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選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

第一章一、是非題

1.I波動(dòng)過(guò)程中能量傳播是靠相鄰兩質(zhì)點(diǎn)的互相碰撞來(lái)完成的。()

1.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。()

1.3由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。()

1.4由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以波長(zhǎng)等于振幅。()

1.5傳聲介質(zhì)的彈性模量越大,密度越小,聲速就越高。()

1.6物體作諧振動(dòng)時(shí),在平衡位置的勢(shì)能為零。()

1.7一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。()

1.8由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷,使用KN1.5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷,靈敏

度較低,可能造成漏檢。()

1.9超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無(wú)關(guān)。(;

1.10超聲波的頻率越高,傳播速度越快。()

1.11介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。()

1.12頻率相同的縱波,在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。()

1.13既然水波能在水面?zhèn)鞑?,那么超聲表面波也能沿液體表面?zhèn)鞑ァ#ǎ?/p>

1.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速

度。()

1.15如材質(zhì)相同,細(xì)鋼棒(直徑〈人)與鋼鍛件中的聲速相同。()

1.16在同種固體材料中,縱、橫波聲速之比為常數(shù)。()

1.17不同的固體介質(zhì),彈性模量越大,密度越大,則聲速越大。()

1.18表面波在介質(zhì)表面作橢圓振動(dòng),橢圓的長(zhǎng)軸平行于波的傳播方向。()

1.19波的疊加原理說(shuō)明,幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳

播。()

1.20在超聲波傳播方向上,單位面積.單位時(shí)間通過(guò)的超聲能量叫聲強(qiáng)。()

1.21超聲波的能量遠(yuǎn)大于聲波的能量,IMHz的超聲波的能量相當(dāng)于IKHz聲波能量的100

萬(wàn)倍。()

1.22聲壓差2倍,則兩信號(hào)的分貝差為6dBi分貝)。()

1.23材料的聲阻抗越大,超聲波傳播時(shí)衰減越大。()

1.24平面波垂直入射到界面上,入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。()

1.25平面波垂直入射到界面上,入射能量等于透射能量與反射能量之和。()

1.26超聲波的擴(kuò)散衰減與波型,聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。()

1.27對(duì)同一材料而言,橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。()

1.28界面上入射聲束的擰射角等于反射角。()

1.29當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上,會(huì)發(fā)生波型轉(zhuǎn)換。()

1.30在同一固體材料中,傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。()

1.31聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù),溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無(wú)任何影響。

()

1.32超聲波垂直入射到平界面時(shí),聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1。()

1.33超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。()

1.34超聲波垂直入射到Z2>Z1的界面時(shí),聲壓透過(guò)率大于1,說(shuō)明界面有加強(qiáng)聲壓的作

用c()

1.35超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),當(dāng)?shù)酌嫒瓷鋾r(shí),聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值

上相等。()

1.36超聲波垂直入射時(shí),界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小,聲壓往復(fù)透射率愈低。()

1.37當(dāng)鋼中的氣隙(如裂痕)厚度一按時(shí),超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加。

()

1.38超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的反射角等于折射角。()

1.39超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的折射角總大于入射角。()

1.40超聲波以10°角入射至水/鋼界面時(shí),反射角等于10°。()

1.41超聲波入射至鋼/水界面時(shí),第一臨界角約為14.5°。()

1.42第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。()

1.43如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角,則前者的第二臨

界角也一定大于后者。()

1.44只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí),才會(huì)有第三臨界角。()

1.45橫波斜入射至鋼/空氣界面時(shí),入射角在30°左右時(shí),橫波聲壓反射率最低。()

1.46超聲波入射到C1VC2的凹曲面時(shí),其透過(guò)波發(fā)散。()

1.47超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí),其透過(guò)波集聚。()

1.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭,有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面。()

1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大,引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。()

1.50聚焦探頭輻射的聲波,在材質(zhì)中的衰減小。()

1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的汲取作用。()

1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。()

是非題答案

1.1X1.2X1.301.4X1.5O0XOO0X

OXXXXOXXXX

OXXXOXOXOO

XOOXOXOXXO

XXX0O

1.46X1.47O1.48X1.49X1.50XXX

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻印)

第一章二、選擇題

1.1以下關(guān)于諧振動(dòng)的表達(dá),哪一條是錯(cuò)誤的()

A.

1.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí),其聲壓反射率小于0,這意味著:()

A.透射能量大力人射能量

B.反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180°

C.超聲波無(wú)法透入水中D.以上都不對(duì)

1.27垂直入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓:()

A.與界面兩邊材料的聲速有關(guān)

B,與界面兩邊材料的密度有關(guān)

C.與界面兩邊材料的聲阻抗有關(guān)

D.與入射聲波波型有關(guān)

1.28在液浸探傷中,哪種波會(huì)迅速衰減:()

A.縱波B.橫波C.表面波D.切變波

1.29超聲波傳播過(guò)程中,碰到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí),將發(fā)生()

A.只繞射,無(wú)反射B.既反射,又繞射

C.只反射,無(wú)繞射1).以上都可能

1.30在同一固體介質(zhì)中,當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí),它的聲阻抗將是()

A.一樣B.傳播橫波時(shí)大

C.傳播縱波時(shí)大D.無(wú)法確定

1.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),反射波與透過(guò)波聲能的分配比例取決于()

A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)

C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D.以上全部

1.32在同一界面上,聲強(qiáng)透射率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是()

A.T=r2B.T=l-r2C.T=1+rD.T=l-r

1.33在同一界面上,聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透射率T之間的關(guān)系是()

A.K+T=lB.T=l-RC.K=l-TD.以上全對(duì)

1.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí),其傳播方向的改變主要取決于()

A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速

C.界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D.以上全部

1.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)()

A.反射波波型B.入射角度

C.界面兩側(cè)的聲阻抗【).以上都是

1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷,假設(shè)工件底面全反射,計(jì)算底面回波聲壓公式為

()

A.B.

C.D.一般地說(shuō),如果頻率相同,則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為:

()

A.表面波B.縱波

C.橫波D.三種波型的穿透力相同

1.38不同振動(dòng)頻率,而在鋼中有最高聲速的波型是:()

MHz的縱波B.2.5MHz的橫波

C.10MHz的爬波D.5MHz的表面波

1.39在水/鋼界面上,水中入射角為17°,在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為:()

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻?。?/p>

第一章三、問(wèn)答題

1.1什么是機(jī)械振動(dòng)和機(jī)械波?二者有何關(guān)系?

1.2什么是振動(dòng)周期和振動(dòng)頻率?二者有何關(guān)系?

1.3什么是諧振動(dòng)?有何特點(diǎn)?什么叫阻尼振動(dòng)和受迫振動(dòng)?三者有何不同?

1.4什么是彈性介質(zhì)?同樣作為傳聲介質(zhì),固體和液體、氣體有哪些不同

1.5什么是波動(dòng)頻率、波速和波長(zhǎng)?三者有何關(guān)系?

1.6什么是超聲波?工'也探傷應(yīng)用的頻率范圍是多少?在超聲波探傷中應(yīng)用了超聲波的哪些主

要性質(zhì)?

1.7什么是波線(xiàn)、波陣面和波前?它們有何關(guān)系?

1.8什么是平面波、柱面波和球面波?各有何特點(diǎn)?實(shí)際應(yīng)用的超聲波探頭發(fā)出的波屬于什么波?

1.9簡(jiǎn)述影響超聲波在介質(zhì)中傳播速度的因素有哪些。

1.10什么是波的疊加原理?疊加原理說(shuō)明了什么?

1.11什么叫波的干涉現(xiàn)象?什么狀況下合成振幅最大。什么狀況下合成振幅最?。?/p>

1.12什么叫惠更斯原理?它有什么作用?

1.13何謂繞射(衍射)?繞射現(xiàn)象的發(fā)生與哪些因索有關(guān)?

1.14什么叫超聲場(chǎng)?超聲場(chǎng)的特征量有哪些?

1.15在什么樣的異質(zhì)薄層界面JL聲壓往痕透過(guò)率最高?

1.16什么叫波型轉(zhuǎn)換?波型轉(zhuǎn)換與哪些因素有關(guān)?

1.17什么叫端角反射?它有何特點(diǎn)?超聲波檢測(cè)單面焊根部未焊透缺陷時(shí),探頭K值應(yīng)怎樣選

擇?

1.18什么叫超聲波的衰減?簡(jiǎn)述衰減的種類(lèi)和原因?

問(wèn)答題參照答案

L1答:物體沿著直線(xiàn)或曲線(xiàn)在某一平衡位置四周作往復(fù)周期性的運(yùn)動(dòng),稱(chēng)為機(jī)械振動(dòng)。機(jī)械振

動(dòng)在彈性介質(zhì)中傳播就產(chǎn)生機(jī)械波,振動(dòng)是產(chǎn)生波動(dòng)的根源,而波動(dòng)是振動(dòng)這一運(yùn)動(dòng)方式在介

質(zhì)中的傳播。

1.2答:振動(dòng)物體完成一次全振動(dòng)所需要的時(shí)間,稱(chēng)為振動(dòng)周期,用T表示。常用單位為秒(s)。

振動(dòng)物體在單位時(shí)間內(nèi)完成全振動(dòng)的次數(shù),稱(chēng)為振動(dòng)頻率,用f表示。常用單位為赫茲(Hz),

1赫茲表示1秒鐘內(nèi)完成1次全振動(dòng),即lHz=l次/秒。由周期和頻率的定義可知,二者互為倒

數(shù),即:T=l/fo

L3答:質(zhì)點(diǎn)M作勻速圓周運(yùn)動(dòng)時(shí),其水平投影是一種振動(dòng)。質(zhì)點(diǎn)M的水平位移y和時(shí)間t的關(guān)

系可用方程y=Acos(3t+。)來(lái)描述,該方程稱(chēng)為諧振方程,凡滿(mǎn)足諧振方程的振動(dòng)就是諧振動(dòng)。

在諧振方程中,A一振幅,即最大水平位移;3一圓頻率;即1秒鐘內(nèi)變化的弧度數(shù),;中一

初相位,即t=0時(shí)質(zhì)點(diǎn)M的相位:

諧振動(dòng)的特點(diǎn)是:物體受到的回復(fù)力大小與位移成止比,其方向總是指向平衡位置,諧振物體

的振幅不變,頻率不變。由于物體做諧振動(dòng)口寸,只有彈性力或重力做功,其它力不做功,符合

機(jī)械能守恒的條件,因此諧振物體的能量遵守機(jī)械能守恒。在平衡位置時(shí)動(dòng)能最大勢(shì)能為零,

在位移最大位置時(shí)勢(shì)能最大動(dòng)能為零,其總能量始終堅(jiān)持不變。

諧振動(dòng)是最簡(jiǎn)單最基本的直線(xiàn)運(yùn)動(dòng),任何復(fù)雜的振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成。由于阻力的

作用,使振動(dòng)系統(tǒng)的能量或振幅隨時(shí)間不斷減少的振動(dòng)稱(chēng)為阻尼振動(dòng)。物體受到周期性變化的

外力作用時(shí)產(chǎn)生的振動(dòng)稱(chēng)為受迫振動(dòng)。

1.4答:在介質(zhì)內(nèi)部,各質(zhì)點(diǎn)間以彈性力聯(lián)系在一起,這樣的介質(zhì)稱(chēng)為彈性介質(zhì)。一般固體、

液體、氣體都可視為彈性介質(zhì)。但前者與后兩者存在區(qū)別,固體內(nèi)部可以存在拉、壓應(yīng)力和剪

切應(yīng)力,而液體或氣體內(nèi)部不存在拉應(yīng)力或剪切應(yīng)力,只可以傳遞壓應(yīng)力??v波是靠拉、壓應(yīng)

力傳播的,所以在固體、液體、氣體中都可以傳播,而橫波或表面波的傳播需要剪切應(yīng)力,所

以它們只能在固體中傳播,而不能在液體或氣體中傳播。

1.5答:波動(dòng)過(guò)程中,任一給定點(diǎn)在1秒鐘內(nèi)所通過(guò)的完整波的個(gè)數(shù),稱(chēng)為波動(dòng)頻率。波動(dòng)頻率

在數(shù)值上同振動(dòng)頻率,用f表示,單位為赫茲(Hz)。

波動(dòng)中,波在單位時(shí)間內(nèi)所傳播的距離稱(chēng)為波速,用C表示。常用單位為米/秒Gn/s)或千米/秒

(km/s)<,

同一波線(xiàn)上相鄰兩振動(dòng)相位相同的質(zhì)點(diǎn)間的距離,稱(chēng)為波長(zhǎng),用X表示。波源或介質(zhì)中任意一

質(zhì)點(diǎn)完成一次全振動(dòng),波正好前進(jìn)一個(gè)波長(zhǎng)的距離。波長(zhǎng)的常用單位為毫米(mm)、米(而。

由波速、波長(zhǎng)和頻率的定義可得:

C=入f或入=C/f

由上式可知,波長(zhǎng)與波速成正比,與頻率成反比。當(dāng)頻率一按時(shí),波速愈大,波長(zhǎng)就愈長(zhǎng);當(dāng)

波速一按時(shí),頻率愈低,波長(zhǎng)就愈長(zhǎng)。

1.6答:頻率高于20000HZ的機(jī)械波稱(chēng)為超聲波,工業(yè)探傷所用的頻率一般在0.5?10MHz之間,

對(duì)鋼等金屬材料的檢驗(yàn),常用的頻率為1?5MHz之間。

超聲波的主要特點(diǎn)是頻率高,波長(zhǎng)短,能量密度大,在工業(yè)探傷中主要利用了超聲波的以下特

性:

(1)超聲波優(yōu)良的指向性。在超聲波探傷中,聲源的尺寸一般均大于波長(zhǎng)數(shù)倍以上.在此條件

下,超聲波能形成擴(kuò)散角較小的聲束,沿特定方向上傳播。從而可按光學(xué)原理判定缺陷位置。

(2)超聲波在異質(zhì)界面上將產(chǎn)生反射、折射,利用這些特性,可以接收到從缺陷或其他異質(zhì)界

面反射回來(lái)的聲波,獲取需要的信息。

(3)超聲波在異質(zhì)界面上能產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換,利用這一恃性,可從界面上獲得不同型式的超聲波

從而滿(mǎn)足探傷需要。

(4)超聲波頻率高,因?yàn)槁晱?qiáng)與頻率成正比,所以超聲波的能量比聲波能量大得多,使用超聲

波探傷可以發(fā)射較大的能量,接收到較強(qiáng)的回波信號(hào)。

L7答:波陣面:同一隨時(shí)、介質(zhì)中振動(dòng)相位相同的所有質(zhì)點(diǎn)所聯(lián)成的面稱(chēng)為波陣面。

波前:某一隨時(shí),波動(dòng)所到達(dá)的空間各點(diǎn)所聯(lián)成的面稱(chēng)為波前。

波線(xiàn):波的傳播方向稱(chēng)為波線(xiàn)。

三者的關(guān)系是:波前是最前面的波陣面,是波陣面的特例。任意隨時(shí),波前只有一個(gè),而波陣

面有無(wú)窮多個(gè)。在各向同性的介質(zhì)中,波線(xiàn)恒垂直于波陣面或波前。

1.8答:據(jù)波陣面形狀不同,可以把不同波源發(fā)出的波分為平面波、柱面波和球面波。波陣面為

互相平行的平面的波稱(chēng)為平面波。平面波波束不擴(kuò)散,平面波各質(zhì)點(diǎn)振幅(聲壓)是一個(gè)常數(shù),

不隨距離而變化。

波陣面為同軸圓柱面的波稱(chēng)為柱面波。柱面波波束向周向擴(kuò)散,而沿軸向不發(fā)生擴(kuò)散,柱面波

各質(zhì)點(diǎn)的振幅(聲壓)與距離平方根成反比。

波陣面為同心球面的波稱(chēng)為球面波。球面波波束向四面八方擴(kuò)散,球面波各質(zhì)點(diǎn)的振幅(聲壓)

與距離成反比。

實(shí)際應(yīng)用的超聲波探頭中的波源類(lèi)似活塞振動(dòng),在各向同性的介質(zhì)中輻射的波稱(chēng)為活塞波。當(dāng)

距離源的距離足夠大時(shí),活寒波類(lèi)似丁?球面波。

1.9答:(1)超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與介質(zhì)的彈性模量和介質(zhì)的密度有關(guān)。這一定的介質(zhì),

彈性模量和密度為常數(shù),故聲速也是常數(shù)。不同介質(zhì),聲速不同。

(2)超聲波波型不同時(shí),聲速也不一樣。同一介質(zhì),,‘專(zhuān)播不同類(lèi)型聲波時(shí),聲速也,不相同。

(3)介質(zhì)尺寸大小及介質(zhì)溫度對(duì)聲速也有一定影響。

1.10答:(1)當(dāng)幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),用遇處質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)是各列波引起的分振動(dòng)

的合成,任一隨時(shí)該質(zhì)點(diǎn)的位移是各列波引起位移的矢量和。

(2)相遇后的各列波仍堅(jiān)持它們各自原有的特性(頻率、波長(zhǎng)、振幅、振動(dòng)方向等)不變,并按

照各自原來(lái)的傳播方向繼續(xù)前進(jìn)。

(3)波的疊加原理說(shuō)明了波的獨(dú)立性,及質(zhì)點(diǎn)受到幾個(gè)波同時(shí)作用時(shí)的振動(dòng)的可疊加性。

1.11答:(1)兩列頻率相同,振動(dòng)方向相同,相位相同或相位差恒定的波相遇時(shí),由于波疊

加的結(jié)果,會(huì)使某些地方的振動(dòng)始終互相強(qiáng)化,而另一些地方的振動(dòng)始終互相減弱或完全抵消,

這種現(xiàn)象稱(chēng)為波的干涉,產(chǎn)生干涉現(xiàn)象的波稱(chēng)為相干波。干涉現(xiàn)象的產(chǎn)生是相干波傳播到空間

各點(diǎn)時(shí)波程不同所致。

(2)當(dāng)波程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),合成振幅達(dá)最大值。

(3)當(dāng)波程差等于半波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí),合成振幅達(dá)最小值。

1.12答:惠更斯原理:介質(zhì)中波動(dòng)傳播到的各點(diǎn)都可以看作是發(fā)射子波的波源,在其后的任意

隨時(shí)這些子波的包跡就決定新的波陣面。

利用惠更斯原理可以確定波前的幾何形狀和波的傳播方向。

1.13答:波在傳播過(guò)程中碰到與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí),能繞過(guò)障礙物的邊緣改變方向繼續(xù)前進(jìn)

的現(xiàn)象,稱(chēng)為波的繞射(衍射)。

繞射的產(chǎn)生與障礙物的尺寸Df和波長(zhǎng)X的相對(duì)大小有關(guān):

DfVV入時(shí),幾乎只繞射,無(wú)反射。

Df>>X時(shí),幾乎只反射,無(wú)繞射。

Df與X相當(dāng)時(shí):既反射又繞射。答:充滿(mǎn)超聲波的空間或超聲振動(dòng)所波及的部分介質(zhì),稱(chēng)為

超聲場(chǎng)。

描述超聲場(chǎng)的特征量(即物理量)有聲壓、聲強(qiáng)和聲阻抗。

聲壓:超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬時(shí)所具有的壓強(qiáng)P1與沒(méi)有超聲波存在的同一點(diǎn)的靜壓強(qiáng)P0之

差,稱(chēng)為該點(diǎn)的聲壓。P=P1-PO.

聲強(qiáng):?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)通過(guò)與超聲波傳播方向垂直的單位面積的聲能,稱(chēng)為聲強(qiáng)。常用I表示。

聲阻抗:介質(zhì)中某一點(diǎn)的聲壓P與該質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度u之比,稱(chēng)為聲阻抗,常用Z表示,,聲阻

抗在數(shù)值上等于介質(zhì)的密度P與介質(zhì)中聲速c的乘積。Z=p?c。答:(1)當(dāng)薄層厚度等于的

奇數(shù)倍,薄層介質(zhì)聲阻抗為其兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗幾何平均值時(shí),即,聲壓往復(fù)透過(guò)率等于1,聲

波全透射。

(2)當(dāng)薄層厚度V時(shí),薄層愈薄,聲壓往復(fù)透過(guò)率愈大。答:(1)超聲波傾斜入射到異質(zhì)

界面時(shí),除產(chǎn)生與入射波同類(lèi)型的反射和折射波外,還會(huì)產(chǎn)與入射波不同類(lèi)型的反射或折射波,

這種現(xiàn)象稱(chēng)為波型轉(zhuǎn)換。

(2)波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場(chǎng)合,與界面兩側(cè)介質(zhì)的特性(狀態(tài)、聲束等)以及波的入射

角度有關(guān)。

1.17答:(1)超聲波在工件(或試樣)的兩個(gè)互相垂直的平面構(gòu)成的直角內(nèi)的反射,稱(chēng)為端角反

射。

⑵端角反射中,同類(lèi)型的反射波和入射波息是互相平行方向相反。

(3)端角反射中,產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換,不同類(lèi)型的反射波和入射波互相不平行。

(4)縱波入射時(shí),端角反射率在很大范圍內(nèi)很低。

(5)橫波入射時(shí),入射角在30。及60°四周,端角反射率最低。

(6)橫波入射時(shí),入射角在35°?55°時(shí),端角反射率最高。

(7)探測(cè)根部未焊透時(shí)為取得高的端角反射率,應(yīng)選擇K=0.7?1.43的橫波探頭,避免選擇

K21.5的探頭

1.18答:超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),隨著傳播距離的增加,超聲波的能量逐漸減弱的現(xiàn)象稱(chēng)為超

聲波的衰減。

衰減的種類(lèi)和原因:

(1)擴(kuò)散衰減:由于聲束的擴(kuò)散,隨著傳播距離的增加,波束截面愈來(lái)愈大,從而使單位面積

上的能量逐漸減少。這種衰減叫擴(kuò)散衰減。擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的幾何形狀,與傳播介

質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。

(2)散射衰減:超聲波在傳播過(guò)程中,碰到由不同聲阻抗介質(zhì)組成的界面時(shí),發(fā)生散射(反射、

折射或波型轉(zhuǎn)換),使聲波原傳播方向上的能量減少。這種衰減稱(chēng)為散射衰減。材料中晶粒粗大

(與波長(zhǎng)相比)是引起散射衰減的主要因素。

(3)汲取衰減:超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),由于介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間的內(nèi)磨擦(粘滯性)和熱傳導(dǎo)等因素,

使聲能轉(zhuǎn)換成其他能量(熱量)。這種衰減稱(chēng)為汲取衰減,又稱(chēng)粘滯衰減。

散射衰減、汲取衰減與介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān),因此統(tǒng)稱(chēng)為材質(zhì)衰減。

超聲檢測(cè)2.1第二章是非題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻?。?/p>

第二章一、是非題

2.1超聲波頻率越高,近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大。()

2.2對(duì)同一個(gè)直探頭來(lái)說(shuō),在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。()

2.3近場(chǎng)區(qū)由于波的干涉探傷定位和定量都不準(zhǔn)。I)

2.4探頭頻率越高,聲束于散角越小。()

2.5超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線(xiàn)上不存在聲壓為零的點(diǎn)。()

2.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān),而且與波型有關(guān)。()

2.7超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng),聲束擴(kuò)散角就越大,發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。()

2.8因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減,所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。()

2.9因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓為零的點(diǎn),所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。;)

2.10如超聲波頻率不變,晶片面積越大,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。()

2.11面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。()

2.12面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,其聲束指向角亦相同。()

2.13晶片尺寸相同,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短,聲束指向性愈好。()

2.14聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。()

2.15實(shí)際聲場(chǎng)與理想聲場(chǎng)在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)軸線(xiàn)上聲壓分布基本一致。()

2.16探傷采納低頻是為了改善聲束指向性,提升探傷靈敏度。()

2.17與圓盤(pán)源不同,矩形波源的縱波聲場(chǎng)有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角。()

2.18在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū),可將聲源輻射的超聲波看成平面波,平均聲壓不隨距離增加而改

變。()

2.19斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。()

2.20頻率和晶片尺寸相同時(shí),橫波聲束指向性比縱波好。()

2.21200mm處中4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處中2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。()

2.22球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。()

2.23同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提升而減小。()

2.24軸類(lèi)工件外圓徑向探傷時(shí),曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。()

2.25對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí),曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。()

是非題答案

2.1O2.2X2.3O2.4O2.5OOXXXX

OXXOXXXOXO

OOOOX

超聲檢測(cè)2.2第二章選擇題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

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第二章二、選擇題

2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù),并且隨()

A.頻率增加,晶片直徑減小而減小

B.頻率或晶片直徑減小而增大

C.頻率或晶片直徑減小而減小

D.頻率增加,晶片直徑減小而增大

2.2晶片直徑D=20mm的直探頭,在鋼中測(cè)得其零幅射角為10°,該探頭探測(cè)頻率約為:()

關(guān)于柱面波,距聲源距離增大1倍,聲壓變化是:()

A.增大6dbB.減小6dbC.增大3dbD.減小3db

2.22關(guān)于球面波,距聲源距離增大1倍,聲壓變化是:()

A.增大6dBB.減小6dBC.增大3dBI).減小3dB

2.23比中3nmi平底孔回波聲壓小7dB的同聲程半底孔直徑是:()

A.O1mmB.62nlmC.①4nlmI).①0.5mm

2.24比中3mm長(zhǎng)橫孔回波聲壓小7dB的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是:()

A.中0.6mmB.01mmC.62mni1).①0.3mm

2.25以下表達(dá)中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)()

A.靈敏度高B.橫向分辨率高

C.縱向分辨高D.探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高

2.26以下表達(dá)中,哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)()

A.聲束細(xì),每次掃查探測(cè)區(qū)域小,效率低

B.每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷,通用性差

C.由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)

D.以上都是

選擇題答案

2.1B2.2D2.3C2.4B2.5A

2.6D2.7D2.8B2.9A2.10C1B2.12C2.13C2.14A2.15B

CDBAADBBACC

超聲檢測(cè)2.3第二章問(wèn)答題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

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第二章三、問(wèn)答題

2.1何謂主聲束?何謂指向性?指向性與哪些因素有關(guān)。

2.2圓盤(pán)源活塞波聲場(chǎng)可分為哪幾個(gè)區(qū)域?各有什么特點(diǎn)?

2.3聚焦探頭的焦點(diǎn)有什么特點(diǎn)?聚焦探頭有哪些優(yōu)點(diǎn)和不夠?

2.4什么是缺陷的當(dāng)量尺寸?在超聲波探傷中為什么要引進(jìn)當(dāng)量的概念?

2.5什么是AVG曲線(xiàn)?AVG曲線(xiàn)中的A、V、G各代表什么?AVG曲線(xiàn)可分為哪幾類(lèi)?

問(wèn)答題參照答案

2.1答;(1)聲源正前方聲能集中的錐形區(qū)域稱(chēng)為主聲束。

(2)聲源輻射的超聲波,以確定的擴(kuò)散角向固定的方向輻射的特性稱(chēng)為聲束指向性。

(3)指向性的優(yōu)劣常用指向角表示,指向角指主聲束的半擴(kuò)散角,通常用第一零值輻射角表示,

即聲壓為零的主聲束邊緣線(xiàn)與聲束軸線(xiàn)間的夾角。

(4)指向角0。與波長(zhǎng)和晶片直徑的比值(入/D)有關(guān),D愈大,人愈短,0。愈小,聲束指向

性愈好。答:超聲場(chǎng)可分為主聲束和副瓣。主聲束是指聲源正前方,聲能最集中的錐形區(qū)域。

主聲束軸線(xiàn)與探頭晶片垂直,聲束截面較大。副瓣位于主聲束旁,其軸線(xiàn)傾斜于晶片,能量微

弱,截面較小,晶片尺寸與波長(zhǎng)的比值不同,副瓣的數(shù)量和輻射方向也就不同。

超聲波探傷所利用的是主聲束聲場(chǎng),探頭的頻率指的是主聲束頻率。

主聲束聲場(chǎng)可分為近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)。近場(chǎng)是指聲束中心軸線(xiàn)上最后一個(gè)聲壓極大值處至晶片表面之

間的區(qū)域。近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度用N表示,它取決于晶片直徑D和波長(zhǎng)X,可用公式N=D2/4入表示。

近場(chǎng)區(qū)又稱(chēng)干涉區(qū),此區(qū)域內(nèi)聲波干涉現(xiàn)象嚴(yán)重,聲壓分布極不均勻,對(duì)缺陷定量有很大影響,

探傷時(shí)應(yīng)盡量避免。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)是指近場(chǎng)以外區(qū)域。由于干涉現(xiàn)象隨聲程的增加而減小,到遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)

已經(jīng)很弱,進(jìn)而消失。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓隨聲程的增加而單調(diào)下降,逐漸接近球面波聲壓變化規(guī)律。

未擴(kuò)散區(qū):從晶片表面到1.64N這段距離,可認(rèn)為超聲波是準(zhǔn)直傳播,沒(méi)有擴(kuò)散,稱(chēng)作未擴(kuò)散

區(qū),未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)平均聲壓匕看作常數(shù)。未擴(kuò)散區(qū)后的主聲束擴(kuò)散成錐形。

2.3答:聚焦探頭的焦點(diǎn)不是一個(gè)點(diǎn),而是一個(gè)聚焦區(qū),該聚焦區(qū)呈柱形,稱(chēng)為焦柱,焦柱直徑

d及長(zhǎng)度L與波長(zhǎng)入、焦距F、波源半徑R有關(guān)。

聚焦探頭在以卜應(yīng)用中體現(xiàn)出其優(yōu)越性:

(1)聚焦探頭聲束細(xì),產(chǎn)生散亂反射的幾率小,用于鑄鋼件及奧氏體鋼晶粒粗大、衰減嚴(yán)重的

材料探傷,可降低草狀回波,提升信噪比的靈敏度,有利于缺陷的檢出。

(2)使用聚焦探頭有利于提升定量精度。近年來(lái)采納聚焦探頭利用端點(diǎn)峰值回波法來(lái)測(cè)定裂痕

的高度。精度顯然提升,使用聚焦探頭利用多重分貝法(如6dB,12dB等)來(lái)測(cè)定缺陷面積或指

示長(zhǎng)度要比常規(guī)探頭準(zhǔn)確得多。

聚焦探頭也有不夠:最大缺點(diǎn)是聲束細(xì),每次掃查范圍小,探測(cè)效率低。另外,探頭的通用性

差,每只探頭僅適用于探測(cè)某一深度范圍內(nèi)的缺陷。

2.4答:目前工業(yè)超聲波探傷應(yīng)用最普遍的是A型顯示脈沖反射法。反射法是依據(jù)缺陷反射回

波聲壓的凹凸來(lái)評(píng)價(jià)缺陷的大小。然而工件中的缺陷形狀性質(zhì)各不相同,目前的探傷技術(shù)還難

以確定缺陷的真實(shí)大小和形狀?;夭晧合嗤娜毕莸膶?shí)際大小可能相差很大,為此特引用當(dāng)

量法。當(dāng)量法是指在同樣的探測(cè)條件下,當(dāng)自然缺陷回波與某人工規(guī)則反射體回波等高時(shí),則

該人工規(guī)則反射體的尺寸就是此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。自然缺陷的實(shí)際尺寸往往大于當(dāng)量尺寸。

2.5答:AVG曲線(xiàn)是描述規(guī)則反射體的距離、回波高及當(dāng)量大小之間關(guān)系的曲線(xiàn)。A、V、G是德

文距離、增益和大小的字頭縮寫(xiě)。英文縮寫(xiě)為DGS。AVG曲線(xiàn)可用于對(duì)缺陷定量和靈敏度調(diào)整。

AVG曲線(xiàn)有多種類(lèi)型,據(jù)通用性分為通用AVG和有用AVG;據(jù)波型不同分為縱波AVG和橫波AVG:

據(jù)反射體不同分為平底孔AVG和橫孔AVG等。

超聲檢測(cè)3.1第三章是非題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻?。?/p>

第三章一、是非題

3.1超聲波探傷中,發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng),接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。

()

3.2增益100dB就是信號(hào)強(qiáng)度擴(kuò)大100倍。()

3.3與錯(cuò)鈦酸鉛相比,石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小

等優(yōu)點(diǎn)。()

3.4與一般探頭相比,聚焦探頭的分辨力較高。()

3.5使用聚焦透鏡能提升靈敏度和分辨力,但減小了探測(cè)范圍。()

3.6點(diǎn)聚焦探頭比線(xiàn)聚焦探頭靈敏度高。(;

3.7雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。()

3.8B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。()

3.9C型顯示能展現(xiàn)工件口缺陷的長(zhǎng)度和寬度,但不能展現(xiàn)深度。()

3.10通用AVG曲線(xiàn)采納的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探

頭。()

3.11在通用AVG曲線(xiàn)上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。()

3.12A型顯示探傷儀,利用I).G.S曲線(xiàn)板可直觀(guān)顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。

()

3.13衰減器是用來(lái)調(diào)節(jié)探傷靈敏度的,衰減器讀數(shù)越大,靈敏度越高。()

3.14多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀。()

3.15探傷儀中的發(fā)射電路亦稱(chēng)為觸發(fā)電路。()

3.16探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。

()

3.17探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。()

3.18探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大,發(fā)射強(qiáng)度愈弱。()

3.19調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)〃旋鈕時(shí),可連續(xù)改變掃描線(xiàn)掃描速度。()

3.20調(diào)節(jié)探傷儀“抑制〃旋鈕時(shí),抑制越大,儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。()

3.21調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí),掃描線(xiàn)上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。()

3.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣,因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。

()

3.23不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱(chēng)頻率不可能相

同。()

3.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大,則說(shuō)明該晶片接收性能好。()

3.25壓電晶片的壓電電壓常數(shù)(g33)大,則說(shuō)明該晶片接收性能好。(:

3.26探頭中壓電晶片背面加汲取塊是為了提升機(jī)械品質(zhì)因子0m,減少機(jī)械能損耗。

()

3.27工件表面比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。()

3.28斜探頭楔塊前部和上部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。

)

3.29由于水中只能傳播縱波,所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。()

3.30雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。()

3.31斜探頭前部磨損較多時(shí),探頭的K值將變大。()

3.32利用IIW試塊上CD501nm孔與兩側(cè)面的距離,僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

)

3.33當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R50曲面時(shí),熒光屏上的多次反射回波是等距離(I勺。

)

3.34中心切槽的半圓試塊,其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。()

3.35與HN試塊相比CSK7A試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。()

3.36調(diào)節(jié)探傷儀的??水平”旋鈕,將會(huì)改變儀器的水平線(xiàn)性。()

3.37測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)范圍〃時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制〃、“深度補(bǔ)償〃旋鈕置于“關(guān)”的位

置。()

3.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念。()

3.39測(cè)定組合靈敏度時(shí),可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制〃旋鈕,使電噪聲電平WI0樂(lè)再進(jìn)行測(cè)

試。()

3.40測(cè)定“始波寬度”時(shí),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。()

3.41為提升分辨力,在滿(mǎn)足探傷靈敏度要求狀況下,儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一

些。()

3.42脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對(duì)厚度大的工件,應(yīng)采納較低的重復(fù)頻

率。()

3.43雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測(cè)。()

3.44溫度對(duì)斜探頭折射角有影響,當(dāng)溫度升高時(shí),疔射角將變大。()

3.45目前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。()

3.46在鋼中折射角為60°的斜探頭,用于探測(cè)鋁時(shí),其折射角將變大。()

3.47“發(fā)射脈沖寬度〃就是指發(fā)射脈沖的繼續(xù)時(shí)間。()

3.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。()

3.49水浸聚焦探頭探傷工件時(shí),實(shí)際焦距比理論計(jì)算值大。()

3.50聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱(chēng)作窄脈沖探頭。()

是非題答案

3.1X3.2X3.3X3.4O3.5O0XOO0

XOXXXOXXOX

XOX4X3.25OXXXXX

XOX0OXOXXX

OOO0XxO0XX

超聲檢測(cè)3.2第三章選擇題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻?。?/p>

C.A

C.

C.

C.

C.

C.儀器的垂直線(xiàn)性好壞會(huì)影響:()

A.缺陷的當(dāng)量比較B.AVG曲線(xiàn)面板的使用

C.缺陷的定位D.以上都對(duì)

3.13接收電路中,擴(kuò)大器輸入端接收的回波電壓約有()

A.幾百伏B.100V左右C.10V左右D.0.001?IV

3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為()

A.1?2個(gè)B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)

C.與工作頻率相同D.以上都不對(duì)。

3.15調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制〃旋鈕會(huì)影響探傷儀的()

A.垂直線(xiàn)性B.動(dòng)態(tài)范圍C.靈敏度I).以上全部

3.16擴(kuò)大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做擴(kuò)大器的:()

A.靈敏度范圍B.線(xiàn)性范圍

C.分辨力范圍D.選擇性范圍

3.17單晶片直探頭接觸法探傷中,與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是因?yàn)?

()

A.近場(chǎng)干擾B.材質(zhì)衰減

C.盲區(qū)D.折射

3.18同步電路的同步脈沖控制是指:()

A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)

B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)

C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)

D.以上全部都是

3.19表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有:()

A.水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、衰減器精度

B.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力

C.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)深度

D.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率

3.20使儀器得到滿(mǎn)幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V,現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為

40mV,假設(shè)要使此缺陷以50%垂直幅度顯示,儀器擴(kuò)大器應(yīng)有多大增益量?()

A.74dBB.66dBC.60dBD.80dB

3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著:()

A.掃描長(zhǎng)度B.掃描速度

C.單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D.鋸齒波電壓幅度

3.22線(xiàn)聚焦探頭聲透鏡的形狀為(C)

A.球面B.平面

C.柱面D.以上都可以

3.23探頭的分辨力:()

A.與探頭晶片直徑成正比B.與頻帶寬度成正比

C.與脈沖重復(fù)頻率成正比D.以上都不對(duì)

3.24當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí):()

A.儀器分辨力提升B.儀器分辨力降低,但超聲強(qiáng)度增大

C.聲波穿透力降低D.對(duì)試驗(yàn)無(wú)影響

3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致:()

A.。用值降低,靈敏度提升B.值增大,分辨力提升

C.0m值增大,盲區(qū)增大D.0m值降低,分辨力提升

3.26為了從換能器獲得最高靈敏度:()

A.應(yīng)減小阻尼塊B.應(yīng)使用大直徑晶片

C.應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D.換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大

3.27超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度:()

A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和擴(kuò)大器

B.取決于同步脈沖發(fā)生器

C.取決于換能器機(jī)械阻尼

D.隨分辨力提升而提升

3.28換能器尺寸不變而頻率提升時(shí):()

A.橫向分辨力降低B.聲束擴(kuò)散角增大

C.近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D.指向性變鈍

3.29一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì):()

A.影響缺陷的準(zhǔn)確定位

B.影響AVG曲線(xiàn)或當(dāng)量定量法的使用

C.導(dǎo)致小缺陷漏檢

D,以上都不對(duì)

3.30晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的()

A.2倍B.1/2倍C.1倍I).4倍

3.31已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000ni/s,2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為:()

mmB.1.25mmC.1.6mmD.0.4mm

3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí),應(yīng)使用:()

A.硬保護(hù)膜直探頭B.軟保護(hù)膜直探頭

C.大尺寸直探頭D.高頻直探頭

3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是:()

A.石英B.鈦酸鋼

C.錯(cuò)鈦酸鉛D.硫酸鋰

3.34雙晶直探頭的最主要用途是:()

A.探測(cè)近表面缺陷B.準(zhǔn)確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度

C.準(zhǔn)確測(cè)定缺陷高度D.用于表面缺陷探傷

3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料:()

A.導(dǎo)電材料B.磁致伸縮材料

C.壓電材料D.磁性材料

3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭:()

A.石英B.硫酸鋰

C.錯(cuò)鈦酸鉛D.鋁酸鋰

3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨力探頭:()

A.石英B.鈦酸鉛

C.偏鋸酸鉛D.鈦酸鋼

3.38以下壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜()

A.鈦酸鋼B.鋸酸鋰

C.PZTI).鈦酸鉛

3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是()

A.壓電電壓常數(shù)g33B.機(jī)電耦合系數(shù)K

C.壓電應(yīng)變常數(shù)d33D.以上全部

3.40下面關(guān)于橫波斜探頭的說(shuō)法哪一句是錯(cuò)誤的(C)

A.橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成

B.斜楔前面開(kāi)槽的口的是減少反射雜波

C.超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的橫波聲速

D.橫波是在斜楔與工件的交界面上產(chǎn)生

3.41窄脈沖探頭和一般探頭相比()

A.0值較小B.靈敏度較低C.頻帶較寬D.以上全部

3.42采納聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí),設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1,欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦,選用

平凹透鏡的條件是()

A.Z1>Z2B.CKC2C.C1>C2D.Z1<Z2

3.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比,特別優(yōu)點(diǎn)是()

A.透聲性能好B.材質(zhì)衰減小C.有利消除耦合差異D.以上全部

3.44接觸式聚焦方式按聚焦方式不同可分為(D)

A.透鏡式聚焦B.反射式聚焦

C.曲面晶片式聚焦D.以上都對(duì)

3.45以下哪一條,不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)()

A.探測(cè)范圍大B.盲區(qū)小

C.牛中近場(chǎng)長(zhǎng)度小D.朵波少

3.46以下哪一條,不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)()

A.工作頻率B.晶片尺寸

C.探測(cè)深度D.近場(chǎng)長(zhǎng)度

3.47斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的幾種方法中,哪種方法精度最高:()

A.半圓試塊和橫孔法B.雙孔法

C.直角邊法I).不一定,須視具體狀況而定

3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱(chēng)為:()

A.檢測(cè)靈敏度B.時(shí)基線(xiàn)性

C.垂直線(xiàn)性D.分辨力

3.49用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的,含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫:()

A.晶體準(zhǔn)直器B.測(cè)角器

C.參照試塊D.工件

3.50對(duì)超聲探傷試塊的基本要求是:()

A.其聲速與被探工件聲速基本一致

B.材料中沒(méi)有超過(guò)①2mm平底孔當(dāng)量的缺陷

C.材料衰減不太大且均勻

D.以上都是

3.51CSK-HA試塊上的①1X6橫孔,在超聲遠(yuǎn)場(chǎng),其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與()

相同。

A.長(zhǎng)橫孔B.平底孔C.球孔I).以上B和C

選擇題答案

3.1C3.2C3.3A3.4C3.5CAAABI)

CADBDBCDBCCABBD

CACBAABCAC

DC3.38B3.39C3.40BDCCBA

DADCDD

超聲檢測(cè)3.3第三章問(wèn)答題

選自特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)教材《超聲波檢測(cè)》配套《題庫(kù)(2008版》

主編:強(qiáng)天鵬。編寫(xiě)人員:強(qiáng)天鵬、顧言如、郭偉燦、蔣仕良、施健、張群、姚鑫陵、謝雙扣、

薛振林。(保護(hù)版權(quán),請(qǐng)勿轉(zhuǎn)錄翻印)

第三章三、問(wèn)答題

3.1簡(jiǎn)述超聲波探傷儀中同步電路的作用?

3.2超聲波探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻有什么作用。

3.3超聲波探傷儀的接收電路由哪幾部分組成?“抑制〃旋鈕有什么作用?

3.4什么是壓電晶體?舉例說(shuō)明壓電晶體分為幾類(lèi)?

3.5何謂壓電材料的居里點(diǎn)?哪些狀況要合計(jì)它的影響?

3.6探頭保護(hù)膜的作用是葉么?對(duì)它有哪些要求?

3.7聲束聚焦有什么優(yōu)點(diǎn)。簡(jiǎn)述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式?

3.8超聲波探傷儀主要性能指標(biāo)有哪些?

3.9超聲波斜探頭的技術(shù)指標(biāo)有哪些?

3.10簡(jiǎn)述超聲探傷系統(tǒng)主要性能指標(biāo)有哪些?

3.11對(duì)超聲波探傷所用探頭的晶片材料有哪些要求?

3.12什么是試塊?試塊的主要作用是什么?

3.13試塊有哪幾種分類(lèi)方法?我國(guó)常用試塊有哪幾種。

3.14試塊應(yīng)滿(mǎn)足哪些基本要求?使用試塊時(shí)應(yīng)注意些葉么?

3.15我國(guó)的CSK-1A試塊與11W試塊育何不同?

問(wèn)答題參照答案

3.1答:同步電路乂稱(chēng)觸發(fā)電路,它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個(gè)脈沖,觸發(fā)探傷儀的掃描電路,發(fā)

射電路等,使之步調(diào)一致,有條不紊地工作,因此,同步電路是整個(gè)探傷儀的指揮“中樞〃。

3.2答:改變阻尼電阻R。的阻值可改變發(fā)射強(qiáng)度,阻值大發(fā)射強(qiáng)度高,發(fā)射的聲能多,阻尼電

阻阻值小,則發(fā)射強(qiáng)度低。但改變R。阻值也會(huì)改變探頭電阻尼大小,影響探頭分辯力。

3.3答:(1)接收電路由衰減器、射頻擴(kuò)大器、檢波器和視頻擴(kuò)大器等幾部分組成。

(2)調(diào)節(jié)"抑制旋鈕〃可使低于某一電平的信號(hào)在熒光屏上不予顯示,從而減少熒光屏上的雜

波。

但使用“抑制〃時(shí),儀器的垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍均會(huì)下降。

3.4答:(1)某些晶體受到拉力或壓力產(chǎn)生變形時(shí),產(chǎn)生交變電場(chǎng)的效應(yīng)稱(chēng)為正壓電效應(yīng)。在

電場(chǎng)的作用下,晶體發(fā)生彈性形變的現(xiàn)象,稱(chēng)為逆壓電效應(yīng)。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱(chēng)為壓電效應(yīng)。

能夠產(chǎn)生壓電效應(yīng)的材料稱(chēng)為壓電材料。由于它們多為非金屬電介質(zhì)晶體結(jié)構(gòu),故又稱(chēng)為壓電

晶體。

(2)壓電晶體分為:

單晶體:如石英、硫酸鋰、銀酸鋰等。

多晶體:如鈦酸鋼、鈦酸鉛,錯(cuò)鈦酸鉛(PZT)等。

3.5答:(1)當(dāng)壓電材料的溫度達(dá)到一定值后,壓電效應(yīng)會(huì)自行消失,稱(chēng)該溫度值為材料的居

里溫度或居里點(diǎn),用Te表示。同一壓電晶體有不同的上居里溫度和下居里溫度。不同的壓電晶

體,居里溫度也不一樣。

(2)對(duì)高溫工作進(jìn)行探傷時(shí),應(yīng)選用上居里點(diǎn)較高的壓電晶片制作探頭。在寒冷地區(qū)探傷時(shí),

應(yīng)選用下居里點(diǎn)較低的壓電晶片制作探頭。

3.6答:(1)保護(hù)膜加于探頭壓電晶片的前面,作用是保護(hù)壓電晶片和電極,防止其磨損和碰

壞。

(2)對(duì)保護(hù)膜的要求是:耐磨性好,強(qiáng)度高,材質(zhì)衰減小,透聲性好,厚度合適。

3.7答:(1)聚焦的聲束,聲能更為集中,中心軸線(xiàn)上的聲壓加強(qiáng),同時(shí)可改善聲束指向性,

對(duì)提升探傷靈敏度、分辨力和信噪比均為有利。

(2)聚焦方法:

(3)聚焦形式:點(diǎn)聚焦和線(xiàn)聚焦。

3.8答:探傷儀性能是指僅與儀器有關(guān)的性能,主要有水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍等。

(1)水平線(xiàn)性:也稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性或掃描線(xiàn)性,是指探傷儀掃描線(xiàn)上顯示的反射波距高與反射體距

離成正比的程度。水平線(xiàn)性的好壞以水平線(xiàn)性誤差表示。

(2)垂直線(xiàn)性:也稱(chēng)擴(kuò)大線(xiàn)性或幅度線(xiàn)性,是指探傷儀熒光屏上反射波高度與接收信號(hào)電壓成

正比的程度。垂直線(xiàn)性的好壞以垂直線(xiàn)性誤差表示。

(3)動(dòng)態(tài)范圍:是探傷儀熒光屏上反射波高從滿(mǎn)幅(垂直刻度100粉降至消失時(shí)(最小可識(shí)別值)

儀器衰減器的變化范圍。以?xún)x器的衰減器調(diào)節(jié)量(dB數(shù))表示。

3.9答:除了頻率、晶片材料、晶片尺寸等影響聲場(chǎng)性能的指標(biāo)外,超聲波斜探頭還有以下技術(shù)

指標(biāo):

(1)斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度:是指其主聲束軸線(xiàn)與探測(cè)面的交點(diǎn),入射點(diǎn)至探頭前沿的距

離稱(chēng)為探頭前沿長(zhǎng)度,測(cè)定入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度是為了便于對(duì)缺陷定位和測(cè)定探頭的K

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