NBT47013修改單.doc

.附件行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.2-2015承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第2部分：射線檢測(cè)第1號(hào)修改單本修改單經(jīng)國(guó)家能源局于2018年5月14日以第7號(hào)公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 第2章第十三行中更改標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：“JB/T 5075”更改為“GB/T 23910”。 4.2.6.1條第一行中更改標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：“JB/T 5075”更改為“GB/T 23910”。 5.5.6.3條后補(bǔ)充新條文，5.5.6.4：“不要求100%檢測(cè)的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定”。 7.1.1條改用新條文：7.1.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鋼、鎳及鎳合金、銅及銅合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對(duì)接環(huán)向焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長(zhǎng)有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對(duì)接焊縫和不加墊板的單面焊對(duì)接焊縫。對(duì)于熔化焊對(duì)接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行”。 7.2.1條改用新條文：7.2.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鋁及鋁合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對(duì)接環(huán)向焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長(zhǎng)有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對(duì)接焊縫和不加墊板的單面焊對(duì)接焊縫。對(duì)于熔化焊對(duì)接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行”。 7.3.1條改用新條文：7.3.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鈦及鈦基合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對(duì)接環(huán)向焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長(zhǎng)有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對(duì)接焊縫和不加墊板的單面焊對(duì)接焊縫。對(duì)于熔化焊對(duì)接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行?！毙袠I(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.3-2015承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)第1號(hào)修改單本修改單經(jīng)國(guó)家能源局于2018年5月14日以第7號(hào)公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 5.3.3.1.1條改用新條文： 5.3.3.1.1 “直探頭選用一般應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。在滿足5.3條規(guī)定的靈敏度及缺陷判定的基礎(chǔ)上，也可以選用其他型式的探頭，如雙晶直探頭或多晶直探頭（含板材厚度60mm時(shí)）?！?5.3.9.2 第一行中更改質(zhì)量分級(jí)級(jí)別：“級(jí)”更改為“級(jí)”。 表6更改為新表6：新表6 承壓設(shè)備用板材中部檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量分級(jí)等級(jí)最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或當(dāng)量平底孔直徑D在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示面積或當(dāng)量平底孔直徑評(píng)定范圍 最大允許個(gè)數(shù)TI 雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：S50mm2雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：20mm2S50mm210 或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：D5mm+8dB或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：5mmD5mm+8dBI雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：S100mm2雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：50mm2S100mm210或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：D5mm+14dB或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：5mm+8dBD5mm+14dBIIS1000mm2100mm2S1000mm215IIIS5000mm21000mm2S5000mm220IV超過級(jí)者注：使用單晶直探頭檢測(cè)并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（T I級(jí)和級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同。 表7更改為新表7：新表7 承壓設(shè)備用板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量分級(jí)等級(jí)最大允許單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度Lmax 最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或當(dāng)量平底孔直徑D在任一1m檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度L或當(dāng)量平底孔直徑評(píng)定范圍最大允許個(gè)數(shù)TI20mm雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：S50mm2雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：10mmL20mm2或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：D5mm+8dB或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：5mmD5mm+8dBI30mm雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：S100mm2雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)：15mmL30mm3或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：D5mm+14dB或單晶直探頭檢測(cè)時(shí)：5mm+8dBD5mm+14dBII50mmS1000mm225mmL50mm5III100mmS2000mm250mmL100mm6IV超過級(jí)者注：使用單晶直探頭檢測(cè)并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（TI級(jí)和級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同。 將5.6.4.1條中的“軸向”二字刪除。 將5.6.4.2條中的“軸向”二字刪除。 8.4.6.2.3.1 b)條改用新條文： 8.4.6.2.3.1 b)“工件厚度t15mm時(shí)，缺陷指示長(zhǎng)度應(yīng)大于等于t/2或15mm（取大者,但最大為30mm）?！?附錄J的表J.1更改為新表J.1： 新表J.1 RB-L系列對(duì)比試塊尺寸（推薦） 單位為mmRB-L編號(hào)工件厚度t試塊厚度T橫孔深度位置橫孔直徑RB-L-1610842.0RB-L-21016144、102.0RB-L-31624205、10、152.0RB-L-42436305、10、20、252.0RB-L-53650455、10、20、30、402.0注：工件厚度t大于50mm時(shí)，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。 附錄J的圖J.1更改為新圖J.1： a） RB-L-1試塊 b） RB-L-2試塊 c） RB-L-3試塊 d） RB-L-4試塊e） RB-L-5試塊新圖J.1 RB-L系列對(duì)比試塊示意圖（推薦） K.2.1條改用新條文： K.2.1 “對(duì)比試塊RB-C的形狀和尺寸見圖K.1。為方便試塊加工和靈敏度調(diào)節(jié)，也可使用如表K.1和圖K.2的試塊?！?附錄K的圖K.1后補(bǔ)充表K.1和圖K.2。 表K.1 RB-C系列對(duì)比試塊尺寸（推薦） 單位為mmRB-C編號(hào)工件厚度t試塊厚度T橫孔深度位置橫孔直徑RB-C-1610842.0RB-C-21016144、102.0RB-C-31624205、10、152.0RB-C-42436305、10、20、252.0RB-C-53650455、10、20、30、402.0注：工件厚度t大于50mm時(shí)，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。a） RB-C-1試塊b） RB-C-2試塊c）RB-C-3試塊d） RB-C-4試塊e） RB-C-5試塊圖K.2 RB-C系列對(duì)比試塊示意圖（推薦） 附錄K的表K.1序號(hào)更改為表K.2。 K.3.2條改用新條文： K.3.2“探頭折射角（K值）的選擇見表25，探頭標(biāo)稱頻率可按表K.2選擇?！?K.5.1條改用新條文： K.5.1“檢測(cè)面的選擇按表K.2進(jìn)行?！毙袠I(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.11-2015承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第11部分：X射線數(shù)字成像檢測(cè)第1號(hào)修改單本修改單經(jīng)國(guó)家能源局于2018年5月14日以第7號(hào)公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測(cè)試計(jì)”后補(bǔ)充新條文：“GB/T 26592 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法 GB/T 26594 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法” 第2章“NB/T47013.2 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第2部分：射線檢測(cè)”后補(bǔ)充新條文： “JB/T 11608 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線探傷裝置” 4.1.1條中更改用語：“并取得放射工作人員證”更改為“并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書”。 4.2條中更改用語：“檢測(cè)系統(tǒng)”更改為“檢測(cè)系統(tǒng)與器材”。 4.2.1.2條后補(bǔ)充新條文，4.2.1.3 ：“采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測(cè)試條件及測(cè)試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規(guī)定?！?4.2.2.4 條改用新條文：4.2.2.4“壞像素要求：面陣列探測(cè)器33像素區(qū)域中，相鄰壞像素不得超過3個(gè)；成行（成列）壞像素不得超過3個(gè)，且不得位于距離中心位置200像素以內(nèi)；成像區(qū)域內(nèi)壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測(cè)器中，相鄰的壞像素不允許超過2個(gè)。探測(cè)器系統(tǒng)供應(yīng)商應(yīng)提供出廠壞像素表和壞像素校正方法?！?在4.2.2.5后補(bǔ)充新條文，4.2.2.6和4.2.2.7：“4.2.2.6探測(cè)器系統(tǒng)性能指標(biāo)如：壞像素、對(duì)比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等，其測(cè)試條件及測(cè)試方法按相應(yīng)國(guó)家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行?！薄?.2.2.7探測(cè)器系統(tǒng)質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出探測(cè)器類型、轉(zhuǎn)換屏參數(shù)（如有）、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉(zhuǎn)換效率、填充因子、采集幀頻等技術(shù)參數(shù)?！?4.2.4.6條中更改用語：“根據(jù)評(píng)定結(jié)果”更改為“自動(dòng)”。 4.2.6條改用新條文：4.2.6 “像質(zhì)計(jì)4.2.6.1本部分采用的像質(zhì)計(jì)包括線型像質(zhì)計(jì)和雙線型像質(zhì)計(jì)。4.2.6.2線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定，雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定?！?4.2.6條后補(bǔ)充新條文，4.2.7、4.2.8：“4.2.7檢測(cè)系統(tǒng)使用性能應(yīng)結(jié)合被檢工件和本部分要求，根據(jù)檢測(cè)系統(tǒng)各部分性能指標(biāo)選擇合適的檢測(cè)設(shè)備和器材，并提供滿足上述設(shè)備和器材性能指標(biāo)及系統(tǒng)軟件功能的測(cè)試證明文件。檢測(cè)系統(tǒng)的使用性能應(yīng)滿足本部分規(guī)定的圖像質(zhì)量要求?！薄?.2.8校準(zhǔn)或運(yùn)行核查4.2.8.1 每年至少對(duì)探測(cè)器系統(tǒng)性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進(jìn)行1次校準(zhǔn)并記錄。4.2.8.2 每年至少應(yīng)對(duì)使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)重要部件更換或經(jīng)過修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。4.2.8.3 每3個(gè)月至少對(duì)探測(cè)器壞像素進(jìn)行1次核查，并記錄和校正。4.2.8.4 存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。a）檢測(cè)系統(tǒng)有改變時(shí)；b）正常使用條件下，每3個(gè)月應(yīng)至少核查一次；c）在系統(tǒng)停止使用一個(gè)月后重新使用時(shí)。” 5.4.1.2條后補(bǔ)充新條文，5.4.1.3：“由于結(jié)構(gòu)原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，可不再?gòu)?qiáng)制限制5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評(píng)定范圍內(nèi)信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測(cè)報(bào)告中對(duì)有關(guān)情況進(jìn)行說明?！?5.4.2條改用新條文：5.4.2“不要求100%檢測(cè)的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定，并保存相關(guān)記錄。 將6.1.1.3條中的“線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定”刪除。 將6.1.1.4條中的“雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定”刪除。 6.1.2.1.2條中更改用語：“雙壁單影透照時(shí)”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時(shí)” 6.1.3.1條改用新條文：6.1.3.1“雙線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線機(jī)側(cè)。當(dāng)采用雙壁單影透照方式時(shí)，可放在探測(cè)器側(cè)。” 6.1.3.2.1條中更改用語：“被檢測(cè)區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置”更改為“靠近被檢焊縫”。 在6.1.4.2條句尾補(bǔ)充“對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑。” 在6.1.4.3條句尾補(bǔ)充:“注：對(duì)于使用裂紋敏感性材料或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值R540MPa高強(qiáng)度材料進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，不得采取補(bǔ)償?！?6.2.5.2條第一行中更改用語：“透照規(guī)格”更改為“透照參數(shù)”。 在A.5.1 a）條句尾補(bǔ)充：“在條件受限情況下，可適當(dāng)減小F，但應(yīng)保證檢測(cè)系統(tǒng)的幾何不清晰度不大于探測(cè)器像素尺寸的5%。” 在A.5.2后