百分表檢定操作

1、 百分表百分表檢定實際操作檢定實際操作百分表結(jié)構(gòu)及工作原理百分表結(jié)構(gòu)及工作原理l百分表的工作原理,是將被測尺寸引起的測桿微小直線移動,經(jīng)過齒條、齒輪傳動放大,變?yōu)橹赣嬙诳潭缺P上的轉(zhuǎn)動,從而讀出被測尺寸的大小。測桿移動1mm，指針旋轉(zhuǎn)1圈，若表盤上印制有100個等分刻度，即每一分度值相當(dāng)于量桿移動0.01毫米。讀數(shù)方法：先讀小指針轉(zhuǎn)過的刻度線（即毫米整數(shù)），再讀大指針轉(zhuǎn)過的刻度線（即小數(shù)部分），并乘以0.01，然后兩者相加，即得到所測量的數(shù)值。百分表檢定儀百分表檢定儀百分表檢定儀技術(shù)參數(shù)百分表檢定儀技術(shù)參數(shù) 利用測微千分尺作為檢定用標(biāo)準(zhǔn)：1.測量范圍：0-25mm；全程示值誤差0.004mm；

2、在任意10mm范圍內(nèi)示值誤差 0.003mm； 任意1mm范圍內(nèi) 0.002mm； 回程誤差 0.001mm。2.測力計：測量范圍0 1.6N，分度值0.1N。3.帶筋平臺：平面度不大于0.001mm;4.半園柱測塊：園柱母線與底平面平行度0.001 mm全自動指示表檢定儀全自動指示表檢定儀指示表檢定儀技術(shù)參數(shù)指示表檢定儀技術(shù)參數(shù) 采用高精度光柵系統(tǒng)作為檢定標(biāo)準(zhǔn)，利用數(shù)字圖像處理技術(shù)、精確的光柵位移測控技術(shù)以及電機控制系統(tǒng)，采用攝像識別方式、精密電動定位方式，使指示表的檢定實現(xiàn)全過程自動化。1.示值誤差：任意1mm范圍內(nèi)誤差0.5m，任意2mm范圍內(nèi)誤差1.0m，任意10mm范圍內(nèi)誤差1.5m

3、，任意30mm范圍內(nèi)誤差1.8m，50mm范圍內(nèi)誤差2.5m2.回程誤差：0.5m3.分 辨 力： 0.2um； 0.125um；0.1um標(biāo)準(zhǔn)裝置與被檢量具技術(shù)參數(shù)對照表標(biāo)準(zhǔn)裝置與被檢量具技術(shù)參數(shù)對照表指示表檢定儀3mm量程百分表 10mm量程百分表技術(shù)參數(shù)光柵為標(biāo)準(zhǔn)千分尺為標(biāo)準(zhǔn)10mm示值誤差 1.5m 3m 14m 20m1mm示值誤差 0.5m 2m 10m 10m回程誤差0.5m 1m 3m 3m百分表檢定項目及主要檢定器具百分表檢定項目及主要檢定器具序號檢定項目主要檢定器具首次檢定后續(xù)檢定使用中檢驗1外觀2各部分相互作用3指示與刻度盤的相互位置工具顯微鏡4指針末端寬度和刻線寬度5軸

4、套直徑外徑千分尺6測頭表面粗操度表面粗操度樣塊7指示表行程8測量力量具測力儀：2%9重復(fù)性剛性表架，平面工作臺10測量桿徑向力對示值的影響半圓柱塊11示值誤差數(shù)顯指示表檢定儀：12回程誤差千分表檢定儀：1.5m/2mm13示值漂移百分表檢定儀：3m/10mm檢定條件檢定條件1、室溫20 10 ，溫度變化2 /1h；2、室內(nèi)相對濕度不超過80%3、指示表和檢定用器具等溫時間不小于2h檢定項目及檢定設(shè)備、檢定方法檢定項目及檢定設(shè)備、檢定方法 一、外觀一、外觀 檢查方法：目力觀察 檢查內(nèi)容：l1、表蒙透明清潔，刻線清晰。無銹蝕、碰傷、毛刺、鍍層脫落、明顯劃痕，無目力可見的斷線后粗細(xì)不均等影響外觀質(zhì)量

5、的其他缺陷。l2、必須有廠名或商標(biāo)、測量范圍、分度值、分辨力和出廠編號。 數(shù)顯指示表各功能鍵標(biāo)注清晰、明確。l3、后續(xù)檢定和使用中檢驗，允許有不影響使用準(zhǔn)確度的外觀缺陷。 二、各部分相互作用二、各部分相互作用 檢定方法：手動試驗或目力觀察 檢定內(nèi)容：l1、表圈轉(zhuǎn)動平穩(wěn)、靜止可靠，與表體配合無明顯的松動。l2 、測桿移動平穩(wěn)、靈活、無卡滯現(xiàn)象。l3 、測桿移動時指針無松動。l4 、緊固指示表軸套后，測桿自由移動時，不得卡住。 三、指針與刻度盤的相對位置三、指針與刻度盤的相對位置 1、技術(shù)要求： a）測桿在自由位置時，調(diào)整刻度盤零刻線和軸線重合，指針處于逆時針方向的3090范圍內(nèi)。 b）指針與刻度

6、盤無目力可見的偏斜。 c）指針末端上表面與刻線面的距離不大于0.7mm d）指針長度保證指針末端蓋住短刻線長度的30%80%之間。 2、檢定方法： 目力觀察。距離建議用工具顯微鏡。 四、指針末端刻度與刻線寬度四、指針末端刻度與刻線寬度 1、技術(shù)要求：0.15mm 0.25mm 2、檢定設(shè)備及方法：工具顯微鏡，至少抽檢3條刻線 五、軸套直徑五、軸套直徑1、技術(shù)要求： 8（00.015）mm。2、檢定用設(shè)備及方法： 外徑用千分尺檢定。 六、測量頭表面粗糙度六、測量頭表面粗糙度 1、技術(shù)要求： Ra0.1 Ra0.2 。 2、檢定用設(shè)備及方法： 用表面粗糙度比較樣塊進(jìn)行比較。 七、指示表的行程七、指

7、示表的行程 1、技術(shù)要求： 3mm量程的超過上限0.3mm 5mm量程的超過上限0.5mm 2、檢定方法： 試驗和目力觀察。 八、測量力八、測量力 1、技術(shù)要求： 最大測力不大于1.5N，全程測力變化不大于0.5N，回程測力落差不 大于0.5N。 2、檢定設(shè)備：分度值不大于0.1N的測力儀。 3、檢定方法：在指示表行程的上、中、下3個位置進(jìn)行檢定。正行程完后再移動5 10個分度再進(jìn)行反行程檢定。 正行程的最大測量力為指示表的最大測量力；正行程的最大與最小測量力只差為測量力落差。 九、重復(fù)性九、重復(fù)性 1、技術(shù)要求： 0.01mm分度的重復(fù)性不大于0.003mm。 2、檢定用輔助測量設(shè)備： 剛性

8、表架，垂直于測量軸的固定平面工作臺 3、檢定方法： 工作行程始、中、末三個位置對準(zhǔn)某一刻度提升測桿5次，5次中最大與最小值只差即為該位置上的重復(fù)性。 十、測桿徑向受力對示值的影響十、測桿徑向受力對示值的影響 1、技術(shù)要求： 0.01mm分度的對示值的影響不大于0.005mm。 2、檢定用輔助測量設(shè)備： 剛性表架，垂直于測量軸的帶筋工作臺，半徑為10mm的半圓柱側(cè)塊（量塊附件） 3、檢定方法：調(diào)整指示表與工作行程起始位置與側(cè)快圓柱面最高位置附近接觸，沿測塊母線垂直方向，分別在指示表的前、后、左、右4個位置移動測塊各兩次，每次測塊的最高點與表頭接觸出最大點（轉(zhuǎn)折點）時，記下讀數(shù)，在8個讀數(shù)中最大與

9、最小只差為徑向受力對示值的影響。 十一、示值誤差十一、示值誤差 1、技術(shù)要求：百分表最大允許誤差和回程誤差百分表最大允許誤差和回程誤差測量范圍最大允許誤差回程誤差任意0.1mm任意1mm全量程3mm0.05mm0.010mm0.014mm0.03mm5mm0.05mm0.010mm0.016mm0.03mm10mm0.05mm0.010mm0.020mm0.03mm 2、檢定方法： 百分表測量桿處于垂直向下或水平狀態(tài)； 0.01mm分度百分表首次檢定間隔為10分度（0.1mm），后續(xù)檢定間隔為20分度（0.2mm），正向行程至全行程后再壓縮10分度左右，再進(jìn)行反向行程。 在整個檢定過程中，中途不得改變測桿的移動方向，對儀表也不得作任何調(diào)整。 全量程、任意0.1mm、任意1mm的示值誤差均由正行程內(nèi)各受檢點誤差的最大值與最小值之差確定。 十