看硬盤SMART參數(shù)----HDtune工具查看

1、從網(wǎng)上下載一個(gè)工具：HDtune或HDtunePro，這個(gè)工具非常管用，功能也很多，別的功能先不談，當(dāng)前只談“健康”頁簽的功能。運(yùn)行HDtune工具，選擇你要查看的硬盤（前提，你的硬盤必須是通過SATA或eSATA連接電腦的，而不是通過USB連接的，USB連接有時(shí)SMART參數(shù)不能完全顯示），再選擇“健康”頁簽，呈現(xiàn)在你眼前的便是該硬盤的SMART參數(shù)。SMART參數(shù)的各項(xiàng)意義在本文結(jié)尾有網(wǎng)文介紹，此處只講幾個(gè)重要參數(shù)：（05）重映射扇區(qū)計(jì)數(shù)，（C5）當(dāng)前待映射的扇區(qū)數(shù)，（C6）脫機(jī)無法校正的扇區(qū)數(shù)，（C7）Ultra DMA CRC錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。（05）一旦出現(xiàn)，表明你的硬盤已出現(xiàn)了物理壞道，物

2、理壞道無法修復(fù)的。這種情況，第一件事就是快快備份數(shù)據(jù)。你的硬盤如果在保修期內(nèi)，速去更換吧。如果出保了，將就用吧，只要（05）數(shù)值不會(huì)持續(xù)增加，這硬盤還能用，容量也不會(huì)改變，直到數(shù)據(jù)值超過閥值，容量才開始減少，你必須得通過一些軟件工具屏蔽壞道了，否則數(shù)據(jù)進(jìn)了壞道就很難讀出來了。而且如果（05）數(shù)值持續(xù)增加，你的硬盤離壞不遠(yuǎn)了，沒多久就會(huì)超過閥值。（C5）出現(xiàn)數(shù)值，這種情況比較多見。特別是當(dāng)你的電腦遇到停電、死機(jī)、藍(lán)屏的次數(shù)比較多時(shí)，這一項(xiàng)值出現(xiàn)的機(jī)率就較大了。這一項(xiàng)值的出現(xiàn)，會(huì)表現(xiàn)為，拷貝時(shí)出現(xiàn)CRC冗余校驗(yàn)錯(cuò)誤。一旦你在使用硬盤時(shí)出現(xiàn)CRC冗余校驗(yàn)錯(cuò)誤，速去查看hdtune的參數(shù)（C5）值，肯

3、定不是0了。發(fā)生了這種情況，不必害怕，這是邏輯壞道，一般來說是可以修復(fù)的，如何修復(fù)，下回分解。如果不重視這個(gè)值，長(zhǎng)期不修復(fù)的話，時(shí)間一長(zhǎng)，系統(tǒng)會(huì)把它當(dāng)作物理壞道看待，直接寫到（05）值里，那這個(gè)壞道就變成了物理壞道，哭都來不及了。（C6）這項(xiàng)值比（C5）還重要，它是（C5）向（05）過渡的值。一旦出現(xiàn)這值，速速備份數(shù)據(jù)，如果保修期內(nèi)，速速換盤；如果出保，低格硬盤，可能會(huì)消除（C5）數(shù)值而使C6值不再增加也不向05進(jìn)數(shù)。（C7）這項(xiàng)值比較容易增加，原因多為SATA數(shù)據(jù)線有問題或與硬盤接口接觸不良所至。如果此項(xiàng)值持續(xù)增加，換根數(shù)據(jù)線吧。注：以下內(nèi)容來自于其他網(wǎng)文，非本人原創(chuàng)S.M.A.R.T(Se

4、lf Monitoring Analysis and Reporting Technology /自我監(jiān)測(cè)、分析與報(bào)告技術(shù))是為了提高硬盤數(shù)據(jù)的安全性而開發(fā)的。它可以使硬盤實(shí)時(shí)檢查自身的狀態(tài)，通過一定機(jī)理及時(shí)分析出潛在的問題，報(bào)告給系統(tǒng)，有時(shí)甚至能給出預(yù)計(jì)的硬盤故障日期，實(shí)際就是一種預(yù)警技術(shù)。這個(gè)功能可以比較客觀的反映硬盤目前的健康狀況。Value/Current(當(dāng)前值) 當(dāng)前硬盤改屬性的值。Worst(最壞值) 該屬性出現(xiàn)過的峰值。Threshold/Warn(閾值/臨界/極限值) 硬盤廠商所規(guī)定的該屬性峰值。如果某個(gè)屬性超過Threshold規(guī)定的極限值時(shí)，就表示你的硬盤可能出現(xiàn)了問題。

5、Raw Values/Data (Raw值/數(shù)據(jù)) 。和該屬性有關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)總值。怎么看這類屬性？主要是看Raw和Worst的值是否還在臨界值之內(nèi)(或臨界值)一般使用軟件如HDTune、CrystalDiskInfo等，一般屬性中有黃色或者紅色你就要注意了，硬盤可能快壞了，要是還在保修期內(nèi)，就趕緊備份數(shù)據(jù)，送去檢修。下面我們來介紹各個(gè)屬性(按2010年2月11日維基百科上的解釋)ID Hex =英文屬性名 / 中文屬性名 屬性描述-01 01 =Read Error Rate / (底層)數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率指從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)生的硬件讀取錯(cuò)誤的比率，Raw值對(duì)于不同的廠商有著不同的體系，單純看做

6、1個(gè)十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的。*以上為Wiki上的英文翻譯版本，此屬性貌似存在分歧，有的說值高了好，有的說低了好,此處我們還是按照Wiki上的吧，反正只要 Worst不小于 Threshold 就行了。*這里的Raw值也可能不同，比如我筆記本上的ST硬盤就Raw為0，而臺(tái)式機(jī)上1.5T的ST就為227901540。02 02 =Throughput Performance / 吞吐性能(讀寫通量性能)Raw值越高越好整體(普通)的硬盤驅(qū)動(dòng)器的吞吐性能。如果這個(gè)屬性的值一直在下降有很大的可能性是硬盤有問題了。* 一般在進(jìn)行了人工 Offline S.M.A.R.T. 測(cè)試以后才會(huì)有值。03 0

7、3 =Spin-Up Time / 馬達(dá)旋轉(zhuǎn)到標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速所需時(shí)間Raw值越低越好主軸旋轉(zhuǎn)加速的平均時(shí)間(從零轉(zhuǎn)速到完全運(yùn)轉(zhuǎn)(標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速)毫秒)。單位也可能為秒。如果是0的話證明這一項(xiàng)沒有讀對(duì)，或者是這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)生成錯(cuò)誤。不應(yīng)該出現(xiàn)0的結(jié)果。04 04 =Start/Stop Count / 啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù)馬達(dá) 啟動(dòng)/停止 周期的計(jì)數(shù)。當(dāng)馬達(dá)啟動(dòng)或硬盤完全停止工作后(斷開電源)啟動(dòng)和硬盤從睡眠模式回復(fù)到先前狀態(tài)，計(jì)數(shù)都會(huì)增加。*一般來說開機(jī)一次這個(gè)就加1，也可以看做是通電次數(shù)，這一般是個(gè)壽命參考值，本身不具有任何指標(biāo)性，購(gòu)買硬盤時(shí)可以參考此值。05 05 =Reallocated Sectors C

8、ount / 重新配扇區(qū)的計(jì)數(shù)Raw值越低越好對(duì)重新分配的扇區(qū)的計(jì)數(shù)，當(dāng)硬盤發(fā)現(xiàn)一個(gè) 讀取/寫入/校驗(yàn)錯(cuò)誤時(shí)它將這個(gè)扇區(qū)標(biāo)示為“重新分配”，并且將數(shù)據(jù)傳輸?shù)揭粋€(gè)特殊的保留區(qū)(空閑區(qū))。這個(gè)過程也稱為是“重定向”，這個(gè)重新分配的扇區(qū)叫做“重新映射”。這就是為什么，現(xiàn)在的硬盤當(dāng)進(jìn)行表面測(cè)試的時(shí)候是找不到“壞塊”的，所有的壞塊都被隱藏在重新分配的扇區(qū)中。然而，隨著重新定位的扇區(qū)增加，讀取/寫入速度趨向于降低。Raw值通常代表一系列已經(jīng)發(fā)現(xiàn)和重映射的壞扇區(qū)，因此，這個(gè)屬性值越高，硬盤就有越多的扇區(qū)被重定位，所以這個(gè)值是越小越好。* 理想情況下這個(gè)值應(yīng)該為0，如果不為0也不要太驚慌，而是應(yīng)該比較密切的關(guān)

9、注這個(gè)值的變化情況：如果連續(xù)幾周沒有變化，那你應(yīng)該可以放心的繼續(xù)使用比較長(zhǎng)的一段時(shí)間；如果這個(gè)值持續(xù)攀升，那么請(qǐng)盡快備份所有數(shù)據(jù)，并考慮購(gòu)買新硬盤。06 06 =Read Channel Margin / 讀取通道邊界讀取數(shù)據(jù)時(shí)通道的邊界，這個(gè)屬性的功能并不明確07 07 =Seek Error Rate / 尋道錯(cuò)誤率磁頭尋道錯(cuò)誤的比率，如果機(jī)械定位系統(tǒng)中有局部的故障，那么尋道錯(cuò)誤率會(huì)增加，這種故障是多種因素造成的。Raw值對(duì)于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個(gè)十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的08 08 =Seek Time Performance / 尋道時(shí)間性能Raw值越高越好磁頭尋道操作

10、的平均性能，如果這個(gè)屬性的值持續(xù)下降，這是機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志09 09 =Power-On Hours (POH) / 累計(jì)通電時(shí)間Raw值越低越好通電時(shí)間計(jì)數(shù)，Raw值顯示在通電狀態(tài)下的總小時(shí)數(shù)(或者是分鐘，秒，取決于制造商)磁盤加電時(shí)間。初始值的字段顯示為此裝置總開機(jī)時(shí)間的累計(jì)。* 參考磁盤廠家給的該款硬盤的 MTBF(平均故障間隔時(shí)間) 可以估計(jì)故障概率。但是也有可能超過MTBF而不會(huì)出現(xiàn)故障，因?yàn)榻y(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)對(duì)于個(gè)體來說是不精確的，是一個(gè)壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。*購(gòu)買硬盤時(shí)可以看此值，新的硬盤一般為0或者幾十以內(nèi)，過分大的可能就是被人用過了。10 0A =Spin Retry

11、Count 或 Spin-up Retry Count / 旋轉(zhuǎn)重試計(jì)數(shù)或 馬達(dá)重試計(jì)數(shù)Raw值越低越好馬達(dá)重試啟動(dòng)嘗試的的總數(shù)，這個(gè)屬性存儲(chǔ)馬達(dá)嘗試啟動(dòng)的到全速運(yùn)轉(zhuǎn)(第一次嘗試失敗的情況)的總數(shù)，這個(gè)屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志* 理想情況應(yīng)該為0，在某些情況下可能人為造成這個(gè)值的非故障升高，比如電壓供給不足。11 0B =Recalibration Retries / 校準(zhǔn)重試Calibration_Retry_Count / 校準(zhǔn)重試計(jì)數(shù) Raw值越低越好這個(gè)屬性指被要求重新校驗(yàn)的次數(shù)(第一次嘗試失敗的情況下)。這個(gè)屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志12 0C

12、=Power Cycle Count / 通電周期計(jì)數(shù)這個(gè)屬性是指這個(gè)硬盤電源 開/關(guān) 周期的總數(shù)。這是個(gè)壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。13 0D =Soft Read Error Rate / 軟件讀出誤碼率(可校正讀出誤碼率)Raw值越低越好報(bào)告給操作系統(tǒng)的未修正的讀取錯(cuò)誤。高值暗示有扇區(qū)不穩(wěn)定。183 B7 =SATA Downshift Error Count / SATA 降檔錯(cuò)誤計(jì)數(shù)西部數(shù)據(jù)和三星的屬性。184 B8 =End-to-End error / 端對(duì)端錯(cuò)誤Raw值越低越好這個(gè)屬性是HP的SMART IV技術(shù)的一部分，它表示傳輸通過高速緩存內(nèi)存數(shù)據(jù)緩沖區(qū)后主機(jī)和硬盤驅(qū)動(dòng)

13、器間的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不匹配。185 B9 =Head Stability / 頭穩(wěn)定性西部數(shù)據(jù)的屬性。186 BA =Induced Op-Vibration Detection / 感應(yīng)運(yùn)算振動(dòng)檢測(cè)西部數(shù)據(jù)的屬性。187 BB =Reported Uncorrectable Errors / 反饋無法校正的錯(cuò)誤Raw值越低越好不能使用硬件ECC恢復(fù)的錯(cuò)誤總數(shù)。188 BC =Command Timeout / 命令超時(shí)Raw值越低越好因?yàn)镠DD超時(shí)導(dǎo)致放棄操作的數(shù)量，通常情況下，這個(gè)屬性值應(yīng)該等于0，如果這個(gè)只遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于0，那么，很可能電源供應(yīng)有很嚴(yán)重的問題，或者數(shù)據(jù)線被氧化。189 BD =Hig

14、h Fly Writes / 高飛寫入Raw值越低越好HDD生產(chǎn)商實(shí)現(xiàn)一個(gè)飛行高度監(jiān)視器來嘗試對(duì)于檢測(cè)到記錄頭正在飛出它的正常操作范圍時(shí)的寫入操作提供額外的保護(hù)，如果發(fā)生不安全的飛行高度條件，寫入進(jìn)程停止工作，信息將被重寫或者重定向到磁盤上一個(gè)安全的區(qū)域。這個(gè)顯示在硬盤生命周期內(nèi)檢測(cè)到的這些錯(cuò)誤的總數(shù)。這個(gè)特性實(shí)現(xiàn)在大多數(shù)現(xiàn)代的希捷驅(qū)動(dòng)器和一些西部數(shù)據(jù)的驅(qū)動(dòng)器中，西部數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器開始于 WD企業(yè)級(jí)WDE18300和WDE9180 Ultra2 SCSI硬盤驅(qū)動(dòng)器，它將被包含在未來所有西部數(shù)據(jù)企業(yè)級(jí)產(chǎn)品中。190 BE =Airflow Temperature (WDC) / 氣流溫度(西部數(shù)據(jù))

15、Raw值越低越好西部數(shù)據(jù)硬盤上的氣流溫度(和C2的 Temperature 數(shù)值一樣，但是在有些型號(hào)上臂當(dāng)前值會(huì)少50.此值已經(jīng)廢棄了)。190 BE =Temperature Difference from 100 / 從100開始的溫差Raw值越高越好值和 (100 溫度C)相同, 允許制造商對(duì)于符合的最高溫度設(shè)置一個(gè)最小限制(可能是希捷專有？)。191 BF =G-sense Error Rate / 加速度錯(cuò)誤率 或 震動(dòng)偵測(cè)錯(cuò)誤率Raw值越低越好因外來的沖擊和震動(dòng)導(dǎo)致的錯(cuò)誤數(shù)。192 C0 =Power-off Retract Count / 斷電磁頭縮回計(jì)數(shù)Emergency Re

16、tract Cycle Count (Fujitsu) / 緊急回縮周期計(jì)數(shù)(富士通)Raw值越低越好磁頭被載離媒體的次數(shù)計(jì)數(shù)。磁頭能在沒完全斷電的前縮回。*這個(gè)屬性所顯示的數(shù)字表示這塊磁盤自動(dòng)關(guān)機(jī)(突然斷電)的次數(shù)。193 C1 =Load Cycle Count / 磁頭伸出周期計(jì)數(shù)Load/Unload Cycle Count (Fujitsu) / 磁頭升降周期計(jì)數(shù)(富士通)Raw值越低越好從磁頭零區(qū)域加載/卸載(升降)周期的次數(shù)。通常的便攜式電腦(2.5英寸)加載(伸出)周期的壽命為200,000到600,000 ,一些便攜式電腦的驅(qū)動(dòng)器被設(shè)計(jì)成當(dāng)5秒內(nèi)沒有任何活動(dòng)時(shí)就卸載(縮回)磁

17、頭。許多Linux安裝程序后臺(tái)1分鐘內(nèi)只寫入文件系統(tǒng)幾次。因此，每小時(shí)可能有100或更多次的磁頭加載(伸出)周期，并且可能在1年之內(nèi)就超出磁頭伸出周期額定值。*這是一個(gè)壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。194 C2 =Temperature / 溫度Raw值越低越好當(dāng)前的內(nèi)部溫度。* 具體溫度極限參考硬盤廠家各款硬盤的技術(shù)指標(biāo)。195 C3 =Hardware ECC Recovered / 硬件ECC校正Raw值對(duì)于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個(gè)十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的。196 C4 =Reallocation Event Count / 重新分配事件計(jì)數(shù)Raw值越低越好重新映射操作

18、的計(jì)數(shù)。這個(gè)屬性的Raw值顯示了總的嘗試從重新分配扇區(qū)轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)到空閑空間的次數(shù)。不管成功與否都會(huì)被記錄。* 這個(gè)計(jì)數(shù)就包含了上次讀操作有錯(cuò)誤的不穩(wěn)定扇區(qū)。如果下次這些扇區(qū)讀操作無錯(cuò)誤，這個(gè)值可能減少。197 C5 =Current Pending Sector Count / 目前待映射扇區(qū)數(shù)Raw值越低越好“不穩(wěn)定”扇區(qū)總數(shù)(因?yàn)樽x取錯(cuò)誤，等待重新映射)。如果一個(gè)不穩(wěn)定的扇區(qū)隨后能成功寫入或讀取，這個(gè)值將降低，這個(gè)扇區(qū)將不被重新映射。一個(gè)讀寫錯(cuò)誤的扇區(qū)不會(huì)被重新映射(因?yàn)橐院笏锌赡苡帜茏x寫)；取而代之的是，驅(qū)動(dòng)器固件將記住此扇區(qū)需要被重新映射。并且會(huì)在當(dāng)其被寫入時(shí)重新映射。*這里有個(gè)問題，

19、即當(dāng)被固件記錄后，有些文章寫到只有在寫入出錯(cuò)的時(shí)候它才會(huì)被重新映射，而Wiki上的原文是“and remaps it the next time its written.”故這里標(biāo)記一下。198 C6 =Uncorrectable Sector Count / 無法校正扇區(qū)數(shù)Off-Line Scan Uncorrectable Sector Count (Fujitsu) / 脫機(jī)無法校正扇區(qū)數(shù)(富士通)Raw值越低越好讀寫錯(cuò)誤不能被校正的扇區(qū)總數(shù)。這個(gè)屬性值的升高意味著盤片表面有缺陷或者是機(jī)械子系統(tǒng)有問題。* 這些扇區(qū)目前已經(jīng)不能讀取，如果有文件使用這些扇區(qū)，則操作系統(tǒng)會(huì)返回讀取錯(cuò)誤；當(dāng)下

20、一次寫操作發(fā)生時(shí)硬盤會(huì)對(duì)扇區(qū)自動(dòng)重定位；同時(shí)，重定位扇區(qū)計(jì)數(shù) (Reallocated Sector Count)增加，這個(gè)值減少。199 C7 =UltraDMA CRC Error Count / Ultra DMA CRC 錯(cuò)誤計(jì)數(shù)Raw值越低越好在數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)通過接口電纜時(shí)被ICRC(接口循環(huán)冗余校驗(yàn))所確定的錯(cuò)誤總數(shù)。* 如果這個(gè)值不為0，而且繼續(xù)增加，則表示 硬盤控制器-數(shù)據(jù)線-硬盤接口有錯(cuò)誤發(fā)生。可以檢查一下接口和數(shù)據(jù)線。200 C8 =Multi-Zone Error Rate (Western Digital) / 多區(qū)域錯(cuò)誤率(西部數(shù)據(jù))Raw值越低越好200 C8 =Wri

21、te Error Rate (Fujitsu) / 寫入錯(cuò)誤率(富士通)Raw值越低越好當(dāng)寫入一個(gè)扇區(qū)時(shí)錯(cuò)誤的總數(shù)。* 一般不為零也不要緊，但是如果持續(xù)快速升高，暗示盤體/磁頭機(jī)械有問題。201 C9 =Soft Read Error Rate / 軟讀出誤碼率(可校正讀出誤碼率)Raw值越低越好202 CA =Data Address Mark errors / 數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯(cuò)誤Raw值越低越好數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯(cuò)誤(或供應(yīng)商特有)203 CB =Run Out Cancel / ECC錯(cuò)誤發(fā)生率ECC Errors (Maxtor) / ECC錯(cuò)誤 (邁拓)Raw值越低越好ECC錯(cuò)誤的數(shù)量。20

22、4 CC =Soft ECC Correction / 軟件ECC校正Raw值越低越好因軟件ECC導(dǎo)致的錯(cuò)誤總數(shù)。205 CD =Thermal Asperity Rate (TAR) / 過溫率Raw值越低越好因溫度過高導(dǎo)致的錯(cuò)誤數(shù)量。*溫度過高的頻率，代表主軸馬達(dá)可能受損，或是散熱不良。206 CE =Flying Height / 飛行高度磁頭離盤片表面的高度。太低將增加頭部撞擊機(jī)率，太高將增加讀取錯(cuò)誤機(jī)率。207 CF =Spin High Current / 旋上高電流Raw值越低越好當(dāng)前用來使驅(qū)動(dòng)器馬達(dá)旋轉(zhuǎn)所用的電涌(電流)量。*也有資料寫：主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)時(shí)所使用的電流量，耗電量變大

23、意味著軸承可能磨損。208 D0 =Spin Buzz因電力不足所啟動(dòng)馬達(dá)所需的重試次數(shù)。209 D1 =Offline Seek Performance / 離線尋軌性能驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部測(cè)試時(shí)的尋道性能。211 D3 =Vibration During Write / 寫入時(shí)震動(dòng)寫入時(shí)震動(dòng)。212 D4 =Shock During Write / 寫入時(shí)受沖擊寫入時(shí)受沖擊。220 DC =Disk Shift / 磁盤移位Raw值越低越好盤片對(duì)于軸心的位移距離(通常是由于沖擊或者熱漲冷縮),衡量單位未知。*通常由強(qiáng)烈的撞擊或墜落造成。221 DD =G-Sense Error Rate / 加速度錯(cuò)誤率(震動(dòng)偵測(cè)錯(cuò)誤率)Raw值越低越好因外來的沖擊和震動(dòng)導(dǎo)致的錯(cuò)誤數(shù)。222 DE =Loaded Hours / 作業(yè)時(shí)間數(shù)據(jù)加載操作時(shí)所花費(fèi)的時(shí)間。(磁頭電樞的運(yùn)動(dòng))223 DF =Load/Unload Retry Count / 磁頭升降重試次數(shù)磁頭改變位置的次數(shù)。22