HS600產(chǎn)品操作手冊

1、超聲波檢測儀HS600操作手冊儀器校準(zhǔn)由于儀器必須與探頭結(jié)合起來使用才能成為完整的探傷系統(tǒng)，而不同的探傷對象和環(huán)境又需要使用不同的探頭，因此對探傷系統(tǒng)的校準(zhǔn)是保證探傷結(jié)果真實(shí)有效的必要工作。探傷系統(tǒng)的校準(zhǔn)主要包括以下幾個重要參數(shù)：、 零偏（探頭延遲）：由于壓電晶片非常脆弱，不能直接與工件接觸摩擦，因此在晶片前面都有保護(hù)晶片的保護(hù)膜或者楔塊，而零偏就是指超聲束在保護(hù)膜或楔塊中的傳播時間。、 聲速：數(shù)字式探傷儀都通過儀器測量出超聲波從發(fā)射開始到反射回來的時間，然后再乘以工件內(nèi)部的聲速，來對回波定位，因此，精確的測量工件內(nèi)部超聲波傳播速度，是對缺陷定位的重要參數(shù)。、 入射點(diǎn)（前沿）：對于斜探頭而言，

2、由于聲束是傾斜入射，因此還需測量出主聲軸入射到工作表面的交點(diǎn)到探頭前端的距離，也稱為前沿，測出前沿距離后，在斜探頭探傷過程中測量缺陷水平距離時，就可以直接從探頭前端開始定位。、 折射角（值）：對于斜探頭而言，由于聲束是傾斜入射，又由于楔塊與工件的聲束差異較大，因此入射角與傾斜角差距較大，而斜探頭對缺陷定位主要是通過聲程、水平、深度三個座標(biāo)的三角關(guān)系還計算得出，因此測定聲束折射角對斜探頭探傷定位是最重要的因素之一。在國內(nèi)由于早期都是以模擬儀器為主，因此習(xí)慣用折射角的正切值來表示，俗稱值也就是水平與深度的比值。、 曲線（、）：曲線是描述反射的距離、波幅及當(dāng)量之間關(guān)系的曲線，主要用于根據(jù)缺陷反射回波

3、的時間和波幅來確定缺陷的當(dāng)量大小，是探傷時對缺陷定量的有效手段。1 選擇HS600型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài)探傷儀的接收系統(tǒng)所處的狀態(tài)的不同組合適用于不同的檢測任務(wù)。對于特定的要求，選取某種狀態(tài)組合，將起優(yōu)化回波波形，改善信噪比，獲得較好的近場分辨力或最佳的靈敏度余量的作用。在儀器校準(zhǔn)前，可選擇最佳組合的接收系統(tǒng)，以提高儀器的校準(zhǔn)精度。工作方式選擇：本機(jī)設(shè)有自發(fā)自收和一發(fā)一收兩種工作方式，分別適用于單晶和雙晶探頭的使用，用戶可根據(jù)所使用的探頭來進(jìn)行設(shè)置相應(yīng)的工作方式。圖標(biāo)對應(yīng)單發(fā)單收，對應(yīng)一發(fā)一收。操作： 按鍵，進(jìn)入?yún)?shù)列表。按鍵，將光標(biāo)移動到工作方式欄，如圖 按鍵，切換選擇所需的工作方式。 按鍵

4、返回探傷界面。2 調(diào)校功能2.1 直探頭調(diào)校2.1.1 直探頭縱波入射零點(diǎn)自動校準(zhǔn)快捷調(diào)校模式（主要針對于CSK-A試塊）對于縱波直探頭接觸法測量在常規(guī)探傷儀中一般來講沒有強(qiáng)調(diào)零偏控制，只要將始脈沖對準(zhǔn)顯示格柵的左邊線，任何零偏均忽略不計，這在大多數(shù)情況下是可以接受的。但對于具有保護(hù)膜或保護(hù)靴的接觸式探頭，由于保護(hù)元件中的時間延遲，可能有很大的零偏值，而影響距離的精確測定。為了方便用戶，同時也充分發(fā)揮數(shù)字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，由儀器自動實(shí)現(xiàn)自動校準(zhǔn)操作。由于CSK-A試塊的使用相對較為普遍，我公司在HS600型的數(shù)字式超聲波探傷儀中專門添加了針對于使用CSK-A試塊進(jìn)行調(diào)校的快捷調(diào)

5、校模式，該調(diào)校模式使儀器調(diào)校過程更加簡單、快捷，下面先對此調(diào)校模式作詳細(xì)的介紹： 下面以KA試塊為例，介紹直探頭縱波入射零點(diǎn)的自動校準(zhǔn)。 準(zhǔn)備：首先將需使用的直探頭與儀器連接,平放KA試塊并將探頭放置在試塊KA上,探頭放置方式如圖。操作： 按通道鍵，再按鍵，選擇任意直探頭通道，按鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，光標(biāo)處于“試塊選擇.其它試塊”一欄，由于使用的測試試塊為CSKA試塊，所以按鍵將試塊選擇欄改為“試塊選擇 CSKA”。 按照所選探頭的相關(guān)參數(shù)依次輸入?yún)?shù)。例：按鍵將光標(biāo)移到探頭頻率欄按鍵進(jìn)入數(shù)字輸入狀態(tài)，使用鍵將數(shù)字輸入，再按。依照上述步驟，將其它數(shù)據(jù)依次輸入。參數(shù)輸入完畢后按退出參數(shù)列表 按熱鍵，進(jìn)

6、入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)”的字樣。兩閘門自動鎖定在KA試塊二次波（50mm）和四次波（100mm）位置，如圖所示。 將探頭放置在KA試塊上深度為25mm位置，觀測屏幕上回波顯示位置，如有波形超出滿刻度，則按鍵，此時波形會下降到滿刻度80（該幅度可自行設(shè)定），當(dāng)屏幕上兩底面反射回波均出現(xiàn)在屏幕以內(nèi)后，按鍵，儀器開始自動校準(zhǔn)，此時按住探頭不動，直至自動校準(zhǔn)完畢 校準(zhǔn)完之后，滾動出一個提示信息。 “自動校準(zhǔn)完畢！” ， 如圖所示。然后屏幕下方顯示“是否重校？”（按鍵重校，其它鍵退出！） 當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話，就會有相關(guān)的信息 提示，如： “ 閘門未鎖定波，

7、無法校準(zhǔn)！ ”2.1.2 直探頭入射點(diǎn)自動調(diào)校基本操作步驟（使用非CSK-A試塊調(diào)校時操作步驟） 操作：1. 按通道鍵，再按鍵，選擇任意直探頭通道，按鍵，進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)” 的字樣。并且依次滾動出下面的相關(guān)校準(zhǔn)參數(shù)： ·請輸入材料聲速： 5940 m/s ·請輸入起始距離： 50 mm 按鍵改為100mm， ·請輸入終止距離： 200 mm 提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段2. 將探頭放置在CSK-A試塊上厚度100mm的位置，如圖所示： 3. 此時屏幕上出現(xiàn)試塊的一次和二次回波，輕輕移動探頭找出最高回波，按鍵，此時儀器將自動

8、調(diào)節(jié)零偏直到一次波對齊100mm位置，且二次波對齊200mm位置后，儀器調(diào)準(zhǔn)結(jié)束，并自動彈出自動校準(zhǔn)完畢的提示。如下圖*注：校準(zhǔn)過后，探頭的入射零點(diǎn)和聲速將自動存入儀器中，若重新調(diào)校可再按一次，重復(fù)上述操作即可。已校準(zhǔn)過儀器重新調(diào)校的時候儀器會給出“已校準(zhǔn)過，是否重新調(diào)校？”按重新開始調(diào)校過程，按其它鍵退出不重新調(diào)校！2.1.3 雙晶直探頭的調(diào)校開機(jī)后按參數(shù)鍵進(jìn)入探傷參數(shù)列表，轉(zhuǎn)動旋鈕到工作方式欄，按確認(rèn)鍵將工作方式改為雙晶工作模式。按參數(shù)鍵退出。返回到波形顯示界面下，按調(diào)校鍵，再按聲速對應(yīng)的鍵，此時儀器上彈出提示：請輸入校準(zhǔn)距離 50mm轉(zhuǎn)動旋鈕，將該數(shù)值改為用來調(diào)校的試塊厚度，例如，用階梯

9、試塊的18mm大平底還調(diào)校的話，就將該數(shù)值改為18，然后按確認(rèn)。將探頭放在試塊上，然后按調(diào)校鍵，再按零偏對應(yīng)的鍵，再按左方向鍵調(diào)整零偏， 直到試塊上大平底的一次回波對齊屏幕上的第五格線，完成后，按閘門鍵進(jìn)入探傷狀態(tài)。（注由于雙晶探楔塊較普通直探頭要厚，傳播時間長，因此有可能一次回波不在屏幕內(nèi)，但是通過調(diào)零偏都可移到屏幕內(nèi)顯示）2.1.4直探頭AVG曲線制作本儀器中給用戶提供AVG曲線鑄鍛件探傷功能，用戶可根據(jù)探傷范圍制作出相應(yīng)長度的AVG曲線，作了曲線后，儀器能根據(jù)缺陷波和曲線之間的關(guān)系自動算出缺陷的當(dāng)量直徑即缺陷值。制作AVG曲線有多種方法，本機(jī)內(nèi)根據(jù)波形采樣對象的不同分為大平底采樣和平底孔

10、采樣，根據(jù)探測距離不同分為單點(diǎn)法和多點(diǎn)法大平底采樣：此方法可用于缺少標(biāo)準(zhǔn)試塊或只有現(xiàn)場實(shí)物采樣時使用，只需找出試塊或?qū)嵨锏拇笃降追瓷浠夭ㄗ鳛椴蓸狱c(diǎn)即可制作AVG曲線。平底孔采樣: 此方法適用于試塊齊全，有標(biāo)準(zhǔn)平底孔的用戶制作,以相同大小不同深度的平底孔來采樣制作。單點(diǎn)法：此方法可采樣一個標(biāo)準(zhǔn)平底孔回波，根據(jù)平底孔計算公式儀器繪制出整條曲線，但僅適用于探測范圍大于三倍近場的探傷工作。多點(diǎn)法：此方法是利用多個平底孔或大平底試塊反射回波采樣制作曲線，由于是實(shí)物采樣因此可適用于探測范圍在三倍近場區(qū)以內(nèi)的探傷工作。下面以大平底多點(diǎn)法和平底孔單點(diǎn)法為例，講述直探頭AVG曲線的制作流程。1）大平底多點(diǎn)法準(zhǔn)備

11、若干厚度不同的大平底試塊或?qū)嵨镌噳K。按鍵，進(jìn)入曲線功能，按制作對應(yīng)的，儀器下方出現(xiàn)提示：請選擇制作對象：大平底 請選擇曲線制作方法：多點(diǎn)法 儀器提示：請使用閘門鎖定測試點(diǎn)！提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖屏幕右上角顯示“測試點(diǎn)：01”并閃動，將探頭放在其中一個大平底試塊上，觀察其回波，按鍵移動閘門套住一次回波，按將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按鎖定回波峰值，按結(jié)束該點(diǎn)的采樣。此時屏幕右上角的提示變?yōu)椤皽y試點(diǎn)：02”并閃動，如圖按照上述方法，將探頭依次放在每個試塊上找出大平底的最強(qiáng)反射并用閘門套住一次回波，按將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按鎖定回波峰值，按結(jié)束該點(diǎn)的采樣。最后一點(diǎn)采樣完成后，

12、再按一次儀器出現(xiàn)提示：確定完成曲線嗎？按結(jié)束曲線制作，按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。確定結(jié)束后，將繪制出整條曲線。在制作曲線過程中若對上一個采樣點(diǎn)重新制作可按屏幕下方調(diào)整欄對應(yīng)的，刪除上一個記錄的采樣點(diǎn)重新采樣。曲線完成后將得到一個大平底曲線，在探傷過程中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以在儀器中設(shè)置一條值曲線，操作如下：按進(jìn)入探傷列表，按鍵將方塊光標(biāo)移動到曲線值欄，按進(jìn)入曲線設(shè)置，此處根據(jù)需要可設(shè)置三條值曲線。例如，探傷時以4為探傷標(biāo)準(zhǔn)，則按進(jìn)入曲線值輸入，按鍵將初始值改為4，再按如圖。 按返回探傷界面，可看到屏幕上出現(xiàn)一條相應(yīng)的4曲線，按鍵，再按鍵將曲線調(diào)整到合適的高度，即可進(jìn)行探傷，探傷過程中發(fā)了缺陷波，儀器

13、不僅能顯示出缺陷的深度還能根據(jù)波形與曲線的相對關(guān)系算出該缺陷的當(dāng)量值。2）.平底孔單點(diǎn)法 下面以CS-1-5試塊為例，講述平底孔單點(diǎn)法曲線制作，將探頭放置在CS-1-5標(biāo)準(zhǔn)試塊上找出2平底孔回波，按鍵，進(jìn)入功能選擇狀態(tài)，進(jìn)入曲線功能，按制作對應(yīng)的，儀器下方出現(xiàn)提示：請選擇制作對象：大平底 按改為平底孔 請輸入所測平底孔直徑：2 請選擇曲線制作方法：多點(diǎn)法 按改為單點(diǎn)法 請輸入探頭晶片直徑：20 按改為探頭實(shí)際尺寸 請輸入曲線長度：400 （*注由于是單點(diǎn)制作，所以曲線長度由用戶根據(jù)探傷需要自行輸入，但必須大于探頭的四倍近場區(qū)距離。若用戶輸入的長度小于四倍近場區(qū)距離，儀器會提示：曲線長度必須大于

14、四倍近場區(qū) XXX.X 后面的數(shù)字表示該探頭的四倍近場區(qū)的實(shí)際距離。）儀器提示：請使用閘門鎖定測試點(diǎn)！提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖移動探頭來回尋找2孔的最高回波，按將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按鎖定回波峰值，確定最高回波后按，儀器就自動繪制成一條長度為400的2當(dāng)量曲線，儀器自動計算近場區(qū)，三倍近場區(qū)以前區(qū)域拉為直線。如下圖所示：探傷時也可根據(jù)需要在參數(shù)列表的曲線設(shè)置中將這條線設(shè)為其它值的曲線，操作方法與上面相同。2.2 斜探頭橫波自動校準(zhǔn)對于橫波斜探頭接觸法檢測而言，在執(zhí)行任何檢測任務(wù)前做距離校準(zhǔn)是必不可少的程序。商用斜探頭的類型眾多，結(jié)構(gòu)尺寸各異，對不同的檢測對象要求的K值不同，

15、因而在楔塊中的聲程的大小也不一樣，即對每個橫波斜探頭都要測量它的入射點(diǎn)，確定零偏值。斜 探頭在使用過程中隨著楔塊的磨損，經(jīng)過一段使用后也要重新校準(zhǔn)。2.2.1斜探頭橫波快捷調(diào)校模式（主要針對于CSK-A試塊） 下面以CSK-A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，介紹斜探頭的快捷調(diào)校步驟。 將探頭與儀器連接好，如上圖所示將探頭放置在CSKA試塊上。 按通道鍵，再按鍵，選擇任意斜探頭通道。 進(jìn)行自動校準(zhǔn) 按熱鍵進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，屏幕右上角顯示“自動校準(zhǔn)”字樣且兩閘門自動套在CSKA試塊50mm和100mm圓弧的反射波。 將斜探頭放置在CSK-A試塊的R50和R100的圓心處，來回移動探頭，直到R50和R100的

16、反射回波同時出現(xiàn)在波形顯示區(qū)內(nèi)。此時首先尋找R100弧面最高反射回波，（如果波形不在屏幕內(nèi)時可按零偏對應(yīng)的鍵，按鍵將波形移動到屏幕內(nèi)，當(dāng)回波高度超出滿刻度時可按鍵，反復(fù)上述直至確定最高反射波，此時看R50弧面的回波是否在屏幕上高于10。若低于此高度，可將探頭平行地向50的弧面橫向移動，直至R50的弧面回波高度在滿刻度的10%以上。 再按鍵開始自動校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完之后，滾動出一個提示信息。 “自動校準(zhǔn)完畢！” 當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話，就會有相關(guān)的信息提示，如：“ 閘門未鎖定波，無法校準(zhǔn)！ ” 完畢后屏幕上顯示“請用鋼尺測前沿：0.0”，此時手應(yīng)固定探頭不動，用鋼尺測量探頭前端到CSK1A

17、試塊R100端邊的距離X，然后用100-X所得到的數(shù)值就是探頭的前沿值。如圖所示 “請用鋼尺測前沿：0.0”， 用將探頭前沿值改為實(shí)測數(shù)值后，按鍵前沿修改完畢，儀器下方提示“是否重校？”按鍵重校，按其它鍵自動跳到下一步驟，K值測試狀態(tài)。 2.2.2 K值測試快捷操作模式（主要針對于CSK-A試塊） 在試塊選擇欄選擇為CSK-A試塊時，在自動調(diào)校完畢后，儀器會自動進(jìn)入K值測試狀態(tài)，屏幕下方顯示“進(jìn)入K值測試”，且默認(rèn)CSK-A試塊上深度30mm的Ø50孔為K值測試孔，閘門自動鎖定Ø50孔波位置如圖所示： 將探頭對準(zhǔn)Ø50孔方向，前后移動探頭找出孔波最高回波，按鍵，屏

18、幕下方顯示“所測K值為：1.98”。按鍵K值測試完畢，儀器底部顯示“是否重校？”，按鍵可重新校準(zhǔn)K值，按其它鍵退出！ 2.2.3 斜探頭橫波自動調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-A試塊調(diào)校時操作步驟）下面以CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，說明斜探頭的校準(zhǔn)程序。 斜探頭橫波入射零點(diǎn)手調(diào)校準(zhǔn)跟直探頭一樣，用戶必須準(zhǔn)確的找到斜探頭的入射點(diǎn)（入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與探測面的交點(diǎn)）。下面就利用CSK-1A試塊的R50和R100的兩個回波進(jìn)行校準(zhǔn)。操作： 1）. 按鍵，按鍵選擇任意斜探頭通道。2）. 按自動調(diào)校鍵，此時屏幕下方出現(xiàn)如下提示：請輸入材料聲速：3240m/s 請輸入起始距離：50mm 若不是5

19、0mm，按改為50mm，再按）請輸入終止距離：100mm 提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段。3.） 將探頭放置在CSK-A試塊上，發(fā)射方向?qū)?zhǔn)R50和R100的弧面上，如圖：前后移動探頭找出R100弧面最高反射回波。觀察屏幕上R100弧面反射回波的位置，若偏離到屏幕以外側(cè)，則按左下方向鍵，調(diào)整零偏，將R100的回波移進(jìn)屏幕內(nèi)閘門中，如圖：按波峰記憶鍵記錄最高回波，當(dāng)找到R100最大反射波時，平移的將探頭向R50弧面移動探頭，讓R50弧面在屏幕上達(dá)到20以上的高度，然后按，此時儀器將自動調(diào)節(jié)零偏，直到R50和R100的反射駕波分別對齊50mm和100mm的位置后，儀器校準(zhǔn)結(jié)束，并自動彈出提示：自動

20、校準(zhǔn)完畢！請拿鋼尺測量前沿 0.0 mm此時固定探頭不動，拿尺量出探頭前到R100弧面端邊的距離，如圖：用100減去這段距離的得數(shù)為前沿值。按輸入前沿，儀器將自動將前沿值存入?yún)?shù)中。入射點(diǎn)校準(zhǔn)完畢！2.2.4 斜探頭橫波K值自動校準(zhǔn)基本方法 測K值功能適用于斜探頭、表面波探頭和小角度。例如：標(biāo)識為 2.5P13×13K2-D的探頭，從標(biāo)識上就可以看出它是一只斜探頭，K值為2，所用晶片尺寸為13×13mm的方片，頻率為2.5MHz。對于探頭的標(biāo)稱值，特別是K值都與實(shí)際值有一定的誤差。為了在檢測時精確定位缺陷的距離，所以在入射點(diǎn)校準(zhǔn)后必須測K值。本機(jī)型的K值測量，充分使用了數(shù)字

21、儀器的數(shù)據(jù)處理能力，采用孔徑直接輸入方式，儀器根據(jù)孔徑輸入值自動計算補(bǔ)償量，完全消除了由孔徑帶來的深度和聲程誤差，使測量的K 值準(zhǔn)確可靠。本儀器測量K值簡單方便，利用對已知孔徑和孔徑中心距離H（離探頭放置的一面）的孔進(jìn)行測量。調(diào)節(jié)K值，使得數(shù)據(jù)顯示區(qū)的垂直距離的值等于孔中心距離時，此時的K值就是此斜探頭的K值。下面就利用CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的50的孔（孔徑為50，孔心深度為30mm）對K值進(jìn)行測量。如圖所示，將探頭放置在試塊上。 操作：按K值對應(yīng)的鍵，儀器彈出提示：請選擇K值測試方式：手調(diào) 按鍵改為自動， 請輸入測試孔孔徑：50mm 請輸入測試孔深度：30mm 提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段。

22、將探頭放置在CSK-A試塊上發(fā)射方向?qū)?zhǔn)試塊上孔徑50mm，中心深度為30mm的圓孔，前后移動探頭找出該孔最強(qiáng)反射，按鍵移動閘門鎖定回波，若回波低于20%高度或超出屏幕，按將波形調(diào)整到80高度，再按鎖定回波峰，確認(rèn)找到最強(qiáng)反射后按，儀器將自動算出K值并存入?yún)?shù)。K值測試完畢！如圖所示。2.2.5 距離波幅曲線的應(yīng)用距離波幅曲線是一種描述反射點(diǎn)至波源的距離、回波高度及當(dāng)量大小間相互關(guān)系的曲線。大小相同的缺陷由于距離不同，回波高度也不相同。因此，距離波幅曲線對缺陷的定量非常有用。本儀器可自動制作距離波幅曲線（DAC曲線）。1)曲線的制作：本例以CSK-IIIA試塊為例介紹DAC曲線的制作流程。按照上步驟對探頭進(jìn)行入射點(diǎn)和K值校正后，按鍵，再按制作對應(yīng)的，儀器出現(xiàn)提示：未找到索引項(xiàng)。請使用閘門鎖定測試點(diǎn)！提示消失后進(jìn)入波形采樣