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文檔簡介

1、第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 第第7章章 電子元器件參數(shù)測量技術電子元器件參數(shù)測量技術 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.1 萬用電橋萬用電橋 工作在低頻電路的元件參數(shù)常采用電橋法進行測量,電橋法實工作在低頻電路的元件參數(shù)常采用電橋法進行測量,電橋法實 際上是一種比較測量法,它把被測量與同類性質(zhì)的標準量進行際上是一種比較測量法,它把被測量與同類性質(zhì)的標準量進行 比較,從而確定被測量大小的方法。萬用電橋就是一種在低頻比較,從而確定被測量大小的方法。萬用電橋就是一種在低頻 條件下測量電阻、電容、電感參數(shù)的交流阻抗電橋。條件下測量電阻、電容、電感參數(shù)的交流阻抗電橋。 7.1.1 7.1.

2、1 電橋的分類與平衡條件電橋的分類與平衡條件 直流電橋直流電橋 直流電橋電路原理圖如圖直流電橋電路原理圖如圖7-1所示,四個橋臂均為電阻,所示,四個橋臂均為電阻, 由直流電源供電,只能測量電阻,該電橋又稱惠斯通電橋。由直流電源供電,只能測量電阻,該電橋又稱惠斯通電橋。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 工作時,調(diào)節(jié)一個或工作時,調(diào)節(jié)一個或 幾個橋臂上的電阻,幾個橋臂上的電阻, 使檢流計指示為零,使檢流計指示為零, 此時電橋處于平衡條此時電橋處于平衡條 件,被測電阻為件,被測電阻為 如果如果R1 、R2、R3 均均 為標準電阻,檢流計為標準電阻,檢流計 的靈敏度也很高,則的靈敏度也很高,則 被

3、測電阻的準確度很被測電阻的準確度很 高。高。 1 2 3 R R R R x 圖7-1 直流電橋電路原理圖 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 交流交流電橋電橋 電橋平衡條件為電橋平衡條件為 (7-2) 根據(jù)上式,可以計算出被測元件根據(jù)上式,可以計算出被測元件Z ZX X的量值。電橋平衡時有的量值。電橋平衡時有 (7-3) (7-4) 圖7-2 交流電橋電路原理圖 312 ZZZZ X | 312 ZZZZ X 312 X 當相鄰兩橋臂為純電阻時,另外兩個 橋臂應呈現(xiàn)同性電抗;當某一對角橋 臂為純電阻時,另外一對角橋臂應呈 現(xiàn)異性電抗;當兩個橋臂由純電阻構 成時,呈現(xiàn)電抗特性的橋臂必須由標 準

4、可調(diào)電阻和電抗件構成,該電抗件 一般選用標準可調(diào)電容。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 電橋的整體框圖如圖電橋的整體框圖如圖7-3所示,它由橋體、信號源所示,它由橋體、信號源(1000Hz振振 蕩器蕩器)和晶體管指零儀三部分組成。橋體是電橋的核心部分,和晶體管指零儀三部分組成。橋體是電橋的核心部分, 由標準電阻、標準電容及轉(zhuǎn)換開關組成,通過轉(zhuǎn)換開關切換由標準電阻、標準電容及轉(zhuǎn)換開關組成,通過轉(zhuǎn)換開關切換 ,可以構成不同的電橋電路,對電阻、電容、電感進行測量,可以構成不同的電橋電路,對電阻、電容、電感進行測量 。測量橋體由惠斯通電橋、電容串聯(lián)電橋、麥克斯威電橋。測量橋體由惠斯通電橋、電容串聯(lián)

5、電橋、麥克斯威電橋。 7.1.2 QS18A萬用電橋萬用電橋 1.萬能電橋組成和工作原理萬能電橋組成和工作原理 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (1)電橋法測電容)電橋法測電容 測量電容時,橋體連接成圖測量電容時,橋體連接成圖7-4所示的串聯(lián)電容電橋所示的串聯(lián)電容電橋(維恩電維恩電 橋橋)。根據(jù)電橋的平衡條件:。根據(jù)電橋的平衡條件: ZXZ4Z2Z3 ,可導出,可導出 24 3 2 4 3 2 234 11 ) 1 () 1 ( CjR R R R R Cj R Cj RRR Cj R X X X X (7-7) 由實部相等可得由實部相等可得 2 4 3 R R R RX 由虛部相等可得由

6、虛部相等可得 2 3 4 C R R C X 22 1 RC Q tg(7-9) (7-10) (7-8) 圖圖7-47-4串聯(lián)電容電橋串聯(lián)電容電橋 4 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (2)電橋法測電感電橋法測電感 測量電感時,橋體連接成如圖測量電感時,橋體連接成如圖7-5所示所示(麥克斯威電橋麥克斯威電橋)。被測。被測 電感接在電感接在1、2兩端,兩端,LX是它的電感量是它的電感量RX是它的等效串聯(lián)損是它的等效串聯(lián)損 耗電阻。當電橋平衡時由平衡條件可以導出:耗電阻。當電橋平衡時由平衡條件可以導出: 圖圖7-5 7-5 麥克斯威電橋麥克斯威電橋 L LX X=R=R2 2R R3 3C

7、C4 4 R RX X=R=R2 2R R3 3/R/R4 4 Q=CQ=C4 4R R4 4 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 這里只例舉了兩種電橋。實際上,不同廠家、不同型號的產(chǎn)這里只例舉了兩種電橋。實際上,不同廠家、不同型號的產(chǎn) 品,綜合了多種不同特點的電橋以獲得更好的性能。表品,綜合了多種不同特點的電橋以獲得更好的性能。表7-1給給 出了常用的各種電橋的基本線路、特點和平衡條件。出了常用的各種電橋的基本線路、特點和平衡條件。 電橋設計要點:電橋設計要點: 為結構簡單,設計兩臂為電阻。為結構簡單,設計兩臂為電阻。 相鄰兩臂為電阻,另兩臂則為同性阻抗相鄰兩臂為電阻,另兩臂則為同性阻抗 相

8、對兩臂為電阻,另兩臂則為異性阻抗相對兩臂為電阻,另兩臂則為異性阻抗 為易平衡:為易平衡: 多采用標準電容作標準電抗(它比標準電感精度高)多采用標準電容作標準電抗(它比標準電感精度高) 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (3)(3)電橋法測電阻電橋法測電阻 QSl8AQSl8A型萬能電橋的電阻測量電路采用惠斯通電橋,如圖型萬能電橋的電阻測量電路采用惠斯通電橋,如圖7-17-1所示,所示, 原理同直流電橋。直流電橋用于精確地測量電阻的阻值。當電橋原理同直流電橋。直流電橋用于精確地測量電阻的阻值。當電橋 平衡時,有:平衡時,有: 通常,通常,R3R3,R 2R 2與的比值做成一比率臂,與的比值做成

9、一比率臂,K K稱為比率臂的倍率,稱為比率臂的倍率,R 1R 1 為標準電阻,稱為標稱臂。只要適當?shù)剡x擇倍率為標準電阻,稱為標稱臂。只要適當?shù)剡x擇倍率K K和和R 1R 1的阻值,的阻值, 就可以精確地測得就可以精確地測得RxRx的阻值。的阻值。 11 2 3 KRR R R Rx 2 3 R R K 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 這里只例舉了三種電橋。實際上,不同廠家、不同型號的產(chǎn)品,這里只例舉了三種電橋。實際上,不同廠家、不同型號的產(chǎn)品, 綜合了多種不同特點的電橋以獲得更好的性能。表綜合了多種不同特點的電橋以獲得更好的性能。表7-17-1給出了常給出了常 用的各種電橋的基本線路、特點

10、和平衡條。用的各種電橋的基本線路、特點和平衡條。 電橋設計要點:電橋設計要點: 為結為結 構簡單,設計兩臂為電阻。構簡單,設計兩臂為電阻。 相鄰兩臂為電阻,另兩臂則為同性阻抗相鄰兩臂為電阻,另兩臂則為同性阻抗 相對兩臂為電阻,另兩臂則為異性阻抗相對兩臂為電阻,另兩臂則為異性阻抗 為易平衡:為易平衡: 多采用標準電容作標準電抗(它比標準電感精度高)多采用標準電容作標準電抗(它比標準電感精度高) 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (2)面板)面板說明說明 圖7-6 QS18A型萬用電橋面板圖 (1) 測量接線柱 (2) 外接插孔 (3) 撥動開關 (4) 量程開關 (5)損耗微調(diào) (6)損耗倍率

11、選擇開關 (7) 指示電表 (8) 靈敏度調(diào)節(jié) (9)讀數(shù)調(diào)節(jié)旋鈕 (10)損耗平衡調(diào)節(jié)旋鈕 2. QS18A萬能電橋的使用萬能電橋的使用 (1)(1)測量范圍測量范圍 電容測量 電感測量 電阻測量 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 3.使用方法使用方法 例例7.1 用QS18A萬用電橋測量線圈的電感量Lx及Qx值。 當電橋平衡時,左邊測量讀數(shù)盤(粗調(diào))示值為0.6,右邊 測量讀數(shù)盤(細調(diào))示值為0.028,量程開關在100 mH擋 上,損耗倍率開關在Q1擋上,損耗平衡盤讀數(shù)為3.5, 求被測電感Lx和品質(zhì)因數(shù)Qx。 解:解:由上面介紹的QS18A萬用電橋的使用方法可知: Lx = (0.6

12、+0.028)100 mH = 62.8 mH Qx = 13.5 = 3.5 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 【例7.2】有一標稱值為510pF的電容,用QS18A型萬用電橋測 量。試問 量程選擇和損耗倍率開關應放在何位置? 若兩讀數(shù)盤示值分別為0.5和0.043,損耗平衡示值為1.2, 其電容量和損耗值各為多少? 解: 量程選擇開關應放在1000pF處,損耗倍率開關 應放在D0.01處。 C=1000(0.5+0.043)=543pF ; D=0.011.2=0.012 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.2 高頻高頻Q表表 工作在高頻電路中的元件參數(shù)通常采用諧振法進行測量,工作在

13、高頻電路中的元件參數(shù)通常采用諧振法進行測量, 諧振法把被測元件接入諧振法把被測元件接入LCLC回路,調(diào)節(jié)回路參數(shù)使其產(chǎn)生諧振回路,調(diào)節(jié)回路參數(shù)使其產(chǎn)生諧振 特性,然后根據(jù)相應的關系來確定被測量的數(shù)值。在測量精特性,然后根據(jù)相應的關系來確定被測量的數(shù)值。在測量精 度要求不高時,則常常使用諧振法。雖然它沒有電橋法測量度要求不高時,則常常使用諧振法。雖然它沒有電橋法測量 準確,但它的測量條件要求低,測量電路簡單,受分布參數(shù)準確,但它的測量條件要求低,測量電路簡單,受分布參數(shù) 影響小,因此得到廣泛應用。影響小,因此得到廣泛應用。 高頻高頻Q Q表是一種利用諧振法,在高頻條件下,測量電容量及表是一種利用

14、諧振法,在高頻條件下,測量電容量及 損耗因數(shù)(損耗因數(shù)(D D值)、電感量及品質(zhì)因數(shù)(值)、電感量及品質(zhì)因數(shù)(Q Q值)、電感線圈的分值)、電感線圈的分 布電容、高頻回路的等效電阻及傳輸線的阻抗特性等參數(shù)的多布電容、高頻回路的等效電阻及傳輸線的阻抗特性等參數(shù)的多 用途儀器。其使用簡便,工作頻帶寬,易于校準,更適合于高用途儀器。其使用簡便,工作頻帶寬,易于校準,更適合于高Q Q 元件的測量。元件的測量。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.2.1 諧振法測量原理諧振法測量原理 當回路達到諧振時,有當回路達到諧振時,有 圖圖7-77-7諧振法原理圖諧振法原理圖 LC 1 0 且回路總阻抗為零,

15、即且回路總阻抗為零,即 L C C L C LX 2 0 2 0 0 0 1 1 0 1 將回路調(diào)至諧振狀態(tài),將回路調(diào)至諧振狀態(tài), 根據(jù)已知的回路關系根據(jù)已知的回路關系 式和已知元件的數(shù)值,式和已知元件的數(shù)值, 求出未知元件的參量。求出未知元件的參量。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 1諧振法測電感諧振法測電感 圖圖7-77-7串聯(lián)替代法測電感串聯(lián)替代法測電感圖圖7-87-8并聯(lián)替代法測電感并聯(lián)替代法測電感 )(4 1 12 22 CCf LX 1 22 4 1 Cf L 2 22 4 11 Cf LL X 不接不接L LX X調(diào)諧調(diào)諧 接接L LX X調(diào)諧調(diào)諧 第7章電子元器件參數(shù)測量技

16、術剖 析 直接法直接法 測電容測電容 圖7-10 直接法測量電容 Lf C X 2 )2( 1 2.諧振法測量電容諧振法測量電容 按圖按圖7-10把被測電容把被測電容Cx接好,調(diào)節(jié)振蕩源頻率接好,調(diào)節(jié)振蕩源頻率f使電壓表指使電壓表指 示最大,則被測電容為示最大,則被測電容為 直接法測量電容的誤差包含:分布電容直接法測量電容的誤差包含:分布電容(線圈和接線分布電容線圈和接線分布電容) 引起的誤差;當頻率過高時引線電感引起的誤差;當回路引起的誤差;當頻率過高時引線電感引起的誤差;當回路Q 值較低時,諧振曲線很平坦,不容易準確找出諧振點值較低時,諧振曲線很平坦,不容易準確找出諧振點(電壓表電壓表 指

17、示值最大指示值最大),也會產(chǎn)生誤差。,也會產(chǎn)生誤差。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 替代法測電容替代法測電容 圖圖7-117-11并聯(lián)替代法測小電容并聯(lián)替代法測小電容 在不接在不接CX的情況下,將可變電容的情況下,將可變電容C調(diào)到某一容量較大的位調(diào)到某一容量較大的位 置,設其容量為置,設其容量為C1,調(diào)節(jié)信號源頻率,使回路諧振。,調(diào)節(jié)信號源頻率,使回路諧振。 然后接入被測電容然后接入被測電容CX,信號源頻率保持不變,此時回路失,信號源頻率保持不變,此時回路失 諧,重新調(diào)節(jié)諧,重新調(diào)節(jié)C使回路再次諧振,這時使回路再次諧振,這時C為為C2,那么被測電,那么被測電 容容CX=C1-C2。 第7

18、章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 替代法測電容替代法測電容 當被測電容容量大于標準電容器的最大容量時,必須用串當被測電容容量大于標準電容器的最大容量時,必須用串 聯(lián)接法,如圖聯(lián)接法,如圖7-12所示。先將圖中所示。先將圖中1、2兩端短路,調(diào)到容兩端短路,調(diào)到容 量較小位置,調(diào)節(jié)信號源頻率使回路諧振,這時電容量為量較小位置,調(diào)節(jié)信號源頻率使回路諧振,這時電容量為 C1。然后拆除短路線,將。然后拆除短路線,將CX接入回路,保持信號源頻率接入回路,保持信號源頻率 不變,調(diào)節(jié)不變,調(diào)節(jié)C使回路再次諧振,此時可變電容使回路再次諧振,此時可變電容C為為C2,顯,顯 然然C1等于等于C2與與CX的串聯(lián)值,即。

19、的串聯(lián)值,即。 由此得由此得 圖圖7-12 串聯(lián)替代法測大電容串聯(lián)替代法測大電容 )/( 221xx CCCCC 12 12 CC CC CX 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 3.Q表的工作原理表的工作原理 Q表是由一個頻率可變的高頻振蕩器,一只標準的可變電容表是由一個頻率可變的高頻振蕩器,一只標準的可變電容 器和一個高阻抗的電子電壓表組成。當諧振電路諧振時,電器和一個高阻抗的電子電壓表組成。當諧振電路諧振時,電 容容(或電感或電感)上的電壓:上的電壓: s s Cc uQ CfR u XIu 0 2 1 Q=XQ=XC C/R/R =1/R2f=1/R2f0 0C C Q Q =u=us

20、 s/u/uc c U US S 圖圖7-137-13Q Q表工作原理圖表工作原理圖 I I U Uc c 除了從電壓表讀出除了從電壓表讀出Q值外,還可以由振蕩器和電容器的刻度盤值外,還可以由振蕩器和電容器的刻度盤 上讀出上讀出f和和Cs的數(shù)值,從而根據(jù)的數(shù)值,從而根據(jù) sxC L f 2 1 的關系計算出線圈的電感的關系計算出線圈的電感L Lx x。為了方便起見,在標準電容器的。為了方便起見,在標準電容器的 度盤上加一條電感刻度,那么在測量一些特定頻率時,可以不度盤上加一條電感刻度,那么在測量一些特定頻率時,可以不 經(jīng)計算而直接由刻度盤上讀出經(jīng)計算而直接由刻度盤上讀出L Lx x值。值。 第

21、7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.2.2 QBG-3型高頻型高頻Q表表 QBG-3型Q表是一種多功能、多用途、多量程的阻抗測試儀器。 它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理,以電壓比值刻度Q值的。 它能測量高頻電感和諧振回路的它能測量高頻電感和諧振回路的Q Q值,電感器的電感量及其分值,電感器的電感量及其分 布電容量,電容器的電容量和損耗角。配以專用夾具對電工布電容量,電容器的電容量和損耗角。配以專用夾具對電工 材料的高頻介質(zhì)耗損,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸材料的高頻介質(zhì)耗損,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸 線的特性阻抗等等。線的特性阻抗等等。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (1) 波段選擇開

22、關 (2) 頻率刻度盤 (3) 定位指示表 (4)定位零位校直旋鈕 (5)定位細調(diào)、粗調(diào)旋鈕 (6) Q值指示表頭 (7) Q值零位校直旋鈕 (8) Q值范圍選擇開關 (9)主調(diào)電容度盤 (10)微調(diào)電容度盤 (11)電源開關 (12)電源指示燈 (13)測量用接線柱 圖7-14 QBG-3型型 Q表面板圖表面板圖 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.3 晶體管特性圖示儀晶體管特性圖示儀 晶體管特性圖示儀簡稱圖示儀,具有顯示直觀、使用方便、晶體管特性圖示儀簡稱圖示儀,具有顯示直觀、使用方便、 讀測簡單等優(yōu)點,用途比較廣泛。它可以測量讀測簡單等優(yōu)點,用途比較廣泛。它可以測量PNPPNP和和N

23、PNNPN型三型三 極管的輸入特性、輸出特性、電流放大特性;極管的輸入特性、輸出特性、電流放大特性; 各類晶體二極各類晶體二極 管的正反向特性;場效應管漏極特性、轉(zhuǎn)移特性,以及反向管的正反向特性;場效應管漏極特性、轉(zhuǎn)移特性,以及反向 飽和電流、擊穿電壓、飽和電流、擊穿電壓、值、夾斷電壓和跨導等參數(shù)。尤其值、夾斷電壓和跨導等參數(shù)。尤其 在晶體管各種極限參數(shù)和擊穿特性的觀測時,采用瞬時電壓在晶體管各種極限參數(shù)和擊穿特性的觀測時,采用瞬時電壓 和瞬時電流能使被測晶體管只承受瞬時過載而不會造成損壞,和瞬時電流能使被測晶體管只承受瞬時過載而不會造成損壞, 因此對晶體管的測試和晶體管的合理應用都帶來極大的

24、方便,因此對晶體管的測試和晶體管的合理應用都帶來極大的方便, 但是一般不能用于測量晶體管的高頻參數(shù)。但是一般不能用于測量晶體管的高頻參數(shù)。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.3.1 晶體管特性圖示儀的測量原理與基本組成晶體管特性圖示儀的測量原理與基本組成 (1)基極階梯波發(fā)生器:()基極階梯波發(fā)生器:(2)集電極掃描電壓發(fā)生器:)集電極掃描電壓發(fā)生器: (3)測試轉(zhuǎn)換開關:)測試轉(zhuǎn)換開關: (4)垂直放大器、水平放大器(或稱)垂直放大器、水平放大器(或稱 X軸和軸和Y軸放大器)軸放大器) (5)按作用在)按作用在X軸和軸和Y軸上的物理量不同,示波管顯示不同的特軸上的物理量不同,示波管顯示

25、不同的特 性曲線性曲線 1. 晶體管特性圖示儀的基本組成晶體管特性圖示儀的基本組成 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 2. 晶體管特性圖示儀的測量原理晶體管特性圖示儀的測量原理 晶體管特性曲線是指晶體管極電壓與電流或電流與電流之間晶體管特性曲線是指晶體管極電壓與電流或電流與電流之間 的關系曲線,對于晶體三極管,輸出特性曲線是指在的關系曲線,對于晶體三極管,輸出特性曲線是指在IBIB固定固定 的條件下,集電極電流的條件下,集電極電流ICIC隨集電極和發(fā)射極電壓隨集電極和發(fā)射極電壓UCEUCE變化而變變化而變 化的關系曲線。對應于不同的化的關系曲線。對應于不同的IBIB都有一條與之對應的輸出特都

26、有一條與之對應的輸出特 性曲線,從而形成一簇特性曲線。性曲線,從而形成一簇特性曲線。 圖圖7-167-16是是NPNNPN型三極管輸出特性曲線逐點測量法示意圖。首先調(diào)型三極管輸出特性曲線逐點測量法示意圖。首先調(diào) 節(jié)節(jié)EBEB固定基極電流固定基極電流IBIB,改變,改變ECEC值,可測得一組值,可測得一組UCEUCE和和ICIC值;再改值;再改 變基極電流變基極電流IBIB,重復上述過程,可測得多組數(shù)值。適當選取坐,重復上述過程,可測得多組數(shù)值。適當選取坐 標,即可得到三極管輸出特性曲線,如圖標,即可得到三極管輸出特性曲線,如圖7-15(b)7-15(b)所示。所示。 第7章電子元器件參數(shù)測量技

27、術剖 析 圖圖7-16 NPN型三極管輸出特性曲線逐點測量法示意圖型三極管輸出特性曲線逐點測量法示意圖 逐點測量法是晶體管特性圖示儀測量原理的基礎,而晶體管特性圖示儀的測量逐點測量法是晶體管特性圖示儀測量原理的基礎,而晶體管特性圖示儀的測量 為動態(tài)測量,因此為了實現(xiàn)以上過程,晶體管特性圖示儀應具備以下功能:為動態(tài)測量,因此為了實現(xiàn)以上過程,晶體管特性圖示儀應具備以下功能: (1) 能夠提供測試過程所需的不同的基極電流能夠提供測試過程所需的不同的基極電流IB ; (2) 每一個固定每一個固定IB期間,集電極與發(fā)射極之間的電壓期間,集電極與發(fā)射極之間的電壓UCE應作從小到大的相應改應作從小到大的相

28、應改 變;變; (3) 能夠及時取出各組能夠及時取出各組UCEIC曲線送至示波管曲線送至示波管XY電路,從而顯示出輸出特電路,從而顯示出輸出特 性曲線。在晶體管特性圖示儀中,所需的基極電流由基極階梯信號發(fā)生器提供,性曲線。在晶體管特性圖示儀中,所需的基極電流由基極階梯信號發(fā)生器提供, 如圖如圖7-17所示,改變階梯波每個周期的級數(shù),可得到不同的曲線數(shù)。所示,改變階梯波每個周期的級數(shù),可得到不同的曲線數(shù)。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.2 高頻高頻Q表表 基極階梯信號和集電極掃描基極階梯信號和集電極掃描 電壓信號是為被測晶體管提電壓信號是為被測晶體管提 供合適的偏置電壓,使其工供合適的

29、偏置電壓,使其工 作在放大狀態(tài),改變這兩部作在放大狀態(tài),改變這兩部 分信號的極性開關,就可以分信號的極性開關,就可以 對晶體管(對晶體管(NPNNPN型或型或PNPPNP型)型) 提供極性不同的偏置電壓;提供極性不同的偏置電壓; 改變這兩部分信號的大小,改變這兩部分信號的大小, 可使被測晶體管工作在特定可使被測晶體管工作在特定 的工作狀態(tài)。通過改變的工作狀態(tài)。通過改變X X軸和軸和 Y Y軸上的物理量,在示波管上軸上的物理量,在示波管上 可測的管的不同參數(shù)。可測的管的不同參數(shù)。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 7.3.2 YB4811型晶體管圖示儀型晶體管圖示儀 Y軸部分軸部分 (6)示波

30、管波形顯示示波管波形顯示 (7)電流電流/度開關度開關 (8)Y軸移位軸移位 電源及示波管顯示部分電源及示波管顯示部分 (1 1)電源開關:)電源開關: (2 2)輝度:)輝度: (3 3)光跡旋轉(zhuǎn))光跡旋轉(zhuǎn) (4 4)聚焦)聚焦 (5 5)輔助聚焦)輔助聚焦 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 X X軸部分軸部分 (9)X(9)X軸移位軸移位 (10)(10)電壓電壓/ /度開關度開關 (11)(11)雙簇移位雙簇移位 (12) (13)(12) (13)級級/ /簇階梯信號簇階梯信號 (14)(14)調(diào)零調(diào)零 (1515)串聯(lián)電阻)串聯(lián)電阻 (1616)電流)電流電壓電壓/ /極極 (17

31、17)重復)重復/ /關關( (選擇開關選擇開關) ) (1818)單簇按鈕)單簇按鈕 (1919)極性)極性 集電極電源部分集電極電源部分 (20)(20)保險絲保險絲1.5A (21)1.5A (21)容性平衡容性平衡 (22)(22)輔助容性平衡輔助容性平衡 (23)(23)功耗限制電阻功耗限制電阻(24)(24)峰值電壓峰值電壓VceVce旋鈕旋鈕 (25)Vce(25)Vce極性極性 (26)(26)峰值電壓范圍峰值電壓范圍 (27)3KV(27)3KV高壓測試按鈕高壓測試按鈕 測試控制器部分測試控制器部分 (29)B測試插孔測試插孔 (30)A測試插孔:同上測試插孔:同上 (31)

32、測試選擇開關:測試選擇開關: A、B選擇開關:當選擇開關:當A按入時,按入時,A測試插孔被接通,當測試插孔被接通,當B按入時,按入時, B測試插孔被接通。當測試插孔被接通。當A和和B全部彈出時,此時工作在雙簇顯示全部彈出時,此時工作在雙簇顯示 狀態(tài),狀態(tài),A測試孔和測試孔和B測試插孔交替接通,同時顯示測試插孔交替接通,同時顯示A管和管和B管的管的 特性曲線,這一功能便于晶體管的配對與比較特性曲線,這一功能便于晶體管的配對與比較 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 2. 使用晶體管特性圖示儀的注意事項使用晶體管特性圖示儀的注意事項 (1 1)使用時要正確選擇階梯信號)使用時要正確選擇階梯信號 在

33、測量三極管的輸出特性時,階梯電流就不能太小,否則,在測量三極管的輸出特性時,階梯電流就不能太小,否則, 不能顯示出三極管的輸出特性。階梯電流更不能過大,這樣不能顯示出三極管的輸出特性。階梯電流更不能過大,這樣 容易損壞管子。應根據(jù)實際測量三極管的參數(shù)來確定其大小。容易損壞管子。應根據(jù)實際測量三極管的參數(shù)來確定其大小。 (2 2)“集電極功耗電阻集電極功耗電阻”的選用的選用 當測量晶體管的正向特性時,選用低阻檔;當測量晶體管的正向特性時,選用低阻檔; 當測量反向特性時,選用高阻檔。當測量反向特性時,選用高阻檔。 集電極功耗電阻過小時,集電極電流就過大;若集電極功集電極功耗電阻過小時,集電極電流就

34、過大;若集電極功 耗電阻過大,就達不到應該有的功耗。耗電阻過大,就達不到應該有的功耗。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (3 3)“峰值電壓范圍峰值電壓范圍”的選用的選用 當電壓由低的電壓范圍轉(zhuǎn)換到高的電壓范圍時,一定注意先當電壓由低的電壓范圍轉(zhuǎn)換到高的電壓范圍時,一定注意先 將將“峰值電壓峰值電壓% %”旋鈕調(diào)至旋鈕調(diào)至0 0,以防損壞晶體管。,以防損壞晶體管。 (4 4)測試大功率晶體管和極限參數(shù)、過載參數(shù)時應采用單)測試大功率晶體管和極限參數(shù)、過載參數(shù)時應采用單 簇階梯信號,以防過載而損壞晶體管。簇階梯信號,以防過載而損壞晶體管。 (5 5)在測試)在測試MOSMOS型場效應管時,一

35、定注意不要懸空柵極,以型場效應管時,一定注意不要懸空柵極,以 免因柵極感應電壓而擊穿場效應管。免因柵極感應電壓而擊穿場效應管。 (6 6)測試完特別注意的問題)測試完特別注意的問題 應將應將“峰值電壓范圍峰值電壓范圍”置于(置于(0 010V10V)檔,)檔,“峰值電壓調(diào)節(jié)峰值電壓調(diào)節(jié)” 調(diào)至調(diào)至0 0位,位,“階梯信號選擇階梯信號選擇”開關置于開關置于“關關”位置,位置,“功耗電功耗電 阻阻”置于最大位置。置于最大位置。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 3. 3. 晶體管特性參數(shù)測試晶體管特性參數(shù)測試 (1 1)NPNNPN型型90119011、90139013三極管的輸出特性曲線測試三

36、極管的輸出特性曲線測試 儀器開關設置儀器開關設置 VcVc峰值電壓范圍峰值電壓范圍0 05V5V 極性極性 正(正(+ +) 功耗電阻功耗電阻 250250 X X軸軸 集電極電壓集電極電壓1V/1V/度度 Y Y軸軸 集電極電流集電極電流 1mA/1mA/度度 階梯信號階梯信號 重復重復 極性極性 正()正() 階梯電流階梯電流 10A/10A/級級 串聯(lián)串聯(lián)1010 測試前測試前, ,峰值電壓旋鈕逆時針置峰值電壓旋鈕逆時針置 “最小最小”。 = =(Y Y軸輸出的兩曲軸輸出的兩曲 線間隔高度值線間隔高度值divdiv* *集電極集電極 電流電流A/divA/div)/ /階梯電流階梯電流A

37、 A 9.2/0.1=929.2/0.1=92 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (2 2)PNPPNP型三極管的輸出特性曲線型三極管的輸出特性曲線 儀器開關設置:儀器開關設置: VceVce峰值電壓范圍峰值電壓范圍0 05V5V 極性極性 正(正(- -) 功耗電阻功耗電阻 250250 X X軸軸 集電極電壓集電極電壓1V/1V/度度 Y Y軸軸 集電極電流集電極電流 1mA/1mA/度度 階梯信號階梯信號 重復重復 極性極性 (- -) 階梯電流階梯電流 2A/2A/級級 測試前測試前,Vc,Vc峰值電壓旋鈕逆時針置峰值電壓旋鈕逆時針置“最小最小” 按測試三極管輸入插座的標識,插入按測

38、試三極管輸入插座的標識,插入PNPPNP型型90149014的管腳的管腳E E、B B、 C C,調(diào)節(jié)集電極掃描電壓旋鈕,觀察三極管的輸出特性曲線。,調(diào)節(jié)集電極掃描電壓旋鈕,觀察三極管的輸出特性曲線。 從圖中測出三極管的從圖中測出三極管的值值 = = (Y Y 軸輸出的兩曲線間隔高度值軸輸出的兩曲線間隔高度值* *集電極電流集電極電流A/divA/div)/ /階階 梯電流梯電流A A 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (3)N溝耗盡型管溝耗盡型管3DJ7G的特性曲線的特性曲線 峰值電壓范圍峰值電壓范圍020V 極性極性 正(正(+) 功耗電阻功耗電阻 1K X軸軸 集電極電壓集電極電壓1V/度度 Y軸軸 集電極電流集電極電流 0.5mA/度度 階梯信號階梯信號 重復重復 極性極性 負(負(-) 階梯電壓階梯電壓 0.2V/級級 將場效應管的柵極、源極和漏極分別插入將場效應管的柵極、源極和漏極分別插入NPN型管座的型管座的B、E、 C管腳管腳,調(diào)節(jié)集電極掃描電壓旋鈕,觀察特性曲線。調(diào)節(jié)集電極掃描電壓旋鈕,觀察特性曲線。 第7章電子元器件參數(shù)測量技術剖 析 (4 4) 硅整流二極管硅整流二極管1N40071N4007的正向特性曲線的正向特性曲線 峰值電壓范圍峰值電壓范圍05V 極性極性 正(正(+) 功耗電阻功耗電阻 25

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