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文檔簡介
1、 ENA射頻網(wǎng)絡分析儀 Agilent E5071C 9 KHz至8.5 GHz 詳細說明: · Agilent E5071C ENA系列網(wǎng)絡分析儀頻率范圍: 頻率范圍 端口 選件E5071C 9KHz-4.5GHz 2/4 240/440 9KHz-8.5GHz 2/4 280/480 100KHz-4.5GHz 2/4 245/445 100KHz-8.5GHz 2/4 285/485系統(tǒng)動態(tài)范圍:頻率 IF 帶寬 技術指標 SPD 9 -300 kHz 300 kHz -
2、10 MHz10 MHz -6 GHz 6 -8.5 GHz IF 帶寬=3 kHz 72 Db 82 dB 98 dB 92 dB 9 -300 kHz 300 kHz -10 MHz 10 MHz -6 GHz 6 -8.5 GHz IF帶寬=10 Hz 97 dB 107 dB 123 dB 117 dB 130dB 主要特性:· 寬動態(tài)范圍:在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB(典型值) · 極快的測量速度:39 ms(進行完全雙端口校準,掃描1601點時) · 低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時) · 集成的
3、2和4端口,帶有平衡測量能力 選件:E5071C008 頻率偏置模式E5071C010 時域分析能力E5071C790 測量向?qū)е周浖﨓5071C1E5 高穩(wěn)定度時基E5071C240 雙端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭E5071C245 雙端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭E5071C440 4端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭E5071C445 4端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭E5071C280 雙端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭E5071C285 雙端口測試儀 100KHz-8.5GH
4、z 帶偏置T型接頭E5071C480 4端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭E5071C485 4端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭附件:校準件 HP85033D/E (3.5mm)校準件 HP85032B (N型)· 寬動態(tài)范圍:在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB(典型值) · 極快的測量速度:39 ms(進行完全雙端口校準,掃描1601點時) · 低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時) · 集成的2和4端口,帶有平衡測量能力 · 提供頻率選件:從9 kHz/100 kH
5、z(帶有偏置T型接頭)到4.5 GHz/8.5 GHz E5071C網(wǎng)絡分析儀具有廣泛的頻率范圍和眾多功能,在同類產(chǎn)品中具有最高的射頻性能和最快的測試速度。它是制造工程師和研發(fā)工程師測量9 kHz至8.5 GHz射頻元器件和電路的最佳工具。 ENA射頻網(wǎng)絡分析儀 Agilent E5071B 300KHz-8.5GHz 詳細說明:Agilent E5070B/E5071B ENA系列網(wǎng)絡分析儀·
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9、; 頻率范圍:·
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13、; E5070B 300KHz-3GHz·
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17、0; E5071B 300KHz-8.5GHz系統(tǒng)動態(tài)范圍:頻率 IF 帶寬技術數(shù)據(jù)補充信息300 kHz - 3 MHz, IF 帶寬 = 3 kHz 85 dB 3 MHz - 1.5 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 95 dB 98 dB 1.5 GHz - 3 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 97 dB 100 dB 3 GHz - 4 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 96 dB 99 dB 4 GHz
18、 - 6 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 92 dB 94 dB 6 GHz - 7.5 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 87 dB 90 dB 7.5 GHz - 8.5 GHz, IF 帶寬 = 3 kHz 80 dB 83 dB 300 kHz - 3 MHz, IF 帶寬 = 10 Hz 110 dB 3 MHz - 1.5 GHz, IF 帶寬 = 10 Hz 120 dB 123 dB 1.5 GHz - 3 GHz, IF 帶寬 = 10 Hz 122 dB 125 dB 3 GHz - 4 GHz, IF 帶寬 = 10 kHz 121 dB 124 dB 4 GH
19、z - 6 GHz, IF 帶寬 = 10 Hz 117 dB 119 dB 6 GHz - 7.5 GHz, IF 帶寬 = 10 Hz 112 dB 115 dB 7.5 GHz - 8.5 GHz, IF 帶寬 = 10 Hz 105 dB 108 dB 主要特性:在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值) 掃描速度:9.6微秒/點 跡線噪聲:0.001 dB rms 集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力 ·
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23、; 選件:E507×B008 頻偏模式E507×B010 時域分析能力E507×B214 2端口S參數(shù)測試裝置E507×B314 3端口S參數(shù)測試裝置E507×B414 4端口S參數(shù)測試裝置E507×B016 觸摸屏彩色LCDE507×B1E
24、5 高穩(wěn)定度頻率基準附件:校準件 HP85033D/E (3.5mm)校準件 HP85032B (N型) Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了最快、最精確的射頻器件測量能力。其先進的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。 · 在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值) · 掃描速度:9.6 µs/點 · 跡線噪聲:0.001 dB rms · 集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力 ENA-L RF網(wǎng)絡分析儀 Agilent E5062A 300
25、K-3G 詳細說明:Agilent E5062A ENA-L系列網(wǎng)絡分析儀頻率范圍:300KHz-3GHz系統(tǒng)動態(tài)范圍:頻率 IF帶寬 技術數(shù)據(jù)補充信息300 kHz to 1 MHz, IF bandwidth = 3 kHz 90 dB 1 MHz to 3 GHz, IF bandwidth = 3 kHz 95 dB 300 kHz to 1 MHz, IF bandwidth = 10 Hz 115 dB 1 MHz to 3 GHz, IF bandwidth = 10 Hz 120 dB 130 dB 主要特性
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33、; T/R 或 S 參數(shù)綜合測試儀 ·
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41、 50 或 75 歐姆測試端口阻抗 ·
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49、 120 dB 的動態(tài)范圍和 0.005 dB rms 的跡線噪聲選件:E5062A150 TR測試,50系統(tǒng)阻抗E5062A175 TR測試,
50、75系統(tǒng)阻抗E5062A250 S參數(shù)測試,50系統(tǒng)阻抗和擴展的功率范圍E5062A275 S參數(shù)測試,75系統(tǒng)阻抗和擴展的功率范圍E5062A1E1 擴展的功率范圍(-45至10dBm)E5062A100 增加故障定位和SRL分析功能E5062A016 觸摸屏彩色LCD附件:校準件 HP85033D/E (3.5mm)校準件 HP85032B (N型)校準件HP85036B(75)Agilent E5062A通用網(wǎng)絡分析儀基于最新的現(xiàn)代技術,提供了可靠的基本S參數(shù)測量能力、簡便易用的功能及堅實的性能。 · 內(nèi)置T/R或S參數(shù)測試儀 · 50或75歐姆測試端口阻抗
51、3; 115 dB動態(tài)范圍及0.005 dB rms軌跡噪聲 · 內(nèi)置Visual Basic® for Applications (VBA) 網(wǎng)絡分析儀 Agilent 8753ES 300KHz-3GHz/6GHz 詳細說明:8753ET和8753ES射頻網(wǎng)絡分析儀為滿足研制實驗室或生產(chǎn)制造的測試需求,在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結(jié)合。8753ET和8753ES以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達110dB的動態(tài)范圍以
52、及頻率掃描和功率掃描,為表征有源或無源網(wǎng)絡、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了高效能的解決方案。產(chǎn)品系列的特點選擇傳輸/反射分析儀(ET型)或S參數(shù)分析儀(ES)允許您針對您的應用選擇性能與價格之間的最佳關系。網(wǎng)絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道,可同時測量和顯示所有4個S參數(shù)??梢赃x擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能??梢岳眠_4個刻度格子在高分辨率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動更大的外部監(jiān)視器,以便于觀察,增加了與VGA兼容的輸出。測試時序功能允許一
53、次鍵入來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務。在時序工作方式下,只需從面板測量一次,分析儀便能儲存鍵入,以致無需額外編程。還可以利用測試時序經(jīng)并行或GPIB端口對外部裝置進行控制。為了測量混頻器,調(diào)諧器和其它頻率轉(zhuǎn)換器件,頻率偏置工作方式允許對網(wǎng)絡分析儀獨立于接收機調(diào)諧。分析儀很容易以固定中頻或掃描中頻測試方式完成變頻損耗、相位、群延遲和混頻器統(tǒng)調(diào)的測量1。功率計校準向?qū)^對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的絕對功率。8753ET/ES自動對436A,437B,438A E4418B或E4419B功率計進行控制,使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都可調(diào)到具有功率計的精度,或?qū)⒕W(wǎng)絡分析儀接收機校準來進行精確的絕對功
54、率測量。另一些高生產(chǎn)率特點包括支持LIF、DOS JPEG和逗點隔開的變量(CSV)格式的內(nèi)置軟盤驅(qū)動器,非易失存儲器、串行和并行接口,DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。通過利用列表掃描工作方式來選擇待測試的特殊頻率以及在每個頻率范圍設置獨立的中頻帶寬和功率電平,可以縮短測量時間。分段校準和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量精度。8753ET/ES與8753D/E為代碼兼容,因而無需修改現(xiàn)有軟件。利用選件010,能觀察在時域中的反射或傳輸響應。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換進行計算,以顯示反射系數(shù)或傳輸
55、系數(shù)隨時間變化的關系。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或沖擊響應。定時選通可用來除去一些不希望的響應,如接頭失配,選通結(jié)果則可在時域或頻率中顯示。S參數(shù)網(wǎng)絡分析儀與時域功能的結(jié)合,為調(diào)諧諧振腔帶通濾波器提供了簡單的確定性方法。將時域中的濾波器反射響應與適當調(diào)諧濾波器的響應進行比較,能揭示需要對哪些諧振器或耦合調(diào)節(jié)調(diào)諧。利用時域濾波器調(diào)諧,很容易為這一復雜任務培訓新人員,并大大簡化精細調(diào)諧和故障查找步驟。為了對器件進行更先進的表征,選件002增加了諧波測量功能??梢灾苯踊蛞韵鄬τ诨ǖ膁Bc數(shù)顯示放大器的掃描二次和總諧波電平。按動一個按鈕,即可測量達-40dBc的諧波。高穩(wěn)定度的頻率基準(選
56、件1D5)提高了對高Q器件,如表面聲波(SAW)器件、晶體諧振器或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。ET型8753ET的特點是有一個能提供各種各樣幅度和相位測量的內(nèi)置50傳輸/反射(T/R)測試裝置。頻率覆蓋范圍從300KHz到3或6GHz。T/R功能在對被測量器件進行測量時能給出很高的精度且極為方便。新增加的響應校準能對傳輸測量中的源匹配影響進行修正。選件004將標準件的-20+5dBm源功率范圍擴大到-85+10dBm。ES型 8753ES的特點是有一個能提供各種各樣幅度和相位測量的內(nèi)置50或75S參數(shù)測試裝置。全二端口誤差修正功能提供極高的精度水準,S參數(shù)測試裝置則便于進行正、反向掃頻測量,
57、而無需倒置被測件。為了提高配置的靈活性,選件011取消了內(nèi)置測試裝置,以便能選擇自己所需的測試裝置。8753ES選件011可與85046A/B和85047A S參數(shù)測試裝置以及供其它特殊應用的專用測試裝置配套使用。選件014為獲得最大靈活性提供了可配置的測試裝置。為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而精確的測量,特提供了TR*/LRM*校準。利用內(nèi)置適配置器移去校準技術,還能實現(xiàn)對非插入式器件的高精度測量。主要技術資料8753 ET/ES網(wǎng)絡分析儀產(chǎn)品手冊,P/n 5968-5159E8753 ET/ES網(wǎng)絡分析儀技術指標,P/n 5968-5160E8753 ET/ES網(wǎng)絡分析儀配置指南,P/n 59
58、68-5158E訂貨信息注:一個完整系統(tǒng)由網(wǎng)絡分析儀、校準配件和電纜組成。校準配件和電纜可以在附件部分查找。8753ET網(wǎng)絡分析儀,300KHz3GHz選件002 諧波測量功能選件004 內(nèi)置步進衰減器選件006 6GHz頻率擴展選件010 時域功能選件1D5 高穩(wěn)定度頻率基校8753ES網(wǎng)絡分析儀,30KHz3GHz選件002 諧波測量功能選件006 6GHz頻率擴展選件010 時域功能選件011 除去內(nèi)置測試裝置選件014 可配置的測試裝置選件075 75阻抗選件01D5 高穩(wěn)定度頻率基準85047A 50S參數(shù)測試裝置,6GHz選件009 機械測試端口開關選件913 機架安裝配件(506
59、2-4069)85046A 50S參數(shù)測試裝置,3GHz選件009 機械測試端口開關選件913 機械安裝配件(5062-4069)85046B 75S參數(shù)測試裝置,300KHz,2GHz選件009 機械測試端口開關選件913 機架安裝配件(5062-4069)初始購貨之后,通過訂購下列升級配件之一,可以將選件添加到8753E系統(tǒng)網(wǎng)絡分析儀上。訂購升級配件時,要在儀器的型號數(shù)之后加表明升級的“U”以及您想更改的選件。8753ET升級配件選件002 諧波測量升級配件選件004 步進衰減器升級配件選件006 標準件的6GHz升級配件選件010 時域升級配件選件099 固化軟件升級配件選件1D5 高穩(wěn)
60、定度頻率基準升級配件8753ES升級配件選件002 諧波測量升級配件 選件006 標準件的6GHz升級配件選件010 時域升級配件選件099 固化軟件升級配件選件1D5 高穩(wěn)定度頻率基準升級配件 網(wǎng)絡分析儀 Agilent 8753E 30 kHz -3 或 6 GHz 詳細說明:特性· 30 kHz 至 3 或 6 GHz 頻率范圍 · 使用固態(tài)開關的集成S-參數(shù)測試裝置 · 達110 dB 動態(tài)范圍 · 快測量速度、數(shù)據(jù)傳輸率和儀
61、器狀態(tài)調(diào)用 · 大彩色LCD 顯示,帶用于外部監(jiān)視器的VGA 輸出 · 同時顯示所有4種S-參數(shù) · 保存/調(diào)用儀器狀態(tài)和數(shù)據(jù)至內(nèi)置軟盤驅(qū)動器 · 可選時域和掃描諧波測量 網(wǎng)絡分析儀 HP 8753D 30KHz-3GHz6GHz 詳細說明:頻率范圍30kHz6GHz集成化S參數(shù)測試裝置 集成化1Hz分辨率合成信號源 可選用時域測量和掃描諧波測量達110dB的動態(tài)范圍 可測量群延遲和與線性相位的偏離對內(nèi)置磁盤驅(qū)動器的存儲/調(diào)用提高內(nèi)
62、置精度 HP 8753D射頻網(wǎng)絡分析儀 HP 8753D 射頻網(wǎng)絡分析儀以低廉的價格為實驗室和生產(chǎn)測試提供了優(yōu)越的RF網(wǎng)絡測量設備。它具有集成化的S參數(shù)測試裝置,延長了校準間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號的測試設備更低的價格為分析30kHz6GHz的有源或無源網(wǎng)絡、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。網(wǎng)絡分析儀有2個獨立的顯示通道,供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便于使用的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能,你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。最佳的通用性和性能 集成化的合成信號源提供達10
63、mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類型。三個調(diào)諧接收機允許在6GHz上(利用選件006頻率擴展),在105dB的寬動態(tài)范圍或在3GHz上在100dB的寬動態(tài)范圍內(nèi)(標準情況)進行獨立功率測量或同時進行的比值測量。集成化測試裝置允許在不使用倍頻器的情況下,對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量。 為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而精確的測量,特增加了TRL*/LRM*1校準。高穩(wěn)定度的頻率基準(選件1D5)提高了對高Q器件,如表面波(SAW)諧振腔或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。提高效率 測試時序功能允許一次來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務。在時序
64、工作方式下,只需從面板測量一次,分析儀便能儲存鍵入,以致無需額外編程,還可以利用測試時序經(jīng)并行端口對外部裝置進行控制。 另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置磁盤驅(qū)動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非易失存儲器、串行和并行接口,DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量精度。非線性器件的測試 為了表征非線性器件的特性,選件002增加了諧波測量功能。可以直接或以dBc 顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。按動一個按鈕,即可測量達-40dBc的諧波。功率計
65、校準向?qū)^對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的絕對功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控制,使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都調(diào)到具有功率計的精度。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調(diào)和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。時域分析 利用選件010,能觀察在時域中的響應。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換(FFT)進行計算,以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時間變化的關系。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或沖擊響應或除去一些不希望的響應,如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準技術的三取樣器執(zhí)行方式。技術指標摘要 測試裝置
66、集成化S參數(shù)測試裝置以50(標準)或75(選件075)提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件011提供。 測試端口輸出頻率特性 范圍:30kHz3GHz(標準);30kHz6GHz(選件006)分辨率:1Hz 精度:±10ppm(在25±5時)輸出特性 功率范圍:-8510dBm分辨率:0.05dB 電平精度:±1.0dB(相對于0dBm輸出電平)電平線性:(-15+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz300kHz; (+5 +10dBm)±0.5dBm(典型值) 30kHz 300kHz 阻抗:50 二次諧波:在+10dBm處&
67、lt;-25dBc(16MHz 3GHz) 三次諧波:在+10dBm處<-25dBc(16MHz 2GHz) 非諧波寄生信號(典型值) 與混頻器有關的非諧波寄生信號:在+10dBm處<-30dBc 測試端口輸入特性頻率范圍:30kHz3GHz(標準); 30kHz6GHz(選件006) 平均噪聲電平 3kHz BW: -82dBm(<3GHz), -77dBm(3 6GHz) 10Hz BW: -102dBm(<3GHz), -97dBm(3 6GHz) 最大輸入電平:+10dBm 損壞電平:±26dBm或35Vdc阻抗:50(用選件075時為75)諧波:(選
68、件002) 二次諧波:在+8dBm處為<-15dBc 三次諧波:在+8dBm處為<-30dBc 諧波測量精度(在25±5時):16MHz 3GHz: ±1dB3GHz 6GHz: ±3dB(帶選件006) 諧波測量動態(tài)范圍: -40dBc(輸出=-10dBm,輸入<-15dBm) 群延遲特性 范圍:1/(2×最小孔徑)孔徑(可以選擇的) 最大:頻率間隔的20% 最?。?頻率間隔)/(點數(shù)-1) 群延遲精度(單位為秒):±(相位精度)(單位為度)/(360×孔徑(Hz) 結(jié)構(gòu)特性 尺寸:425mm(寬)×22
69、2mm(高)×508mm(長) 重量:凈重34公斤 專用測試裝置 HP8753D選件K35雙工器測試適配器能對發(fā)射機、接收機和天線端口上的回波損耗和發(fā)射機至天線、天線至發(fā)射機、接收機至天線和天線至接收機端口的插入損耗進行一次性連接的誤差修正測量。對于要求進行發(fā)射機至接收機和接收機至發(fā)射機測量的應用場合,建議使用選件K39三端口測試裝置。附件 HP86205A/86207A射頻電橋 HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應用場合中均能提供無與倫比的性能。它們特別適用于精確的反射測量和信號穩(wěn)幅應用。結(jié)構(gòu)特性 尺寸:93mm(高)×160mm(
70、寬)×23mm(長) 重量:凈重0.57公斤 校準配件 HP8753D的校準配件包含在提高精度過程中使用的一些精密標準件,用以表征HP8753D測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。HP85032B 50 N型校準配件HP85032B校準配件包括用來校準HP8753C的50N型標準件及其用于測量具有50N型接頭器件的50測試裝置的精密50N型標準件。還包括對不可插入器件進行精確測量的精密相位匹配的7mm轉(zhuǎn)50N型適配器。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。HP85032E 50 N型經(jīng)濟校準配件HP85032E校準配件包括N型(陽)固定終端負載和一體化的N型(陽)開路器/短路器。這
71、套配件的頻率范圍為DC6GHz。HP85036B 75 N型校準配件HP85036B 75N型校準配件包括用來校準HP8753C的精密75N型標準件及用于測量具有75N型接頭器件的75測試裝置。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。還包括對不可插入器件進行精確測量的精密相位匹配的適配器。訂貨信息HP8753D網(wǎng)絡分析儀,30kHz6GHz集成化網(wǎng)絡分析儀具有內(nèi)置彩色顯示器,S參數(shù)測試裝置,磁盤驅(qū)動器和30kHz3GHz合成信號源。標準的50型有兩個7mm測試端口。Opt 002 諧波測量功能 Opt 006 6GHz頻率擴展 Opt 010 時域功能 Opt 075 75阻抗
72、 Opt 1D5 高穩(wěn)定度頻率基準HP85032B 50N型校準配件 HP85032E 50N型經(jīng)濟校準配件 HP85036B 75N型校準配件升級配件 HP86205A 50電橋HP86207A 75電橋HP8753D Opt K36 雙工器測試適配器Opt K39三端口測試裝置適配器 網(wǎng)絡分析儀 HP 8752B/C 300kHz-3GHz 詳細說明:射頻網(wǎng)絡分析儀 HP8752C頻率范圍:300kHz至3GHz 集成化1Hz分辨率的合成信號源50或75系統(tǒng)阻抗 直接對
73、外部磁盤驅(qū)動器儲存/調(diào)用對重復測試步驟可采用測試時序功能達110dB的動態(tài)范圍 可測量群延遲和與線性相位的偏離第一流的未經(jīng)修正的性能HP8752C射頻網(wǎng)絡分析儀 新型HP8752C射頻網(wǎng)絡分析儀是一種結(jié)構(gòu)緊湊的全集成化射頻網(wǎng)絡分析儀,能進行簡單而全面的矢量網(wǎng)絡測量。利用HP8752C射頻網(wǎng)絡分析儀能精確、經(jīng)濟地表征元件和網(wǎng)絡在300kHz至3GHz頻率范圍內(nèi)的性能。將掃頻合成源、測試裝置和接收機組合在一起,便構(gòu)成便于調(diào)節(jié)和使用的網(wǎng)絡分析儀。它們特別適用于維修、進貨檢驗、生產(chǎn)和最終試驗測量。集成合成源輸出到測量端口的功率電平為+5-20dBm,掃描有線性,對數(shù)、列表、功率和連續(xù)波幾種型式。新的內(nèi)
74、置步進衰減器(選件004)提供+10-85dBm的改進功率范圍,適于對諸如放大器這類功率靈敏裝置進行測試。靈敏的調(diào)諧式接收機具有達110dB的動態(tài)范圍。儀器提供了2個獨立的顯示通道,可以在高分辨率的彩色顯示器上同時測量被測件的反射和傳輸特征。測量數(shù)據(jù)可以用對數(shù)幅度、線性幅度、駐波比、相位、群延遲、極座標、實時或Smith圓圖格式顯示。軟鍵測量功能便于使用,可以迅速測量所需的被測件特性。 設計時考慮了制造的需要 HP8752C的高效率特征能提高生產(chǎn)效率。測試時序只需按一次鍵便迅速一致地執(zhí)行復雜的重復性測試。在時序工作方式下,只需在面板上進行一次測量,儀器便能自動儲存所按的鍵,而無需使用外部計算機
75、。HP8752C具有優(yōu)良的未經(jīng)校正的性能,能簡便、精確地測量被測件,而無需測量校準。新的效率提高是有更快的CPU時鐘速率、DOS磁盤輸出格式和512kB擴展非易失存儲器。其它的有益特征包括:繪圖/打印緩沖器、極限測試、任意頻率測試以及標記跟蹤功能。每個通道可提供達4個屏幕標記,供硬拷貝輸出或諧調(diào)到指定的頻率上。 時域分析 帶選件010的HP8752C能顯示網(wǎng)絡的時域響應,這是將頻域響應進行傅氏變換計算來獲得的。HP8752C提供了兩種時域工作方式。低通方式提供傳統(tǒng)的時域反射計(TDR)測量功能,并給出從數(shù)學上模擬的階躍響應或脈沖響應。只具有脈沖激勵的帶通方式給出選頻裝置,如表面聲波(SAW)濾波器和天線的時域響應。 技術指標摘要信號源頻率特征 范圍:300kHz1.3GHz(標準);300kHz3GHz(選件003);分辨率:1Hz精度:±10ppm(在25±5時) 輸出特性 功率范圍:-20+5dBm(標準);-85+10dBm(選件004); -85+8dBm(選件004或075)分辨率:0.05dB電平精度:±1dB 電平線性:相對于-5dBm輸出電平: (-20-15dBm)± 0.5dB;(-15
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