JJF1179-2007集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范.pdf

中華人民共和國國家計量技術規(guī)范 JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范 CalibrationSpecificationofHighTemperature DynamicICBurn-inSystem 2007-06-14發(fā)布 2007-09-14實施 國 家 質 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 發(fā) 布 中 華 人 民 共 和 國 國 家 計 量 技 術 規(guī) 范集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范 JJF11792007 國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布 * 中 國 質 檢 出 版 社 出 版 發(fā) 行 北京市朝陽區(qū)和平里西街甲 號 2 (100013) 北京市西城區(qū)復外三里河北街 號 16 (100045) 網址 : 服務熱線 年 月第 版 2007 8 1 * 書號 :155026J-2262 版權專有 侵權必究 JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng) 校 準 規(guī) 范 JJF1179 2007 CalibrationSpecificationofHigh TemperatureDynamicICBurn-inSystem 本 規(guī) 范 經 國 家 質 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 年 月 日 批 準 并 自 2007 6 14 , 年 月 日起實施2007 9 14 。 歸口單位:全國無線電計量技術委員會 起草單位:信息產業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所 本規(guī)范由全國無線電計量技術委員會負責解釋 JJF11792007本規(guī)范主要起草人: 王 酣 信息產業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所 ( ) 吳京燕 信息產業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所 ( ) 陳大為 信息產業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所 ( ) 參加起草人: 郭守君 桂林電子科技大學 ( ) JJF11792007 目 錄 范圍1 (1) 引用文獻2 (1) 概述3 (1) 計量特性4 (1) 溫度性能4.1 (1) 數字驅動信號特性參數4.2 (2) 模擬驅動信號特性參數4.3 (2) 老化板器件電源參數4.4 (2) 校準條件5 (2) 環(huán)境條件5.1 (2) 校準用計量標準 儀表設備5.2 、 (2) 校準項目及校準方法6 (2) 設備工作正常性檢查6.1 (2) 高溫試驗箱校準6.2 (3) 數字驅動信號單元特性參數校準6.3 (4) 模擬驅動信號單元特性參數校準6.4 (5) 老化區(qū)器件電源單元電壓設置校準6.5 (6) 校準結果的表述7 (7) 復校時間間隔8 (7)附錄 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準證書格式 A (8) JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范1 范圍 本規(guī)范適用于集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)的校準 。2 引用文獻 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 總則 GB/T5170.11995 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備 GB/T5170.21996 注:使用本規(guī)范時,應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本。3 概述 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)用于對集成電路進行高溫動態(tài)老化試驗 主要由控制 ,機 高溫試驗箱 器件電源單元 信號驅動單元等部分組成 系統(tǒng)結構示意圖見圖 所 、 、 、 , 1示 。 圖 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)結構示意圖 1 老化系統(tǒng)中的高溫試驗箱用于提供集成電路高溫動態(tài)老化的高溫環(huán)境 電源單元即 。老化電源 采用二級電源方式 其中一級老化電源用于提供足夠功率的正負一次電壓 , , ,二級老化電源以一級電源作為輸入 參照集成電路器件老化規(guī)范要求為老化器件提供電 ,源 老化系統(tǒng)通常分為 個工作區(qū) 由 個獨立的程控電源為整個系統(tǒng)提供器件電 。 34 , 4源和信號電源 信號驅動單元是集成電路動態(tài)老化的核心子系統(tǒng) 其主要功能是通過主 。 ,控計算機的編程 產生待老化