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1、固體物理中的晶體缺陷 學(xué)院:化學(xué)化工與生物工程學(xué)院 班級(jí): 生物1301 學(xué)號(hào): 131030114 姓名: 李丹丹 固體物理中的晶體缺陷1.國(guó)內(nèi)外進(jìn)展及研究意義 1.1 國(guó)內(nèi)外對(duì)晶體缺陷的研究現(xiàn)狀和發(fā)展動(dòng)態(tài) 19世紀(jì)中葉布拉非發(fā)展了空間點(diǎn)陣,概括了點(diǎn)陣周期性的特征,1912年勞厄的晶體X射線(xiàn)衍射實(shí)驗(yàn)成功后,證實(shí)了晶體中原子作規(guī)則排列,從理想晶體結(jié)構(gòu)出發(fā),人們發(fā)展了離子晶體的點(diǎn)陣?yán)碚摵徒饘俚碾娮永碚摚晒Φ挠?jì)算了離子晶體的結(jié)合能,對(duì)于金屬晶體的原子鍵能也有了初步了了解,并很好的解釋了金屬的電學(xué)性質(zhì)。隨后人們又認(rèn)識(shí)到了晶體中原子并非靜止排列,它在晶體中的平衡陣點(diǎn)位置作震動(dòng),甚至在絕對(duì)零度也不是凝
2、固不動(dòng)的,即還有所謂零點(diǎn)能的作用,從這個(gè)理論出發(fā)建立了點(diǎn)陣震動(dòng)理論,從而建立了固體的比熱理論。在20世紀(jì)20年代以后人們就發(fā)現(xiàn)晶體的許多性質(zhì)很難用理想晶體結(jié)構(gòu)來(lái)解釋?zhuān)岢鼍w中有許多原子可能偏離規(guī)則排列,即存在有缺陷,并企圖用此來(lái)解釋許多用理想晶體結(jié)構(gòu)無(wú)法解釋的晶體性質(zhì)。W.Schottky為了解釋離子晶體的電介電導(dǎo)率問(wèn)題,提出在晶體中可能由于熱起伏而產(chǎn)生填隙離子和空位,而且發(fā)現(xiàn)食鹽的電介導(dǎo)電率與這些缺陷的數(shù)目有關(guān)。隨后為了解決晶體屈服強(qiáng)度的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)值與理論估計(jì)之間的巨大差別,又引進(jìn)了位錯(cuò)這一晶體缺陷。今年來(lái)人們對(duì)晶體中各種缺陷有了更深刻的認(rèn)識(shí),建立了晶體缺陷理論。理想晶體在實(shí)際中并不存在。實(shí)
3、際晶體或多或少存在各種雜質(zhì)和缺陷。國(guó)內(nèi)外學(xué)者通過(guò)使用顯微鏡的對(duì)物質(zhì)性能與缺陷的關(guān)系研究得相當(dāng)多,也在一定意義上取得了可喜的進(jìn)展。1.2 晶體缺陷的研究意義 在晶體的生長(zhǎng)及形成過(guò)程中,由于溫度、壓力、介質(zhì)組分濃度等外界環(huán)境中各種復(fù)雜因素變化及質(zhì)點(diǎn)熱運(yùn)動(dòng)或受應(yīng)力作用等其他條件的不同程度的影響會(huì)使粒子的排列并不完整和規(guī)則,可能存在空位、間隙粒子、位錯(cuò)、鑲嵌結(jié)構(gòu)等而偏離完整周期性點(diǎn)陣結(jié)構(gòu),形成偏離理想晶體結(jié)構(gòu)的區(qū)域,我們稱(chēng)這樣的區(qū)域?yàn)榫w缺陷,它們可以在晶格內(nèi)遷移,以至消失,同時(shí)也可產(chǎn)生新的晶體缺陷。本文就晶體中所存在的各類(lèi)缺陷做了詳細(xì)說(shuō)明,并且重點(diǎn)介紹了各類(lèi)缺陷的成因及其特征。 偏離理想狀態(tài)的不完整
4、晶體,即有某些缺陷的晶體,在晶體中缺陷并不是靜止地、穩(wěn)定不變地存在著,而是隨著各種條件的改變而不斷變動(dòng)的。它們可以產(chǎn)生、發(fā)展、運(yùn)動(dòng)和交互作用而且能合并消失。晶體缺陷對(duì)晶體的許多性能有很大的影響。如電阻上升、磁矯頑力增大、擴(kuò)散速率加快、抗腐蝕性能下降特別對(duì)塑性、強(qiáng)度、擴(kuò)散等,在現(xiàn)實(shí)生活中具有重要的理論研究意義和實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。2.晶體缺陷的主要理論 2.1固溶體的概念凡在固態(tài)條件下,一種組分(溶劑)內(nèi)“溶解”了其它組分(溶質(zhì))而形成的單一均勻的晶態(tài)固體稱(chēng)為固體溶液,簡(jiǎn)稱(chēng)固溶體。原組分或含量較高的組分稱(chēng)為溶劑(主晶相,基質(zhì)),摻雜原子或雜質(zhì)稱(chēng)為溶質(zhì)?;旌铣叽鐬樵映叨认嗷セ旌系?,不破壞晶格。固溶體、
5、混合物和化合物的區(qū)別如下表:名稱(chēng)相組成混合尺度組成結(jié)構(gòu)固溶體單相均勻原子尺度有一定范圍主晶相結(jié)構(gòu)化合物不同于A和B原子尺度一定比例不同于A和B混合物A相和B相不均勻顆粒任意顆粒堆積2.1.2固溶體的分類(lèi)按溶質(zhì)原子在溶劑晶格中的位置劃分類(lèi) 置換型固溶體:進(jìn)入溶劑晶格中正常格點(diǎn)位置,生成取代(置換)型的固溶體,例如 MgO-CaO, PbZrO3-PbTiO3等; 填隙型固溶體:進(jìn)入溶劑晶格中的間隙位置則生成填隙型固溶體。 按溶質(zhì)原子在溶劑晶體中的溶解度分類(lèi) 連續(xù)固溶體:指溶質(zhì)和溶劑可以按任意比例相互固溶,例如MgO-NiO,Al2O3-Cr2O3, ThO2-WO2,PbZrO3-PbTiO3等
6、; 有限固溶體:表示溶質(zhì)只能以一定的限量溶入溶劑,超過(guò)這一限度即出現(xiàn)第二相, 例如MgO-Al2O3,MgO-CaO,ZrO2-CaO等。如在2000時(shí),有 3wt% CaO 溶入 MgO 中。2.1.3固溶體的研究方法固溶體的生成可以借助相分析和結(jié)構(gòu)分析的方法進(jìn)行研究,因?yàn)椴徽摵畏N類(lèi)型的固溶體將引起結(jié)構(gòu)及性質(zhì)的變化。最本質(zhì)的方法是用X-射線(xiàn)結(jié)構(gòu)分析測(cè)定晶胞常數(shù),并輔以有關(guān)物性測(cè)試,以此來(lái)測(cè)定固溶體及其組分,鑒別固溶體的類(lèi)型等。固溶體的類(lèi)型主要通過(guò)測(cè)定晶胞常數(shù)并計(jì)算出固溶體的密度與實(shí)驗(yàn)精確測(cè)定的密度數(shù)據(jù)對(duì)比來(lái)判斷。2.2晶體缺陷晶體結(jié)構(gòu)缺陷的種類(lèi)繁多,有的是晶格畸變,有的是品格中雜質(zhì)或摻質(zhì)原子
7、缺陷,有的涉及到品體組成的非化學(xué)計(jì)量比,有的對(duì)應(yīng)于電磁結(jié)構(gòu)中有序的躍遷等。人們按照晶體結(jié)構(gòu)缺陷在三維空間延伸的線(xiàn)度,晶體缺陷的幾何形態(tài)以及相對(duì)于晶體的尺寸,或其影響范圍的大小,把它們分為點(diǎn)、線(xiàn)、面、體等四類(lèi)結(jié)構(gòu)缺陷。 2.2.1點(diǎn)缺陷 晶體中的一些原子被外界原子所代替,或者留有原子空位等,這些變化破壞了晶體規(guī)則的點(diǎn)陣周期性排列,并引起質(zhì)點(diǎn)間勢(shì)場(chǎng)的畸變,這樣造成的晶體結(jié)構(gòu)不完整性?xún)H僅局限在某些位置,只影響臨近的幾個(gè)原子,在三維空間方向上的尺度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于晶體或晶粒的尺度,所以稱(chēng)為點(diǎn)缺陷,點(diǎn)缺陷參與晶體中的質(zhì)量輸運(yùn)與電荷輸運(yùn)過(guò)程, 它對(duì)晶體結(jié)構(gòu)敏感性能有時(shí)起到?jīng)Q定性的作用。點(diǎn)缺陷包括點(diǎn)陣原子空位、間隙
8、原子、雜質(zhì)或溶質(zhì)原子以及它們組成的復(fù)雜缺陷空位團(tuán)、空位和雜質(zhì)原子復(fù)合體、色心等。 點(diǎn)缺陷是指:缺陷尺寸處于原子大小的數(shù)量級(jí)上,即三維方向上缺陷的尺寸都很小,可分為:晶格位置缺陷,組成缺陷,電荷缺陷,色心。2.2.1.1晶格位置缺陷 晶格位置缺陷一般指空位和間隙原子所造成的點(diǎn)缺陷,主要是內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動(dòng)偏離其平衡位置所產(chǎn)生的缺陷,由于原子的熱運(yùn)動(dòng)與溫度有關(guān),所以這類(lèi)缺陷的形成主要受溫度影響,也稱(chēng)為熱缺陷,屬于本征缺陷。 熱缺陷有以下兩種類(lèi)型:肖特基(Schottky) 缺陷:能量較大的原子遷移到晶體表面正常結(jié)點(diǎn)位置,在內(nèi)部留下空位,這種缺陷叫肖特基缺陷。為保持電中性,正、負(fù)離子空位是成對(duì)產(chǎn)生的,伴隨
9、有晶體體積的增加;弗侖克爾(Frenker)缺陷:熱振動(dòng)中,能量較大的原子離開(kāi)平衡位置進(jìn)入晶格空隙形成間隙原子而在原來(lái)位置上留下空位,這種缺陷叫弗侖克爾缺陷。間隙原子和空位成對(duì)產(chǎn)生,晶體體積不變。對(duì)特定材料,缺陷濃度恒定。其對(duì)比如下表:點(diǎn)缺陷使得原子偏離正常的平衡位置,發(fā)生微量位移,破壞了原子排列的規(guī)律性,造成晶格畸變,使電子在傳導(dǎo)時(shí)散射增加,從而增加了電阻,空位的存在還使晶體密度下降,體積增大,高溫下大量空位存在與運(yùn)動(dòng)使晶體發(fā)生蠕變。高溫快速冷卻保留的或經(jīng)輻照處理后的大量空位還可能形成空位片,或者與其他晶體缺陷發(fā)生交互作用,提高材料的強(qiáng)度,但相對(duì)的韌性下降??瘴缓烷g隙原子的運(yùn)動(dòng)是晶體內(nèi)原子擴(kuò)
10、散的內(nèi)部原因,而擴(kuò)散又是燒結(jié)等加工工藝過(guò)程的基礎(chǔ)2.2.1.2 組成缺陷 組成缺陷主要是指雜質(zhì)原子進(jìn)入晶體所產(chǎn)生的一類(lèi)晶體缺陷,這類(lèi)缺陷不僅破壞了晶體的規(guī)則空間點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)排列,還會(huì)引起雜質(zhì)原子周?chē)闹芷趧?shì)場(chǎng)的變化。雜質(zhì)原子主要分為置換(替代)雜質(zhì)原子和間隙雜質(zhì)原子兩種,雜質(zhì)缺陷的濃度與溫度無(wú)關(guān),主要取決于溶解度和摻雜量,屬于非本征缺陷。 一般雜質(zhì)原子的含量都小于1%,但此含量界限不是必然的,不同晶體和摻入雜質(zhì)均有所區(qū)別。某些雜質(zhì)進(jìn)入主晶格,能在很大的組成范圍內(nèi)“互溶”而不出現(xiàn)新的結(jié)構(gòu),這樣的現(xiàn)象特別稱(chēng)為固溶體,固溶體是一種特殊的雜質(zhì)缺陷結(jié)構(gòu),同時(shí)也是類(lèi)質(zhì)同像所形成的的混晶結(jié)構(gòu)的反映,類(lèi)質(zhì)同像混合
11、晶體可以看成 具有極近似晶胞結(jié)構(gòu)和晶胞化學(xué)的一系列晶胞整齊元序的堆垛。如橄欖石(Mg,F(xiàn)e)2SiO4,可以看成Mg2SiO4和 Fe2SiO4 晶胞按一定比例整齊無(wú)序的堆垛。由于替代與被替代的質(zhì)點(diǎn)(原子、離子、絡(luò)陰離子或分子)具有極為近似的化學(xué)性質(zhì),質(zhì)點(diǎn)的替代可在一定范圍進(jìn)行,這種替代不會(huì)引起化學(xué)鍵性和晶體結(jié)構(gòu)形式發(fā)生質(zhì)的變化。自然界礦物中結(jié)晶時(shí),其晶體結(jié)構(gòu)中廣泛存在離子或離子團(tuán)之間的置換,即一種位置被兩種或兩種以上的不同元素(或基團(tuán))置換,從而形成一種混晶的礦物結(jié)構(gòu),稱(chēng)為替位式固溶體,這種替位式固溶體成為點(diǎn)缺陷中組成缺陷里的特殊情況,只是替代量往往大于1%。 2.2.1.3 電荷缺陷 電荷
12、缺陷也稱(chēng)為非化學(xué)計(jì)量結(jié)構(gòu)缺陷,存在于非化學(xué)計(jì)量化合物中,由于熱能和其他能量傳遞激發(fā)電子躍遷,產(chǎn)生空穴和電子形成附加電場(chǎng)引起周期勢(shì)場(chǎng)的畸變,造成晶體的不完整性。非化學(xué)計(jì)量結(jié)構(gòu)缺陷的形成需要在化合物中或摻入或有多價(jià)態(tài)元素組分,如過(guò)渡金屬氧化物。當(dāng)環(huán)境中的氣氛和分壓改變時(shí),引起化合物的組成偏離化學(xué)計(jì)量關(guān)系,形成電荷缺陷。如在還原氣氛中形成的TiO2-x,晶體機(jī)構(gòu)中缺少氧離子,只有部分鈦離子從四價(jià)變成三價(jià)才可保持電中性。當(dāng)高價(jià)或低價(jià)的雜質(zhì)原子代替晶體中空間點(diǎn)陣中固有的原子,不僅形成了組成缺陷,而且也造成電荷缺陷。例如,純硅中摻入磷和硼,從能量理論分析,磷比硅多了一個(gè)電子,因此磷在禁帶中產(chǎn)生施價(jià)帶主能,
13、易使導(dǎo)帶中產(chǎn)生電子缺陷。在半導(dǎo)體氧化物晶體中,非化學(xué)計(jì)量結(jié)構(gòu)缺陷使晶體的導(dǎo)帶中出現(xiàn)電子或價(jià)帶中出現(xiàn)空穴,生成n型半導(dǎo)體和p型半導(dǎo)體。 電荷缺陷的形成不同于點(diǎn)缺陷和組成缺陷的形成,他需要?dú)夥蘸蛪毫ζx熱力學(xué)平衡狀態(tài)。 2.2.1.4色心 色心,由透明晶體中點(diǎn)缺陷、點(diǎn)缺陷對(duì)或點(diǎn)缺陷群捕獲電子或空穴而構(gòu)成的一種缺陷,主要有捕獲電子負(fù)離子空位形成的F色心和正離子空位缺陷捕獲空位形成的V色心,通常產(chǎn)生于堿金屬鹵化物、堿土金屬氟化物和部分金屬氧化物中,如電氣石、天河石、方鈉石、石英等晶體顏色產(chǎn)生機(jī)理都可以用色心理論加以解釋。 2.2.1.5點(diǎn)缺陷的表示方法 凡從理論上定性定量地把材料中的點(diǎn)缺陷看成化學(xué)實(shí)物
14、,并用化學(xué)熱力學(xué)的原理來(lái)研究缺陷的產(chǎn)生、平衡及其濃度等問(wèn)題的一門(mén)學(xué)科稱(chēng)為缺陷化學(xué)。研究對(duì)象主要是晶體缺陷中的點(diǎn)缺陷,由于點(diǎn)缺陷之間會(huì)發(fā)生一系列的缺陷化學(xué)反應(yīng),類(lèi)似于化學(xué)反應(yīng),因而,點(diǎn)缺陷規(guī)定的一套化學(xué)符號(hào)也類(lèi)似于化學(xué)元素符號(hào)。 以簡(jiǎn)要介紹克羅格明克(Krger-vink)符號(hào):主符號(hào):缺陷種類(lèi);上角標(biāo):缺陷所帶有效電荷(+·;- -;0);下角標(biāo):缺陷所在位置。以MX離子晶體為例(二價(jià)):空位Vacancy :VM,Vx,VM,Vx·· VM=VM+2e Vx··=Vx+2 h· ;填隙原子: Mi,Xi;錯(cuò)放位置:Mx表示M原子被錯(cuò)
15、放在X位置上;溶質(zhì)原子:LM,L溶質(zhì)處在M位置上(取代或添隙);自由電子及空穴:e,h·;所有類(lèi)型點(diǎn)缺陷的存在都破壞了原有原子間作用力的平衡,造成臨近原子偏離其平衡位置而發(fā)生晶格畸變,使晶格內(nèi)能升高。和其它缺陷不同,點(diǎn)缺陷是一種熱力學(xué)平衡缺陷,其熱平衡濃度可用熱力學(xué)公式G=H-TS 進(jìn)行計(jì)算。所以一般情形下,點(diǎn)缺陷主要影響晶體的物理性質(zhì),如比容、熱容、電阻率等,而對(duì)金屬力學(xué)性能的影響較小。2.2.2線(xiàn)缺陷 2.2.2.1位錯(cuò)的基本概念 線(xiàn)缺陷指二維尺度很小而第三為尺度很大的缺陷,其特點(diǎn)是兩個(gè)方向上的尺寸很小而另外一個(gè)方向延伸較長(zhǎng),也稱(chēng)一維缺陷,可被電鏡觀察到,當(dāng)今研究最多的是位錯(cuò)。位
16、錯(cuò)理論是晶體結(jié)構(gòu)缺陷研究的核心,位錯(cuò)的存在不僅影響到晶體的力學(xué)性質(zhì),而且也影響到晶體的一系列宏觀物理性質(zhì),如晶體的強(qiáng)度和斷裂等。實(shí)際晶體在結(jié)晶時(shí),受到溫度、壓力、濃度及雜質(zhì)元素的影響,或由于晶體受到打擊、切削、研磨、擠壓、扭動(dòng)等機(jī)械應(yīng)力的作用,使晶體內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)排列變形,原子行列間相互滑移,使晶體某處一列或若干列原子發(fā)生了有規(guī)律的錯(cuò)排現(xiàn)象,錯(cuò)排區(qū)是管狀畸變區(qū)域即晶體中兩個(gè)尺度較小、一個(gè)尺度較大的原子位置錯(cuò)排區(qū),我們稱(chēng)為位錯(cuò)。 位錯(cuò)(線(xiàn)): 晶體內(nèi)部晶面間的滑移并不是整個(gè)晶面上所有的原子相對(duì)另一個(gè)晶面一起滑移,而是一部分原子可以在其它原子未運(yùn)動(dòng)之前先移動(dòng),這樣在晶體中就有已滑移部分和未滑移部分,已滑
17、移部分和未滑移部分之間的錯(cuò)位原子線(xiàn)。位錯(cuò)具有Burgers矢量b是位錯(cuò)的重要本質(zhì)。Burgers矢量是位錯(cuò)的單位滑移距離,大小一般等于原子間距;方向總是平行于滑移方向。2.2.2.2位錯(cuò)的分類(lèi)和特點(diǎn)晶體的線(xiàn)缺陷表現(xiàn)為各種類(lèi)型的位錯(cuò)其在三維空間兩個(gè)方向上尺寸很小另外一個(gè)方向上延伸較長(zhǎng)。晶體中位錯(cuò)的基本類(lèi)型分為為刃型位錯(cuò)和螺型位錯(cuò)(如圖)。刃型位錯(cuò)的Burgers矢量與位錯(cuò)線(xiàn)方向垂直;螺型位錯(cuò)的Burgers矢量與位錯(cuò)線(xiàn)方向平行。實(shí)際上位錯(cuò)往往是兩種類(lèi)型的混合,稱(chēng)為混合位錯(cuò)。 圖1由于某種原因,晶體的一部分相對(duì)于另一部分出現(xiàn)一個(gè)多余的半原子面,多余的半原子面有如切入晶體的刀片,刀片的刃口線(xiàn)即為位錯(cuò)
18、線(xiàn),這種缺陷稱(chēng)為刃型位錯(cuò),半原子面在上面的稱(chēng)正刃型位錯(cuò),半原子面在下面的稱(chēng)負(fù)刃型位錯(cuò)。刃型位錯(cuò)的主要特點(diǎn)是:有一額外的半原子面,分正和負(fù)刃型位錯(cuò);可理解為是已滑移區(qū)與未滑移區(qū)的邊界線(xiàn),可是直線(xiàn)也可是折線(xiàn)和曲線(xiàn)但它們必與滑移方向和滑移矢量垂直;只能在同時(shí)包含有位錯(cuò)線(xiàn)和滑移矢量的滑移平面上滑移;位錯(cuò)周?chē)c(diǎn)陣發(fā)生彈性畸變,有切應(yīng)變也有正應(yīng)變;位錯(cuò)畸變區(qū)只有幾個(gè)原子間距,是狹長(zhǎng)的管道狀。晶體的某一部分相對(duì)于其余部分發(fā)生滑移,原子平面沿著一根軸線(xiàn)盤(pán)旋上升,每繞軸線(xiàn)一周,原子面上升一個(gè)晶面間距,在中央軸線(xiàn)處即為螺型位錯(cuò)。螺形位錯(cuò)的特征為:螺形位錯(cuò)沒(méi)有額外半原子面; 螺形位錯(cuò)線(xiàn)是一個(gè)具有一定寬度的細(xì)長(zhǎng)的晶格
19、畸變管道,其中只有切應(yīng)變,而無(wú)正應(yīng)變; 位錯(cuò)線(xiàn)與滑移方向平行,位錯(cuò)線(xiàn)運(yùn)動(dòng)的方向與位錯(cuò)線(xiàn)垂直。2.2.2.3位錯(cuò)的研究方法位錯(cuò)的研究主要采用顯微鏡觀察表面臺(tái)階, 用顯微鏡觀察腐蝕坑,在透明晶體中用沉淀體綴飾,用透射電鏡觀察,利用X射線(xiàn)的衍射效應(yīng)進(jìn)行直接觀察和測(cè)試。用位錯(cuò)密度衡量單晶質(zhì)量的好壞。位錯(cuò)密度:指單位體積位錯(cuò)線(xiàn)的長(zhǎng)度(d=nl/Al),通過(guò)化簡(jiǎn)后,可以用單位截面上的位錯(cuò)線(xiàn)露頭的數(shù)目表示。一般單晶為102-104/cm2,較差的為108-109/cm2。2.2.2.4線(xiàn)缺陷對(duì)材料性能的影響 位錯(cuò)是一種及重要的晶體缺陷,他對(duì)金屬的塑性變形,強(qiáng)度與斷裂有很重要的作用,塑性變形就其原因就是位錯(cuò)的
20、運(yùn)動(dòng),而強(qiáng)化金屬材料的基本途徑之一就是阻礙位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng),另外,位錯(cuò)對(duì)金屬的擴(kuò)散、相變等過(guò)程也有重要影響。所以深入了解位錯(cuò)的基本性質(zhì)與行為,對(duì)建立金屬?gòu)?qiáng)化機(jī)制將具有重要的理論和實(shí)際意義。金屬材料的強(qiáng)度與位錯(cuò)在材料受到外力的情況下如何運(yùn)動(dòng)有很大的關(guān)系。如果位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)受到的阻礙較小,則材料強(qiáng)度就會(huì)較高。實(shí)際材料在發(fā)生塑性變形時(shí),位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)是比較復(fù)雜的,位錯(cuò)之間相互反應(yīng)、位錯(cuò)受到阻礙不斷塞積、材料中的溶質(zhì)原子、第二相等都會(huì)阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng),從而使材料出現(xiàn)加工硬化。因此,要想增加材料的強(qiáng)度就要通過(guò)諸如:細(xì)化晶粒(晶粒越細(xì)小晶界就越多,晶界對(duì)位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)具有很強(qiáng)的阻礙作用)、有序化合金、第二相強(qiáng)化、固溶強(qiáng)化等手段使
21、金屬的強(qiáng)度增加。以上增加金屬?gòu)?qiáng)度的根本原理就是想辦法阻礙位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)。用位錯(cuò)缺陷解釋晶體生長(zhǎng)現(xiàn)象和性質(zhì)。例如,材料的塑性變形,就是位錯(cuò)移動(dòng)的結(jié)果;晶體生長(zhǎng)快的原因就是晶體中有螺旋位錯(cuò)存在;位錯(cuò)區(qū)域原子活動(dòng)性較大,能加速物質(zhì)在固體中的擴(kuò)散,有利于燒結(jié)和固相反應(yīng)。2.2.3面缺陷 晶體常常被一些界面分隔成許多小的疇區(qū),疇區(qū)內(nèi)具有較高的原子排列完整性,疇區(qū)之間的和界面附近存在著較嚴(yán)重的原子錯(cuò)排,此類(lèi)缺陷發(fā)生于整個(gè)界面,稱(chēng)為面缺陷,它在一維尺寸小,在另二維尺寸大,可被光學(xué)顯微鏡觀察到,功能多品陶瓷的性能主要取決于面缺陷。 通常,按照界面兩側(cè)的晶體結(jié)構(gòu)關(guān)系將面缺陷分為以下三類(lèi):晶界、孿晶界面及平移界面。處
22、于晶體界面上的原子,會(huì)同時(shí)受到晶體內(nèi)部的自身原子和外部介質(zhì)原子或分子的作用力。而這兩個(gè)作用力不會(huì)平衡,內(nèi)部原子對(duì)界面原子的作用力顯著大于外部原子或分子的作用力。這樣,表面原子就會(huì)偏離其正常平衡位置,并因而牽連到鄰近的幾層原子,造成表面層的晶格畸變。2.2.3.1 晶界 晶體結(jié)構(gòu)相同位向不同的晶粒之間的界面稱(chēng)為晶粒間界,簡(jiǎn)稱(chēng)晶界。在晶粒內(nèi)部可以觀察到直徑在10-100um大小的晶塊,這些晶塊之間的內(nèi)界面就稱(chēng)為亞晶粒間界,簡(jiǎn)稱(chēng)亞晶界,亞晶界主要是由位錯(cuò)組成。 晶界是結(jié)構(gòu)相同而取向不同晶體之間的界面。在晶界面上,原子排列從一個(gè)取向過(guò)渡到另一個(gè)取向,故晶界處原子排列處于過(guò)渡狀態(tài)。由于晶界上兩個(gè)晶粒的質(zhì)
23、點(diǎn)排列取向有一定的差異,兩者都力圖使晶界上的質(zhì)點(diǎn)排列符合于自己的取向。當(dāng)達(dá)到平衡時(shí),晶界上的原子就形成某種過(guò)渡的排列。顯然,晶界上由于原子排列不規(guī)則而造成結(jié)構(gòu)比較疏松,因而也使晶界具有一些不同于晶粒的特性。當(dāng)晶界兩側(cè)的晶粒位相差很小時(shí),晶界基本上是由位錯(cuò)組成,這樣的界面稱(chēng)為小角度晶界,較簡(jiǎn)單的情況是對(duì)稱(chēng)傾斜晶界,即晶界兩側(cè)的晶粒相對(duì)于晶界對(duì)稱(chēng)地傾斜了一個(gè)小角度,主要是晶體在生長(zhǎng)過(guò)程中受熱或機(jī)械應(yīng)力或表面張力作用,位錯(cuò)在交互作用力驅(qū)動(dòng)下相互作用并重新排列而形成一種低能結(jié)構(gòu)?;旧纤械男〗嵌染Ы缍际怯晌诲e(cuò)組成,晶界上的位錯(cuò)密度隨位相差的增大而增大。小角度晶界分為對(duì)稱(chēng)傾側(cè)晶界、不對(duì)稱(chēng)傾側(cè)晶界、扭轉(zhuǎn)
24、晶界。當(dāng)晶粒間的位相差增大到一定程度后,位錯(cuò)就難以協(xié)調(diào)相鄰晶粒之間的位相差,形成結(jié)構(gòu)復(fù)雜的大角度晶界。2.2.3.2 孿晶界面 兩個(gè)或兩個(gè)以上的同種晶體,彼此之間的層錯(cuò)按一定的對(duì)稱(chēng)關(guān)系相互聯(lián)系而形成的復(fù)合晶體就叫作孿晶。 晶體的成核階段或者其後的成長(zhǎng)階段中形成原生孿晶,即質(zhì)點(diǎn)在某個(gè)方向上中斷了按原先的晶格位置所進(jìn)行的堆積,改變?yōu)榘磁c之成孿晶關(guān)系的晶格方位進(jìn)行堆積的結(jié)果,但這種改變并不導(dǎo)致鍵的破壞和晶體內(nèi)能的明顯增大;由高溫變體經(jīng)同質(zhì)多象轉(zhuǎn)變而變?yōu)閷?duì)稱(chēng)程度較低的低溫變體時(shí)所產(chǎn)生轉(zhuǎn)變孿晶;在晶體形成之后受機(jī)械應(yīng)力 的作用,在部分晶格中的一連串相鄰面網(wǎng)間同時(shí)發(fā)生均勻滑移的范性形變,使滑移部分與未滑移
25、部分的晶格間形成孿晶關(guān)系變成滑移孿晶;某些金屬退火再結(jié)晶時(shí),通過(guò)質(zhì)點(diǎn)的擴(kuò)散和晶間界面的變化,容易產(chǎn)生孿晶接合面取代一般的晶間界面而形成退火孿晶。 2.2.3.3 平移界面 界面兩側(cè)晶體以某一特征的非點(diǎn)陣平移相聯(lián)系的稱(chēng)為平移界面,包括堆垛層錯(cuò)、反向疇界和結(jié)晶切變面,其中,結(jié)晶切變面可以概括的理解為一種特殊的反向疇界。三類(lèi)平移界面的特點(diǎn)總結(jié): 2.2.3.4面缺陷對(duì)材料性能的影響 面缺陷的晶界處點(diǎn)陣畸變大,存在晶界能,晶粒長(zhǎng)大與晶界平直化使晶界米面積減小,晶界總能量降低,這兩過(guò)程通過(guò)原子擴(kuò)散進(jìn)行,隨溫度升高與保溫時(shí)間增長(zhǎng),有利于這兩過(guò)程的進(jìn)行。面缺陷原子排列不規(guī)則,常溫下晶界對(duì)位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)起阻礙作用,
26、塑性變形抗力提高,晶界有較高的強(qiáng)度和硬度。晶粒越細(xì),材料的強(qiáng)度越高,這就是細(xì)晶強(qiáng)化,而高溫下剛好相反,高溫下晶界又粘滯性,使相鄰晶粒產(chǎn)生相對(duì)滑動(dòng)。面缺陷處原子偏離平衡位置,具有較高的動(dòng)能,晶界處也有較多缺陷,故晶界處原子的擴(kuò)散速度比晶內(nèi)快。固態(tài)相變中,晶界能量較高,且原子活動(dòng)能力較大,新相易于在晶界處優(yōu)先形核,原始晶粒越細(xì),晶界越多,新相形核率越大。由于成分偏析和內(nèi)吸附現(xiàn)象,晶界富集雜質(zhì)原子情況下,晶界熔點(diǎn)低,加熱過(guò)程中,溫度過(guò)高引起晶界熔化與氧化,導(dǎo)致過(guò)熱現(xiàn)象。晶界處能量較高,原子處于不穩(wěn)定狀態(tài),及晶界富集雜質(zhì)原子的緣故,晶界腐蝕速度較快。2.2.4體缺陷 體缺陷是由熱運(yùn)動(dòng)造成的一種半微觀缺陷,它對(duì)晶體的宏觀物理性能往往帶來(lái)有害的影響。在三維尺寸較大,如鑲嵌塊,沉淀相,空洞,氣泡等。 3.總結(jié) 到目前為止,晶體缺陷理論的框架已經(jīng)建立,我們對(duì)于各種缺陷
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