SENSE-TGY6-大口徑管座角焊縫超聲波檢驗(yàn)工藝規(guī)程_第1頁
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文檔簡介

1、深圳市神視檢驗(yàn)有限公司標(biāo)題:大口徑管座角焊縫超聲波檢驗(yàn)工藝規(guī)程文件編號:SENSE/TGY6-2002版本號:第 2 版編制:日期:審核:日期:批準(zhǔn):日期:修改記錄修改位置修改內(nèi)容修改人批準(zhǔn)人生效日期1 適用范圍1.1本規(guī)程適用于大口徑管座全焊透角焊縫的超聲波檢驗(yàn)及其缺陷等級評定。1.2本規(guī)程不適用于鑄鋼、奧氏體不銹鋼材料制成的大口徑管座角焊縫超聲波檢驗(yàn)。 1.3所謂大口徑管座應(yīng)滿足:筒身內(nèi)徑不小于800mm,筒身壁厚不小于40mm且不大于120mm。管外徑不小于250mm,管內(nèi)徑不小于200。2 依據(jù)文件JB 4730壓力容器無損檢測GB /T 11345鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的

2、分級GB/T 12604.1無損檢測術(shù)語 超聲檢測JB 3144鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷JB 4126超聲波檢驗(yàn)用鋼質(zhì)試塊的制造和控制JB/T 9214 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T 10061 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T 10062超聲探傷用探頭性能測試方法JB/T 10063超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件ZB Y344超聲探傷用探頭型號命名方法3. 術(shù)語3.1簡化水平距離I ' 從探頭前沿到缺陷在探傷面上測量的水平距離。3.2缺陷指示長度 l焊縫超聲檢驗(yàn)中,按規(guī)定的測量方法以探頭移動距離測得的缺陷長度。3.3探頭接觸面寬度W環(huán)縫檢驗(yàn)

3、時為探頭寬度,縱縫檢驗(yàn)為探頭長度,見圖1所示EWo1/RII4亠圖1 探頭接觸面寬度3.4縱向缺陷 大致上平行于焊縫的缺陷。3.5橫向缺陷大致上垂直于焊縫的缺陷4. 檢驗(yàn)人員4.1執(zhí)行本規(guī)程的檢驗(yàn)人員必須掌握超聲波探傷的基礎(chǔ)技術(shù),具有足夠的焊縫超聲波探傷經(jīng) 驗(yàn),并掌握一定的材料、焊接基礎(chǔ)知識。還應(yīng)了解被檢工件的材料性能,焊接工藝,焊縫坡 口型式,剖口尺寸及可能出現(xiàn)缺陷的種類和在焊縫中的位置。4.2焊縫超聲檢驗(yàn)人員應(yīng)按鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核規(guī)則經(jīng)嚴(yán)格的培訓(xùn)和考核, 并持有勞動行政主管部門鍋爐壓力容器安全監(jiān)察機(jī)構(gòu)頒發(fā)的II級或II級以上資格證書,從事相應(yīng)考核項(xiàng)目的檢驗(yàn)工作。4.3具有良好

4、的身體素質(zhì),矯正視力不低于1.0,且一年檢查一次。5探傷儀、探頭及系統(tǒng)性5.1探傷儀使用A型顯示脈沖反射式探傷儀,其工作頻率范圍至少為15MHz ,探傷儀應(yīng)配備衰減器 或增益控制器,其精度為任意相鄰12dB誤差在+1dB內(nèi)。最小步進(jìn)級每檔不大于2 dB,總調(diào) 節(jié)量應(yīng)大于60 dB,水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。5.2探頭探頭應(yīng)按ZBY 344標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作出標(biāo)志。斜探頭晶片的有效面積不應(yīng)超過 500mm2,且任一邊長不應(yīng)大于25mm。聲束軸線水平偏離角應(yīng)不大于 20。探頭主聲束垂直方向的偏離,不應(yīng)有明顯的雙峰,其測試方法見JB/T 10062。斜探頭的公稱折射角B為450、60

5、o、70o或K值為1.0、1.5、2.0、2.5,折射角的實(shí)測 值與公稱值的偏差應(yīng)不大于2o (K值偏差不應(yīng)超過+0.1 ),前沿距離的偏離應(yīng)不大于1mm如 受工件幾何形狀或探傷面曲率等限制也可選用其它小型的探頭。直探頭可采用頻率為2.5MHz的軟保護(hù)膜直探頭或雙晶直探頭,為了取得良好的聲耦合 條件,推薦采用專用的、與工件接觸面尺寸為10X16mm的軟保護(hù)膜直探頭。a(或 b)w斜探頭可采用頻率為2.5MHz,探頭與工件接觸面尺寸符合下式規(guī)定的斜探頭。(mm)式中:a斜探頭接觸面的長度; b斜探頭接觸面的寬度; D探傷面的曲面直徑。當(dāng)證明確能提高探測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,或能夠較好地解決一般檢

6、驗(yàn)時的困難而又 確保結(jié)果的正確,可采用聚焦等特種探頭。5.3系統(tǒng)性能靈敏度余量系統(tǒng)有效靈敏度必須大于評定靈敏度 10dB以上。儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于 ±10%。儀器和直探頭組合的始脈沖寬度:對于頻率為5MHz的探頭,其占寬不得大于10mm;對于頻率為2.5MHz的探頭,其占寬不得大于15mm。直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)大于或等于 30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)大于或等于 6dB。儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按 JB/T 9214和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測試。6 超聲檢驗(yàn)一般要求6.1檢驗(yàn)復(fù)蓋率檢驗(yàn)時,應(yīng)盡量掃查到工件的整個被檢區(qū)域,探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的

7、 15%。6.2探頭的移動速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。6.3掃查靈敏度掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高 6dB。6.4耦合劑應(yīng)采用機(jī)油、漿糊、甘油或水等透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑。6.5檢測面檢測面和檢驗(yàn)范圍的確定原則上應(yīng)保證檢查到對接焊縫應(yīng)檢查到的整個截面。檢測面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格,所有影響超聲檢驗(yàn)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予以清除,其表 面粗糙度Ra不應(yīng)大于12.5卩m。耦合補(bǔ)償1)表面粗糙度補(bǔ)償在檢驗(yàn)和缺陷定量時,應(yīng)對由表面粗糙度引起的能量損耗進(jìn)行補(bǔ)償。2)衰減補(bǔ)償在檢驗(yàn)和缺陷定量時,應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢驗(yàn)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。3)曲面補(bǔ)償對于探測面是曲面的工

8、件,應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近(0.91.5)的參考試塊,對比進(jìn)行曲率補(bǔ)償。6.6校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在基準(zhǔn)試塊上進(jìn)行,校準(zhǔn)中使超聲主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的軸線,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。儀器校準(zhǔn)在儀器開始使用時,應(yīng)對儀器的水平線性進(jìn)行測定,測定方法按JB/T 10061的規(guī)定進(jìn)行。在使用過程中,每隔三個月至少應(yīng)對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定。探頭校準(zhǔn)在探頭開始使用時,應(yīng)對探頭進(jìn)行一次全面的性能校準(zhǔn)。測定方法應(yīng)按JB/T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。斜探頭校準(zhǔn)使用前,斜探頭至少應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等的校準(zhǔn)。 使用過程中,每個工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、K值和主聲束偏

9、離。直探頭校準(zhǔn)直探頭的始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力應(yīng)每隔一個月檢查一次。儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核復(fù)核時機(jī)每次檢驗(yàn)前均應(yīng)對掃描線、靈敏度進(jìn)行復(fù)核,遇有下述情況應(yīng)隨時對其進(jìn)行重新核查:1)校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時;2)開路電壓波動或者檢驗(yàn)者懷疑靈敏度有變化時;3)連續(xù)工作4小時以上時;4)工作結(jié)束時。掃描量程的復(fù)核如果距離波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)予以修正,并在檢驗(yàn)記錄中加以標(biāo)明。距離波幅曲線的復(fù)核復(fù)核時,校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所 有的檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢;如幅度上升 2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以

10、來所有的記錄信號進(jìn)行重新 評定。注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和線性校驗(yàn)時,任何影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開關(guān)等)都應(yīng)放在 “關(guān)”的位置或處于最低水平上。7.試塊7.1試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或聲學(xué)性能近似的材料制成。該材料用直探頭檢驗(yàn)時,不得有 大于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。7.2校準(zhǔn)用反射體可采用長橫孔、短橫孔、橫通孔、平底孔、線切割槽和V型槽等。校準(zhǔn)時,探頭主聲束應(yīng)與反射體的反射面相垂直。7.3試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征,試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉 及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進(jìn)行熔焊時,試塊的厚度應(yīng)由其平均厚度來確定。7.4試塊的制造要求應(yīng)符合 JB/T 10

11、063和JB 4126的規(guī)定。7.5現(xiàn)場檢驗(yàn)時,為校驗(yàn)靈敏度和時基線性,也可以采用其它型式的等效試塊。7.6采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-I A,CSK-II A、CSK-III A、CSK-IV A和曲面平底孔試塊。其中 曲面平底孔試塊是用于直探頭探測曲面受檢件的對比試塊。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖2、圖3、圖4、圖5、圖6和表1的規(guī)定。有機(jī)玻璃圖2 CSK-I A試塊7.7 CSK-I A、CSK-II A 和 CSK-III A 試塊適用壁厚范圍為 8120mm的焊縫,CSK-I A 和 CSK-IVA系列試塊適用壁厚范圍大于120300mm的焊縫。在滿足靈敏度要求時,也可采用其它型式 的等效試

12、塊,見鋼制對接焊縫超聲波檢驗(yàn)工藝規(guī)程(SENSE/TGY2-2002)的附錄A。7.8檢測曲面工件時,如檢測面曲面半徑 R小于等于W2/4時(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢 驗(yàn)時為探頭寬度,縱縫檢驗(yàn)時為探頭長度),應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊,反射孔的 位置可參照對比試塊確定。試塊應(yīng)滿足:b> 2 入 S/D。式中:b試塊寬度,mm入聲波波長,mmS聲程,mmD o聲源有效直徑,mm其余3.221 33 1LI 63圖3 CSK-II A試塊L試塊長度,由使用的聲程確定;T試塊厚度,由被檢材料厚度確定;I 標(biāo)準(zhǔn)孔位置,由被檢材料厚度確定,根據(jù)檢驗(yàn)需要可在試塊上添加標(biāo)準(zhǔn)孔其余3-II1!1

13、1II01 110101x6平底孔7個'-0也11i H11111111 】111 ?|!06.3-40-40 .6.311穴°R1°J/0300圖4 CSK-III A試塊其余63.40 .上1111以1163.24d b廠1TI. 3.2圖5 CSK-IV A試塊11平底孔寸11111 12525100bS, mm100125150175b, mm50506060圖6曲面平底孔試塊型式及尺寸R與工件曲面半徑相同,曲面光潔度與工件相同表1 CSK-IV A試塊尺寸CSK-IV A被檢工件厚度對比試塊厚度 T標(biāo)準(zhǔn)孔位置 b標(biāo)準(zhǔn)孔直徑dNo.1>12015013

14、5T/46.5No.2>150200175T/48.0Na3>200250225T/49.5No.4>250300275T/411.08座角焊縫的型式8.1插入式管座角焊縫見圖78.2安放(座)式管座角焊縫見圖8位置3位置1位置1圖7 插入式管座角焊縫圖8安放式管座角焊縫9. 掃查方式9.1 一般原則在選擇檢測面和探頭時應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性,并使聲束盡可能垂直于該焊縫 結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。9.2具體掃查方式根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式,管座焊縫的檢驗(yàn)有如下五種探測方式,可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢驗(yàn)。檢驗(yàn)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定, 并考慮主要檢驗(yàn)對象和幾何條件的限制, 見(

15、圖7、圖8)7位置1。8位置1 o8位置2o7和圖8位置37位置2o(1) 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢驗(yàn),見圖(2) 在容器內(nèi)壁采用直探頭檢驗(yàn),見圖(3) 在接管外壁采用斜探頭檢驗(yàn),見圖(4) 在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢驗(yàn),見圖(5) 在容器外壁采用斜探頭檢驗(yàn),見圖9.3管座角焊縫以直探頭檢驗(yàn)為主。對直探頭掃查不到的區(qū)域,可采用斜探頭檢驗(yàn)9.4橫向缺陷探測 當(dāng)委托要求探測橫向缺陷時,管座角焊縫均應(yīng)在筒體內(nèi)壁焊縫余高磨平后進(jìn)行超聲波探 傷。斜探頭在磨平后的焊縫表面上進(jìn)行順時針和逆時針兩個方向探測,如(圖焊縫圖9橫向缺陷的探測10. 檢驗(yàn)準(zhǔn)備10.1探傷面斜探頭檢驗(yàn)的探傷準(zhǔn)備要求見 SENSE/TGY2-

16、2002。直探頭移動區(qū)域,應(yīng)經(jīng)打磨平滑。10.2探頭選用直探頭,見條斜探頭,見條,也可參照 SENSE/TGY2-2002中表2選用。11. 檢驗(yàn)靈敏度11.1不論何種探頭,掃查靈敏度均不應(yīng)低于評定線靈敏度11.2斜探頭的檢驗(yàn)靈敏度按 SENSE/TGY2-2002執(zhí)行。11.3直探頭的檢驗(yàn)靈敏度直探頭靈敏度可在與工件同曲率的試塊上調(diào)節(jié),也可采用計(jì)算法或DGS曲線法,以工件底面回波調(diào)節(jié)。其檢驗(yàn)等級評定見表2 (2=03-6dB)表2 直探頭檢驗(yàn)等級評定檢 驗(yàn) 靈、等敏”、級 度ABC評定靈敏度322定量靈敏度433判廢靈敏度66411.4對在此靈敏度下掃查發(fā)現(xiàn)的缺陷訊號位置作出標(biāo)記。12. 缺

17、陷定量檢驗(yàn)對11.4條作出標(biāo)記位置的缺陷進(jìn)行定量檢驗(yàn)。12.1靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。12.2對所有反射波幅超過定量線的缺陷,均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量12.3缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑或缺陷指示長度L。(1)缺陷當(dāng)量直徑,用當(dāng)量平底孔直徑表示,主要用于直探頭檢驗(yàn),可采用公式計(jì)算,距離波幅曲線和試塊對比來確定缺陷當(dāng)量尺寸。(2)缺陷指示長度 L的測定采用以下方法: 當(dāng)缺陷反射波只有一個高點(diǎn),且位于II區(qū)時,用6dB法測其指示長度。 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個高點(diǎn)且位于II區(qū)時,應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測其指示長 度。 當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū),如認(rèn)為有必要記錄時,

18、將探頭左右移動,使波幅降到評定 線,以此測定缺陷指示長度。13. 缺陷評定13.1超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征,如有懷疑時,應(yīng)采取改變 探頭K值、增加檢測面、觀察動態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定,如對波型不能判斷時, 應(yīng)輔以其它檢驗(yàn)方法作綜合判定。13.2缺陷指示長度小于10mm時按5mm計(jì)。13.3相鄰兩缺陷在一直線上,其間距小于其中較小的缺陷長度時,應(yīng)作為一條缺陷處理,以 兩缺陷長度之和作為其指示長度(不考慮間距)。14. 缺陷等級評定14.1除試樣之外的任何情況下,均不允許存在下列缺陷:a)反射波幅位于III區(qū)的缺陷;b)檢驗(yàn)人員判定為裂紋等危害性的缺陷。14.2

19、最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷,均評為I級。14.3最大反射波幅位于II區(qū)的缺陷,根據(jù)其指示長度按檢驗(yàn)委托單指定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)評級,表 3是按JB 4730-94標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定評級方法,供參考。14.4不合格的缺陷應(yīng)予返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本規(guī)程進(jìn)行檢驗(yàn)和等級評定。表3 II區(qū)缺陷的等級評定mm等級板厚T單個缺陷指示長度L多個缺陷的累積指示長度L'I8120>1203001L=_T,最小為10,最大不3 超過301L二-T,最大不超過503在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L'不超過TII8120>1203002L= T,最小為12,最大不3超過40最大不超過75在任意4.

20、5T焊縫長度范圍內(nèi)L"不超過TIII超過II級者注:板厚不等的焊縫,以薄板為準(zhǔn)當(dāng)焊縫長度不足 9T (I級)或4.5T ( II級)時,可按比例折算。15. 記錄、報(bào)告記錄、報(bào)告至少應(yīng)包括下列內(nèi)容:15.1探測對象:產(chǎn)品名稱和編號;工件名稱和規(guī)格;材質(zhì);焊接方法、剖口型式。15.2探測條件:儀器型號(編號);探頭參數(shù)(探頭種類、頻率、晶片尺寸、斜探頭 K值); 試塊及耦合劑;耦合補(bǔ)償值;掃查靈敏度。15.3示圖:探測位置;焊縫在產(chǎn)品上的分布及定位方法;需記錄及返修的缺陷參數(shù)(缺陷最 大反射幅度當(dāng)量、缺陷指示長度及埋藏深度、缺陷在焊縫長度方向上的分布及定位)15.4檢驗(yàn)結(jié)論。15.5檢

21、驗(yàn)日期及操作者、資格等級。測量學(xué)模擬試卷得分評卷人復(fù)查人一、單項(xiàng)選擇題(每小題 1分,共20分)在下列每小題的四個備選答案中選出一個正確的答案,并將其字母標(biāo)號填入題干的括號內(nèi)。1 經(jīng)緯儀測量水平角時,正倒鏡瞄準(zhǔn)同一方向所讀的水平方向值理論上應(yīng)相差(A 180 °B0°C 90 °D 270 °2. 1: 5000地形圖的比例尺精度是(D )。A 5 m B 0.1 mm C 5 cm D 50 cm3. 以下不屬于基本測量工作范疇的一項(xiàng)是(C)。A高差測量B距離測量C導(dǎo)線測量 D角度測量C南西50°D南西404. 已知某直線的坐標(biāo)方位角為A 2

22、20 °B 40 °220 °,則其象限角為(D )。5. 由一條線段的邊長、方位角和一點(diǎn)坐標(biāo)計(jì)算另一點(diǎn)坐標(biāo)的計(jì)算稱為(A )。A坐標(biāo)正算B坐標(biāo)反算C導(dǎo)線計(jì)算D水準(zhǔn)計(jì)算6.閉合導(dǎo)線在X軸上的坐標(biāo)增量閉合差(A )oA為一不等于0的常數(shù)B與導(dǎo)線形狀有關(guān)C總為0 D由路線中兩點(diǎn)確定7. 在地形圖中,表示測量控制點(diǎn)的符號屬于(D )。A比例符號B半依比例符號C地貌符號 D非比例符號8. 在未知點(diǎn)上設(shè)站對三個已知點(diǎn)進(jìn)行測角交會的方法稱為( A )oA后方交會B前方交會C側(cè)方交會 D無法確定9. 兩井定向中不需要進(jìn)行的一項(xiàng)工作是(C )oA投點(diǎn)B地面連接C測量井筒中鋼絲長度

23、D井下連接10. 絕對高程是地面點(diǎn)到( C )的鉛垂距離。A坐標(biāo)原點(diǎn)B任意水準(zhǔn)面C大地水準(zhǔn)面 D赤道面11. 下列關(guān)于等咼線的敘述是 錯誤的是:(A )A .高程相等的點(diǎn)在同一 '等咼 線上B. 等高線必定是閉合曲線,即使本幅圖沒閉合,則在相鄰的圖幅閉合C. 等高線不能分叉、相交或合并D .等高線經(jīng)過山脊與山脊線正交12 下面關(guān)于非比例符號中定位點(diǎn)位置的敘述錯誤的是(B )A 幾何圖形符號,定位點(diǎn)在符號圖形中心B 符號圖形中有一個點(diǎn),則該點(diǎn)即為定位點(diǎn)C.寬底符號,符號定位點(diǎn)在符號底部中心D 底部為直角形符號,其符號定位點(diǎn)位于最右邊頂點(diǎn)處13 .下面關(guān)于控制網(wǎng)的敘述 錯誤的是(D )A

24、.國家控制網(wǎng)從高級到低級布設(shè)B. 國家控制網(wǎng)按精度可分為 A、B、C、D、E五等C. 國家控制網(wǎng)分為平面控制網(wǎng)和高程控制網(wǎng)D .直接為測圖目的建立的控制網(wǎng),稱為圖根控制網(wǎng)14.下圖為某地形圖的一部分,各等高線高程如圖所視,A點(diǎn)位于線段MN上,點(diǎn)A到點(diǎn)M和點(diǎn)N的圖上水平距離為 MA=3mm , NA=2mm,貝U A點(diǎn)高程為(A )B .36.6mC .37.4mD .37.6mA.36.4m15如圖所示支導(dǎo)線,的坐標(biāo)方位角CD為(A. 75 30'30''B . 15 30'30''C . 45 30'30''D . 25

25、29'30''16 .三角高程測量要求對向觀測垂直角,計(jì)算往返高差,主要目的是(D )A .有效地抵償或消除球差和氣差的影響B(tài).有效地抵償或消除儀器高和覘標(biāo)高測量誤差的影響c.有效地抵償或消除垂直角讀數(shù)誤差的影響D 有效地抵償或消除讀盤分劃誤差的影響17. 下面測量讀數(shù)的做法正確的是( C ) A .用經(jīng)緯儀測水平角,用橫絲照準(zhǔn)目標(biāo)讀數(shù)B. 用水準(zhǔn)儀測高差,用豎絲切準(zhǔn)水準(zhǔn)尺讀數(shù)C. 水準(zhǔn)測量時,每次讀數(shù)前都要使水準(zhǔn)管氣泡居中 D .經(jīng)緯儀測豎直角時,盡量照準(zhǔn)目標(biāo)的底部18. 水準(zhǔn)測量時對一端水準(zhǔn)尺進(jìn)行測量的正確操作步驟是(D )。A對中-整平-瞄準(zhǔn)-讀數(shù) C粗平-精平-

26、瞄準(zhǔn)-讀數(shù)A整平-瞄準(zhǔn)-讀數(shù)-精平D粗平-瞄準(zhǔn)-精平-讀數(shù)19. 礦井平面聯(lián)系測量的主要任務(wù)是(A實(shí)現(xiàn)井上下平面坐標(biāo)系統(tǒng)的統(tǒng)一C作為井下基本平面控制20. 井口水準(zhǔn)基點(diǎn)一般位于(A )。A地面工業(yè)廣場井筒附近C地面任意位置的水準(zhǔn)點(diǎn)D )B實(shí)現(xiàn)井上下高程的統(tǒng)一D提高井下導(dǎo)線測量的精度B井下井筒附近D井下任意位置的水準(zhǔn)點(diǎn)得分評卷人復(fù)查人、填空題(每空 2分,共20 分)21水準(zhǔn)測量中,為了進(jìn)行測站檢核,在一個測站要測量兩個高差值進(jìn)行比較,通常采用的測量檢核方法是雙面尺法和 。22直線定向常用的標(biāo)準(zhǔn)方向有真子午線方向、 磁北方向 和坐標(biāo)縱線方向。23地形圖符號一般分為比例符號、_半依比例符號和不依比

27、例符號。24井下巷道掘進(jìn)過程中,為了保證巷道的方向和坡度,通常要進(jìn)行中線和的標(biāo)定工作。25測量誤差按其對測量結(jié)果的影響性質(zhì),可分為系統(tǒng)誤差和_偶然誤差 。26地物注記的形式有文字注記、 和符號注記三種。27象限角的取值范圍是:0-90。28經(jīng)緯儀安置通常包括整平和厘中。這個數(shù)學(xué)曲面29為了便于計(jì)算和分析, 對大地水準(zhǔn)面采用一個規(guī)則的數(shù)學(xué)曲面進(jìn)行表示, 稱為參考托球面。30光電測距儀按照測量時間的方式可以分為相位式測距儀和差分得分評卷人復(fù)查人31 豎盤指標(biāo)差、名詞解釋(每小題 5分,共20 分)豎盤分劃誤差32. 水準(zhǔn)測量利用水準(zhǔn)儀測定兩點(diǎn)間的高差33. 系統(tǒng)誤差由客觀原因造成的具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性的

28、誤差34. 視準(zhǔn)軸儀器望遠(yuǎn)鏡物鏡和目鏡中心的連線得分評卷人復(fù)查人四、簡答題(每小題 5分,共20 分)35. 簡述測回法測量水平角時一個測站上的工作步驟和角度計(jì)算方法。對中,整平,定向,測角。觀測角度值減去定向角度值36. 什么叫比例尺精度?它在實(shí)際測量工作中有何意義?圖上0.1毫米在實(shí)地的距離??梢杂绊懙匚锶∩?7 簡述用極坐標(biāo)法在實(shí)地測設(shè)圖紙上某點(diǎn)平面位置的要素計(jì)算和測設(shè)過程。38 高斯投影具有哪些基本規(guī)律。得分評卷人復(fù)查人五、計(jì)算題(每小題 10分,共20分)39. 在 1: 2000 圖幅坐標(biāo)方格網(wǎng)上,量測出 ab = 2.0cm, ac = 1.6cm, ad = 3.9cm, ae

29、 =5.2cm。試計(jì)算 AB長度Dab及其坐標(biāo)方位角a ab。1200ce140040. 從圖上量得點(diǎn)M 的坐標(biāo) XM=14.22m, YM=86.71m ;點(diǎn) A的坐標(biāo)為 XA=42.34m,YA=85.00m。試計(jì)算M、A兩點(diǎn)的水平距離和坐標(biāo)方位角。測量學(xué)標(biāo)準(zhǔn)答案與評分說明一、一、 單項(xiàng)選擇題(每題1分)I A; 2 D ;3 C;4 D;5 A; 6 C ; 7 D ; 8 A; 9 C; 10 C;II A; 12 D; 13 B ; 14 A ; 15 B ; 16 A ; 17 C ; 18 D ; 19 A ; 20 A二、二、 填空題 (每空2分,共20分)21變更儀器高法22

30、磁北方向23半依比例符號(或線狀符號)24. 腰線25. 偶然誤差26. 數(shù)字注記27 大于等于0度且小于等于90度(或0 ° , 90 ° )28對中29旋轉(zhuǎn)橢球體面30脈沖式測距儀三、三、名詞解釋(每題 5分,共20分)31豎盤指標(biāo)差:在垂直角測量中,當(dāng)豎盤指標(biāo)水準(zhǔn)管氣泡居中時,指標(biāo)并不恰好指向其正 確位置90度或270度,而是與正確位置相差一個小角度x, x即為豎盤指標(biāo)差。32水準(zhǔn)測量:利用一條水平視線并借助于水準(zhǔn)尺,測量地面兩點(diǎn)間的高差,進(jìn)而由已知點(diǎn)的高程推算出未知點(diǎn)的高程的測量工作。33系統(tǒng)誤差:在相同的觀測條件下, 對某量進(jìn)行了 n次觀測,如果誤差出現(xiàn)的大小和符號 均相同或按一定的規(guī)律變化,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差。34視準(zhǔn)軸:望遠(yuǎn)鏡物鏡光心與十字絲中心(或交叉點(diǎn))的連線。四、四、簡答題(每題5分,共20分)35(1 )在測站點(diǎn)O上安置經(jīng)緯儀,對中,整平(1分)(2) 盤左瞄準(zhǔn) A點(diǎn),讀數(shù)La,順時針

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