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1、基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告鈉光菲涅耳雙棱鏡干涉第學(xué)第學(xué)二作一作者 號(hào) 者 號(hào)2012年12月2日朱君磊 11151035 侯怡鑫 11151056摘要法國科學(xué)家菲涅耳(AugustinJ.Fresnel)在1826年進(jìn)行的雙棱鏡實(shí)驗(yàn)證明了光的干涉現(xiàn)象的存在,它不借助光的衍射而形成分波面干涉,用毫米級(jí)的測量得到納米級(jí)的精度,其物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測量技巧至今仍然值得我們學(xué)習(xí)。1目錄目錄 . II實(shí)驗(yàn)原理. 2實(shí)驗(yàn)儀器. 4實(shí)驗(yàn)步驟. 5數(shù)據(jù)記錄與處理. 7一、 原始數(shù)據(jù)記錄. 7 二、 數(shù)據(jù)處理. 7討論. 101.2.3. 誤差分析 . 10 可能出現(xiàn)的問題分析 . 10 實(shí)驗(yàn)感想 . 10附:原
2、始數(shù)據(jù)記錄單. 12II實(shí)驗(yàn)原理如果兩列頻率相同的光波沿著幾乎相同的方向傳播,并且這兩列光波的位相差不隨時(shí)間而變化,那么在兩列光波相交的區(qū)域內(nèi),光強(qiáng)的分布不是均勻的,而是在某些地方表現(xiàn)為加強(qiáng),在另一些地方表現(xiàn)為減弱(甚至可能為零),這種現(xiàn)象稱為光的干涉。菲涅爾鏡雙棱鏡可以看作是由兩塊底面相接、棱角很小的直角棱鏡合成。若置單色光源S于雙棱鏡的正前方,則從S射來的光束通過雙棱鏡的折射后,變成兩束相互重疊的光,這兩束光放佛是從光源的兩個(gè)虛像S1 和S2是兩個(gè)相干光源,所以若在兩束光想重疊的區(qū)域內(nèi)放置一屏,即可觀察到明暗相間的干涉條紋。菲涅耳利用如圖1所示裝置,獲得了雙光束的干涉現(xiàn)象圖中雙棱鏡B是一個(gè)
3、分割波前的分束器,它的外形結(jié)構(gòu)如圖2所示。將一塊平玻璃板的上表面加工成兩楔形板,端面與棱脊垂直,楔角較小(一般小于1°). 當(dāng)狹縫S發(fā)出的光波投射到雙棱鏡B上時(shí),借助棱鏡界面的兩次折射,其波前便分割成兩部分,形成沿不同方向傳播的兩束相干柱波通過雙棱鏡觀察這兩束光,就好像它們是由虛光源S1和S2發(fā)出的一樣,故在兩束光相互交疊區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生干涉如果狹縫的寬度較小且雙棱鏡的棱脊和光源狹縫平行,便可在光屏Q上觀察到平行于狹縫的等間距干涉條紋。雙棱鏡的干涉條紋圖2設(shè)d代表兩虛光源S1和S2間的距離,D為虛光源所在的平面(近似地在光源狹縫S的平面內(nèi))至觀察屏Q的距離,且d<<D,任意兩條
4、相鄰的亮(或暗)條紋間的距離為x,則實(shí)驗(yàn)所用光波波長可由下式表示:(根據(jù)形成明、暗條紋的條件,當(dāng)光程差為半波長的偶數(shù)倍時(shí)產(chǎn)生明條紋,當(dāng)光程差為半波長的奇數(shù)倍時(shí)產(chǎn)生暗條紋):=dD(1) x上式表明,只要測出d、D和x,就可算出光波波長。3實(shí)驗(yàn)儀器雙棱鏡、可調(diào)狹縫、凸透鏡、觀察屏、光具座、測微目鏡、鈉光燈、白屏。1、測微目鏡簡介:測微目鏡(又名測微頭)一般作為光學(xué)精密計(jì)量儀器的附件,也可以單獨(dú)使用,主要用于測量微小長度。如圖3(a)所示,測微目鏡主要由目鏡、分劃板、讀數(shù)鼓輪組成。旋轉(zhuǎn)讀數(shù)鼓輪,可以推動(dòng)活動(dòng)分劃板左、右移動(dòng);活動(dòng)分劃板與帶有毫米刻度的固定分劃板緊貼在一起。讀數(shù)鼓輪圓周上刻有100個(gè)
5、等分格,鼓輪每轉(zhuǎn)一圈,活動(dòng)分劃板在垂直于目鏡光軸的方向移動(dòng)1mm,所以鼓輪上每分格表示0.01mm。測微目鏡的結(jié)構(gòu)與讀數(shù)方法2、測讀方法:(1)、調(diào)節(jié)目鏡,看清叉絲(如圖3(b)所示)。(2)、轉(zhuǎn)動(dòng)鼓輪,使叉絲的交點(diǎn)或雙線與被測物的像的一邊重合,讀取一個(gè)數(shù),轉(zhuǎn)動(dòng)鼓輪,使叉絲交點(diǎn)或雙線壓被測物的的另一邊,再讀一個(gè)數(shù),兩數(shù)之差即為被測物尺寸。讀數(shù)時(shí),毫米以下數(shù)位從測微鼓輪上讀取。讀數(shù)精確到0.01mm,估讀到0.001mm。(3)、測量時(shí)。鼓輪轉(zhuǎn)動(dòng)要緩慢,且只能沿一個(gè)方向轉(zhuǎn)動(dòng)測量,如中途的轉(zhuǎn)或從兩個(gè)方向進(jìn)行測量,都要造成空回誤差,數(shù)據(jù)無效。還應(yīng)注意消除目的物與叉絲之間的視差。4實(shí)驗(yàn)步驟1.各光學(xué)原
6、件的共軸調(diào)節(jié)(1)調(diào)狹縫與凸透鏡等高共軸將狹縫貼緊鈉光燈放在光具座上,接著依次放上透鏡和白屏,用二次成像法使狹縫與透鏡等高共軸。2.調(diào)整測微目鏡、狹縫和透鏡等高共軸用測微目鏡取代白屏,并置于距離狹縫八十厘米位置上,進(jìn)一步用二次成像法調(diào)至測微目鏡叉絲與狹縫、透鏡等高共軸。3調(diào)整雙棱鏡與其他原件等高共軸在狹縫與透鏡之間放上雙棱鏡,止目測粗調(diào)二者等高,使得雙棱鏡到狹縫的距離為二十厘米,上下左右移動(dòng)雙棱鏡并轉(zhuǎn)動(dòng)狹縫,。這時(shí)屏上出現(xiàn)兩條平行亮線(狹縫像),如兩亮線一高一低,表示雙棱鏡棱脊與狹縫不平行,則要旋轉(zhuǎn)雙棱鏡使兩亮線等高(有的雙棱鏡固定不可調(diào),則旋轉(zhuǎn)狹縫);如兩亮線一粗亮,一細(xì)暗,表示棱鏡的棱脊未
7、通過透鏡光軸,則應(yīng)平移雙棱鏡,使兩亮線等寬等亮。4.干涉條紋的調(diào)整要通過測微目鏡看到清晰的干涉條紋,必須滿足四個(gè)條件:狹縫寬度足夠窄,以使縫寬上相應(yīng)各點(diǎn)為相干光,具有良好的條紋視見度。但狹縫不能過窄,過窄光強(qiáng)太弱,同樣無法觀察到干涉條紋;棱鏡的背脊反射形成的虛狹縫必須與狹縫的取向互相平行,否則縫的上下相應(yīng)各點(diǎn)光源的干涉條紋互相錯(cuò)位疊加,降低條紋視見度,也無法觀察到干涉條紋。5、測量條紋間距 x可直接用測微目鏡測出。虛光源間距d用二次成像法測的:當(dāng)保持物、屏位置不變且間距大于4f時(shí),移動(dòng)透鏡可在其間兩個(gè)位置成清晰的像,一個(gè)是放大像,一個(gè)是縮小像。設(shè)b為虛光源縮小像之間的間距,b為放大像之間的間距
8、,則兩虛光源的實(shí)際距離為d=bb',其中b和b由測微目鏡獨(dú)處。同時(shí)根據(jù)兩次成像的規(guī)律,若分別測出縮小像和放大像時(shí)的物距S和S,則物5到像屏之間的距離D=S+S。得波長與各測量量之間的關(guān)系為=xbb'S+S'條紋間距x。連續(xù)測量20個(gè)條紋的位置Xi,如果視場內(nèi)干涉條紋沒有布滿,則可對(duì)測微目鏡的水平位置略作調(diào)整,視場太暗可旋轉(zhuǎn)偏振片調(diào)亮。測量中注意:調(diào)分劃板上的豎線與與干涉條紋平行,測量時(shí),鼓輪只能向一個(gè)方向旋轉(zhuǎn),防止產(chǎn)生回程差。測虛光源縮小像間距b及透鏡物距S。同理測量虛光源放大像間距b及透鏡物距S6數(shù)據(jù)記錄與處理一、原始數(shù)據(jù)記錄1.1 20組條紋刻度讀數(shù)(單位mm)1.
9、2.虛光源放大像/縮小像之間的間距b和b'(單位cm)求取平均值:1.3.成放大/縮小像時(shí)的物距(單位:cm)二、數(shù)據(jù)處理7 利用一元線性回歸法計(jì)算條紋間距: 設(shè)第零條條紋的位置為x0,則第i條條紋的位置設(shè)x=y, i=x 則y=a+bx2計(jì)算得x=11;y=4.4746;xy=62.08;x=157.6666667xi=x0-x.ib=xy-x.yx2-x=0.3507;x=0.3276;2a=y-bx=0.6169;xy-x.yr=(x2-x)(y-y)222=0.99989;SX=(Xi=152i-X)=0.004475(5-1)Ua(x)=0.00447 求波長并計(jì)算相對(duì)誤差
10、取理論值0=589.3nmx=0.3276 代入公式:-7=xbb=5.33110mS+S'則相對(duì)誤差%=-00100%=9.53%對(duì)的不確定度進(jìn)行計(jì)算8儀3Ub(x)=2.8710-3nmUa(x)=0.447=0.5296(nm 合成不確定度U=XU(b)2A+U2B)S+S'又b=U(b)b''=0.025'U(s)=U(s)=0.5; =xbb';故:U()=U(x)x2U(b)+b2(b')+'b2(S+S')+'S+S=2.26nm 2 最終結(jié)果表達(dá)式 ±U()=(533.1±2)n
11、m 相對(duì)誤差為: %=-00100%=9.53%9討論(1)誤差分析1.修正值誤差;2.儀器本身的誤差;3近似認(rèn)為兩虛光源 、 與狹縫 位于同一平面而引入的誤差;4操作者讀數(shù)造成的誤差等。(2)可能出現(xiàn)的問題分析調(diào)不出干涉條紋或可分辨的干涉條紋的數(shù)目較少,一般15個(gè)左右,并且干涉條紋模糊不清主要原因是各光學(xué)元件沒有達(dá)到共軸等高的要求?;蛘呖烧{(diào)狹縫的伸展方向和雙棱鏡的棱脊不嚴(yán)格平行,若以上兩者同時(shí)達(dá)到要求。那么出現(xiàn)此問題的原因是可調(diào)狹縫的寬度以及可調(diào)狹縫與雙棱鏡間距沒有保持在適當(dāng)范圍。在移動(dòng)測微目鏡時(shí)干涉條紋的中心區(qū)隨之移動(dòng)。很容易移出視場外主要原因是各光學(xué)元件沒有達(dá)到共軸等高的要求利用凸透鏡的兩次成像法測兩虛光源的間距時(shí)只能出現(xiàn)一次縮小的實(shí)像而無法觀察到一大-小兩個(gè)清晰的實(shí)像主要原因是各光學(xué)元件沒有達(dá)到共軸等高的要求,或者凸透鏡的焦距選擇不當(dāng)。(3)實(shí)驗(yàn)感想用雙棱鏡干涉測鈉光波長有一個(gè)重點(diǎn),也是難點(diǎn)內(nèi)容,即光路的等高共軸調(diào)節(jié)技術(shù)。這一項(xiàng)對(duì)之后的調(diào)節(jié)至關(guān)重要。本組的一起在調(diào)試過程中十分麻煩,因?yàn)橥哥R的高度在調(diào)節(jié)時(shí)要松開緊固螺母,勢(shì)必會(huì)改變透鏡與光路方向的垂直。另外由于導(dǎo)軌本身的誤差,會(huì)給后續(xù)工作帶來很多麻煩。通過本組實(shí)驗(yàn),我們不難發(fā)現(xiàn),鈉光干涉易于白光干涉但是難于激光干涉,雙棱鏡干涉易于勞埃鏡干涉,這是因?yàn)榧す獾牧炼雀咔冶緛砭褪窍喔晒庠矗c光燈,白熾燈則需要利用狹縫獲取光源,而且
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