電子科技公司SMDled檢驗標準

1、來料檢驗標準深圳市中祥創(chuàng)新電子科技有限公司標準名稱smdled檢驗標準文件編號適用范圍品管部smd 燈珠來料檢驗序號項目不良問題不良問題判定1測試1.1 死燈在規(guī)定測試條件下,晶片不發(fā)光不接受.1.2 發(fā)光錯誤發(fā)光顏色不同于規(guī)格或標準樣品要求不接受1.3 ir在規(guī)定測試條件下 ir2a不接受( 有特殊要求按特殊要求).1.4 vf在規(guī)定測試條件下,vf值超規(guī)格要求不接受（0.1）2性能測試2.1亮度在規(guī)定測試條件下,亮度值超10%不接受.2.2色座標在規(guī)定測試條件下,色座標值不符合規(guī)格0.01要求不接受.2.3主波長在規(guī)定測試條件下,主波長在1nm可接收。2.4電極反向極性不符合規(guī)格要求不接受

2、.3尺寸3.1外形尺寸與產(chǎn)品規(guī)格書標準不符合不接受3.2腳長尺寸腳長尺寸與產(chǎn)品規(guī)格書標準不符不接受.4外觀4.1清潔燈珠表面干凈,無臟物附在其上,ppa表面染色不接收.4.2異物燈杯內(nèi)異物不得大于0.2mm,線狀異物最長不得超過0.3mm, lens內(nèi)異物最大允許0.2mm.另所有異物不允許連接任意兩個電極或形成導(dǎo)通狀態(tài).4.3銀膠量從正面正視,單個晶片四周露有銀膠,即晶片要被銀膠四周包圍4.4引腳氧化/沾油墨/沾膠不接收4.5掉油墨油墨脫落不接收.4.6破損/缺角ppa破損,缺角不接收.4.7多晶/少晶片按產(chǎn)品規(guī)格書要求,不允許多,少晶片.4.8晶片的位置按產(chǎn)品規(guī)格書要求各晶片位置須與要求一

3、致.4.9膠體顏色膠體顏色不同于規(guī)格或標準樣品不接受.4.10燈面 刮傷/壓傷不帶lens產(chǎn)品:a.刮傷/壓傷的長度不允許超過0.3mm,寬度不允許超過0.2mm;(目視距離30cm)，b.有明顯深入的刮傷不接收;c.每顆燈只允許一處有（a點范圍內(nèi)）刮傷/壓傷4.11生銹燈腳有銹斑,擦拭后仍有銹跡則不接收.4.12披鋒ppa上的披鋒最長不允許超過0.2mm.4.13膠體 缺損膠體缺損不接受.smd 燈珠來料檢驗序號項目不良問題不良問題判定及圖示4外觀4.14 焊線不良1.漏焊金線不接收2.金球打偏不接收(即金球的4/5應(yīng)在電極內(nèi)).4.15 弧線不良 線弧扭曲不良（10x鏡下確認） ok樣本4

4、.16氣泡燈杯內(nèi)氣泡直徑小于0.1mm,沒有與金線,晶片相接觸 氣泡直徑小于0.1mm且沒有與金線,晶片接觸. 氣泡與晶片,金線接smd 燈珠來料檢驗序號項目不良問題不良問題判定4外觀帶lens 產(chǎn)品,lens部份：1.在lens1/2以下氣泡小于0.1mm未接觸晶片、金線，2.在lens1/2以上汽泡小于0.1mm且不在晶片正上面可，接收（僅限一處）4.17銀膠量多1.三晶支架不允許兩電極的銀膠相接或銀膠與相鄰電，極相接,兩者的間隔必須大于1/3兩電極的間距. (在10x鏡下確認)2.單晶支架的銀膠不允許與焊線區(qū)接觸,最大允許銀膠不超過2/3兩電極的間距4.18 少膠多膠1產(chǎn)品多膠/少膠:長

5、寬高尺寸不超出spec要求最大/最小的尺寸2.lens與ppa之間錯位最大為0.2mm.3.膠體少膠標準(外觀判定少膠以未露金線為準,但不允許膠體不平).4.膠體多膠標準: 不允許高出ppa,即最多與a平面(ppa)平齊. 側(cè)面沾膠不允許沾到燈珠腳上4.19 少油墨將整個燈平面分為4部分, 任何部分有1處少墨不得超過此部分面積的20%如有2處(任何部分)以上少墨則不得少于總面積，的10%.(如根據(jù)客要求不須涂油墨,則不適于此規(guī)格)4.20極性不良smd燈珠正負極有吳taping來料檢驗序號項目不良問題不良問題判定1外觀混料所tapping的燈珠混有與其型號不同的燈珠不接受方向貼錯所貼燈珠方向與

6、或不一致不接受載帶變形外觀發(fā)現(xiàn)有載帶變形則不接收卷軸變形外觀發(fā)現(xiàn)有卷軸變形則不接收貼帶膠紙破影響包裝露元件,不接收蓋帶松蓋帶與載帶有縫隙或用手輕濘載帶后,蓋帶與貼帶有縫隙,不接收.蓋帶緊拉力過后,載帶上殘留有蓋帶,不接受.2包裝及其它數(shù)量不符實際數(shù)量比標準數(shù)量少0pcs以上不接受標識與實物不一致標簽所標示的燈珠型號與實物不一致不接受方向方向不一致不接收3拉力拉力不合格測試蓋帶與載帶的粘接力:8mm寬的蓋帶超出10g-100g范圍不接受12mm-56mm寬的蓋帶超出10g-130g范圍不接受dipled檢驗標準使用設(shè)備發(fā)光二極管測試儀使用工具游標卡尺、放大鏡、烙鐵、發(fā)光二極管測試儀項目檢驗項目判

7、定標準檢驗方法外觀型號與bom一致查對bom要求尺寸外形尺寸符合產(chǎn)品說明書或圖紙要求。卡尺引腳支架引腳有卡位，尺寸一致卡尺引腳無直觀彎曲，前后批次長短一致目測管腳根部無爬膠或殘膠，管腳可焊性合格，管腳光亮，無生銹，焊后無發(fā)黑現(xiàn)象目測膠體內(nèi)支架外露或偏心小于0.2mm卡尺色差同一單號整批膠體顏色一致,不能直觀的看出來.目測膠體表面有無污垢,無殘膠存在.膠體表面光滑,不能有油性物質(zhì)存在，沒有少膠滲膠凹凸不平等缺陷目測膠體含雜物燈珠/杯內(nèi)含雜質(zhì)不大于0.1mm，所有雜質(zhì)不允許連接任意兩個電極或形成導(dǎo)通狀態(tài)。目測氣泡碗內(nèi)芯片正上方不能有氣泡，芯片以上區(qū)域不能有影響出光的氣泡，其他部位氣泡直徑小于0.3mm，數(shù)量不超過2個目測芯片芯片位置處于膠體橫面中央位置，不得偏移，豎面上下位置一致，與前后批次要求一致目測膠體表面劃傷芯片以上區(qū)域允許有小于0.2mm*1.0mm的劃傷一條，其他區(qū)域以不影響出光效果為限卡尺性能電壓vf（v）正向電壓不能超出0.2v發(fā)光二極管測試儀漏電流ir（ua）小于2ua以上發(fā)光二極管測試儀亮度全彩:1:1.15(藍燈按20ma分光) 單雙色:1:1.2發(fā)光二極管測試儀點亮后無色差，無亮度差，通過白紙覆蓋檢測透