光柵外腔半導體激光器技術規(guī)范(征求意見稿)_第1頁
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文檔簡介

1閃耀光柵外腔半導體激光器技術規(guī)范本文件適用于閃耀光柵外腔半導體激光器的研制、生產(chǎn)、交付和GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB/T2423.3環(huán)境試驗第2部分:試驗方法GB/T2423.5環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊GB/T2423.10環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動GB7247.1激光產(chǎn)品的安全第1部分:設備分類GB/T31358半導體激光器總GB/T31359半導體激光器測試GB/T15313和GB/T31358界定的以及下列術語和定義適用于3.13.23.33.423.53.6激光器的直接測試輸出功率(或能量)隨電流變化曲線的斜3.7波長-溫度漂移系數(shù)coefficientofwavelength-temperature3.8快軸發(fā)散角fastaxisdivergence3.9慢軸發(fā)散角slowaxisdi利特羅(Littrow)型閃耀光柵外腔半導體激光器結構見圖1,包4.2.2利特曼(Littman)型3a)產(chǎn)品外表面應干凈,不應有銹蝕跡、密封膠和油脂的堆積、不應有明顯損傷以及其他影響外b)產(chǎn)品部件應牢固、可靠、無松動跡象;除非另有規(guī)定,激光器的產(chǎn)品詳細規(guī)范中應規(guī)定表1所列的光電性能參數(shù)。激光12-3-4s5c6-7 89-opth-k-4f∥λRANa)發(fā)光尺寸及排列方式(適用時);),b)環(huán)境條件(適用時),包括溫度、濕度、潔凈度、電磁干擾、光干擾等;5.3環(huán)境適應性要求1細規(guī)范對產(chǎn)品的性能進23b)持續(xù)時間:持續(xù)時間在詳細規(guī)范中具4b)持續(xù)時間:持續(xù)時間在詳細規(guī)范中具5a)溫度:30℃±2℃,相對濕度:93%±3%;b)溫度:30℃±2℃,相對濕度:85%±3%;c)溫度:40℃±2℃,相對濕度:93%±3%;d)溫度:40℃±2℃,相對濕度:85%±3%;6振動方向為三個互相垂直方向,加速度、頻率、循從a)加速度:50.0m/s2(5.0g頻b)加速度:100.0m/s2(10.0g頻率范圍:5c)加速度:200.0m/s2(20.0g頻率范圍:20Hz~2000Hz,掃d)持續(xù)時間:4min、10min、307三個互相垂直方向,每一方向連續(xù)施加三次沖擊中5.4安全要求a)環(huán)境溫度:15℃~35℃;6.2測試儀器及計量6.3其他要求a)測試的數(shù)據(jù)是該參數(shù)重復測試n次的平均值,通n≥10;7.2光電性能參數(shù)檢測626354635417··································································································Pop——最大輸出光功率,單位為瓦(Wτ1——衰減器投射比;7b)選取光束整形器(適用時),保證被測光斑投射到激光功率計光接收面直徑的2/整被測激光器的位置,保證光束從光束整形器(適用時)和激光功率計光接收面的中心入),0popi·····························································——輸出光功率的平均值popimax——第i次測得的輸出光功率的最大值,單位為瓦(Wst=∑1(popi?∑1popi)2··············································st——輸出光功率不穩(wěn)定度;popi——第i次測得的輸出光功率,單位為瓦(W徑的2/3區(qū)域內(nèi);調(diào)整被測激光器的位置,保證光束從光束整形器(適用時)和激光功率計光接收面的),d)調(diào)節(jié)驅(qū)動電源,給被測激光器施加最大的工作電流,用激光功率計測量輸出光功率Popi;8popimax——第i次測得的輸出光功率的最大值,單位為瓦(Wpopimin——第i次測得的輸出光功率的最小值,單位為瓦(W······················································Rp——輸出光功率重現(xiàn)性;3434215b)將激光器發(fā)出的激光通過激光導入裝置(含衰減器、積分球等)導入光譜分析儀中;9應的波長λmax為最大波長;最小相對光譜強度IL對應的波長λmin為最小波長。根據(jù)公式(7)計算出波長λs=λmax?λmin······································································(7)λs——波長調(diào)諧范圍,單位納米(nmλmax——最大波長,單位納米(nm波長λci。中心波長λc的最大值和最小值,分別記為λcmax和λcmin。 Sλt——波長不穩(wěn)定性; λn——中心波長的平均值,單位為納米(nm);cmax——最大中心波長的值,單位為納米(nmcmin——最小中心波長的值,單位為納米(nmSλt——波長不穩(wěn)定度;λn——中心波長的平均值,單位為納米(nmb)將激光器發(fā)出的激光通過激光導入裝置(含衰減器、積分球等)導入光譜分析儀中;d)給被測激光器加正向電壓到最大值,光譜分析儀在所設置的波段內(nèi)掃描,記錄波長λ與該波 λn——波長的平均值,單位為納米(nm);max——波長的最大值,單位為納米(nmmin——波長的最小值,單位為納米(nm2··························· λn——波長的平均值,單位為納米(nm76324763248152)調(diào)節(jié)驅(qū)動電源,給被測激光器施加規(guī)定的電3)輸出光經(jīng)衰減/隔離裝置進入分光器,分成的兩束光分別經(jīng)過),2)調(diào)節(jié)驅(qū)動電源,給被測激光器施加規(guī)定的電3)輸出光經(jīng)衰減/隔離裝置進入分光器,分成的兩束光分別經(jīng)過),?v=?f/2 ?v=?f/20 ?v——譜線寬;?f——相比譜峰下降3dB或20dB的頻譜帶寬。噪聲部分fc,∞)帶寬為白噪聲部分,提取白噪聲部分;?v——譜線寬;按7.2.8的步驟測試譜線寬Δv。在8h內(nèi)至少每隔3min取一次值,總取值1?vi····················································S?vt——線寬不穩(wěn)定性;?vn——線寬的平均值,單位為納米(nm?vmax——最大線寬的值,單位為納米(nm);?vmin——最小線寬的值,單位為納米(nmS?vt=2············································S?vt——線寬不穩(wěn)定度;?vn——線寬的平均值,單位為納米(nm?vi——第i次測量線寬的值,單位為納米(nm)。65316531742b)調(diào)節(jié)光束整形器(適用時),將垂直入射光的光束尺寸限制在檢偏器的有效接收口徑e)旋轉檢偏器,旋轉檢偏器,測得最大輸出光功率pmax和最小輸出光功率pmin。pmax——最大輸出光功率,單位為瓦(Wpmin——最小輸出光功率,單位為瓦(W)。534534216),c)給被測激光器加電到規(guī)定的工作狀f=·······················································f——掃頻速率,單位為納米每秒(nm/s1313245b)將激光器發(fā)出的激光通過激光導入裝置(含衰減器、積分球等)導入光譜分析儀中;強度max對應的-10dB波長的左邊界為波長起始點;右邊界為波長終止點。根據(jù)公式(22)計算出掃描λRAN=λend?λstar··································································(22)λRAN——掃描波長范圍,單位納米(nmλmax——最大波長,單位納米(nmλλλλ876132876132452)調(diào)節(jié)驅(qū)動電源,給被測激光器施加規(guī)定的電3)輸出光經(jīng)衰減/隔離裝置進入傅里葉干涉儀,分成的兩束光分4)(平衡)光電探測器輸出的拍頻電信號進入射頻衰減器,將電信號降低到一定范圍后輸b)2)接收到的初始數(shù)據(jù),采用滑動濾波或者卡爾曼濾波的方式進行平滑處理,降低干涉儀局部···························c)利用希爾伯特變換,將實信號解析延拓到復數(shù)域,然后直接估計相位。獲得相位信息之后按照等步長提取線性拍頻位置,在利用原始信號線性插值的方式重構y=y0+····························································位置PSF小6dB的位置即為動態(tài)相干長度。7.3結構參數(shù)檢測7,4環(huán)境適應性測試激光器的環(huán)境適應應因以用性測試應當依照下列有關方法進行,并滿足本文件中5.3的要求。必要1234567898.2型式試驗及判定規(guī)則在a)、b)的情況下,從試制品中任意抽取3只產(chǎn)品,作為被檢樣本;在c)、d)情況下,應隨機抽取針對c)、d)情況,若某只產(chǎn)品中有1個檢驗項目不符合要求時,則應加倍抽取樣本進行復檢,復檢樣本只檢驗被檢樣本的不合格項目,檢驗全部

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