GB/T 5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

508..19.080K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsSolarradiationtestingequipments1996-06-17發(fā)布1997-07-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5170.9-1996本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)是由GB5170.9—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法日光輻射試驗(yàn)設(shè)備》修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比，技術(shù)內(nèi)容主要有以下變化：本標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)題由"日光輻射試驗(yàn)設(shè)備”改為"太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備"；明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗(yàn)；·增加了"引用標(biāo)準(zhǔn)”一章；-在“校定用主要儀器”.一章中，給出了儀器的精確度要求；-增加了“檢定條件”一章;-對于“燈管為水平安裝在設(shè)備內(nèi)頂部時(shí)輻射強(qiáng)度及光譜能量分布強(qiáng)度”的檢定點(diǎn)數(shù)量，由原來的9點(diǎn)改為5點(diǎn)；-對于溫度交變試驗(yàn)的測量時(shí)間縮短為2h；-在“數(shù)據(jù)處理”中，給出了“溫度偏差”的計(jì)算公式;-在“檢定結(jié)果處理"中，增加了“溫度場調(diào)整值和設(shè)備儀表修正值的計(jì)算方法”,并且對合格（限用)的范圍給子了必要的說明；-刪除了測量記錄表格、GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下幾部分：-GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則;GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備；-GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備;-GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備;-B/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備-GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備：·GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備。本標(biāo)準(zhǔn)從生效之日起，同時(shí)代替（B5170.9—85。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所，本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：付文茹、謝建華、陳學(xué)進(jìn)、王則燕、薛振夷.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.9-1996太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparameters代替GB5170.9-85ofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsSolarradiationtestingeguipments1范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驥、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.24—1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法武驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定、本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T5170.1一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T2423.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射3檢定項(xiàng)目本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢定項(xiàng)目如下：-輻射強(qiáng)度及其光譜能量(紫外線、可見光、紅外線輻射強(qiáng)度)分布一溫度偏差；溫度變化速率；風(fēng)速4檢定用主要儀器4.1輻射強(qiáng)度測量儀器采用天空輻射表（與輻射電流表連用)或其他類似的儀器，其測量波長范圍為0