高考物理新一輪總復(fù)習(xí)（基礎(chǔ)深化+典例透析+高分在握）實(shí)驗(yàn)六 驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律課件.ppt

實(shí)驗(yàn)六驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律 第五章機(jī)械能及其守恒定律 考點(diǎn)一對(duì)實(shí)驗(yàn)原理和實(shí)驗(yàn)步驟的考查 利用圖1實(shí)驗(yàn)裝置探究重物下落過程中動(dòng)能與重力勢(shì)能的轉(zhuǎn)化問題 1 實(shí)驗(yàn)操作步驟如下 請(qǐng)將步驟b補(bǔ)充完整 a 按實(shí)驗(yàn)要求安裝好實(shí)驗(yàn)裝置 b 使重物靠近打點(diǎn)計(jì)時(shí)器 接著先 后 打點(diǎn)計(jì)時(shí)器在紙帶上打下一系列的點(diǎn) c 圖2為一條符合實(shí)驗(yàn)要求的紙帶 o點(diǎn)為打點(diǎn)計(jì)時(shí)器打下的第一點(diǎn) 分別測(cè)出若干連續(xù)點(diǎn)a b c 與o點(diǎn)之間的距離h1 h2 h3 2 已知打點(diǎn)計(jì)時(shí)器的打點(diǎn)周期為t 重物質(zhì)量為m 重力加速度為g 結(jié)合實(shí)驗(yàn)中所測(cè)得的h1 h2 h3 可得重物下落到b點(diǎn)時(shí)的速度大小為 紙帶從o點(diǎn)下落到b點(diǎn)的過程中 重物增加的動(dòng)能為 減少的重力勢(shì)能為 3 取打下o點(diǎn)時(shí)重物的重力勢(shì)能為零 計(jì)算出該重物下落不同高度h時(shí)所對(duì)應(yīng)的動(dòng)能ek和重力勢(shì)能ep 建立坐標(biāo)系 橫軸表示h 縱軸表示ek和ep 根據(jù)以上數(shù)據(jù)在圖3中繪出圖線 和圖線 己求得圖線 斜率的絕對(duì)值k1 2 94j m 請(qǐng)計(jì)算圖線 的斜率k2 j m 保留三位有效數(shù)字 重物和紙帶下落過程中所受平均阻力與重物所受重力的比值為 用k1和k2表示 4 通過對(duì)k1和k2的比較分析 可得到的結(jié)論是 只要求寫出一條 考點(diǎn)一對(duì)實(shí)驗(yàn)原理和實(shí)驗(yàn)步驟的考查 考點(diǎn)二對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理的考查 用如圖所示的實(shí)驗(yàn)裝置驗(yàn)證m1 m2組成的系統(tǒng)機(jī)械能守恒 m2從高處由靜止開始下落 m1上拖著的紙帶打出一系列的點(diǎn) 對(duì)紙帶上的點(diǎn)跡進(jìn)行測(cè)量 即可驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律 圖中給出的是實(shí)驗(yàn)中獲取的一條紙帶 0是打下的第一個(gè)點(diǎn) 每相鄰兩計(jì)數(shù)點(diǎn)間還有4個(gè)點(diǎn) 圖中未標(biāo)出 計(jì)數(shù)點(diǎn)間的距離如下圖所示 已知m1 50g m2 150g 則 結(jié)果均保留兩位有效數(shù)字 1 在紙帶上打下計(jì)數(shù)點(diǎn)5時(shí)的速度v m s 2 在打下第 0 到打下第 5 點(diǎn)的過程中系統(tǒng)動(dòng)能的增量 ek j 系統(tǒng)勢(shì)能的減少量 ep j 取當(dāng)?shù)氐闹亓铀俣萭 10m s2 3 若某同學(xué)作出v2 2 h圖象如下圖 則當(dāng)?shù)氐闹亓铀俣萭 m s2 考點(diǎn)二對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理的考查 答案 1 2 4 2 0 580 60 3 9 7 2014 石家莊質(zhì)檢 在 驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律 實(shí)驗(yàn)中 某研究小組采用了如圖甲所示的實(shí)驗(yàn)裝置 實(shí)驗(yàn)的主要步驟是 在一根不可伸長(zhǎng)的細(xì)線一端系一金屬小球 另一端固定于o點(diǎn) 記下小球靜止時(shí)球心的位置o 在o 位置放置一個(gè)光電門 現(xiàn)將小球拉至球心距o 高度為h處由靜止釋放 記下小球通過光電門時(shí)的擋光時(shí)間 t 1 如圖乙 用游標(biāo)卡尺測(cè)得小球的直徑d cm 2 該同學(xué)測(cè)出一組數(shù)據(jù)如下 高度h 0 2m 擋光時(shí)間 t 0 0052s 設(shè)小球質(zhì)量為m g 9 8m s2 計(jì)算小球重力勢(shì)能的減少量 ep 動(dòng)能的增加量 ek 得出的結(jié)論 分析誤差產(chǎn)生的原因是 考點(diǎn)三對(duì)實(shí)驗(yàn)誤差分析的考查 考