GB/T 5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

ICS.19.080K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備InspectionnmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsTemperaturetestingequipments1996-06-17發(fā)布1997-07-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5170.2-1996前本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)之一本標(biāo)準(zhǔn)是由GB5170.2—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗(yàn)設(shè)備》GB5170.3—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高溫試驗(yàn)設(shè)備》和GB5170.4—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度變化試驗(yàn)設(shè)備》合并、修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比，技術(shù)內(nèi)容主要有以下變化：-明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定，以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗(yàn)！增加了"引用標(biāo)準(zhǔn)”一章；在檢定項(xiàng)目中，刪除了“工作室內(nèi)壁與工作空間溫差”和“工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)”兩個(gè)項(xiàng)目；-在“檢定用主要儀器”一章中，給出了儀器的精確度要求；-增加了“檢定條件”一章；-對(duì)于溫度測(cè)量點(diǎn)數(shù)量.設(shè)備工作空間容積由"以1m2分界"改為"以2m2分界",對(duì)于"大于2m的設(shè)備”.溫度和風(fēng)速測(cè)址點(diǎn)由21點(diǎn)減少為15點(diǎn)-周期檢定試驗(yàn)設(shè)備時(shí),"溫度偏差”的測(cè)量時(shí)間縮短為30min;在"數(shù)據(jù)處理”中給出了“溫度偏差”的計(jì)算公式；在“檢定結(jié)果處理”中，增加了“溫度場(chǎng)調(diào)整值和設(shè)備儀表修正值的計(jì)算方法”,并且對(duì)合格（限用）的范圍給予了必要的說明；-標(biāo)準(zhǔn)的附錄中給出溫度波動(dòng)度和溫度均勾度的檢定方法和計(jì)算公式；-刪除了部分測(cè)量記錄表格。GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下幾部分：-GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則;-GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備；-GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備：-GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備;-GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備；-GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.11腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備。本標(biāo)準(zhǔn)從生效之日起，同時(shí)代替GB5170.2-85、GB5170.3—85和GB5170.4一85.本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B都是提示的附錄，本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所，本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：付文茹、謝建華、陳學(xué)進(jìn)、王則燕、薛振夷，

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.2-1996溫度試驗(yàn)設(shè)備代替GB5170.2～GB5170.4-85InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsTemperaturetestingequipments1范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB2423.1—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》GB2423.2—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》和GB2423.22一87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討、使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T5170.1一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB2423.1—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程、試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.2—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程武驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法3檢定項(xiàng)目本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢定項(xiàng)目如下：-溫度偏差；溫度平均變化速率(適用于有溫度變化速率要求的試驗(yàn)設(shè)備)風(fēng)速：相對(duì)濕度(適用于高溫試驗(yàn)設(shè)備)；溫度恢復(fù)時(shí)間(適用于有規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間