2011測(cè)新技術(shù)TOFED檢測(cè)方法.ppt

超聲檢測(cè)新技術(shù) 研究背景 推動(dòng)超聲檢測(cè)發(fā)展的主要因素 工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量和在役設(shè)備壽命預(yù)測(cè)要求的提高 諸如復(fù)合材料和精細(xì)陶瓷等新材料的應(yīng)用 使傳統(tǒng)的超聲檢測(cè)方法遇到障礙 促使特殊的超聲檢測(cè)途徑 計(jì)算機(jī)技術(shù)使得檢測(cè)的結(jié)果更直觀可靠 以二維或三維形式成像 現(xiàn)代信息科學(xué)為超聲檢測(cè)的發(fā)展注入了新的活力 一些復(fù)雜的檢測(cè)信號(hào)與過程做出迅速有效的提取與解讀 特殊的構(gòu)件對(duì)超聲檢測(cè)提出了非接觸的要求 促使超聲檢測(cè)從換能方法上有了新的突破 超聲檢測(cè)新技術(shù) 非接觸換能方法 電磁聲方法靜電耦合方法換能器與被檢對(duì)象的表面距離較近 被用于某些較特殊的工業(yè)與實(shí)驗(yàn)室環(huán)境空氣耦合激光超聲方法換能器件可與被檢對(duì)象保持較長(zhǎng)距離 因而具有較好的發(fā)展前途 導(dǎo)波檢測(cè)方法 兩大特點(diǎn)一點(diǎn)激勵(lì) 多點(diǎn)信息 內(nèi)外部缺陷同時(shí)檢測(cè) 相控陣檢測(cè)方法 相控陣檢測(cè)方法 相控陣定義 由一系列換能器組成的陣列 該陣列中每個(gè)陣元的激發(fā)時(shí)間都可單獨(dú)調(diào)節(jié) 以控制波束的軸線和焦點(diǎn)等參數(shù) 相控陣聚焦 根據(jù)惠更斯原理 采用相控陣技術(shù) 通過調(diào)整每個(gè)陣元發(fā)射信號(hào)的時(shí)間 使各陣元發(fā)射的超聲子波束在空間疊加合成 從而形成發(fā)射聚焦 相控陣檢測(cè)方法 相控陣檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFD 超聲波衍射時(shí)差法 裂紋端點(diǎn)衍射法 尖端反射法 time of flightdiffraction 是一種依靠從待檢試件內(nèi)部結(jié)構(gòu) 主要是指缺陷 的 端角 和 端點(diǎn) 處得到的衍射能量來檢測(cè)缺陷的方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 TOFED檢測(cè)方法 優(yōu)點(diǎn) 對(duì)于焊縫中部缺陷檢出率很高 容易檢出方向性不好的缺陷 可以識(shí)別向表面延伸的缺陷 使用橫向TOFD模式時(shí) 特別是有信號(hào)處理的幫助下缺陷定量很準(zhǔn) 線形模式下的定量精度也可以接受 和脈沖反射法相結(jié)合時(shí)效果更好 局限性 在外表面附近有約3mm的盲區(qū) 內(nèi)表面附近也可能存在盲區(qū) 對(duì) 噪聲 敏感 夸大了一些良性的缺陷 如氣