軟測(cè)模擬試題及答案

1、模擬試題一、單項(xiàng)選擇題：共20 小題，每小題 2 分，滿分 40 分。1軟件測(cè)試按照測(cè)試層次可以分為( C)A 黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試B. 功能性測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試C單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試D、動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試2、軟件測(cè)試是采用（A）執(zhí)行軟件的活動(dòng)。A 測(cè)試用例B輸入數(shù)據(jù)C測(cè)試環(huán)境D輸入條件3軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過(guò)程的重要階段，是軟件質(zhì)量保證的重要手段，下列哪個(gè)（）是軟件測(cè)試的任務(wù)？答案： （ D ）1 預(yù)防軟件發(fā)生錯(cuò)誤2 發(fā)現(xiàn)程序錯(cuò)誤3 提供診斷錯(cuò)誤信息A 只有1B只有2C只有3D都是4、導(dǎo)致軟件缺陷的最大原因是：（A ）A 軟件需求說(shuō)明書B 設(shè)計(jì)方案C編碼D 維護(hù)5、測(cè)試用例是為達(dá)到最佳的測(cè)

2、試效果或高效的揭露隱藏的錯(cuò)誤而精心設(shè)計(jì)的少量測(cè)試數(shù)據(jù)，至少應(yīng)該包括（A）A 、測(cè)試輸入、執(zhí)行條件和預(yù)期的結(jié)果。B 、測(cè)試目標(biāo)、測(cè)試工具C、測(cè)試環(huán)境D、測(cè)試配置6、對(duì)已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤進(jìn)行錯(cuò)誤定位和確定出錯(cuò)性質(zhì)，并改正這些錯(cuò)誤，同時(shí)修改相關(guān)的文檔，這種行為屬于（B ）A 測(cè)試B調(diào)試C回歸測(cè)試D單元測(cè)試7、軟件缺陷修復(fù)的代價(jià)最高的階段為（A）A 、發(fā)布階段B 、需求階段C、設(shè)計(jì)階段D 、編碼階段8、下列（B）是關(guān)于軟件缺陷的描述。A 導(dǎo)致軟件包含故障的人的行為B產(chǎn)品的異常情況C引起一個(gè)功能部件不能完成所要求的功能的一種意外情況D功能部件執(zhí)行其規(guī)定功能的能力喪失9、可作為測(cè)試停止的標(biāo)準(zhǔn)是（D）A 當(dāng)時(shí)間

3、用光時(shí)B執(zhí)行了所有的測(cè)試用例，但沒(méi)有發(fā)現(xiàn)故障C當(dāng)所有缺陷都已經(jīng)清除時(shí)D當(dāng)達(dá)到所要求的覆蓋時(shí)10、下列描述錯(cuò)誤的是（A）A 軟件發(fā)布后如果發(fā)現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題，那是軟件測(cè)試人員的錯(cuò)B窮盡測(cè)試實(shí)際上在一般情況下是不可行的C軟件測(cè)試自動(dòng)化不是萬(wàn)能的D測(cè)試能由非開發(fā)人員進(jìn)行，調(diào)試必須由開發(fā)人員進(jìn)行。11、如下圖所示的N-S 圖，至少需要（B ）個(gè)測(cè)試用例完成邏輯覆蓋。A15B16C17D 1812、下列（C ）方法設(shè)計(jì)出的測(cè)試用例發(fā)現(xiàn)程序錯(cuò)誤的能力最強(qiáng)。A 等價(jià)類劃分法B場(chǎng)景法C邊界值分析法D決策表法13、功能性測(cè)試是根據(jù)（A）來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。A 、軟件的規(guī)格說(shuō)明B、設(shè)計(jì)文檔C、程序的內(nèi)部邏輯D、維護(hù)手冊(cè)14

4、、在軟件修改之后，再次運(yùn)行以前為發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序曾用過(guò)的測(cè)試用例，這種測(cè)試稱之為（C ）A 單元測(cè)試B集成測(cè)試C回歸測(cè)試D驗(yàn)收測(cè)試15、（C ）方法是根據(jù)輸出對(duì)輸入的依賴關(guān)系來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的。邊界值分析等價(jià)類因果圖法錯(cuò)誤推測(cè)法16、測(cè)試工程師的工作范圍會(huì)包括檢視代碼、評(píng)審開發(fā)文檔，這屬于（B ）A 動(dòng)態(tài)測(cè)試B靜態(tài)測(cè)試C黑盒測(cè)試D白盒測(cè)試17、如果F 實(shí)現(xiàn)一個(gè)程序，輸入變量x1和x2的邊界、區(qū)間分別為：ax1 d，區(qū)間為a,b,b,c,c,d；e x2 g，區(qū)間為e,f,f,g；則下列D_圖可表示為強(qiáng)健壯等價(jià)類測(cè)試用例。A B x2gx2gffeeabcdx1abcdx1CD x2x2ggff

5、eeabcdabcd x1x118、對(duì)于一個(gè)含有n 個(gè)變量的程序， 采用基本邊界值分析法測(cè)試程序會(huì)產(chǎn)生（C ）個(gè)測(cè)試用例。A 6n+1B 5nC、 4n+1D 7n19、以下關(guān)于測(cè)試用例特征的描述錯(cuò)誤的是( B)A 最有可能抓住錯(cuò)誤的；B一定會(huì)有重復(fù)的、多余的；C一組相似測(cè)試用例中最有效的；D既不是太簡(jiǎn)單，也不是太復(fù)雜。20、（ D）是一種關(guān)注變量定義賦值點(diǎn)（語(yǔ)句）和引用或使用這些值的點(diǎn)（語(yǔ)句）的結(jié)構(gòu)性測(cè)試，主要用作路徑測(cè)試的真實(shí)性檢查。A 、基本路徑測(cè)試B 、邏輯覆蓋C、決策表D 、數(shù)據(jù)流測(cè)試二、判斷題：共20 小題，每題 1 分，滿分 20 分）1.軟件測(cè)試是有風(fēng)險(xiǎn)的行為，并非所有的軟件缺

6、陷都能夠被修復(fù)。（ T）2.軟件質(zhì)量保證和軟件測(cè)試是同一層次的概念。（ F ）3.我們有理由相信只要能夠設(shè)計(jì)出盡可能好的測(cè)試方案，經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試之后的軟件可以沒(méi)有缺陷。（F ）4.程序員兼任測(cè)試員可以提高工作效率。（ F）5.在設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)，應(yīng)當(dāng)包括合理的輸入條件和不合理的輸入條件。（T）6.傳統(tǒng)測(cè)試是在開發(fā)的后期才介入，現(xiàn)在測(cè)試活動(dòng)已經(jīng)擴(kuò)展到了整個(gè)生命周期。（ T）7.傳統(tǒng)測(cè)試以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤為目的，現(xiàn)在測(cè)試已經(jīng)擴(kuò)展到了錯(cuò)誤預(yù)防的范疇。( T)8.軟件測(cè)試的生命周期包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、 測(cè)試執(zhí)行、 缺陷跟蹤、 測(cè)試評(píng)估。（T）9. 調(diào)試從一個(gè)已知的條件開始， 使用預(yù)先定義的過(guò)程， 有預(yù)知的結(jié)果

7、； 測(cè)試從一個(gè)未知的條件開始，結(jié)束的過(guò)程不可預(yù)計(jì)。 （ F ）10.白盒測(cè)試往往會(huì)造成測(cè)試用例之間可能存在嚴(yán)重的冗余和未測(cè)試的功能漏洞。（ F ）11. 在邊界值方法中， 對(duì)于一個(gè)有 n 個(gè)變量的函數(shù)作最壞情況測(cè)試， 生成的測(cè)試用例個(gè)數(shù)是 7n 個(gè)。（ F ）12.軟件生存周期是從軟件開始開發(fā)到開發(fā)結(jié)束的整個(gè)時(shí)期。（ F）13. 在所有的黑盒測(cè)試方法中，基于決策表的測(cè)試是最為嚴(yán)格、最具有邏輯性的測(cè)試方法。（ T ）14. 永遠(yuǎn)有缺陷類型會(huì)在測(cè)試的一個(gè)層次上被發(fā)現(xiàn)，并且能夠在另一個(gè)層次上逃避檢測(cè)。（ T ）15. 測(cè)試用例的數(shù)目越多，測(cè)試的效果越好。 （ F）16. 只要能夠達(dá)到 100的邏輯覆蓋率，就可以保