SPC作業(yè)指導書

1、文件類型Document Type 手冊 程序 作業(yè)文件 操作指導書 檢驗指導書 工藝指導書 控制計劃 FMEA 流程圖 其他： 更改史(REVISION HISTORY)版本REV.發(fā)起日期INITIATE DATE發(fā)起人ORIGINATOR更改史REVISION HISTORY編制Originator： 審核Auditor： 批準Approval： 1. 目的： 以控制圖作為控制制造工程的重要工具，其目的如下：1.1 調查制造工程是否安全。1.2 分析制造能力。1.3 保持工程在安定狀態(tài)。1.4 作為工程改善之比較。1.5 通過過程之變化加以改善進而提高質量并降低管理成本。2. 范圍： 使

2、用于Dell較精密的和客戶有要求的產(chǎn)品控制圖及過程能力分析。3. 定義：3.1 計量值控制圖：重要控制項目，如尺寸、平面度等的控制圖。3.2 計數(shù)值控制圖：如不良數(shù)、不良率缺點數(shù)的控制圖。4. 作業(yè)內(nèi)容：4.1 質量部負責控制之分析及使用方法之輔導。4.2 各相關單位負責控制圖之執(zhí)行及會同有關單位作異常排除。4.3 使用時機：4.3.1 先期品質規(guī)劃階段。4.3.2 過程控制中使用。4.4 制定控制界限的步驟：4.4.1 取樣方法：依控制計劃內(nèi)設計（定時或定量）取樣35件作為組，樣品相互間之差距愈小愈好。4.4.2 測定并記錄：依控制特性、方法執(zhí)行量測及記錄。4.4.3 計算每組的X（平均值）

3、及R（全距）記錄在于表內(nèi)。4.4.4 計算：（1）收集最近且與今后制程相似的數(shù)據(jù)100個。（2）依測定時間順序排列。（3）數(shù)據(jù)分組：a）組內(nèi)的數(shù)據(jù)為樣本數(shù)以n表示。b）組的個數(shù)為組數(shù)以k表示，k=2025為宜。c）組內(nèi)樣本數(shù)以35個。（4）將數(shù)據(jù)依組別填入控制圖中。（5）計算平均值（比測定值多求一位數(shù)）。（6）計算各組全距R。 R=Xmax-Xmin（7）計算總平均X（比測定值多求兩位數(shù)）。（8）計算全距平均R。組的大小A2D3D421.8803.2731.0202.5740.7302.2850.5802.1160.4802.00（9）計算控制上下界限控制界限。 X 控制圖UCL= +A2R

4、CL= LCL= -A2RR控制圖UCL=D4 CL= LCL=D3 （10）繪制控制界限a）控制上下限(UCL，LCL)以紅色虛線表示之。b）控制中心線（CL）用藍色或黑色實線表示之。c）R圖下控制界限在樣本小于6時為免值，以0為代表，并以控制圖的底線為零線。d） 圖控制上下限距離一般約為30mm，約占篇幅的2/3為最恰當。（11）點圖a）在控制界限以內(nèi)的點以.表示之。b）在控制界限以外的點則以表示。c）將各點以實線連接成折線圖形。4.5 記入取樣資料：品名、質量特性、測定單位、測定者、抽樣方法。規(guī)格及控制圖編號。4.6 定期核算：4.6.1 依實際控制圖狀況，無異常情況每六個月核算一次控制

5、線。.6.2 控制圖每填滿25點由該單位轉送質量部核算，但發(fā)生能力不足或是異常點發(fā)生時，必須立即采取對策。4.7 控制圖的研判：4.7.1 正?？刂茍D之判識法： 正常的控制圖，大多數(shù)的點集中在中心線之附近，且為隨機散布，同時在控制界限附近之點甚少。亦即三分之二的點落在C區(qū)間內(nèi)，三分之一的點落在A和B區(qū)間內(nèi)。+3A區(qū)+2B區(qū)+1C區(qū)-1C區(qū)-2B區(qū)-3A區(qū)UCL CL LCL4.7.2 不正?？刂茍D之判識法:不正?？刂茍D之判識乃根據(jù)統(tǒng)計學的原理，當發(fā)現(xiàn)各樣本的頻數(shù)不呈隨機性，或有點落在控制界限外時，即判定過程具有非機遇變異之原因，宜尋找出原因之所在，并剔除之。以下是幾種常見的不正常控制：UCL

6、LCLAB C 控制圖異常判讀（ -R）（1）異?，F(xiàn)象：落點位置超出上下控制界限。 判讀：有特殊原因發(fā)生，導致過程不在控制狀態(tài)下。 發(fā)生原因： a）點超出上控制界限。 1-控制界限或是繪點錯誤。 2-制品之間變異增大或是散布太廣。 3-使用不同的量具或不同量測人員。 b）點超出下控制界限。 1-控制界限或是繪點錯誤。 2-組內(nèi)變異（制品之間）變小，及變好。 3-量測方法變異（包括數(shù)據(jù)填寫方法變異）。 （2）異?，F(xiàn)象：連續(xù)七點在中心線的單側出現(xiàn)。UCL LCLAB C（3）異?，F(xiàn)象：連續(xù)七點以上依次上升或下降。UCL LCLAB C發(fā)生原因：點連續(xù)的落在中心線上側或是依次上升時。 a）制品間之差

7、異變大，可能是由不正常原因造成（例如：設備故障）。 b）量測方法的改善，而造成錯誤的結果。 （4）異?，F(xiàn)象：點的分布太接近中心線。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計算錯誤或是繪點錯誤。 b）過程或是抽樣方法是經(jīng)過加以層別挑選過，抽取之樣本來自多種差 異很大的過程。 c）數(shù)據(jù)被修整過（例如：挑除太靠近控制界限的點或是將數(shù)據(jù)改過）。 （5）異常現(xiàn)象：點的分布太靠近上、下界限。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計算錯誤或是繪制點錯誤。 b）所抽取之樣本來自兩種極為不相同的群體。（例如：差異很大的盡量批次原料混合在一起使用）。 注：如果發(fā)現(xiàn)不同過程品混合在一起使用，必須將其分

8、離并標明?？刂茍D異常判讀UCL LCLAB C （6）異常現(xiàn)象：點落在上、下控制界限之外（特殊原因存在）。發(fā)生原因： a）控制界限計算或是繪點錯誤。 b）過程已經(jīng)變動，可能是自該點開始（也許是偶發(fā)事件）或是為一不正常趨勢的一部分。 c）量測方法不同（例如：不同的檢查員或是不同量具）。 （7）異?，F(xiàn)象：連續(xù)七點的串在中心線之上側或下側。UCL LCLAB C（8）異常現(xiàn)象：連續(xù)七個點以上的點依次上升或下降。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計算錯誤或是繪點錯誤，以及修正的控制界限計算錯誤。 b）過程件的抽樣經(jīng)過層別挑選過，也就是說不良品已經(jīng)被挑選處理，或是樣組內(nèi)所包含的數(shù)據(jù)是從兩個以

9、上的不同過程中制品所取得。 c）數(shù)據(jù)被修整過（例如：挑除太靠近控制界限的點或是將數(shù)據(jù)改過）。UCL LCLAB C （10）異常現(xiàn)象：遠少于2/3的點在B區(qū)間內(nèi)。 發(fā)生原因： a）控制界限計算或是繪點錯誤。 b）所抽取之樣本來自兩種極為不同的群體。（例如：差異很大的進料批次原料混合在一起使用）。 注：如果發(fā)現(xiàn)不同過程品混合在一起使用，必須將其分離并標明。4.8 其他控制圖制定辦法 4.8.1 類別（1）不良數(shù)（np）控制圖：屬于計數(shù)，在每次均檢查一定數(shù)量的生產(chǎn)件，其不合格件之數(shù)量。（2）缺點（c）控制圖：屬于計數(shù)，在每次均檢查一定數(shù)量的生產(chǎn)件，其不合格件之數(shù)量。（3）不良率（P）控制圖：為計算

10、檢查后，不合格件數(shù)與合格件數(shù)之百分比率的控制圖。 （4）單位缺點（u）控制圖：為計算某一特定范圍內(nèi)不合格點數(shù)的百分率的控制圖。 4.8.2 使用范圍 （1）依控制計劃制定的管理項目，可使用量規(guī)或目視檢驗者，如孔徑、外觀等。 （2）其他臨時協(xié)調追加之管理項目。 4.8.3 不良率控制圖（P-控制圖） （1）收集數(shù)據(jù)：收集過去已知之檢查數(shù)n及不良品數(shù)d之數(shù)據(jù)20組以上。 （2）分組：依收集數(shù)據(jù)之時間，或以每批產(chǎn)品為一組，進行分組。 （3）將數(shù)據(jù)記入控制圖表中，依分組次序記入。 （4）計算每組之不良率：（5）計算平均不良率P及平均樣本數(shù)n： （6）計算控制界限： a）各組樣本數(shù)相等時b）各組樣本數(shù)不

11、等時（ni代表任一樣組織樣本數(shù)，i=1，2，3，4k）（7）繪制控制界限： a）上、下控制界限以紅色虛線表示之。 b）中心線以藍色或黑色實線表示之。 （8）點圖：將各組之不良率點入控制圖之適當位置。 （9）記入其他事項：將品名、規(guī)格、控制特性、控制圖編號、測定者，一一填入控制圖內(nèi)。 （10）用途：不良率控制圖可適合下列各種情況： a）僅能以不良品表示品質特性； b）大量剔選將產(chǎn)品依規(guī)格分為合格或不合格品時。 c）產(chǎn)品用通與不通量規(guī)或自動挑選機分為兩派良品或不良品時。 d）要研究某制造工程有多少廢品等。 e）不良率管制圖之樣本數(shù)可以一定或不一定。 （11）不良率（P）控制圖問題檢討：P控制圖被使

12、用一段時間后，過程雖穩(wěn)定，但平均不良率（P）偏高，無法滿足要求時，可經(jīng)由下列兩種方法加以改善。a）更改設計：將原設計中某一零件以另外一種零件取代，使不良品減少。 b）更換工具或購置新設備以提高過程能力。（12）不良率控制圖抽樣品之研究：不良率控制圖樣本數(shù)若過多浪費;檢查數(shù)太少，判斷則不準確。因此，在設定不良率控制圖時，應考慮每天取樣之次數(shù)，每次抽樣n個樣本，如何隨機抽樣等問題，樣本數(shù)之大小，不應小至發(fā)現(xiàn)一個不良品時，在控制圖上即表示有非機遇原因。同時，在計算不良率控制圖時，常有控制下限小于零（系為負值）之情形，造成上下控制界限對中心線之距離，形成不對稱，不符合平均值加減三個標準差之控制界限原理

13、。為符合此項原理，所抽取之樣本數(shù)，最好能使控制下限（LCL）必大于或等于零。 4.9 異常原因分析與處理： 4.9.1發(fā)生異常原因之種類： （1）因管理不善而產(chǎn)生異常。 a）無作業(yè)標準化 b）作業(yè)人員訓練不足。 c）不良材料混入過程中。 d）量具測試儀器未加校驗與維護。（2）因環(huán)境、設備問題而產(chǎn)生異常： a）機械精度不足。 b）工作環(huán)境不當（如：無空調設備）。 c）量測儀器不足。 （3）因有關人員因素而產(chǎn)生異常： a）使用不當之抽樣方式。 b）計算錯誤。 c）未按操作標準作業(yè)。 d）作業(yè)條件更改。4.9.2 發(fā)生異常原因之追查：過程中發(fā)現(xiàn)異?，F(xiàn)象時，應填寫質量異常記錄表，把異常現(xiàn)象及發(fā)生時間記

14、上，作為改善的依據(jù)。 過程異常報告書填寫要點： （1）過程名稱、質量特性、機械編號、機械名稱、作業(yè)者及測定者等資料記入。 （2）異?，F(xiàn)象：將異常內(nèi)容或不良情形、發(fā)生時間等由發(fā)現(xiàn)者填寫。 （3）原因調查：由品管會同相關之單位人員，將發(fā)生異常之原因共同調查后，同時將時間、日期記入。 （4）應急措施：記錄已發(fā)生異常之產(chǎn)品，所作之暫時處理措施。（如：全數(shù)選別或是過程調查等）同時將處置時間、日期及相關單位決議事項人員等填入。 （5）永久對策：對根本原因所采取之改善對策、預計實施時間、實施單位、負責人等詳細填寫。 （6）效果確認：依其質量特性重新確認制品是否恢復到控制界限內(nèi)，及其過程能力是否獲得改善，同時

15、將確認時間、人員記入。 （7）標準化：當缺點所采取之對策對其質量特性已獲得改善，且過程能力足夠，則需修訂各有關的標準書：如：過程流程圖、作業(yè)標準書。 4.9.3 修訂控制界限： （1）由于特殊原因而產(chǎn)生控制圖上的異常點，在經(jīng)過異常之數(shù)據(jù)剔除，而重新計算求出R控制圖及X控制圖之中心線及控制界限。 （2）分析重新計算及繪點之控制圖是否有異?，F(xiàn)象，必要時得在重復分析改善修正控制界限及中心線。 4.10 SPC異常之處置： 4.10.1 所有的點都在規(guī)格界限內(nèi)，且沒有異常分布或是異常趨勢則：（1）抽檢之樣品均合乎規(guī)格時： a）過程能力高于4，即Cpk1.33時不必全檢。 b）過程能力在±3至

16、±4之間時，需自最后一次之合格批次起實施100%檢。 c）尋求不良原因及改善對策。（2）抽樣品中有一個或一個以上超出規(guī)格時： a）實施100%全檢至最近一次之合格批。 b）尋求不良原因及改善對策。 4.11 過程能力分析4.11.1 過程準確度（Ca）：各工程之規(guī)格中心值設定的目的就是希望各工程制造出來的各個產(chǎn)品之實際值，能以規(guī)格中心為中心，呈左右對稱的常態(tài)分配，而制造時，也應以規(guī)格中心值為目標，而從生產(chǎn)過程中所獲得的資料。 其實際平均值（ ）與規(guī)格中心值（u）之間偏差的程度，稱為過程準確度。 （T為規(guī)格上限、規(guī)格下限）=（公差范圍）由上式可得知當u與 之差愈小時，Ca值也愈小，也就

17、是品質愈接近規(guī)定要求的水準。4.11.2 過程精密度（Cp）：各工程規(guī)格上下限之設定目的，乃是希望制造出來的各個產(chǎn)品之品質水準都能在規(guī)格上下限的容許范圍內(nèi)，而比較規(guī)格容許差與實際群體的估計標準差即為過程精密度。由上式可知Cp愈大，則表示此過程愈精密。愈適合此產(chǎn)品之生產(chǎn)。4.11.3 過程能力指數(shù)Cpk：用以衡量過程能力，以作為改進過程的參考，其計算式如下：（Ppk計算公式同Cpk計算公式）（1）Cpk=Cp（1-Ca）（2）（3）：為估計標準差 SL ：為規(guī)格界限 ：估計標準差 CL ：單邊規(guī)格上限或下限 UCL：規(guī)格上限 LCL：規(guī)格下限：過程平均值 Cpk：過程能力指數(shù) D2 ：系數(shù)Z 單邊規(guī)格Z=雙邊規(guī)格Zucl=CpkZmin3(E取正數(shù))n2345D21.331.692.062.334.12 過程能力指標：