力計(jì)上,緩慢加力,加之2.5N/mm2時(shí)保持5秒鐘,引線無(wú)損壞為合格,如有松動(dòng)
或脫落為不合格。
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6.13直流耐壓
6.13.1要求
除詳細(xì)規(guī)范另有規(guī)定,樣品在加載標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓的√2倍的直流電壓下,保壓3小時(shí),應(yīng)無(wú)打火及
其他損壞,直流耐壓試驗(yàn)后,樣品的各項(xiàng)性能應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.13.2試驗(yàn)方法
6.13.2.1測(cè)試儀器
采用輸出精度高于1%的直流電源試驗(yàn)。
6.13.2.2測(cè)試電路
如圖6所示:
圖6耐壓測(cè)試示意圖
6.13.2.3測(cè)試方法
按圖6所示電路,連接測(cè)試系統(tǒng)。斷開開關(guān),打開電流表及直流電源,將直流電源輸出調(diào)節(jié)到規(guī)定
耐壓,將樣品裝載到測(cè)試夾具上,接通開關(guān),保壓3小時(shí),試驗(yàn)完畢,觀察外觀有無(wú)電弧或其它損傷,
測(cè)試絕緣電阻及位移。
6.14剛度
6.14.1要求
剛度應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.14.2試驗(yàn)方法
6.14.2.1測(cè)試儀器
用測(cè)力精度高于1%的測(cè)力系統(tǒng),位移測(cè)試精度高于0.1μm的剛度測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量。
6.14.2.1測(cè)試系統(tǒng)示意圖
剛度測(cè)試系統(tǒng)示意圖見圖7所示:
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圖7剛度測(cè)試系統(tǒng)示意圖
6.14.2.3測(cè)試方法
打開儀器預(yù)熱,除非詳細(xì)規(guī)范另有規(guī)定,測(cè)試壓強(qiáng)采用20MPa,按器件截面積計(jì)算測(cè)試力,設(shè)置測(cè)
試力F,先用測(cè)試力F測(cè)試系統(tǒng)形變,直接測(cè)試端上下兩個(gè)表面對(duì)壓,測(cè)試系統(tǒng)形變?chǔ)0,將被測(cè)樣品放置
在測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試位置,按下啟動(dòng)鍵,測(cè)量樣品在測(cè)試壓力作用下的形變?chǔ)1,按式5計(jì)算剛度Kf。最
終測(cè)試結(jié)果,按照三次測(cè)試取平均值。
Kf=F/(ΔL1-ΔL0)(N/μm)……………5
6.15最大出力
6.15.1要求
最大出力應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.15.2試驗(yàn)方法
6.15.2.1測(cè)試儀器
用測(cè)力精度高于1%的測(cè)力系統(tǒng),位移測(cè)試精度高于0.1μm的剛度測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量。
6.15.2.2測(cè)試系統(tǒng)示意圖
測(cè)試系統(tǒng)示意圖見圖7剛度測(cè)試系統(tǒng)示意圖。
6.15.2.3測(cè)試方法
打開儀器預(yù)熱,將被測(cè)樣品放置在測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試位置,將被測(cè)器樣品與驅(qū)動(dòng)電源相連接,加額定
工作電壓,并保壓,測(cè)試0位移時(shí)的出力,該出力為最大出力。
6.16高溫
6.16.1要求
樣品在承受高溫試驗(yàn)后,外觀應(yīng)符合6.2條要求,標(biāo)稱位移的變化率應(yīng)小于5%。
6.16.2試驗(yàn)方法
按GB2423.2試驗(yàn)Bb進(jìn)行,試驗(yàn)溫度、持續(xù)時(shí)間和試驗(yàn)后恢復(fù)時(shí)間按詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.17低溫
6.17.1要求
樣品在承受低溫試驗(yàn)后,外觀應(yīng)符合6.2條要求,標(biāo)稱位移的變化率應(yīng)小于5%。
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6.17.2試驗(yàn)方法
按GB2423.1試驗(yàn)Ab進(jìn)行,試驗(yàn)溫度、持續(xù)時(shí)間和試驗(yàn)后恢復(fù)時(shí)間應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.18恒定濕熱
6.18.1要求
樣品在承受恒定濕熱試驗(yàn)后,外觀應(yīng)符合6.2條要求,標(biāo)稱位移的變化率應(yīng)小于5%。
6.18.2試驗(yàn)方法
按GB2423.3試驗(yàn)Ca進(jìn)行,持續(xù)時(shí)間和試驗(yàn)后恢復(fù)時(shí)間應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。
6.19高溫負(fù)荷
6.19.1要求
樣品置15MPa預(yù)緊力夾具中,在詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的額定驅(qū)動(dòng)電壓、試驗(yàn)頻率及試驗(yàn)時(shí)間作用下,能承
受詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的溫度,試驗(yàn)后標(biāo)稱位移的變化率,靜電容量及絕緣電阻應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.19.2試驗(yàn)方法
將樣品裝載到預(yù)緊力測(cè)試夾具內(nèi),將預(yù)緊力調(diào)試到15MPa,將夾具放入烘箱,將樣品的正負(fù)極引出
線與驅(qū)動(dòng)電源電壓輸出端的正負(fù)輸出線對(duì)應(yīng)連接。將烘箱溫度升到詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)溫度并保溫。打
開驅(qū)動(dòng)電源,將驅(qū)動(dòng)電壓輸出調(diào)節(jié)到額定工作電壓及詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)頻率,按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)
時(shí)間試驗(yàn),試驗(yàn)完畢,測(cè)試標(biāo)稱位移的變化率,靜電容量及絕緣電阻是否符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.20連續(xù)動(dòng)態(tài)工作壽命
6.20.1要求
除詳細(xì)規(guī)范另有規(guī)定,樣品置15MPa預(yù)緊力夾具中,在詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的標(biāo)稱驅(qū)動(dòng)電壓及試驗(yàn)頻率作
用下,能承受詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間,試驗(yàn)后標(biāo)稱位移的變化率應(yīng)小于5%,靜電容量及絕緣電阻應(yīng)
符合詳細(xì)規(guī)范要求。
6.20.2試驗(yàn)方法
將樣品裝載到預(yù)緊力測(cè)試夾具內(nèi),將預(yù)緊力調(diào)試到15MPa,將樣品的正負(fù)極引出線與驅(qū)動(dòng)電源信號(hào)
輸出端的正負(fù)輸出線對(duì)應(yīng)連接。開啟驅(qū)動(dòng)電源,將驅(qū)動(dòng)電壓輸出調(diào)節(jié)到額定工作電壓及詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的
試驗(yàn)頻率,按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間試驗(yàn),試驗(yàn)完畢,測(cè)試標(biāo)稱位移的變化率,靜電容量及絕緣電阻
是否符合詳細(xì)規(guī)范要求。
7檢驗(yàn)規(guī)則
7.1檢驗(yàn)分類
致動(dòng)器的檢驗(yàn)分鑒定檢驗(yàn)和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)。
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7.2鑒定檢驗(yàn)
7.2.1概述
鑒定檢驗(yàn)是對(duì)一種型號(hào)的若干樣品進(jìn)行的一系列完整的檢驗(yàn),其目的在于確定制造者是否有能力生
產(chǎn)符合本規(guī)范和詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的產(chǎn)品。同時(shí)當(dāng)主要設(shè)計(jì)、工藝、材料及零部件變更或停產(chǎn)后恢復(fù)生產(chǎn)時(shí)
亦應(yīng)進(jìn)行。鑒定檢驗(yàn)應(yīng)采用正常生產(chǎn)使用的設(shè)備和加工工藝生產(chǎn)出來(lái)的樣品,并在鑒定機(jī)構(gòu)認(rèn)可的試驗(yàn)
室進(jìn)行。
7.2.2檢驗(yàn)程序
鑒定檢驗(yàn)的樣品數(shù)和試驗(yàn)分組由表1給出。每組試驗(yàn)應(yīng)按規(guī)定的順序進(jìn)行。
全部樣品均應(yīng)經(jīng)受0組試驗(yàn),然后分配到其他各組。
0組的一只備份樣品可用于代替0組中的不合格品,不合格的樣品不得用于其他組試驗(yàn)。
表1鑒定檢驗(yàn)
試驗(yàn)分組檢驗(yàn)或試驗(yàn)項(xiàng)目要求章條號(hào)方法章條號(hào)樣品數(shù)允許不合格數(shù)
外形尺寸6.1.16.1.2.
外觀質(zhì)量和標(biāo)志6.2.16.2.2
標(biāo)稱位移6.3.16.3.2
最大位移6.4.16.4.2
諧振頻率6.5.16.5.2
靜電容6.6.16.6.2
遲滯6.7.16.7.210
0(含1只備份1
蠕變
6.8.16.8.2樣品)
位移再現(xiàn)性6.9.16.9.2
位移非線性系數(shù)6.10.16.10.2
絕緣電阻6.11.16.11.2
引線焊接強(qiáng)度6.12.16.12.2
直流耐壓6.13.16.13.2
剛度6.14.16.14.2
最大出力6.15.16.15.2
高溫6.16.16.16.2
1低溫6.17.16.17.230
恒定濕熱6.18.16.18.2
2高溫負(fù)荷6.19.16.19.230
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3連續(xù)動(dòng)態(tài)工種壽命6.20.16.20.230
7.2.3檢驗(yàn)結(jié)果判定
鑒定檢驗(yàn)不合格品數(shù)不超過(guò)規(guī)定的允許不合格品數(shù)時(shí),鑒定檢驗(yàn)合格。經(jīng)鑒定檢驗(yàn)的樣品不得作為
成品交貨。
7.3質(zhì)量一致性檢驗(yàn)
7.3.1概述
質(zhì)量一致性檢驗(yàn)分逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
7.3.2逐批檢驗(yàn)
7.3.2.1檢驗(yàn)批
檢驗(yàn)批應(yīng)由在相同條件下生產(chǎn),并同時(shí)提交檢驗(yàn)的相同型號(hào)元件的所有產(chǎn)品組成。
7.3.2.2抽樣方案
逐批檢驗(yàn)按照GB/T2828正常檢驗(yàn)一次抽樣方案,檢驗(yàn)項(xiàng)目、順序、檢驗(yàn)水平及接收質(zhì)量限(AQL)
由表2給出。
表2逐批檢驗(yàn)
接收質(zhì)量限
序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目要求章條號(hào)方法章條號(hào)檢驗(yàn)水平
AQL
外形尺寸6.1.16.1.2.
1S-20.65
外觀質(zhì)量和標(biāo)志6.2.16.2.2
2標(biāo)稱位移6.3.16.3.2Ⅱ0.65
位移線性度6.4.16.4.2
蠕變6.5.16.5.2
3諧振頻率6.6.16.6.2S-21.0
靜電容6.7.16.7.2
絕緣電阻6.8.16.8.2
4引線焊接強(qiáng)度6.9.16.9.2S-20.65
5直流恒壓試驗(yàn)6.10.16.10.2S-21.0
13
CECA/TXXXX—2019
7.3.2.3不合格
逐批檢驗(yàn)時(shí),如果檢驗(yàn)不合格,制造方可剔除有缺陷的產(chǎn)品,并重新提交進(jìn)行復(fù)檢。復(fù)檢批應(yīng)采用
加嚴(yán)檢驗(yàn),復(fù)檢不合格不能超過(guò)2次,如附件2次都不合格,則該批產(chǎn)品判為不合格,不得再次提交驗(yàn)收。
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