可靠性試驗(yàn)介紹

1、LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)Reliability Testing Kichler China2/26/2013 概念：元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。 評(píng)估方式：產(chǎn)品在規(guī)定條件下、規(guī)定時(shí)間內(nèi)，完成規(guī)定功能的概率（能力）可靠性 MTBF（Mean Time Between Failure)指發(fā)生第一次失效，但是維修后可以繼續(xù)使用到再次失效的工作時(shí)間。 MTTF（Mean Time To Failure)指發(fā)生失效到不可以維修的使用的工作時(shí)間可靠性影響產(chǎn)品可靠性的因素及其比率分配 內(nèi)在可靠性使用可靠性產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)技術(shù) 40%零部件、原材料 3

2、0%制造技術(shù) 10%使用、操作維修等20%產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)、制造、管理出來的產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)、制造、管理出來的 為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫?： 1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定 指標(biāo)的情況； 2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息； 3. 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收； 4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式 和失效機(jī)理； 5. 為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供 依據(jù)。 對(duì)于不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。 可靠性試驗(yàn)

3、目的 國(guó)標(biāo)（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)） 行標(biāo)（行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)） 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 客戶特殊需求定制產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)和檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)來源可靠性常用試驗(yàn)氣候環(huán)境試驗(yàn)氣候環(huán)境試驗(yàn)l 高溫負(fù)荷試驗(yàn)l 高溫貯存試驗(yàn)l 恒定濕熱試驗(yàn)l 低溫負(fù)荷試驗(yàn)l 低溫貯存試驗(yàn)l 高低溫交變?cè)囼?yàn)機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)l包裝振動(dòng)試驗(yàn)l跌落試驗(yàn) 負(fù)荷（操作試驗(yàn)）：工作狀態(tài)試驗(yàn)，供電并輸入信號(hào)或負(fù)載工作。 貯存：僅放置在試驗(yàn)箱，不工作。 1.溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響 2.濕度對(duì)產(chǎn)品的影響濕度對(duì)產(chǎn)品的影響 3.冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響 4.機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)

4、系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系 1 溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響 當(dāng)討論產(chǎn)品壽命時(shí),一般采用規(guī)則的表達(dá)方式。具體應(yīng)用時(shí)可以表達(dá)為10規(guī)則等，當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10時(shí)，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20時(shí)，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一。這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命（失效）的。 高溫對(duì)產(chǎn)品的影響：老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變型等 低溫對(duì)產(chǎn)品的影響：脆化、結(jié)冰、粘度增大和固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低、物理性收縮等環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系 2 濕度對(duì)產(chǎn)品的影響濕度對(duì)產(chǎn)品的影響 高溫高濕條件作用試驗(yàn)樣品上，可以構(gòu)成水氣吸附、吸收和擴(kuò)散等作用。

5、許多材料在吸濕后膨脹、性能變壞、引起物質(zhì)強(qiáng)度降低及其他主要機(jī)械性能的下降，吸附了水氣的絕緣材料不但會(huì)引起電性能下降，在一定條件下還會(huì)引發(fā)各種不同的失效，是影響電子產(chǎn)品最主要的失效環(huán)境。 濕度對(duì)產(chǎn)品的影響：腐蝕、離子遷移、擴(kuò)散、水解、爆裂、霉菌環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系 濕度引起塑封半導(dǎo)體器件腐蝕的失效：濕度引起塑封半導(dǎo)體器件腐蝕的失效： 在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過導(dǎo)線連接起來構(gòu)成電路。由于鋁和鋁合金價(jià)格便宜，加工工藝簡(jiǎn)單，因此通常被使用為集成電路的金屬線。從進(jìn)行集成電路塑封工序開始，水氣便會(huì)通過環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕進(jìn)而產(chǎn)生開路現(xiàn)象，成為品質(zhì)

6、工程最為頭痛的問題。人們雖然通過各種改善包括采用不同環(huán)氧樹脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了各種努力，但是隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系 鋁線中產(chǎn)生腐蝕過程：鋁線中產(chǎn)生腐蝕過程： 水氣滲透入塑封殼內(nèi)濕氣滲透到樹脂和導(dǎo)線間隙之中 水氣滲透到晶片表面引起鋁化學(xué)反應(yīng) 加速鋁腐蝕的一些因素（加速鋁腐蝕的一些因素（鋁金屬導(dǎo)線腐蝕反應(yīng)隨著是否施加偏壓而變化） 樹脂材料與晶片框架接口之間連接不夠好（由于各種材料之間存在膨脹率的差異）。 封裝時(shí)，封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子的污

7、染（由于雜質(zhì)離子的出現(xiàn)）。 非活性塑封膜中所使用的高濃度磷。 非活性塑封膜中存在的缺陷。環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系 冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響 高溫和低溫的失效都會(huì)反映在冷熱溫度沖擊試驗(yàn)中，冷熱沖擊試驗(yàn)只是加速了高溫和低溫失效的產(chǎn)生。下面歸納了實(shí)際生產(chǎn)或使用環(huán)境中存在的具有代表性的冷熱溫度沖擊環(huán)境，這些冷熱沖擊環(huán)境常常是導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要原因。 1溫度的極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)； 2啟動(dòng)馬達(dá)時(shí)周圍器件的溫度急速升高，關(guān)閉馬達(dá)時(shí)周圍器件會(huì)出現(xiàn)溫度驟然下降； 3設(shè)備從溫度較高的室內(nèi)移到溫度相對(duì)較低的室外，或者從溫度相對(duì)較低的室外移到溫度較高的室內(nèi)； 4設(shè)備可

8、能在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度。在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭的溫度梯度； 5設(shè)備可能會(huì)因?yàn)榻涤甓蝗焕鋮s； 6當(dāng)航空器起飛或者降落時(shí)，航空器機(jī)載外部器材可能會(huì)出現(xiàn)溫度的急劇變化。 環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系氣候環(huán)境試驗(yàn)條件氣候環(huán)境試驗(yàn)條件檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求高溫試驗(yàn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱：展臺(tái)小件類。溫度為50，應(yīng)能持續(xù)工作8h，檢查樣品功能應(yīng)正常。注：交互式大屏只做50。高溫老化房：白板大件類。溫度為60，應(yīng)能持續(xù)工作8h，檢查樣品功能應(yīng)正常。低溫試驗(yàn)在溫度為-20下，儲(chǔ)存6小時(shí)。在0下能持續(xù)工作2h，檢查樣品功能應(yīng)正常。濕

9、熱試驗(yàn)在溫度為50，相對(duì)濕度20%的條件下持續(xù)工作4h ，檢查樣品功能應(yīng)正常。在溫度為35，相對(duì)濕度95%的條件下持續(xù)工作4h ，檢查樣品功能應(yīng)正常。高溫老化房：白板大件類。在室溫25，相對(duì)濕度95%的條件下持續(xù)工作4h，檢查樣品功能應(yīng)正常。高低溫交變?cè)囼?yàn)在溫度為-15下擱置2h，然后0.5h內(nèi)升溫至0，再0.5h內(nèi)升溫至50，在50下保持2h,然后再1h內(nèi)降溫至-15結(jié)束試驗(yàn)，最后升溫600.5h，樣品恢復(fù)常溫后做全功能的檢查應(yīng)正常。 機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響 機(jī)械沖擊和振動(dòng)主要是針對(duì)處于劇烈振動(dòng)環(huán)境中的車用電子設(shè)備?？墒亲罱捎谝话汶娮釉O(shè)備也因?yàn)槠浔銛y化而變得易

10、受振動(dòng)，因此機(jī)械應(yīng)力的應(yīng)用范圍也廣泛了。 機(jī)械應(yīng)力所造成的失效主要是連接器、繼電器等連接部件，當(dāng)然對(duì)裝配工藝不合理的設(shè)計(jì)也容易引起元器件的脫落和引線短裂，對(duì)元器件內(nèi)部工藝不良的產(chǎn)品會(huì)引起開路、短路、間歇連接。環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)條件機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)條件檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求振動(dòng)試驗(yàn)速度：150-200轉(zhuǎn)/分鐘；振動(dòng)時(shí)間：4小時(shí)；振動(dòng)幅度：25.4mm試驗(yàn)后，檢查樣品外觀、結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，應(yīng)能正常工作。跌落試驗(yàn)針對(duì)跌落實(shí)驗(yàn)國(guó)家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定，有分90cm、76cm、65cm幾個(gè)等級(jí)。包裝貨物重量 落下高度 。如

11、下：0.459.5476.209.5518.6360.9618.6427.72 45.7227.7345.4530.48 加速壽命試驗(yàn)的目的加速壽命試驗(yàn)的目的 半導(dǎo)體工藝技術(shù)的創(chuàng)新在近幾年快速的推進(jìn)。 此外，由于最近要求縮短產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間 產(chǎn)品可靠性處于相同的情況，必須在短時(shí)間內(nèi)知道可靠性特征。 基于這種情況下加速的壽命試驗(yàn)是通過最小樣品尺寸和最短的測(cè)試時(shí)間來知道可靠性的方法。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)定義“加速試驗(yàn)”是“為了縮短測(cè)試時(shí)間執(zhí)行比標(biāo)準(zhǔn)條件更嚴(yán)酷的條件下進(jìn)行的測(cè)試”。在嚴(yán)酷的條件下進(jìn)行測(cè)試可用少點(diǎn)樣品在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測(cè)市場(chǎng)失效率，因而減少要求的時(shí)間和費(fèi)用證實(shí)可靠性。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn) 4.3.2 溫

12、度加速溫度加速 溫度對(duì)半導(dǎo)體的壽命影響是很大的，因此使用溫度加速壽命的加速試驗(yàn)的最常見的方法。 溫度應(yīng)力基于的反應(yīng)是由空氣統(tǒng)一，空氣模型被廣泛用于半導(dǎo)體產(chǎn)品壽命預(yù)測(cè) 這種空氣模型公式表示如下： ：壽命 Ea：活化能 (eV) T ：絕對(duì)溫度 (K) A：常量 k ：波爾茲曼系數(shù) 上述公式顯示半導(dǎo)體壽命取決于半導(dǎo)體受到的溫度。 加速的測(cè)試?yán)眠@一特性被稱為溫度加速測(cè)試不過例如一些因?yàn)闊彷d體的影響導(dǎo)致的失效(高能源載體產(chǎn)生的電場(chǎng)捕捉的柵氧化膜的現(xiàn)象)可能有負(fù)面的活化能值。當(dāng)加速這些類型的失效，作為溫度測(cè)試增加試驗(yàn)效果是減少的。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn) 4.3.3 溫濕度加速溫濕度加速 大規(guī)模集成電

13、路在高溫高濕環(huán)境為了解暴露在高溫、 高濕下進(jìn)行測(cè)試半導(dǎo)體的壽命。 高溫高濕偏壓測(cè)試，蒸汽壓力測(cè)試，溫濕度環(huán)境應(yīng)力高加速試驗(yàn)等，通常都被用于濕度加速試驗(yàn)。濕度很少被用作確認(rèn)防潮的唯一加速因子，而一般應(yīng)用溫度和濕度應(yīng)力的組合。這為了促進(jìn)濕度 （水） 的反應(yīng)，并導(dǎo)致增加濕度壽命的加速。 濕度相關(guān)壽命的一半公式表示如下： ： 壽命A, n：常量 一直沒有關(guān)于濕度相關(guān)壽命的標(biāo)準(zhǔn)化公式，與每個(gè)制造商使用他們自己的特征常數(shù)對(duì)加速的壽命計(jì)算結(jié)果。 特別是與濕度加速度增加至約 100%為加速目的相對(duì)濕度可能會(huì)導(dǎo)致樣品冷凝，使它不可能確定原始的抗潮濕壽命。因此必須給予溫濕度控制做過的關(guān)注。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)

14、 4.3.4 電壓加速電壓加速 根據(jù)器件特征電壓加速試驗(yàn)有很大的不同（MOS 雙極和其他過程，電路配置).對(duì) MOS 集成電路和通常用于評(píng)估柵氧化膜的抵抗來說電壓加速試驗(yàn)是有效的。然而很難對(duì)雙極大型集成電路做電壓加速。 電壓加速壽命公式表示如下: ：壽命 ：常數(shù)V：電壓加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn) 4.3.5 溫差加速溫差加速 半導(dǎo)體包括各種各樣的材料的組合，并且這些材料的熱膨脹系數(shù)也廣泛的變化。每次器件經(jīng)歷溫差因每種材料的熱脹系數(shù)之間的差異導(dǎo)致?lián)p壞 （內(nèi)部力量） 累積 （或突然崩潰），導(dǎo)致最終失效。根據(jù)溫度區(qū)別的加速測(cè)試被用于知道壽命。 應(yīng)用對(duì)試驗(yàn)器件是有效的比那些通常遇到更大的溫度差的溫度循環(huán)

15、加速測(cè)試評(píng)價(jià)由溫度差異所引起的損壞。 當(dāng)暴露于高低溫，溫度循環(huán)試驗(yàn)用于評(píng)估器件抵抗的測(cè)試，和抗暴露于在兩個(gè)極限溫度的溫度變化的能力。這些測(cè)試允許確認(rèn)半導(dǎo)體產(chǎn)品抗市場(chǎng)上溫度的應(yīng)力。(例如,經(jīng)歷白天到夜間汽車內(nèi)遺留的設(shè)備所經(jīng)歷的溫度變化， 電源開啟或關(guān)閉器件從高溫到自身溫度的冷卻。). 有關(guān)溫差的壽命由Coffin-Manson模式定義，, 且表示如下： ：壽命A, m：常量 這公式表明加速的測(cè)試可以通過提供達(dá)到溫差建立溫度循環(huán)壽命。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康哪康挠绊懹绊?具有代表的具有代表的 試驗(yàn)條件例、其他試驗(yàn)條件例、其他溫度耐寒性調(diào)查電子零部件、機(jī)器的耐寒性和低溫儲(chǔ)藏特性。

16、觀察由于結(jié)冰造成體積膨脹后的特性劣化、功能 性能劣化、由于收縮形成的機(jī)械性特性由于膨脹 收縮造成的熱性的、機(jī)械性的變形。軟化、脆化的促進(jìn)、潤(rùn)滑性的低下、密封、龜裂、水分的結(jié)冰-85室溫溫度分布： 0.51程序自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)LST/LOT耐熱性調(diào)查電子零部件、機(jī)器的熱性變化。調(diào)查有源元件在高溫下的動(dòng)作或者通電后的劣化特性。觀察潤(rùn)滑特性的劣化。促進(jìn)氧化、擴(kuò)散等的化學(xué)反應(yīng)。膨脹、軟化、蒸發(fā)、氧化、粘度低下龜裂、擴(kuò)散、液體泄漏室溫300溫度分布： 0.51程序自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)HST/ HOT溫度循環(huán)調(diào)查電子零部件、機(jī)器的耐熱性應(yīng)力。對(duì)汽車、飛機(jī)用的零部件進(jìn)行篩選。加速使用環(huán)境利用熱容量較大的液體在短時(shí)間內(nèi)評(píng)價(jià)熱應(yīng)力

17、的影響。由于膨脹收縮造成的變形、剝離、龜裂、由于內(nèi)部水分的蒸發(fā)引起的龜裂、疲勞、加工面的開裂以及機(jī)械的變位造成的電氣特性的變化基本同上-65150程序自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)TCO/ DHCTO熱沖擊觀察由于熱膨脹系數(shù)不同引起的尺寸變化，以及伴隨而來的材料特性和密閉性的變化。以及造型零部件等的龜裂、端子密封部的評(píng)價(jià)、剝離、機(jī)械性的變形等-65150試樣的異動(dòng)為5秒程序自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)TST環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康哪康挠绊懹绊懢哂写淼脑囼?yàn)具有代表的試驗(yàn) 條件例、其他條件例、其他濕度耐濕性調(diào)查電子零部件、機(jī)器的濕度引起的劣化特性。評(píng)價(jià)絕緣材料的吸濕特性、儲(chǔ)藏、低溫度條件下的干燥特性。絕緣低下、促進(jìn)腐蝕的電解、結(jié)露、膨脹、漏

18、泄電流增加、變形、特性變化、彎曲85%RH95%RH10%RH40%RH程序自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)AHT/ AHTO濕度循環(huán)除了加速結(jié)露特性、吸濕特性，其它同上。呼吸作用、結(jié)露、結(jié)冰、I M40 80 20%RH95%RHDHCTO結(jié)露循環(huán)評(píng)價(jià)由于伴隨溫濕度變化發(fā)生結(jié)露造成的對(duì)材料、零部件、裝置的特性變化和耐熱沖擊特性I M、腐蝕、短路、絕緣不 良、涂膜層的剝離-3585 60%RH90%RH切換時(shí)間為5秒溫度穩(wěn)定20秒Dew TestHAST （PCT）耐熱特性的加速試驗(yàn)。觀察濕度的浸透 擴(kuò)散造成的影響。IC等膜型的龜裂、密封不良、封口的剝離、粘接特性、變形、腐蝕、絕緣劣化、開裂、粘和剝離125 /85%

19、RH （121 、100%）可以進(jìn)行飽和、不飽和試驗(yàn)氣壓觀察在高空、真空中、高壓條件下零部件、材料、以及組件的耐電壓等的特性。電氣性耐壓的低下、密封（氣密）不良、接點(diǎn)的壽命低下、材料的介電系數(shù)的變化、熱傳導(dǎo)率的變化、絕緣劣化133Pa10KPa環(huán)境試環(huán)境試驗(yàn)驗(yàn)?zāi)康哪康挠绊懹绊懢哂写淼脑囼?yàn)具有代表的試驗(yàn) 條件例、其他條件例、其他鹽水噴霧電子零部件導(dǎo)線處的生銹、腐蝕以及耐蝕性的加速試驗(yàn)和被覆、涂裝、電鍍等的評(píng)價(jià)。腐蝕、銹、絕緣低下、接觸阻抗增加、剝離、變形35、5%NaCI35 干燥 濕潤(rùn)有些可以做銅催化乙酸試驗(yàn)。50 5%鹽水+氯化銅+冰醋酸耐候性 試驗(yàn)觀察由于紫外線以及其它放射線造成的零部件

20、、材料的特性劣化褪色、脆弱化、高分子材料的龜裂、變形、密封不良太陽光等價(jià)有毒氣體復(fù)合試驗(yàn) H S/SO評(píng)價(jià)由大氣污染和材料所發(fā)生的腐蝕性氣體等對(duì)導(dǎo)線、金屬部的耐腐蝕環(huán)境特性的加速試驗(yàn)由腐蝕性氣體造成的腐蝕、生銹、絕緣低下、接觸不良、斷線、接觸阻抗增大單獨(dú)或者復(fù)合氣體SO , H S、NO , CI0.001ppm100ppm酸性雨觀察酸性雨造成的影響同上PH=46沙塵、 塵埃觀察由于侵入龜裂、接觸部可動(dòng)部造成的接觸不良引起的功能 性能的劣化。氣密性、絕緣、腐蝕誤動(dòng)作、腐蝕、表面的磨耗、堵塞、帶電、絕緣低下、磨滅、漏泄沙、棉、灰塵臭氧零部件、材料、產(chǎn)品的特性劣化變形、開裂、氧化、有機(jī)材料的脆化0

21、.0120mg/m環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康哪康挠绊懹绊懢哂写淼脑嚲哂写淼脑囼?yàn)驗(yàn) 條條件例、其他件例、其他振動(dòng)Vibration用于電子零部件的疲勞試驗(yàn)、產(chǎn)品的加振試驗(yàn)。另外用于同樣目的還可以觀察電子零部件材料裝置的包裝物在運(yùn)輸以及各項(xiàng)處理時(shí)對(duì)振動(dòng)的構(gòu)造強(qiáng)度由機(jī)械性松動(dòng)、疲勞破壞、斷線、共振造成的破損、插口接觸不良、結(jié)合部的磨耗、共振破壞、導(dǎo)線的斷線、干擾、異常振動(dòng)的發(fā)生、開裂22000Hz60G沖擊Shock同上觀察針對(duì)沖擊的構(gòu)造強(qiáng)度基本同上101000G/ 160ms碰撞Bump觀察零部件、材料、產(chǎn)品等在運(yùn)輸中所受的疲勞強(qiáng)度基本同上40G/6ms、 20G/11ms 牽拉/彎曲Bend/ P

22、ell觀察產(chǎn)品材料的伸張?zhí)匦缘鹊臋C(jī)械強(qiáng)度切斷、折斷、變形、伸張一次或多次重復(fù)霉菌促成霉菌的發(fā)生所造成的材料特性的變化絕緣低下、短路、腐蝕、生銹、侵蝕、污濁、光學(xué)部分透過率低下焊接耐熱觀察電子零部件的焊接性能、強(qiáng)度以及耐熱特性、接續(xù)性焊錫龜裂、卷線端子部松動(dòng)、零部件的熱特性變化、絕緣物的軟化、變形200400帶電、電磁誘導(dǎo)、靜電氣干燥時(shí)的靜電故障、電子零部件、裝置的耐靜電特性、噪聲容限電波干擾、絕緣破壞、垃圾附著、誤動(dòng)作、半導(dǎo)體及其它零部件破壞、繼電器的壽命評(píng)價(jià)、動(dòng)作停止失常10KV30KV 高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn) 溫度循環(huán)溫度循環(huán) 溫度沖擊溫度沖擊 恒溫恒濕恒溫恒濕 交變潮熱（濕熱

23、）交變潮熱（濕熱）環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v機(jī)械振動(dòng)，跌落機(jī)械振動(dòng)，跌落v沖擊和碰撞沖擊和碰撞v高壓蒸煮試驗(yàn)高壓蒸煮試驗(yàn)v鹽霧試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)v氣體腐蝕試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn)v其他試驗(yàn)其他試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn) 產(chǎn)品壽命遵循10規(guī)則，因而高溫試驗(yàn)作為最常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)、同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。 高溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。 注意產(chǎn)品和元器件的最大耐受溫度極限。 樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品的受熱均勻性，樣品距離箱壁的距離最少為5cm GB/T 2423.2中高溫的試驗(yàn)方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變

24、試驗(yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 高溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 可程式恒溫恒濕箱內(nèi)部尺寸：1000X1000X1000mm溫度范圍：-70150 烘箱內(nèi)部尺寸：溫度范圍：常溫200 充氮烘箱內(nèi)部尺寸：溫度范圍：常溫30000 低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。 低溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。 注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。（對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗(yàn)均適用） 樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為

25、保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離最少為5cm GB/T 2423.1中低溫的試驗(yàn)方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變 試驗(yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 可程式恒溫恒濕箱內(nèi)部尺寸：1000X1000X1000mm溫度范圍：-70150 溫度沖擊溫度沖擊 溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱嗽谳^短的時(shí)間內(nèi)確認(rèn)產(chǎn)品特性的變化，以及由于構(gòu)成元器件的異種材料熱膨脹系數(shù)不同而造成的故障問題。這些變化可以通過將元器

26、件迅速交替地暴露于超高溫和超低溫的試驗(yàn)環(huán)境中觀察到。 冷熱沖擊試驗(yàn)不同于環(huán)境模擬試驗(yàn)，它是通過冷熱溫度沖擊發(fā)現(xiàn)在常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問題。決定冷熱溫度沖擊試驗(yàn)的主要因素有：試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等。 溫度沖擊設(shè)備有：兩箱法、三箱法和液槽式三種，其中設(shè)備內(nèi)濕度不能超過50%RH即20g/m。 公司常做的快捷溫度沖擊的條件：-65，150，停留時(shí)間14min，循環(huán)次數(shù)：300個(gè)（如下圖為此試驗(yàn)單個(gè)循環(huán)的溫度曲線） 注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 溫度沖擊箱（德國(guó) weiss）內(nèi)

27、部尺寸：300X485X450mm兩箱式，提籃式溫度范圍：-70165 溫度沖擊箱（富奇）內(nèi)部尺寸：兩箱式，提籃式溫度范圍：-70165 冷熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的區(qū)別冷熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的區(qū)別環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容冷熱沖擊試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度變化速率溫度變化速率 急劇2030/min 緩慢15/min 循環(huán)次數(shù)循環(huán)次數(shù) 510個(gè)循環(huán)（多至1000循環(huán)） 510個(gè)循環(huán)（多至1000循環(huán)） 熱平衡熱平衡 正好到達(dá)（液槽式為到達(dá)） 到達(dá) 試驗(yàn)時(shí)間試驗(yàn)時(shí)間 短長(zhǎng) 用途用途1.膨脹系數(shù)不同引起的連接部剝離2.膨脹系數(shù)不同龜裂后水分進(jìn)入3.水分滲入導(dǎo)致腐蝕及短路現(xiàn)象發(fā)生

28、的加速試驗(yàn)1.通過長(zhǎng)期試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)腐蝕傾向2.長(zhǎng)時(shí)間地多次循環(huán)觀察應(yīng)力疲勞現(xiàn)象3.調(diào)查分析市場(chǎng)失效的相關(guān)性使用設(shè)備使用設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕恒溫恒濕 產(chǎn)品失效因?yàn)闈穸鹊挠绊懻?0以上，因此濕度試驗(yàn)在環(huán)境試驗(yàn)中是必不可少的。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。尤其對(duì)含有樹脂材料的產(chǎn)品在產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量評(píng)估時(shí)該試驗(yàn)是必須的。 恒溫恒濕的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、相對(duì)濕度、試驗(yàn)時(shí)間 注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。 常做的雙85指定就是溫度85，濕度85環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 可程式恒溫恒濕箱內(nèi)部尺寸：1

29、000X1000X1000mm溫度范圍：-70150溫濕度箱（德國(guó) weiss）內(nèi)部尺寸：溫度范圍：-40120濕度范圍：1098%RH 交變潮熱（濕熱）交變潮熱（濕熱） 模擬熱帶雨林的環(huán)境，確定產(chǎn)品和材料在溫度變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露時(shí)的使用和貯存的適應(yīng)性。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)。 交變濕熱的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、相對(duì)濕度、轉(zhuǎn)換時(shí)間、交變次數(shù)。 注意試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫濕度箱（德國(guó) weiss）內(nèi)部尺寸：溫度范圍：-40120濕度范圍：1098%RH溫變率：3/min 機(jī)械振動(dòng)機(jī)械振動(dòng) 描述：振動(dòng)試

30、驗(yàn)，英文：Vibration Test，在試驗(yàn)中，模擬產(chǎn)品在于制造、組裝、運(yùn)輸、及使用執(zhí)行階段中所遭遇的各種振動(dòng)環(huán)境，用以鑒定產(chǎn)品是否忍受環(huán)境振動(dòng)的能力。 機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)用來確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié)，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完好性和動(dòng)態(tài)特性、常用于型式試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)。 機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)中有一類故障的發(fā)生，不是在一個(gè)特定條件下就不會(huì)發(fā)生，或不在這種特定條件中這種故障不會(huì)輕易地被測(cè)量出來，或是故障的再現(xiàn)性很差（即很難預(yù)測(cè)到它何時(shí)會(huì)發(fā)生），因此機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)在許多情況下，產(chǎn)品是需要處于工作狀態(tài)并連續(xù)測(cè)試的。例如繼電器、連接器等。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 機(jī)械振動(dòng)機(jī)械振動(dòng) 分類： 按試驗(yàn)樣品可分為：?jiǎn)螜C(jī)振動(dòng)，

31、包裝振動(dòng)（一般為隨機(jī)振動(dòng)） 按振動(dòng)試驗(yàn)類型分類： 正弦振動(dòng)（Sinusoidal Vibration)、 隨機(jī)振動(dòng)(Random Vibration) 、正弦拍頻振動(dòng)（Sine-beat Method)、時(shí)間歷程振動(dòng)(Time-history Method） 一、正弦振動(dòng)（Sinusoidal Vibration) 試驗(yàn)參數(shù): 頻率范圍、 振幅值（加速度值）、 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、 振動(dòng)方向 正弦振動(dòng)試驗(yàn)由以上3個(gè)參數(shù)共同確定。 一般低于交越頻率由振幅確定，大于交越頻率由加速度值（G值）確定。 注意振動(dòng)幅值的峰值Vp和峰峰值Vpp是不同的。 二、隨機(jī)振動(dòng) 試驗(yàn)參數(shù): Grms 均方根加速度、頻率（點(diǎn)

32、）、ASD 加速度頻譜密度、 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、振動(dòng)方向 隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)由以上4個(gè)參數(shù)共同確定。實(shí)際上通過頻率（點(diǎn)）和ASD可以計(jì)算出 Grms值。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 機(jī)械振動(dòng)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備振動(dòng)機(jī)頻率范圍：52000HZ位移：25mm臺(tái)面大?。?00X500X500mm承受的力：300N 跌落試驗(yàn)跌落試驗(yàn) 描述： 跌落試驗(yàn)，又名drop test。 用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的跌落等。 包括 （1）非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落，樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。 （2）模擬負(fù)載電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。

33、（3）包裝跌落 主要參數(shù) 1、 跌落高度 2、 跌落次數(shù) 3、 跌落表面 受限制因素： 1、 高度 2、.樣品外形（針對(duì)自由跌落）環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 跌落實(shí)驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備跌落機(jī)高度范圍：臺(tái)面大?。撼惺艿闹亓浚?沖擊和碰撞沖擊和碰撞 許多產(chǎn)品在使用、裝卸、運(yùn)輸過程中都會(huì)受到?jīng)_擊。沖擊的量值變化很大并具有復(fù)雜的性質(zhì)。因此沖擊和碰撞試驗(yàn)適用于確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié)，考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性。 機(jī)械沖擊試驗(yàn)，又名mechanical shock.試驗(yàn)?zāi)康挠脕斫衣稒C(jī)械弱點(diǎn)和（或）性能下降情況。 沖擊試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量（半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波）和波

34、形選擇。沖擊次數(shù)無特別要求外每個(gè)面沖擊3次共18次。 碰撞試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量（半正弦波）、每方向碰撞次數(shù)。 注意沖擊和碰撞的方向應(yīng)是6個(gè)面，而不是X、Y、Z 三方向。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 高壓蒸煮試驗(yàn)（高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)）高壓蒸煮試驗(yàn)（高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)） 高壓蒸煮試驗(yàn)采用高壓高濕條件，考核塑料封裝的半導(dǎo)體集成電路等電子器件的綜合影響，是用高加速的試驗(yàn)方式評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱的能力，常用于產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。 壓力試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：大氣壓力、相對(duì)濕度（飽和或非飽和） 、溫度、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境

35、試驗(yàn)內(nèi)容 恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 高溫高濕箱（無錫克?。﹥?nèi)部尺寸：300X485X450mm溫度范圍：-10100濕度范圍：常濕98%RH溫濕度箱（德國(guó) weiss）內(nèi)部尺寸：溫度范圍：-40120濕度范圍：1098%RH溫變率：3/min 太陽輻照試驗(yàn)太陽輻照試驗(yàn) 紫外光耐氣候：紫外光耐氣候： 試驗(yàn)?zāi)康模汗饫匣囼?yàn)就是評(píng) 定戶外無遮蔽使用和儲(chǔ)存的設(shè)備經(jīng)受太陽輻射熱和光學(xué)效應(yīng)的能力。 試驗(yàn)參數(shù)：溫度，濕度，燈型波長(zhǎng)，輻照強(qiáng)度，光照黑暗周期，持續(xù)時(shí)間 氙氙燈耐氣候：燈耐氣候： 試驗(yàn)?zāi)康模汗饫匣囼?yàn)就是評(píng)定戶外無遮蔽使用和儲(chǔ)存的設(shè)備經(jīng)受太陽輻射熱和光學(xué)效應(yīng)的能力。 試驗(yàn)參數(shù)：溫度

36、，濕度，輻照強(qiáng)度，光照黑暗周期，持續(xù)時(shí)間 紫外與氙燈的區(qū)別：主要是使用的光源不一樣，其中： 紫外燈的波長(zhǎng)是指定的UVA / UVB 340/400nm 氙燈的波長(zhǎng)是290800nm。 環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備紫外燈耐氣候試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸：燈型：UVA,UVB溫度范圍：常溫100濕度范圍：常濕98%RH網(wǎng)址：http:/氙燈耐氣候試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸：波長(zhǎng)范圍：290800nm輻射強(qiáng)度：5501120w/m溫度范圍：常溫100濕度范圍：常濕98%RH 鹽霧試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)?zāi)M海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境，用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕能力。有鹽霧試

37、驗(yàn)和交變鹽霧試驗(yàn)兩種試驗(yàn)。常用于在特殊條件下的質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。 種類： 中性鹽霧試驗(yàn)（NSS），醋酸鹽霧試驗(yàn) (ASS)，銅鹽醋酸加速鹽霧試驗(yàn)(CASS) 鹽霧試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：鹽溶液濃度、相對(duì)濕度、溫度、鹽霧時(shí)間、貯存時(shí)間、試驗(yàn)周期，集霧量，PH值。 各種鹽霧試驗(yàn)參數(shù)的區(qū)別： 注意試驗(yàn)結(jié)束后試驗(yàn)樣品需立即沖洗干凈。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備鹽霧試驗(yàn)箱箱體尺寸：可做鹽霧種類：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS），醋酸鹽霧試驗(yàn) (ASS)，銅鹽醋酸加速鹽霧試驗(yàn)(CASS) 氣體腐蝕試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn) 氣體腐蝕試驗(yàn)主要應(yīng)用于接觸點(diǎn)和連接件，試驗(yàn)后的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)是接觸電阻變化，

38、其次是外觀變化。主要的腐蝕氣體為二氧化硫和硫化氫 氣體腐蝕試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：濃度、相對(duì)濕度、溫度、流速、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 氣體腐蝕試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 其他試驗(yàn)其他試驗(yàn) 霉菌試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、水試驗(yàn)（淋雨試驗(yàn)）、恒加速試驗(yàn)（離心試驗(yàn)） 綜合環(huán)境試驗(yàn): 溫度/濕度/高度、溫度/濕度/振動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容 淋雨試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 老化試驗(yàn)設(shè)備老化試驗(yàn)設(shè)備老化試驗(yàn)設(shè)備高壓、中壓、常壓、低壓、高溫、漫游、波動(dòng)等電壓區(qū)的老練可靠性試驗(yàn)規(guī)范可靠性試驗(yàn)規(guī)范示例示例高溫試驗(yàn)：主要測(cè)試設(shè)備：高溫箱、溫度計(jì)、調(diào)壓器、電壓表和時(shí)鐘。主要測(cè)試項(xiàng)目：高溫低

39、壓?jiǎn)?dòng)、高溫高壓安全運(yùn)行。測(cè)試數(shù)量：10個(gè)。 測(cè)試方法：把待測(cè)產(chǎn)品放進(jìn)高溫箱，連接電路，把調(diào)壓器的輸出電壓調(diào)至產(chǎn)品額定電壓的80%（調(diào)壓器僅給待測(cè)產(chǎn)品供電），打開恒溫箱電源，把溫度設(shè)定在60，待箱內(nèi)的溫度升至60時(shí)打開燈具的電源，觀察產(chǎn)品是否正常工作，然后把調(diào)壓器的輸出電壓升至產(chǎn)品額定電壓的115%，讓其工作24小時(shí)，觀察實(shí)驗(yàn)結(jié)果。若發(fā)生產(chǎn)品損壞材料受熱變形等異?，F(xiàn)象時(shí)則該項(xiàng)試驗(yàn)為不合格?？煽啃栽囼?yàn)規(guī)范可靠性試驗(yàn)規(guī)范示例示例高溫高壓沖擊啟動(dòng)試驗(yàn)：主要測(cè)試設(shè)備：高溫箱、溫度計(jì)、調(diào)壓器、電壓表和時(shí)鐘。 主要測(cè)試項(xiàng)目：高溫啟動(dòng)性能和可靠性 測(cè)試數(shù)量：10個(gè)。 測(cè)試方法：接上項(xiàng)試驗(yàn)。在高溫狀況下，把調(diào)壓器的輸出電壓升至產(chǎn)品額定電壓的115%，開關(guān)三次，每次間隔不少于30秒鐘（間隔30秒鐘是要待產(chǎn)品內(nèi)的電容全部放電，減少相互干擾），在此過程中，產(chǎn)品不應(yīng)損壞，否則將視為不合格?？煽啃栽囼?yàn)規(guī)范可靠性試驗(yàn)規(guī)范示例示例低溫試驗(yàn)：主要測(cè)試設(shè)備：低溫箱、溫度計(jì)、調(diào)壓器、電壓表和時(shí)鐘。主要測(cè)試項(xiàng)目：低溫低壓?jiǎn)?dòng)。測(cè)試數(shù)量：10個(gè)。測(cè)試方法：把待測(cè)產(chǎn)品放進(jìn)低溫箱，連接電路，把調(diào)壓器的輸出電壓調(diào)至產(chǎn)品額定電壓的80%（調(diào)壓器僅給待測(cè)產(chǎn)品供電），